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エレクトロニクス検査・試験

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製品の故障原因を究明とは?課題と対策・製品を解説

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物理・環境試験・分析における製品の故障原因を究明とは?

エレクトロニクス製品が、物理的な衝撃や過酷な環境下での使用により故障した場合、その根本原因を特定し、将来の製品設計や製造プロセス改善に繋げるための活動です。これにより、製品の信頼性向上と品質保証を実現します。

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【電子部品向け】接合強度試験機

【電子部品向け】接合強度試験機
電子部品業界では、製品の信頼性を高めるため、接合部分の強度が重要です。AI半導体、光通信デバイスなどの分野では、微細化が進み、接合部分の品質が製品の性能を左右します。接合強度の測定・数値化は、製品の品質管理において不可欠です。当社の接合強度試験機は、これらの課題を解決します。 【活用シーン】 ・AI半導体、光通信デバイスの品質管理 ・高電圧・大電流を扱うパワー半導体の品質管理 ・EV関連部品の品質管理 【導入の効果】 ・接合強度の測定による品質向上 ・不良品の削減 ・製品の信頼性向上

バッテリー消火対応型 環境試験室

バッテリー消火対応型 環境試験室
当社は、バッテリー試験時の異常発生を想定し、消火対応を考慮した環境試験室を取り扱っております。 リチウムイオン電池をはじめとするバッテリー試験では、 熱暴走や発煙・発火といったリスクへの備えが重要視されています。 本試験室は、異常時の安全確保を目的として、 消火設備との連携や消火機構に配慮した構造設計を相談の上採用しています。 これにより、試験中のリスク低減を図りつつ、評価試験の継続を支援します。 車載用バッテリー、エネルギー貯蔵用バッテリーの研究開発・安全評価において、 安全性に配慮した試験環境を構築するための設備として、ご検討いただいております。

サーマルマネジメント用 温調ベンチ(評価環境構築対応)

サーマルマネジメント用 温調ベンチ(評価環境構築対応)
電子機器業界では、製品の信頼性確保のため、様々な環境下での耐久試験が不可欠です。 温度変化、湿度、振動といった外的要因が、製品の性能や寿命に大きく影響します。 本設備は、サーマルマネジメント評価に必要な温度制御環境を構築するための温調ベンチです。 製品の高性能化・高密度化に伴い、熱マネジメントの重要性が高まる一方で、 評価手法や解析については、専門的な知見を有する評価機関やパートナー企業との連携が求められるケースも増えています。 熱マネジメントに関する評価方法の立案や評価実施については、 外部の専門企業にてご対応いただく形となります。

【電子部品向け】ボンドテスター『MFMシリーズ』

【電子部品向け】ボンドテスター『MFMシリーズ』
電子部品業界において、製品の品質は非常に重要です。特に、ダイボンディングやワイヤーボンディングといった接合工程の信頼性は、製品の性能と寿命を左右します。接合部の強度不足は、製品の早期故障につながり、顧客からの信頼を損なう可能性があります。ボンドテスター『MFMシリーズ』は、これらの課題に対し、正確なせん断試験と引張試験を提供することで、電子部品の品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・ICパッケージの品質評価 ・LEDパッケージの接合強度測定 ・SMT/表面実装部品の接合信頼性評価 ・車載関連部品の品質管理 【導入の効果】 ・接合部の強度を定量的に評価し、不良品の発生を抑制 ・製品の信頼性向上による顧客満足度の向上 ・品質管理プロセスの効率化とコスト削減

【電子機器向け】超小型4chマルチ熱電対温度ロガー

【電子機器向け】超小型4chマルチ熱電対温度ロガー
電子機器業界における基板検査では、製品の品質と信頼性を確保するために、正確な温度測定が不可欠です。特に、高温環境下や動作中の温度変化を把握することは、製品の性能評価や故障原因の特定に重要です。不適切な温度管理は、基板の損傷や性能低下につながる可能性があります。SCM-TC4は、最大4カ所の温度を同時に測定し、狭いスペースへの設置も容易なため、基板検査における温度測定の課題を解決します。 【活用シーン】 ・基板実装後の温度プロファイル測定 ・電子部品の動作温度監視 ・製品開発における温度特性評価 【導入の効果】 ・複数箇所の温度を同時に測定し、検査工数の削減 ・小型設計により、検査場所を選ばず、検査精度の向上 ・CSVデータ出力により、データ分析を効率化

