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半導体製造装置・材料

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不良品検出精度の向上とは?課題と対策・製品を解説

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ウェーハ検査における不良品検出精度の向上とは?

半導体製造プロセスにおいて、ウェーハ上に形成された回路パターンに微細な欠陥がないかを高精度に検出する技術です。不良品の流出を防ぎ、半導体製品の品質と歩留まりを向上させることを目的としています。

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【防衛向け】3分で分かる!電気特性測定用基板

【防衛向け】3分で分かる!電気特性測定用基板
防衛分野では、過酷な環境下での使用に耐えうる高い耐久性が求められます。電気特性測定用基板においても、信頼性の高い測定結果を得るためには、インピーダンス管理や測定方式への適合が重要です。不適切な基板選定は、測定誤差や機器の故障につながる可能性があります。当社の「3分で分かる!電気特性測定用基板」資料は、防衛分野における高耐久性を実現するための基板選定のポイントを解説します。ぜひダウンロードしてご一読ください。 【活用シーン】 * 過酷な環境下での電子機器の性能評価 * 高信頼性が求められる通信機器の特性評価 * 軍事用電子機器の品質管理 【導入の効果】 * 信頼性の高い測定結果の取得 * 機器の故障リスクの低減 * 製品の品質向上

【電子機器向け】自動検査システム、外観検査システム

【電子機器向け】自動検査システム、外観検査システム
電子機器の実装工程では、製品の品質と信頼性を確保するために、正確な検査が不可欠です。実装不良は、製品の性能低下や故障につながり、顧客からの信頼を損なう可能性があります。当社の自動検査システム、外観検査システムは、検査手順のミスや見落としを防止し、校正器検査により設備状態を維持することで、これらの課題を解決します。これにより、電子機器メーカーは、高品質な製品を効率的に製造し、市場競争力を高めることができます。 【活用シーン】 ・電子部品の実装工程 ・基板実装後の外観検査 ・製品の最終検査 【導入の効果】 ・人的ミスの削減 ・設備コストの削減 ・品質の向上 ・生産性の向上

【半導体向け】CA20:高速X線CT検査

【半導体向け】CA20:高速X線CT検査
半導体業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、製造プロセスにおける欠陥検出が不可欠です。特に、微細化が進む中で、内部構造のわずかな異常が製品性能に大きな影響を与える可能性があります。《 CA20 》は、半導体パッケージングにおける3D ICの課題に対応し、迅速な欠陥検出を可能にします。これにより、歩留まりの向上と、開発期間の短縮に貢献します。 【 活用シーン 】 ■ 半導体パッケージの内部構造検査 ■ はんだ接合部の欠陥検出 ■ ウェーハレベルパッケージング(WLP)の検査 【 導入の効果 】 ■ 非破壊検査による製品の品質保証 ■ 不良品の早期発見によるコスト削減 ■ 開発サイクルの短縮

【半導体向け】基板印字用 UVレーザマーカー

【半導体向け�】基板印字用 UVレーザマーカー
半導体業界では、ウェハのトレーサビリティを確保するため、高精度なID印字が求められます。特に、微細加工が進む中で、熱による基板へのダメージを抑えつつ、視認性の高い印字が重要です。従来のレーザマーカーでは、熱による基板への影響や印字の精度に課題がありました。当社のUVレーザマーカーは、これらの課題を解決します。 【活用シーン】 ・ウェハID印字 ・基板へのシリアルナンバー印字 ・製造工程におけるトレーサビリティ管理 【導入の効果】 ・熱ダメージを抑え、基板の品質を維持 ・極小文字や2次元コードの高精度印字 ・高密度実装基板への対応 ・安定した印字品質の実現

【半導体向け】Cheetah EVOによる欠陥検出

【半導体向け】Cheetah EVOによる欠陥検出
半導体業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、製造プロセスにおける微細な欠陥の検出が不可欠です。 特に、デバイスの小型化と高密度化が進む中で、目視検査では見つけにくい微細な欠陥が製品の性能に大きな影響を与える可能性があります。 《 Cheetah EVO 》は、これらの課題に対し高精度なX線検査技術を提供します。 【 活用シーン 】 ● 半導体チップの内部欠陥検査 ● パッケージングの不良解析 ● 実装基板の接合不良検査 【 導入の効果 】 ● 欠陥の早期発見による歩留まり向上 ● 検査プロセスの自動化による省人化 ● 高品質な製品の安定供給

【半導体向け】ヘリウムリークテストシステム HES-2000

【半導体向け】ヘリウムリークテストシステム HES-2000
半導体業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、高い気密性が求められます。微細なリークは製品の性能低下や寿命に影響を与える可能性があるため、正確なリーク検査が不可欠です。当社のヘリウムリークテストシステムは、高精度な測定により、半導体製品の品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・半導体製造工程における気密検査 ・各種半導体デバイスのリーク検査 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・不良品の削減 ・信頼性の高い製品供給

