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サイドウォール形状の改善とは?課題と対策・製品を解説

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エッチングにおけるサイドウォール形状の改善とは?
半導体製造プロセスにおけるエッチング工程では、微細な回路パターンを形成するために、材料を選択的に除去します。この際、エッチングされる材料の側壁(サイドウォール)の形状は、デバイスの性能や歩留まりに大き く影響します。サイドウォール形状の改善とは、この側壁をより垂直に、あるいは特定の角度に制御し、不要な段差やアンダーカットを最小限に抑える技術や手法を指します。これにより、高密度化・高性能化が進む半導体デバイスの実現に不可欠な要素となっています。
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【半導体向け】幾何公差 直角度 基本解説動画
【表面処理向け】GTシリーズ
CSOI MEMS ウエハーソリューション
当社は、100-150mmのキャビティーボンディングSOIウエハーをMEMSの
広い分野において提供するリーディングサプライヤーです。
高度なウエハーボンディング技術を提供し、お客様のキャビティー
仕様の材料を革新的な製品への材料として可能にします。
アイスモスのキャビティーボンディングSOIウエハーはプレエッチング
されたキャビティーをシリコン薄膜下に持つ構造となり、これをお客様が
さらに市場の要求に見合う高度なデバイスへとデザインすることができます。
【特長】
■高度なボンディング技術
■解放時の付着問題を減らす
■簡潔な製造フロー
■低コストなCavity SOI/Si-Siのソリューション
■お客様に必要なアプリケーションに沿った自由度の高い構造
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハイアスペクトビア形成技術
高アスペクト構造 トレンチパターンウェハ 『PT063』
サンド ブラスト+ウエットエッチング工法によるガラス貫通穴加工
フォトリソウエットエッチングプロセス
ウエハ微細加工
【分析事例】SiCTrenchMOSFETトレンチ側壁の粗さ評価
サブトラ用3μ膜厚ポジ型DFR Positive DFR110
Positive DFR 110は、既存製造ラインにて使用可能なサブトラ用3μ膜厚ポジ型DFRです。
主要成分特許登録済み。
ラミネーション時にボイド及びシワが発生しないためロールラミネーターに使用できます。
5μスペース(狭ギャップ)にエッチング液が拡散し、エッチング解像力が向上します。
粗化処理不要、高周波対応。優れた密着性があります。
【特徴】
○ラミネーション時にボイド及びシワが発生しない
○5μスペース(狭ギャップ)にエッチング液が拡散
○優れた密着性
○1%炭酸ソーダ現像 /スカム発生ゼロ
○レジスト破片発生ゼロ剥離
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
真空装置 平行平板評価用プラズマ処理装置