【精密機器向け】結露リスク監視システム

【精密機器向け】結露リスク監視システ��ム
精密機器業界では、製品の品質維持と長期的な稼働が求められます。特に、温度変化や湿度の影響を受けやすい精密機器においては、結露の発生が故障や性能劣化につながる大きなリスクとなります。当社の結露リスク監視システムは、周囲環境の気温・湿度から露点温度を算出し、監視対象物の表面温度との差をモニタリングすることで結露リスクを判定します。これにより、換気や保管場所の変更など、迅速な対応を促し、精密機器の故障リスクを低減します。 【活用シーン】 ・精密機器製造工場 ・精密機器保管倉庫 ・研究開発施設 ・品質管理部門 【導入の効果】 ・結露による故障リスクの低減 ・製品の品質維持 ・稼働率の向上 ・コスト削減

【ウェアラブルデバイス向け】接合強度試験機

【ウェアラブルデバイス向け】接合強度試験機
ウェアラブルデバイス業界では、製品の小型化・軽量化が進む中で、デバイス内部の接合部分の信頼性が重要になっています。特に、小型化に伴い、接合部分にかかる負荷が増大し、接合強度の確保が課題となっています。接合強度が低いと、製品の故障や性能劣化につながる可能性があります。当社の接合強度試験機は、ウェアラブルデバイスの品質管理において、接合部分の信頼性を評価し、製品の小型化・軽量化をサポートします。 【活用シーン】 ・ウェアラブルデバイスの製造工程における品質管理 ・小型・軽量化されたデバイスの接合強度評価 ・高密度実装された部品の接合信頼性評価 【導入の効果】 ・製品の信頼性向上 ・不良品の削減 ・品質管理の効率化

アバランシェ耐量試験装置『ST-1322』

アバランシェ耐量試験装置『ST-1322』
『ST-1322』は、POWER MOS FET Nch/PchのL負荷アバランシェ測定し、 GO/NG判定を行う装置です。 全ての試験項目は、ハードウェアにて処理解析していますので、従来の ディジタルオシロスコープを使用した装置に比べ高速に試験が可能。 上位コンピュータとオンラインで接続しデータの管理やテスト条件の 管理ができます。また、セルフテスト機能を有しております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■スピードを飛躍的に向上 ■低電圧にて、大電流試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

【分析事例】エポキシ樹脂のTDS分析

【分析事例】エポキシ樹脂のTDS分析
エポキシ樹脂は半導体封止材として、また真空装置内外で接着剤や真空リーク対策として使用されています。しかし硬化後であっても加熱により脱ガスが発生する場合があり、製品や装置に悪影響を及ぼす可能性があります。TDS(昇温脱離ガス分析法)は高真空中(1E-7 Pa)で試料を昇温、または温度を保持しながら、脱ガス成分をモニターすることが可能です。以下にエポキシ樹脂についてTDSで温度保持を行い、脱ガスの挙動を調査した事例を示します。

【資料】受託分析サービス 信頼性評価

【資料】受託分析サービス 信頼性評価
当資料では、東芝ナノアナリシス株式会社で行っている「受託分析サービス 信頼性評価」について詳しく解説しております。 温度変化による熱ストレスを与えて耐性を確認する電子部品の温度サイクル試験や X線による物質への影響や耐性を評価するX線照射試験など、豊富にご紹介。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験 ■電子部品の温度サイクル試験 ■温度サイクル試験による経時劣化の観察 ■熱衝撃試験による経時劣化の観察 ■X線照射試験 ■表面実装部品のはんだ耐熱性試験 ■半導体パッケージの接合強度試験 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