【家電製品向け】コンパクトエアリークテスター FLZ-0220

【家電製品向け】コンパクトエアリークテスター FLZ-0220
家電製品の製造において、防水性は製品の信頼性と安全性を確保する上で非常に重要です。水分の侵入は、製品の故障や感電事故につながる可能性があります。特に、屋外で使用される製品や水回りでの利用を想定した製品においては、高い防水性能が求められます。当社のコンパクトエアリークテスターは、エアリークテストを通じて、製品の防水性能を評価し、品質管理を支援します。 【活用シーン】 ・スマートフォン、スマートウォッチなどの防水検査 ・洗濯機、冷蔵庫などの家電製品の気密検査 ・屋外用スピーカー、照明器具などの防水性能評価 【導入の効果】 ・製品の品質向上と信頼性向上 ・不良品の削減によるコスト削減 ・顧客満足度の向上

【電子機器向け】エアーフローリークテスター NFT-720

【電子機器向け】エアーフローリークテスター NFT-720
電子機器業界では、製品の品質を保証するために、筐体の気密性が重要です。特に、外部からの埃や湿気の侵入を防ぎ、内部の電子部品を保護する必要があります。筐体の漏れは、製品の故障や性能低下につながる可能性があります。エアーフローリークテスターNFT-720は、筐体の漏れを数値化し、自動化することで、品質管理を効率化します。 【活用シーン】 ・電子機器筐体の気密検査 ・防水性能が必要な筐体の検査 ・各種電子部品の組み込み後の検査 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・検査工程の効率化 ・不良品の削減

【IoT向け】アドバンストパッケージ向けソケット

【IoT向け】アドバンストパッケージ向けソケット
IoT業界では、デバイスの小型化と高性能化が進み、それに伴い、半導体パッケージの多ピン化と高速データ通信への対応が求められています。安定した接続性と高い信頼性は、IoTデバイスの性能を左右する重要な要素です。アドバンストパッケージ向けソケットは、PCRソケットの特性を活かし、多ピン接続における安定性とコスト効率を両立します。 【活用シーン】 ・IoTデバイスの高性能チップのテスト ・多ピンパッケージの安定した接続が必要な場面 ・高速データ通信が求められるIoT機器の検査 【導入の効果】 ・安定したコンタクトにより、テストの信頼性向上 ・コスト効率の良い多ピン接続の実現 ・多様なIoTデバイスへの対応

【家電向け】リークテスター

【家電向け】リークテスター
家電業界では、製品の長期的な信頼性を確保するために、気密性の維持が重要です。特に、温度変化や振動にさらされる製品においては、漏れは性能劣化や故障の原因となります。当社の高品質リークテスターは、これらの課題に対応し、製品の耐久性向上に貢献します。 【活用シーン】 ・家電製品の製造工程における気密検査 ・製品の品質管理における漏れ検査 ・耐久性試験における漏れの有無の確認 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・不良品の削減 ・顧客満足度の向上

【電子機器向け】塗るだけ!防汚フッ素コーティング剤

【電子機器向け】塗るだけ!防汚フッ素コーティング剤
電子機器業界では、ディスプレイや操作パネルの指紋や汚れの付着が、製品の美観を損ね、操作性を低下させる課題があります。特に、タッチパネルやレンズなど、頻繁に触れる部分においては、防汚対策が重要です。当社のフッ素コーティング剤は、これらの課題に対し、優れた防汚性能を提供します。 【活用シーン】 * ディスプレイ * タッチパネル * レンズ * 操作パネル 【導入の効果】 * 指紋や汚れの付着を低減 * 拭き取りやすさの向上 * 製品の美観と操作性の維持

【電子部品向け】ジャイロフラットスクリーン

【電子部品向け】ジャイロフラットスクリーン
電子部品業界では、製品の品質を左右する異物混入の徹底的な排除が求められます。特に、微細な部品や材料を扱う工程においては、異物の混入は製品の不良や性能低下に直結する深刻な問題です。ジャイロフラットスクリーンは、精密な篩分けにより、異物混入リスクを低減し、高品質な電子部品製造をサポートします。 【活用シーン】 ・電子部品製造における材料の異物除去 ・微細部品の選別 ・製造工程における品質管理 【導入の効果】 ・異物混入による不良品の発生率を低減 ・製品の品質向上 ・歩留まりの改善

【半導体向け】断面観察用 超音波カッティング装置/産業機械

【半導体向け】断面観察用 超音波カッティング装置/産業機械
半導体業界では、製品の品質管理と歩留まり向上のため、微細加工された部品の正確な断面観察が不可欠です。特に、製造プロセスにおける微細な欠陥や構造上の問題を早期に発見し、対策を講じることが求められます。従来の断面試料作製は、時間と専門スキルを要し、効率的な分析の妨げとなっていました。当社の超音波カッティング装置は、これらの課題を解決し、SEM観察を効率化します。 【活用シーン】 ・微細加工された半導体デバイスの断面観察 ・故障解析、不良解析 ・製造条件出しの確認 【導入の効果】 ・断面が非常に綺麗に仕上がり、観察精度が向上 ・専門スキル不要で、誰でも安定した断面作製が可能 ・SEM観察前のイオンミリング時間を大幅短縮

