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積層不良の原因究明とは?課題と対策・製品を解説

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積層における積層不良の原因究明とは?
プリント配線板の製造工程における積層不良は、製品の品質低下や歩留まり悪化に直結する重大な問題です。この不良の原因を特定し、再発防止策を講じるプロセスが「積層の積層不良の原因究明」です。正確かつ迅速な原因究明は、生産効率の向上と信頼性の高い製 品供給に不可欠です。
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基板製造
有限会社ファイトロニクス 事業紹介
株式会社協同電気研究所 事業紹介
制御・試作基板・その他基板の製作
【アルミ表面処理 問題解決事例】半導体製造装置へ異物混入防止
製造工程中に使用するアルミニウム合金製の治具やボルトなどの締結部品は
アルマイト処理をする場合がありますが、高温になると皮膜がクラック・欠落
してしまう問題があります。
350℃の環境下でもクラックすることなく使用が可能な、耐熱クラックレス
硬質アルマイト処理「TAF TR」を部品表面に施すことで、皮膜欠落の原因で
ある熱クラックの防止を図ることが可能。
課題であった皮膜欠落 による異物混入は改善されるだけではなく、従来の硬質
アルマイトよりも皮膜表面の粗さを改善できるため、部品の精度を向上できます。
【課題・背景】
■アルミニウム合金製の治具やボルトなどの締結部品は、アルマイト処理を
する場合、高温になると皮膜がクラック・欠落してしまう
■半導体製造の分野では特に製品不良の原因となる異物問題に対して、
製造現場での徹底した品質管理が求められている
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
デンシトメーター『ND-12』
ND‐12は、軽量・コンパクトで持ち運びが可能なハンディ型デンシトメーター(反射濃度計)です。
操作は試料の測定箇所に ターゲットマークを合わせて押しあてるだけと極めて簡単。
1台で視感反射濃度・イエロー濃度・反射率などが測定できます。
また、サンプルの大きさに合わせてφ1mm、1.7mm、φ3mmの測定径が選択可能。
印刷物の濃度管理、電子部品・リードフレーム・メッキ等の光沢評価に最適な測定器です。
【特長】
■軽量・コンパクトで持ち運びが可能なハンディ型デンシトメーター(反射濃度計)。
■1台で視感反射濃度・イエロー濃度・反射率などの測定が可能。
■測定箇所にターゲットマークを合わせて押しあてるだけだから測定操作が簡単。
■試料の大きさに合わせてφ1mm・1.7mm・φ3mmの測定径の選択ができる。
■平均値計算機能・データ補正機能など、様々な測定機能を搭載。
■専用プリンターや受信ソフトも使用可能(オプション)。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『プリプレグ切断装置』
PCB・半導体実装・材料の専門技術コンサルティングサービス
基板試作サービス
株式会社ミナミは、回路設計からアートワーク、基板製作、実装・
組立まで、プリント基板に関することならなんでもお任せください。
プリント基板の一貫製造で個々に発注するお客様の手間を省き、
さらなるコストパフォーマンスにつなげます。
また、お客様のご都合に合わせて、製品製造工程途中の製造停止などにも
素早く対応可能。鉛フリー品(RoHS対応製品)などにも対応して
おりますので、お気軽にご相談ください。
【事業内容】
■プリント基板実装
■産業 用機器組立・トラックボール組立
■エンコーダ組立・サーボモータ組立
■サイクルパーツの開発・販売(八戸工場)
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
エレクトロニクス応用基板や機器の試作が早い!
試作基板.com 部品調達サービス
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電子回路・ユニット制作の開発・試作