レーザーダイオードバーンインシステム

レーザーダイオードバーンインシステム
BI6201は、半導体レーザーチップのバーンイン寿命検証に特化した高密度・多機能テストシステムです。モジュール構造と大面積単層設計を採用し、多チャネル電源、温度制御、リアルタイムデータ取得、標準化された引き出し構造、柔軟な治具構成を統合することで、システムコストを大幅に削減します。 ▶対応パッケージ・治具柔軟性 CoC(Chip on Carrier)など、さまざまなパッケージ形状・サイズに対応可能 カスタム治具はワンタッチ交換設計で、製品タイプに応じて簡単に入替可能 ▶ 高信頼な駆動・保護機能 BI6201のドライバ回路には、優れた電流/電圧保護ネットワークを搭載。 以下のようなEOS(Electrical Over Stress)リスクを徹底排除する設計です: ・電流/電圧のオーバーシュートを防止 ・設定されたしきい値を超えた場合、自動的に該当チャネルを遮断 ・テスト対象チップへの損傷を回避 また、制御回路にはチャネル間のアイソレーション性能やESD(静電気放電)保護設計も組み込まれており、長時間安定運転と信頼性保証を両立しています。

基板の修理・保守延命サービス

基板の修理・保守延命サービス
基板の修理・保守延命なら津田製作所!他社で対応不可の製品もお任せ下さい 津田製作所は『基板の修理・保守延命サービス』を承っております。 修理成功率は99%で、単なる"部品交換の修理"だけではなく、さまざまな 技術を駆使してご対応。 また、言われたものの修理だけではなく、お客様にとってメリットがある ご提案やその後も長く使って戴く為のご提案も致します。 アフターフォローもお任せ下さい。 【特長】 ■修理成功率は99% ■"部品交換の修理"だけではなく、さまざまな技術を駆使して対応 ■長く使って戴く為のご提案をし、アフターフォローも対応 ■技術者の長年の経験に基づいた感覚と豊富な知識を駆使し故障箇所を特定 ■基板解析ツールを使用する事で確実な解析を実施 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【分析事例】真空中での有機成分の脱離評価

【分析事例】真空中での有機成分の脱離評価
TDS(昇温脱離ガス分析法)は真空中(1E-7 Pa)で試料を昇温しながら脱離成分と脱離温度を確認できる手法です。さらに有機物を同定できるGC/MS(ガスクロマトグラフィー質量分析法)とTDSの結果を組み合わせて解析することで、真空中において、特定の脱離成分の脱離温度について評価が可能です。 以下にグラフェンについてTDSとGC/MSの複合解析を実施した例をご紹介します。

【デモ機貸出可能!】バッテリーテスター『放バッテ』

【デモ機貸出可能!】バッテリーテスター『放バッテ』
『放バッテ』は、バッテリーの保守を業務とされている方のために、 使いやすくて精度の高いバッテリーテスターです。 12Vから48Vのディープサイクルバッテリー(鉛蓄電池)を終止電圧(12Vの 場合、10.5V)まで急速(30分~60分程度で)放電させて、正確な容量を 測定し結果をSDカードに残し報告書にするシステムを持った商品です。 またRタイプはソーラー発電装置、Li-ion電池の大電流放電器(負荷装置・ 負荷抵抗器)としても使えます。 【特長】 ■「START」ボタンを押すと放電が開始、1秒ごとに画面に経過時間と  電圧が表示され、データをSDカードに保存 ■終止電圧になると自動で放電を中止しバッテリーに優しい ■放電中止と同時に、充電電源をONとするため、自動充電が可能  (放電回路はOFFとなっている。オプション。) ★2019年8月31日まで「イプロスを見た​」とのお問い合わせで【12%off】 ★ ※デモ機の貸出は在庫品のみ。事前問合せ要 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【品質保証・品質管理用】HIROSEの複数リレー同時試験システム

【品質保証・品質管理用】HIROSEの複数リレー同時試験システム
『複数リレー同時試験システム』は、同時に5個又は10個の走行テスト、 インターバルテストの完全自動化が可能な「PRT-5010型」の応用製品です。 リレー性能の正確なデータが得られるほか、受入検査に導入すれば、 入荷リレーの良否を自動的に判断し、トラブルを事前に防ぎます。 【使用効果】 ■正確なデータ管理 ■受入検査に活躍 ■エージング効果 ■スクリーニングテストが可能 ■メンテナンス効果を評価 ■故障診断器として利用 ■データの自動記録 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