【画像処理向け】密着冷却用空冷サーモ・クーラー

【画像処理向け】密着冷却用空冷サーモ・クーラー
画像処理業界では、高解像度化が進むにつれて、画像センサーや関連電子部品の発熱が大きな課題となっています。発熱はノイズの増加や誤作動を引き起こし、画質の低下やシステムの信頼性低下につながります。密着冷却用空冷サーモ・クーラーは、これらの問題を解決し、安定した画像処理を可能にします。 【活用シーン】 ・高解像度カメラ ・画像処理装置 ・医療用画像診断装置 【導入の効果】 ・画像ノイズの低減 ・画質の向上 ・システムの安定性向上

【半導体製造向け】高発生力&高精度ピエゾリニアステージ

【半導体製造向け】高発生力&高精度ピエゾリニアステージ
半導体製造業界では、ウェーハやマスクの位置決めにおいて、高い精度と安定性が求められます。特に、微細加工や検査工程においては、ナノメートルレベルの位置決め能力が、製品の品質と歩留まりを左右する重要な要素となります。位置決めの精度が低いと、製造不良や検査エラーが発生し、コスト増につながる可能性があります。当社の高発生力&高精度ピエゾリニアステージ N-332は、ピエゾWalkドライブにより、ナノメートル精度での位置決めを実現し、半導体製造における課題解決に貢献します。 【活用シーン】 ・ウェーハプロービング ・マスクアライメント ・半導体製造装置 【導入の効果】 ・高精度な位置決めによる歩留まり向上 ・製造プロセスの効率化 ・製品品質の安定化

【電子機器向け】クイントソニックTによる膜厚測定

【電子機器向け】クイントソニックTによる膜厚測定
電子機器業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、コーティングの正確な膜厚測定が不可欠です。特に、基板や筐体などのコーティングは、製品の性能や耐久性に大きく影響します。膜厚が不適切だと、絶縁不良や腐食、性能劣化を引き起こす可能性があります。クイントソニックTは、非破壊で最大8層までの膜厚を測定し、電子機器の品質管理をサポートします。 【活用シーン】 ・電子部品のコーティング厚測定 ・基板の絶縁膜厚測定 ・筐体の塗装膜厚測定 【導入の効果】 ・非破壊測定による検査時間の短縮 ・多層膜厚の同時測定による効率化 ・測定データのEXCEL出力とレポート作成による記録管理の簡素化

【IoTデバイス向け】ICテストハンドラNS-8080SH

【IoTデバイス向け】ICテストハンドラNS-8080SH
IoTデバイスの接続性評価においては、多数のデバイスを迅速かつ正確にテストすることが求められます。デバイスの多様化と複雑化が進む中、テスト時間の短縮と高い信頼性の両立が重要です。ICテストハンドラNS-8080SHは、IoTデバイスの品質管理と開発効率向上に貢献します。 【活用シーン】 ・IoTデバイスの量産テスト ・接続性評価テスト ・品質管理 【導入の効果】 ・テスト時間の短縮 ・高い信頼性の確保 ・生産性の向上

【電子機器向け】コンパクトエアリークテスター FLZ-0220

【電子機器向け】コンパクトエアリークテスター FLZ-0220
電子機器業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、筐体の気密性検査が重要です。特に、外部からの異物混入や湿気による故障を防ぐためには、エアリークテストによる厳格な検査が不可欠です。FLZ-0220シリーズは、エアリークテストに必要な機能をすべて搭載し、タッチパネルによる操作性の向上とコンパクトサイズを実現しています。 【活用シーン】 ・スマートフォン、タブレット端末の筐体検査 ・各種電子部品の筐体検査 ・キーレススイッチなどの気密検査 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・不良品の削減 ・検査時間の短縮

【家電向け】半導体製造装置用部品

【家電向け】半導体製造装置用部品
家電業界では、製品の高機能化に伴い、半導体部品の品質と信頼性がますます重要になっています。 特に、省電力化や小型化が進む中で、半導体製造装置の精度が製品の性能を左右します。 装置部品の品質が低いと、製品の故障や性能低下につながる可能性があります。 当社半導体製造装置用部品は、多様な材質と加工方法に対応し、家電製品の高機能化を支えます。 【活用シーン】 ・高機能家電製品の製造 ・省電力・小型化を実現する半導体製造 ・耐久性・信頼性が求められる家電製品 【導入の効果】 ・半導体製造装置の安定稼働 ・高品質な半導体部品の製造 ・家電製品の性能向上

【計測器向け】ナノ結晶軟磁性合金

【計測器向け】ナノ結晶軟磁性合金
計測器業界では、微弱な信号を正確に捉えるために、ノイズ対策が重要です。特に、高感度な計測を行う場合、外部からのノイズの影響を受けやすく、計測精度が低下する可能性があります。当社のナノ結晶軟磁性合金は、高透磁率によりノイズを効果的に抑制し、計測器の高感度化に貢献します。 【活用シーン】 ・高感度センサー ・ノイズ対策が必要な計測機器 【導入の効果】 ・計測精度の向上 ・ノイズ対策コストの削減

