
半導体製造装置・材料に関連する気になるカタログにチェックを入れると、まとめてダウンロードいただけます。
サイドウォール形状の改善とは?課題と対策・製品を解説

目的・課題で絞り込む
カテゴリで絞り込む
検査・測定装置 |
材料 |
自動化・ITソリューション |
製造装置 |
関連技術 |
その他半導体製造装置・材料 |

エッチングにおけるサイドウォール形状の改善とは?
各社の製品
絞り込み条件:
▼チェックした製品のカタログをダウンロード
一度にダウンロードできるカタログは20件までです。
【半導体向け】幾何公差 直角度 基本解説動画
高アスペクト構造 トレンチパターンウェハ 『PT063』
フォトリソウエットエッチングプロセス
エミネントシリーズ第三世代エッチング装置『エミネント2』
ウエハ微細加工
ハイアスペクトビア形成技術
CSOI MEMS ウエハーソリューション
真空装置 平行平板評価用プラズマ処理装置
サブトラ用3μ膜厚ポジ型DFR Positive DFR110
微細貫通穴加工(TGV)
サンドブラスト+ウエットエッチング工法によるガラス貫通穴加工

お探しの製品は見つかりませんでした。
1 / 1
エッチングにおけるサイドウォール形状の改善
エッチングにおけるサイドウォール形状の改善とは?
半導体製造プロセスにおけるエッチング工程では、微細な回路パターンを形成するために、材料を選択的に除去します。この際、エッチングされる材料の側壁(サイドウォ ール)の形状は、デバイスの性能や歩留まりに大きく影響します。サイドウォール形状の改善とは、この側壁をより垂直に、あるいは特定の角度に制御し、不要な段差やアンダーカットを最小限に抑える技術や手法を指します。これにより、高密度化・高性能化が進む半導体デバイスの実現に不可欠な要素となっています。
課題
側壁のテーパー化・アンダーカットの発生
エッチングガスやプラズマの特性により、側壁が内側に傾斜したり、下部が過剰に除去されることで、パターン寸法のばらつきや隣接パターン間のショートを引き起こす。
サイドウォールプロファイルの不均一性
ウェハー面内やバッチ間でのエッチング条件のばらつきにより、サイドウォールの形状が一様にならず、デバイス性能のばらつきや歩留まり低下の原因となる。
微細パターンのエッチング限界
回路パターンの微細化が進むにつれて、従来のサイドウォール制御技術では対応が難しくなり、高精度な形状制御が困難になる。
エッチング残渣・付着物の生成
エッチング副生成物や材料がサイドウォールに付着し、形状を乱したり、後工程での欠陥の原因となる。
対策
プラズマ条件の最適化
エッチングガス種、流量、圧力、RFパワーなどのプラズマパラメー タを精密に制御し、イオンの入射角度や反応種の挙動を調整することで、サイドウォール形状を最適化する。
マスク材料・構造の改良
エッチング耐性の高いマスク材料の選定や、サイドウォール保護層の導入により、エッチング時の側壁へのダメージを低減し、形状を安定させる。
プロセスシミュレーションとAI活用
高度なプロセスシミュレーションや機械学習を活用し、 膨大な実験データから最適なエッチング条件を予測・導出することで、開発期間の短縮と高精度な形状制御を実現する。
新規エッチング手法の開発
従来のプラズマエッチングに加え、指向性の高いイオンビームエッチングや、選択性の高いウェットエッチング技術などを組み合わせ、より精密なサイドウォール制御を目指す。
対策に役立つ製品例
高選択性エッチングガス
目的の材料のみを効率的に除去し、不要な側壁への影響を最小限に抑えることで、シャープなサイドウォール形状を実現する。
精密プラズマ制御装置
プラズマの密度、均一性、イオンエネルギーなどを高精度に制御し、ウェハー面内・バッチ間でのエッチングプロファイルのばらつきを抑制する。
サイドウォール保護膜形成材料
エッチング中に側壁を保護し、過剰なエッチングやテーパー化を防ぐことで、垂直性の高いサイドウォール形状を維持する。
プロセス最適化支援ソフトウェア
過去の実験データや物理モデルに基づき、最適なエッチング条件をシミュレーション・提案することで、サイドウォール形状の改善を効率的に行う。
⭐今週のピックアップ

読み込み中










