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異物付着の防止とは?課題と対策・製品を解説

ダイシングにおける異物付着の防止とは?
半導体製造におけるダイシング工程では、ウェハーを個々のチップに切断します。この際、切断屑や周辺環境からの異物がチップ表面に付着すると、歩留まり低下や製品不良の原因となります。ダイシングの異物付着防止とは、これらの異物の発生を抑制し、付着を防ぐための技術や対策全般を指します。目的は、高信頼性・高品質な半導体チップの安定供給を実現することです。
各社の製品
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【半導体製造向け】EL補助潤滑モジュール
【電子機器向け】パレット管理システムで製品追跡
【データセンター向け】異物混入防止フィルター
飛散防止安全シールド【半導体製造向け】
半導体製造業界のクリーン環境では、微細な異物の混入が製品の品質を大きく左右します。
配管からの危険流体の漏れは、クリーンルーム内の環境を汚染し、製品の歩留まりを低下させる可能性があります。
特に、化学薬品や高温の流体は、作業者の安全を脅かすだけでなく、高価な製造装置を損傷させるリスクも伴います。
安全カバー『飛散防止安全シールド』は、これらの危険な流体の漏れや飛散を一時的に封じ込め、クリーン環境を維持し、事故を未然に防ぎます。
【活用シーン】
・クリーンルーム内の配管
・半導体製造装置周辺
・化学薬品を使用する工程
【導入の効果】
・クリーン環境の維持
・作業者の安全確保
・設備保全コストの削減
木目まで不良にしない検査へ―Gemini eye
木板や住宅建材の外観検査では、木目や色味の違いは良品として残したい一方で、表面キズや汚れは見逃せません。木目まで不良として拾ってしまうと、確認工数や手直し判断が増えてしまいます。
『Gemini eye』は、良品を学習し、“いつもと違う”箇所を検出する外観検査AIです。
少量の良品データから検討でき、不良品を大量に集める必要はありません。木板のキズなど、自然な個体差がある対象でも、良品の範囲を保ちながら外観不良を検出します。異常箇所はヒートマップで表示され、どこを不良と判断したかを現場で確認可能。判定結果は画像・数値・グラフで見られ、検査基準の共有や品質確認の説明にも役立ちます。未知不良の検出に加え、既知不良の種類別表示にも対応可能。撮像機器の選定から検査装置まで相談でき、目視検査のばらつき低減や自動化を検討できます。
【特長】
■木目・色味のばらつきに対応
■表面キズ・汚れなどを検出
■異常箇所をヒートマップ表示
■撮像機器・検査装置まで提案
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【電池業界向け】高粘度スラリー対応ろ過装置
【半導体製造向け】ボールねじ補助潤滑モジュール【EL】
【半導体製造装置向け】Nバルブ チタン
データセンター向けケーブルシールブラシ
【半導体製造向け】耐摩耗性に優れる硬質アルマイト
【半導体向け】基板印字用 UVレーザマーカー
【電子機器向け】100%水切りできるエアーノズル