【電子部品向け】静電容量式ポータブル露点計TK-100NK-2型

【電子部品向け】静電容量式ポータブル露点計TK-100NK-2型
電子部品業界では、製品の絶縁性を確保するために、気体中の水分管理が重要です。水分は絶縁不良を引き起こし、製品の性能低下や故障につながる可能性があります。特に、高精度が求められる電子部品の製造プロセスにおいては、微量の水分も厳密に管理する必要があります。静電容量式ポータブル露点計 TK-100 NK-2型は、-50℃以下の露点測定に対応し、電子部品の品質管理に貢献します。 【活用シーン】 ・電子部品製造における乾燥空気や不活性ガスの水分管理 ・絶縁材料の保管環境における水分モニタリング ・製品の品質検査における露点測定 【導入の効果】 ・絶縁不良のリスクを低減 ・製品の信頼性向上 ・品質管理の効率化 ・製造コストの削減

【電子部品向け】露点表示モニター TK-100 MS

【電子部品向け】露点表示モニター TK-100 MS
電子部品業界では、静電気による製品への影響を最小限に抑えることが重要です。静電気は、製造プロセスにおける部品の損傷や性能低下を引き起こす可能性があります。湿度管理は静電気の発生を抑制する上で不可欠であり、適切な露点管理が求められます。TK-100 MSは、露点トランスミッタの測定値を正確に表示し、静電気対策における湿度管理をサポートします。 【活用シーン】 ・電子部品製造工場 ・クリーンルーム ・静電気対策が必要な保管場所 【導入の効果】 ・静電気による製品不良の低減 ・品質管理の向上 ・製造プロセスの安定化

【半導体材料向け】ウェーハ表面のゼータ電位測定

【半導体材料向け】ウェーハ表面のゼータ電位測定
CMPプロセスにおいては、ウェーハ表面の清浄度維持が製品の品質を左右する重要な要素です。CMPスラリーとウェーハ間の静電的な相互作用を理解し、最適化することは、パーティクルの再付着を防ぎ、高い洗浄効果を得るために不可欠です。当社の固体表面のゼータ電位測定は、CMPスラリーとウェーハのゼータ電位を測定し、静電相互作用を評価することで、これらの課題解決に貢献します。 【活用シーン】 ・CMPスラリーとウェーハの静電相互作用評価 ・洗浄条件の最適化 ・パーティクル再付着防止 【導入の効果】 ・CMPプロセスの効率化 ・ウェーハ表面の清浄度向上 ・製品の品質向上

【電子機器向け】小型加振器(汎用タイプ)振動試験機

【電子機器向け】小型加振器(汎用タイプ)振動試験機
電子機器業界では、製品の品質を保証するために、基板の検査が不可欠です。特に、振動や衝撃にさらされる電子機器においては、基板の耐久性と信頼性を確認することが重要です。検査において、不適切な加振は、基板の損傷や誤った結果につながる可能性があります。当社小型加振器(汎用タイプ)は、基板検査の目的に合わせて、最適な振動試験を実現します。 【活用シーン】 ・基板の振動試験 ・電子部品の耐久性試験 ・製品の品質評価 【導入の効果】 ・基板の信頼性向上 ・製品の品質向上 ・試験時間の短縮

【半導体向け】オーク製作所の光応用装置

【半導体向け】オーク製作所の光応用装置
半導体業界における微細化技術の進展は、製品の高性能化に不可欠です。微細加工においては、高い精度と均一性が求められ、製造プロセスにおける光の利用が重要になります。光応用装置は、微細加工における露光、検査、測定といった工程で、高い精度と効率性を実現するために不可欠です。 【活用シーン】 * フォトリソグラフィにおける露光 * ウェーハの検査 * 微細構造の測定 【導入の効果】 * 高精度な加工の実現 * 歩留まりの向上 * 生産性の向上

【半導体向け】AI外観検査システムスターターセット

【半導体向け】AI外観検査システムスターターセット
半導体業界では、製品の品質を確保するために、微細なパターン異常の検出が不可欠です。製造プロセスにおけるわずかな異常が、製品の性能に大きな影響を与える可能性があります。AI外観検査システムスターターセットは、購入後すぐに使い始めることができ、パターン異常の検出を効率化します。 【活用シーン】 ・半導体ウェーハのパターン検査 ・電子部品のパターン検査 ・基板のパターン検査 【導入の効果】 ・不良品の早期発見による歩留まり向上 ・検査精度の向上 ・検査時間の短縮

【ADAS向け】高周波測定テストソケット

【ADAS向け】高周波測定テストソケット
ADAS(先進運転支援システム)は、自動車の安全性と性能を向上させるために、高速データ通信と高精度な半導体技術を必要としています。ADASシステムの進化に伴い、半導体のテストにおける高周波測定の重要性が増しています。高周波測定の課題を解決し、ADASシステムの信頼性を確保するために、当社の高周波測定テストソケットが貢献します。 【活用シーン】 ・ADAS搭載車載レーダーのテスト ・ミリ波レーダーモジュールの評価 ・高速データ通信用半導体の特性評価 【導入の効果】 ・ADASシステムの信頼性向上 ・高周波測定の安定性確保 ・多様なADASアプリケーションへの対応