タッチモニター、液晶ディスプレイモニターのメンテナンス、修理

タッチモニター、液晶ディスプレイモニターのメンテナンス、修理
タッチパネルモニター、液晶モニター、タッチパネルなどの修理を行います。 当社取扱い製品以外の海外製液晶モニターの修理、バッグライト交換なども承っております。 故障したモニターなどをメーカーが修理対応期間などが満了していてお困りでないでしょうか? 一度弊社までお送りください。お見積もりをいたします。 【特長】 ■修理業務 ■モニターの保守契約 ※詳しくはお問い合わせいただくか、カタログをダウンロードしてご覧下さい。

評価・解析「HDD/SSD評価技術サービス」

評価・解析「HDD/SSD評価技術サービス」
「HDD/SSD評価技術サービス」は、株式会社シェアード・ソリューション・サービスが長年培ってきた高度な技術により、お客様を強力にサポート致します。 HDDの信頼性評価や障害解析、SRS振動/衝撃評価、分析評価、HDDスクリーニング、SSDの評価やエージングなど、HDD/SSDを対象としたさまざまなサービスを用意しており、お客様の抱える問題に細かく対応することが可能です。 【サービス】 ○HDD障害解析サービス ○SSD評価サービス ○分析評価サービス、RoHS分析 ○HDDスクリーニング、SSDエージング ○HDD検査/調査支援サービス 他 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

エージングブース『SP-N1/SP-N2』

エージングブース『SP-N1/SP-N2』
『SP-N1/SP-N2』は、簡易恒温室ながら最高+60°Cの寿命加速試験が可能な エージングブースです。 各ユニットが軽量なので手軽に運べて移動が可能なほか、操作面がキースイッチで 運転が簡単にできます。 メンテナンスフリーとなっておりますので維持費が安く、しかも保守が不要。 本体が組立て式なので、いつでもどこでも簡単に組み立てられます。 【特長】 ■各ユニットが軽量で手軽に運べて移動ができる ■操作面がキースイッチで簡単に運転が可能 ■メンテナンスフリー ■維持費が安く、保守が不要 ■いつでもどこでも簡単に組み立て可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

電子機器の修理・延命サービス『KLES』

電子機器の修理・延命サービス『KLES』
『KLES』は、お客様が諦めかけた大切な電子機器の装置延命の一環として 修理・予防保全・再設計を行っているサービスです。 Equipment Doctor’s(機器の専門ドクター)のプロフェッショナル集団として 様々なお客様のニーズに答えるために始めた当社だからこそ可能。 メーカーの修理サポートが終了した電子計測器・産業用電子機器の修理はメーカーを問わずお任せください。 【特長】 ■豊富な修理実績と高い完遂率 ■国内外のメーカー問わず、全てのメーカーサポートが終了した電子機器の診断が可能 ■電子計測器は修理後に校正を行い成績書をご案内 ■故障を防ぐ予防保全や劣化診断、予備基板の再設計もご提案 ■PLC、サーボアンプなど汎用機器の修理後動作試験も可能 【こんな点にお困りの方】 ■システムに組み込まれていて20~30年使用する必要がある ■年数が経っていてどこも面倒を見てくれない ■代替機がない ■使用機器登録の関係でこの測定器でしか測定できない  等 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

HTOLシステム

HTOLシステム
効果よくHTOL テストを行うには、多数のユニットを同時にテストする ことが望まれ、これには、重要なスプリッター損失を克服するために使用 される高出力信号ソースを使用して、多数のチャネルにテスト信号を配信 できるシステムが必要です。 当社は、多数のハイパワーアンプを所有しお客様へ『HTOL システム』を ご提供可能。 コンポーネントから完全な統合ラックシステムまで、様々なレベルの統合を サポートでき、効率的なソリューションを提案することでお客様のコスト、 時間を節約します。 【特長】 ■コンポーネントから完全な統合ラックシステムまで、様々なレベルの  統合をサポート可能 ■既製の製品で対応できる製品をラインアップ ■効率的なソリューションを提案することでコスト、時間を節約 ■強力なサポートを提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

OLED恒温恒湿環境評価装置 ELS-100A

OLED恒温恒湿環境評価装置 ELS-100A
ELS-100Aは有機ELデバイスの耐環境試験評価を効率的に行う装置です。恒温恒湿装置内部にOLEDデバイスの発光ユニットを設置して、環境制御部天面の高透過ガラスを通して自動測定します。標準仕様は4CHでボトムエミッション/トップエミッション兼用治具にOLEDデバイスを装着します。多数の納入実績と確かな評価のある定電流制御システムと信頼性のある輝度計により温度と湿度の加速試験及び発光状態の記録を行いCSVファイル出力を行います。

