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不良品検出精度の向上とは?課題と対策・製品を解説

ウェーハ検査における不良品検出精度の向上とは?
半導体製造プロセスにおいて、ウェーハ上に形成された回路パターンに微細な欠陥がないかを高精度に検出する技術です。不良品の流出を防ぎ、半導体製品の品質と歩留まりを向上させることを目的としています。
各社の製品
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【半導体製造向け】静音リニアガイドウェイ
【半導体製造向け】ミニチュア型リニアガイドウェイ【MGシリーズ】
【ディスプレイ向け】ボンドテスター『MFMシリーズ』
【半導体製造向け】ステンレス製 リニアガイドウェイ
【データセンター向け】異物混入防止フィルター