【半導体製造向け】加湿装置 Model me-40DP

【半導体製造向け】加湿装置 Model me-40DP
半導体製造業界では、製造プロセスにおける微細な湿度管理が、製品の品質と歩留まりを大きく左右します。特に、ウェーハ製造やクリーンルーム環境においては、湿度のわずかな変動が、製品の不良や性能低下につながる可能性があります。Model me-40DPは、高精度な湿度制御を実現し、半導体製造プロセスにおける安定した環境を提供します。これにより、歩留まりの向上に貢献します。 【活用シーン】 ・ウェーハ製造工程 ・クリーンルーム環境 ・研究開発部門 【導入の効果】 ・歩留まりの向上 ・製品品質の安定化 ・製造コストの削減

【半導体製造向け】HIWIN単軸リニアモーターステージ

【半導体製造向け】HIWIN単軸リニアモーターステージ
半導体製造業界では、高精度な位置決めが製品の品質と歩留まりを左右する重要な要素です。特に、ウェーハの搬送や検査工程においては、ミクロン単位の正確な位置決めが求められます。位置決めの精度が低いと、製造不良や検査エラーが発生し、コスト増につながる可能性があります。HIWINの単軸リニアモーターステージは、高速・高精度な位置決めを実現し、半導体製造におけるこれらの課題を解決します。 【活用シーン】 ・ウェーハ搬送 ・検査装置 ・組み立て工程 【導入の効果】 ・高精度な位置決めによる品質向上 ・生産性の向上 ・コスト削減

【ITセキュリティ向け】プレマテック株式会社

【ITセキュリティ向け】プレマテック株式会社
ITセキュリティ業界では、情報漏洩や不正アクセスを防ぐため、高品質なディスプレイが求められます。特に、監視システムやセキュリティデバイスにおいては、表示性能と耐久性が重要です。不適切なディスプレイは、誤った情報表示やシステム停止につながる可能性があります。プレマテック株式会社は、液晶ディスプレイ(LCD)組立装置の設計・製作を通じて、ITセキュリティ分野における高品質なディスプレイの実現を支援します。 【活用シーン】 ・監視システム ・セキュリティデバイス ・情報表示ディスプレイ 【導入の効果】 ・高品質なディスプレイの実現 ・高い表示性能と耐久性の確保 ・情報伝達の正確性向上

【半導体製造向け】Z方向・チップ/チルトステージ動作 A-523

【半導体製造向け】Z方向・チップ/チルトステージ動作 A-523
半導体製造業界では、ウェーハやマスクなどの精密な位置決めが、製品の品質と歩留まりを左右する重要な要素です。特に、微細加工や検査工程においては、ナノレベルの位置精度が求められます。振動や熱の影響を受けやすい環境下では、安定した位置決め性能が不可欠です。当社の薄型エアベアリング Z Tip/Tilt ステージは、3軸の超高精度位置決めを実現し、半導体製造における位置決め精度と生産性の向上に貢献します。 【活用シーン】 ・ウェーハプロービング ・マスクアライメント ・微細加工 ・検査工程 【導入の効果】 ・高精度な位置決めによる品質向上 ・摩擦のないモーションプラットフォームによる高い耐久性 ・薄型設計による装置の小型化 ・3軸動作による柔軟な対応

【半導体製造向け】輪郭度とは?基本を解説!

【半導体製造向け】輪郭度とは?基本を解説!
半導体製造業界では、製品の品質と歩留まりの向上が常に求められます。特に、微細加工技術が高度化する中で、部品の形状精度は製品の性能を左右する重要な要素です。輪郭度の理解不足は、設計・製造段階での誤りを生じさせ、歩留まりの低下につながる可能性があります。この動画では、幾何公差の一種である「輪郭度」の基本を解説することで、半導体製造における品質管理と歩留まり改善に貢献します。 【活用シーン】 ・半導体製造における部品の設計・製造 ・品質管理部門での図面解読 ・製造現場での形状精度に関する問題解決 【導入の効果】 ・輪郭度の理解を深め、設計・製造段階でのミスを削減 ・形状精度に関する問題を早期に発見し、歩留まりを改善 ・製品の品質向上と顧客満足度の向上

【電子機器向け】リアルタイム生産最適化スケジューラー

【電子機器向け】リアルタイム生産最適化スケジューラー
電子機器業界では、歩留まりの向上と生産効率の向上が求められています。不良品の発生は、コスト増につながり、競争力を低下させる要因となります。リアルタイム生産最適化スケジューラーは、工程進捗や突発的な変更に1クリックで対応し、計画を自動的に立案します。これにより、生産計画の最適化、歩留まりの改善に貢献します。 【活用シーン】 ・部品供給の遅延発生時 ・生産ラインの急な変更時 ・作業者の欠勤発生時 【導入の効果】 ・リードタイム短縮 ・納期遵守率向上 ・計画変更工数の削減

【半導体製造向け】高精度小径ピン

【半導体製造向け】高精度小径ピン
半導体製造業界では、製品の品質と歩留まりを向上させるために、高精度な位置決めが不可欠です。特に、微細加工技術が求められる分野においては、ピンの精度が製品の性能を左右します。位置ずれや寸法の誤差は、製品の不良や性能低下につながる可能性があります。当社では、外径最小径φ0.01mm~、外径公差±0.0001mm~、真円度0.00015mm~の小径ピンを提供し、お客様の高精度なニーズにお応えします。 【活用シーン】 ・半導体製造装置における部品の位置決め ・精密金型部品の位置決め ・検査治具 【導入の効果】 ・高精度な位置決めによる製品品質の向上 ・歩留まりの改善 ・製造コストの削減