モニタ調整ツール

モニタ調整ツール
K7000は、トランクケースに収納された持運び可能な産業用ディスプレイ(モニタ)です。半導体製造装置,液晶製造装置,その他制御装置などで使用されている生産・製造終了で入手困難になったディスプレイ(モニタ)、保守部品が無く、修理不可になったディスプレイ(モニタ)が故障した場合に、緊急用として最適です。水平周波数は11kHz〜50kHz、垂直同期周波数は40Hz〜120Hzまでの入力信号を映出すことが可能です。また、信号方式は、セパレート方式,コンポジット方式、信号レベルは、アナログ/TTL(デジタル)レベルに対応可能です。パソコン用ディスプレイ(モニタ)で画像を表示できない特殊な映像にも対応可能です。なお、X7000互換モニタに設定値を移管する事で、装置などの内部に組込み可能です。

【分析事例】SiCディスクリートパッケージの非破壊3D構造観察

【分析事例】SiCディスクリートパッケージの非破壊3D構造観察
他社品調査や異常品検査では、まず内部構造の調査が必要です。X線CTでは、非破壊で試料内部の透過像を取得し、三次元構築することが可能です。本資料では、製品調査の一環としてSiCチップが搭載されたディスクリートパッケージをX線CTで観察した事例をご紹介します。 X線CTによる構造確認後、MSTで実施している物理分析(破壊分析)をご提案します。

様々な手法で原因究明します!HDD/SSD故障解析サービス

様々な手法で原因究明します!HDD/SSD故障解析サービス
当社では『HDD/SSD故障解析サービス』を行っており、 障害事象の確認に留まらず、真の原因究明に全力を尽くします。 HDD分解調査と内部に入り込んだ汚染ガスの分析調査や、 メーカの故障解析結果の妥当性の検証など、様々な故障解析が可能です。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【解析内容】 ■HDD分解調査と内部に入り込んだ汚染ガスの分析調査 ■SSD汚染成分の分析(端子腐蝕、接触不良の原因調査) ■梱包材(緩衝材、スポンジ、段ボール)から腐蝕性ガスの発生の調査 ■メーカの故障解析結果の妥当性の検証 ■海外調達材料のアウトガス成分調査と使用可否判定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

メモリーカード『High Edurance』

メモリーカード『High Edurance』
『High Edurance』は、V30という高速性能で、4K Ultra-HDビデオおよび フルHDビデオを録画可能なメモリーカードです。 速度の低下やコマ落ちの心配がなく、極端な温度に対する耐性、 耐衝撃性、耐水性、耐静電気性、耐X線性を有しています。 【特長】 ■監視システム専用 ■確実に録画ができる安定性と耐久性 ■過酷な条件下でも安定動作 ■4K&フルHDビデオ録画に対応 ■パワフルなストレージ容量&長寿命 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

骨伝導マイク搭載ヘッドホン測定用ダミーヘッド

骨伝導マイク搭載ヘッドホン測定用ダミーヘッド
『HMS II.3 ViBRIDGE』は、人の構造伝搬音を利用する イントラコンカ型やインサート型デバイスの測定に好適な HEAD測定システムです。 アーティフィシャルマウス、ヒューマンライクな外耳道と骨伝導 シミュレーション機能を備えた2つの低ノイズイヤーシミュレーターを 搭載。 モジュールコンセプトにより、互換性のあるHMSコンポーネンツを 簡単にレトロフィットできます。 【主なフィーチャー(抜粋)】 <イヤーシミュレーター> ■ヒューマンライクな外耳道を伴ったアナトミカル型のPinna ■内蔵の精密アクチュエーターが送話方向での構造伝搬音を  リアルにシミュレーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【分析事例】ESM-RISM法LIB電解液成分シミュレーション

