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ねじれ・変形の影響分析とは?課題と対策・製品を解説

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物理・環境試験・分析におけるねじれ・変形の影響分析とは?

エレクトロニクス製品の信頼性を確保するため、製品が物理的な力や環境の変化にどの程度耐えられるかを評価する試験・分析プロセスにおいて、製品に発生するねじれや変形が、その性能や機能に与える影響を定量的に評価・分析することです。これにより、製品設計の妥当性検証や、潜在的な故障モードの特定を行います。

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【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価

【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価
単結晶Siのラマンスペクトルのピークは、試料に圧縮応力が働いている場合は高波数シフト、引張応力が働いている場合は低波数シフトします。これにより、Siの応力に関する知見を得ることができます。 IGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)の断面について、ラマンマッピングで応力の分布を確認した例を示します。
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物理・環境試験・分析におけるねじれ・変形の影響分析

物理・環境試験・分析におけるねじれ・変形の影響分析とは?

エレクトロニクス製品の信頼性を確保するため、製品が物理的な力や環境の変化にどの程度耐えられるかを評価する試験・分析プロセスにおいて、製品に発生するねじれや変形が、その性能や機能に与える影響を定量的に評価・分析することです。これにより、製品設計の妥当性検証や、潜在的な故障モードの特定を行います。

​課題

試験中の予期せぬ変形によるデータ信頼性の低下

試験中に発生するねじれや変形が、本来測定すべき性能指標に影響を与え、試験結果の信頼性を損なう可能性があります。

複雑な応力下での変形挙動の予測困難性

複数の物理的・環境的要因が複合的に作用する状況下での、製品のねじれ・変形挙動を正確に予測することが難しいです。

微細な変形による機能不全の見落とし

目視では確認しにくい微細なねじれや変形が、内部回路や部品の機能不全を引き起こす可能性があり、その検出が困難です。

試験装置の限界による再現性の問題

試験装置の能力や設定のばらつきにより、ねじれ・変形試験の再現性が確保できず、客観的な評価が困難になる場合があります。

​対策

高精度な変形計測システムの導入

非接触型の光学式計測器やひずみゲージなどを活用し、試験中の微細なねじれ・変形をリアルタイムかつ高精度に計測します。

有限要素法(FEM)解析によるシミュレーション

製品の構造や材料特性に基づき、様々な負荷条件下でのねじれ・変形挙動を事前にシミュレーションし、影響を予測します。

複合環境試験と変形モニタリングの連携

温度、湿度、振動などの複合環境試験中に、変形計測システムを併用し、環境変化と変形の相関関係を分析します。

標準化された試験プロトコルの適用と検証

業界標準や国際規格に準拠した試験手順を適用し、試験装置の校正や定期的な検証を行うことで、結果の再現性を高めます。

​対策に役立つ製品例

光学式変形計測装置

レーザーやカメラを用いて、製品表面の微細な変位やひずみを非接触で高精度に計測し、ねじれ・変形を可視化・定量化します。

構造解析シミュレーションソフトウェア

製品の3Dモデルと材料特性を入力することで、様々な物理的・環境的負荷に対する応力分布や変形挙動をコンピュータ上で予測・分析します。

複合環境試験チャンバーと統合型計測システム

温度・湿度・振動などを精密に制御できる試験環境と、リアルタイムで変形データを取得できる計測システムを組み合わせ、複合的な影響を評価します。

高感度ひずみゲージおよびデータロガー

製品の特定箇所に貼り付け、微小なひずみを電気信号として検出し、詳細な変形データを記録・分析します。

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