【軍事向け】ターミネーターシリーズ自己消去型SATA SSD

【軍事向け】ターミネーターシリーズ自己消去型SATA SSD
軍事分野においては、機密情報の漏洩は国家安全保障に関わる重大な問題です。データの完全消去は、情報漏洩リスクを最小限に抑えるために不可欠です。APRO社製ターミネーターシリーズ自己消去型SATA SSDは、ジャンパーピンをショートさせることなくデータを完全消去できます。一度消去されたデータは、いかなる方法を用いても復旧できません。 【活用シーン】 ・軍事機密データの保管 ・情報漏洩対策 ・機密性の高い環境でのデータ管理 【導入の効果】 ・機密データの安全な消去 ・情報漏洩リスクの低減 ・高い信頼性と耐久性

【IoTデバイス向け】IC測定基板ダメージ保護tool

【IoTデバイス向け】IC測定基板ダメージ保護tool
IoTデバイス業界では、製品の小型化が進み、それに伴い測定ボードのPadも微細化しています。プローブPinによる繰り返しの接触は、Padにダメージを与え、リペア作業や予備基板の準備が必要となり、開発効率を低下させる可能性があります。Board Protectorは、プローブPinと測定ボードの間に配置することで、測定ボードへの物理的ダメージを回避します。 【活用シーン】 ・小型IoTデバイスの量産テスト ・高密度実装基板の検査 ・信頼性試験 【導入の効果】 ・測定ボードの長寿命化 ・Padのリペア作業や費用軽減 ・ライン停止の回避

【半導体製造向け】HIWINウエハアライナー

【半導体製造向け】HIWINウエハアライナー
半導体製造業界では、ウエハの正確な位置合わせが、製品の品質と歩留まりを左右する重要な要素です。特に、微細加工技術が進む中で、位置合わせの精度はますます重要になっています。位置ずれは、回路パターンの不良やデバイスの性能低下を引き起こす可能性があります。HIWINウエハアライナーは、高速・高精度な位置合わせを実現し、半導体製造における品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・ウエハの搬送 ・露光装置への位置合わせ ・検査装置への位置合わせ 【導入の効果】 ・位置合わせ時間の短縮 ・歩留まりの向上 ・製造コストの削減

【半導体向け】リークテスタ NT-600

【半導体向け】リークテスタ NT-600
半導体業界では、製品の信頼性を確保するために、封止材の気密性が重要です。特に、温度変化や湿度にさらされるデバイスにおいては、封止部分からの漏れが製品の性能劣化や故障につながる可能性があります。リークテスタNT-600は、高精度な差圧センサーにより、微小な漏れを検出し、製品の品質を保証します。水没検査と比較して、ワークを濡らすことなく、数値的な検査が可能です。自動機への組み込みも容易で、生産効率の向上に貢献します。 【活用シーン】 ・半導体デバイスの封止評価 ・各種電子部品の気密検査 ・製造ラインでの品質管理 【導入の効果】 ・製品の信頼性向上 ・不良品の削減 ・検査時間の短縮 ・生産性の向上

【家電向け】ICテストハンドラNS-8080SH

【家電向け】ICテストハンドラNS-8080SH
家電業界では、製品の小型化が進み、それに伴いICチップの集積度も高まっています。これにより、ICチップのテスト工程では、高い精度と効率性が求められます。特に、限られたスペースの中で、多数のICチップを迅速かつ正確にテストすることが重要です。ICテストハンドラNS-8080SHは、小型家電製品のICテストにおける課題を解決し、高品質な製品開発をサポートします。 【活用シーン】 ・小型家電製品のICテスト工程 ・高密度実装されたICチップのテスト ・生産効率の向上 【導入の効果】 ・テスト時間の短縮 ・不良品の削減 ・製品の信頼性向上

【半導体製造向け】幾何公差 同心度・同軸度 基本解説動画

【半導体製造向け】幾何��公差 同心度・同軸度 基本解説動画
半導体製造業界では、製品の品質と歩留まり向上が常に求められます。特に、微細加工技術が重要となる分野においては、部品の精度が製品の性能を大きく左右します。同心度や同軸度の不正確さは、製品の不良や性能低下につながり、歩留まりを悪化させる要因となります。この動画では、幾何公差の一種である「同心度・同軸度」の基本を解説し、半導体製造における品質管理の基礎知識を提供します。この動画を参考に、同心度・同軸度に関する理解を深め、歩留まり改善にお役立てください。 【活用シーン】 ・半導体製造における部品の設計・製造 ・品質管理部門での教育 ・製造現場での技術指導 【導入の効果】 ・幾何公差の理解を深め、設計・製造段階でのミスを削減 ・品質管理能力の向上、不良品の発生率を低減 ・歩留まりの改善、コスト削減に貢献

【ディスプレイ向け】ボンドテスター『MFMシリーズ』

【ディスプレイ向け】ボンドテスター『MFMシリーズ』
ディスプレイ業界では、薄型化が進む中で、接合部分の信頼性が重要になっています。特に、薄型ディスプレイにおいては、部品の小型化と同時に、接合強度の確保が製品の耐久性を左右します。接合部分の強度が低いと、製品の故障や性能劣化につながる可能性があります。ボンドテスター『MFMシリーズ』は、パッシベーション膜成形後のせん断試験に対応し、ディスプレイの薄型化における接合強度評価に貢献します。 【活用シーン】 ・薄型ディスプレイの製造工程における接合強度評価 ・ディスプレイ部品の品質管理 ・めっき・膜の接着強度測定 【導入の効果】 ・接合部分の信頼性向上 ・製品の品質向上 ・不良品の削減

【半導体検査向け】高剛性・高精度Zステージ V-Z03

【半導体検査向け】高剛性・高精度Zステージ V-Z03
半導体分野では、ウェーハやマスクの位置決めにおいて、高い精度と安定性が求められます。特に検査工程や微細加工では、わずかな位置ずれが測定誤差や歩留まり低下につながり、製品品質に大きく影響します。 V-Z03は、ボイスコイルモータによるダイレクトドライブ方式を採用し、高速応答かつ高精度なZ軸制御を実現。さらに、高剛性クロスローラーガイドと非接触リニアエンコーダにより、バックラッシュのない安定した位置決めと高い再現性を確保します。最大150 Nの高荷重対応および空圧式カウンターバランスにより、重量物の精密位置決めにも最適です。 【活用シーン】 ・半導体検査装置 ・ウェーハ検査・計測装置 ・精密測定機器 【導入の効果】 ・高精度位置決めによる測定精度の向上 ・高速応答によるタクトタイム短縮 ・高剛性ガイドによる安定した動作 ・高荷重対応による用途拡張 ・セルフロック機能による安全性向上

【電子機器向け】FA×AIで不良解析を効率化

【電子機器向け】FA×AIで不良解析を効率化
電子機器業界では、製品の品質管理において、不良解析の迅速性と正確性が求められます。不良原因の特定に時間がかかると、生産性の低下や顧客からのクレームにつながる可能性があります。当社のFA×AIソリューションは、AIを活用して不良解析を効率化し、原因究明を迅速化します。これにより、不良品の発生率を低減し、製品の品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・不良品の発生原因分析 ・製造プロセスの改善 ・品質管理の効率化 【導入の効果】 ・不良解析時間の短縮 ・不良品の削減 ・生産性の向上

【電子機器向け】幾何公差 直角度の基本

【電子機器向け】幾何公差 直角度の基本
電子機器業界では、製品の信頼性を確保するために、部品の正確な製造が不可欠です。特に、直角度の精度は、製品の組み立て精度や性能に大きく影響します。直角度が適切に管理されていない場合、部品の歪みや接触不良を引き起こし、製品の故障や性能低下につながる可能性があります。この動画では、幾何公差の一種である「直角度」の基本を解説しています。直角度の定義、使用例、図面上での使われ方、使用する際の注意点について解説し、電子機器の品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・電子機器の設計・製造部門 ・品質管理部門 ・部品の調達部門 【導入の効果】 ・直角度の理解を深め、設計・製造の品質を向上 ・製品の信頼性向上に貢献 ・不良品の削減、コスト削減

【カジノ向け】大型7セグメントLED

【カジノ向け】大型7セグメントLED
カジノ業界では、配当情報を正確かつ迅速に表示することが重要です。お客様は、一目で配当額を理解できる、視認性の高い表示を求めています。誤った表示は、顧客からの信頼を損なう可能性があります。当社の大型7セグメントLEDは、38mm~127mmの文字高さで、遠くからでもはっきりと数字を表示できます。 【活用シーン】 ・カジノの配当表示 【導入の効果】 ・視認性の高い表示で、情報を正確に伝達 ・ローコストで導入可能

【電子機器向け】セラミックスピンゲージ

【電子機器向け】セラミックスピンゲージ
電子機器業界では、製品の小型化と高密度化が進む中で、絶縁性の確保が重要な課題となっています。特に、精密な部品の組み立てや検査においては、絶縁性能を損なうことなく、高い精度で測定を行うことが求められます。セラミックスピンゲージは、優れた絶縁性と高い寸法精度により、電子機器の品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・電子部品の穴径測定 ・絶縁性を求められる箇所での寸法測定 ・測定器校正 【導入の効果】 ・絶縁性を損なわずに高精度な測定が可能 ・製品の品質向上に貢献 ・長期間にわたる安定した性能

【半導体製造向け】幾何公差 真直度の測り方

【半導体製造向け】幾何公差 真直度の測り方
半導体製造業界においては、高い精度が求められます。半導体関連部品の平面性や形状精度は、デバイスの性能を左右する重要な要素です。真直度のわずかなズレが、製造プロセス全体に影響を及ぼし、歩留まりの低下や製品不良につながる可能性があります。この動画では、幾何公差の一つである真直度の測定方法を解説し、加工精度を向上させるための基礎知識を提供します。 【活用シーン】 ・半導体関連部品の加工工程 ・半導体関連部品のパターン形成工程 ・半導体関連部品の検査工程 【導入の効果】 ・加工精度の向上 ・歩留まりの改善 ・製品品質の安定化

【カメラ向け】小型部品専用リークテスト装置

【カメラ向け】小型部品専用リークテスト装置
カメラ業界では、製品の信頼性を確保するために、防塵性能が非常に重要です。特に、屋外で使用されるカメラにおいては、塵や埃の侵入を防ぎ、長期間にわたって正常な動作を保証することが求められます。リークテスト装置は、製品の気密性を高精度に検査し、防塵性能を向上させるために不可欠です。 【活用シーン】 ・カメラ製造における防塵対策 ・防水・防塵性能評価 ・製品の品質管理 【導入の効果】 ・製品の信頼性向上 ・不良品の削減 ・顧客満足度の向上

【半導体パッケージ向け】コンパクトエアリークテスター 0220

【半導体パッケージ向け】コンパクトエアリークテスター 0220
半導体パッケージ業界では、製品の信頼性を確保するために、パッケージの気密性が重要です。特に、温度変化や湿度変化にさらされる環境下では、微小なリークが製品の性能劣化や故障につながる可能性があります。FLZ-0220シリーズは、エアリークテストに必要な機能をすべて搭載し、高機能補正機能により測定環境による誤判定を抑制します。タッチパネル採用で操作性も向上し、半導体パッケージの品質管理をサポートします。 【活用シーン】 ・半導体パッケージの気密検査 ・各種電子部品のリークテスト ・品質管理部門での検査 【導入の効果】 ・製品の信頼性向上 ・不良品の削減 ・検査時間の短縮

【データセンター向け】異物混入防止フィルター

【データセンター向け】異物混入防止フィルター
データセンターでは、サーバーの安定稼働が最重要課題です。埃や虫の侵入は、機器の故障や性能低下を引き起こす可能性があります。特に、24時間365日稼働するサーバーにとって、異物混入によるトラブルは大きな損失につながります。当社の異物混入防止フィルターは、約0.2mmの極細目合いで、埃や虫の侵入を効果的に防ぎ、サーバーの安定稼働をサポートします。 【活用シーン】 ・データセンターの換気口 ・空調設備のフィルター 【導入の効果】 ・メンテナンスコストの削減
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ウェーハ検査における不良品検出精度の向上

ウェーハ検査における不良品検出精度の向上とは?

半導体製造プロセスにおいて、ウェーハ上に形成された回路パターンに微細な欠陥がないかを高精度に検出する技術です。不良品の流出を防ぎ、半導体製品の品質と歩留まりを向上させることを目的としています。

​課題

微細化・複雑化する欠陥への対応

半導体デバイスの微細化・高集積化に伴い、検出困難な微細な欠陥や、従来とは異なるパターンの欠陥が増加しており、従来の検査手法では見逃すリスクが高まっています。

検査時間の増大とスループット低下

高精度な検査を実現しようとすると、検査に要する時間が増加し、製造ライン全体の生産効率(スループット)が低下する可能性があります。

データ量の爆発的増加と解析負荷

高解像度での検査は膨大な画像データを生成し、その解析には高度な計算能力と専門知識が必要となり、迅速な不良判定の妨げとなります。

人為的ミスの排除と客観性の確保

目視検査や経験に依存する部分が残ると、検査員の熟練度によるばらつきや、疲労によるミスが発生しやすく、検査結果の客観性を担保することが困難です。

​対策

AI・機械学習による画像解析

大量の検査画像データをAIに学習させることで、人間では識別困難な微細な欠陥や、未知の欠陥パターンを自動で高精度に検出します。

検査アルゴリズムの最適化

欠陥の種類やウェーハの状態に応じて、最適な検査パラメータやアルゴリズムを動的に適用することで、検査精度とスピードの両立を図ります。

データ処理・管理基盤の強化

高速なデータ処理能力を持つインフラと、効率的なデータ管理システムを導入し、膨大な検査データを迅速に解析・活用できる体制を構築します。

自動化・標準化された検査プロセス

検査プロセス全体を自動化し、検査基準を明確に定義・標準化することで、人為的なミスを排除し、一貫した高精度な検査を実現します。

​対策に役立つ製品例

深層学習型欠陥検出ソフトウェア

深層学習モデルを用いて、ウェーハ画像から微細かつ複雑な欠陥を高精度に識別・分類し、不良品検出の精度を飛躍的に向上させます。

高速画像処理システム

並列処理技術やGPUを活用し、膨大な検査画像をリアルタイムに近い速度で処理・解析することで、検査時間の短縮とスループット向上に貢献します。

インテリジェント検査システム

AIが検査結果を学習し、継続的にアルゴリズムを最適化することで、新たな欠陥パターンにも対応し、検査精度の維持・向上を自動で行います。

データ統合・分析管理ツール

検査データ、製造データ、材料データなどを一元管理し、高度な分析機能を提供することで、欠陥の原因究明や再発防止策の立案を支援します。

⭐今週のピックアップ

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