【分析事例】ESM-RISM法LIB電解液成分シミュレーション
リチウムイオン二次電池の充放電過程において、電解液中及び負極との界面近傍では溶媒和の形成、脱溶媒和、電気二重層の形成、Liイオンの脱挿入など様々な現象が生じています。 当資料では、有効遮蔽媒質法とReference Interaction Site ModelをハイブリッドさせたESM-RISM法を用いて、電解液成分のミクロな分布をシミュレーションによって評価した事例をご紹介。 当手法は二次電池だけでなく、燃料電池、各種触媒反応や金属表面の 腐食・防食など広範な分野での応用が期待されます。 【掲載内容】 ■概要 ■データ ・負極(グラファイト)-電解液界面近傍の模式図 ・電解液中の溶媒和構造 ・負極-電解液界面近傍の電気二重層 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

接合強度試験機『MFMシリーズ』

接合強度試験機『MFMシリーズ』
『MFMシリーズ』は、各種電子部品等の強度試験・はんだ接合部の 強度試験・ワイヤボンディングの強度試験など、全てのニーズに お応えできる接合強度試験機(ボンドテスター)です。 独自特許技術「VPM(Vertical Position Movement)」を採用し、 多機能・高性能・高精度・高再現性を実現。 高密度実装における半導体・車載用各種電子部品の品質管理 および研究開発に適しています。 【特長】 ■VPM TECHNOLOGY(Vertical Point Movement) ■DGFT(Digital Force Technology) ■Dynamic Transducer Technology ■Auto-Range Technology(全自動レンジ技術) ■Excellent System Rigidity & Control  (装置剛性およびコントロールソフト) ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ポゴピン評価サービス

ポゴピン評価サービス
従来Pin5本、新規Pin5本(+Ref用1本) 等を用い、各Lapにて抵抗値や荷重を測定します。ストロークvs 抵抗値に加えストロークvs 荷重も測定可能で、全回数抵抗値測定も可能です(ただし1本ずつとなります)。Lapは、0、10k、50k、100k、150k、200k回等、指定回数にて実施します。摺動方法は、指定ストロークで摺動させます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

TLP試験器 「HED-T5000 series」

TLP試験器 「HED-T5000 series」
保護回路の動作特性をシミュレーションする装置です。 集積回路に組み込まれた保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。 VFTLP試験も可能です。 【ラインナップ】 ○HED-T5000/T5000VF ○Wafer Type ○Package Type 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

有機EL用 経時変化評価システム「ELS-100」

有機EL用 経時変化評価システム「ELS-100」
「ELS-100」は、有機EL素子を長時間点灯して、 電圧・輝度・スペクトルを取り込み、経時変化を検出する評価システムです。 有機ELの発光効率、スペクトル、色度などを的確に把握でき、 付属のソフトウェアで、カンタンに操作・管理が行えます。 【特長】 ■ディスプレイメーカー、材料メーカーなど実績多数! ■現場に合わせてカスタマイズが可能 ■手厚いメンテナンスやアフターフォロー体制 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置

定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置
当社では『定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置』を取扱って おります。 当社オリジナルのドライブ基板を選択し、御希望に合わせたシステム装置の 提案・製作を行っています。 ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の設定が 可能。1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能です。 【特長】 ■ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の  設定が可能 ■1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能 ■タッチパネルを使用し、画面上から容易に設定やデータ閲覧が可能 ■御希望に合わせたシステム装置の提案・製作が可能 ■機能追加のカスタマイズ対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ガス腐食試験機

ガス腐食試験機
当社は、電子部品の不良解析、規格試験、劣化加速試験の中で 欠かすことの出来ない『ガス腐食試験機』を取り扱っております。 実際に試験を行いながら開発をしてきた結果、低価格・使い易さ・ 低ランニングコスト・安全性ほか、数々の特長を備えています。 現在行われている電子部品関連のガス腐食試験方法の殆どを実施可能です。 【仕様】 ■安全性:槽内負圧設計/漏洩元栓遮断装置(オプション) ■温湿度:25℃65%~98%まで簡単設計(オプション85℃90%) ■ガス濃度:設定濃度はダイヤル1つの簡単設定 ■規格適合:IEC準拠・ISO10062対応 ■経済性:目的に合わせオプション追加が可能 など ※詳しくはお気軽にお問い合わせください。

【技術資料】高分子圧電体を用いたハイドロホンの音響感度

【技術資料】高分子圧電体を用いたハイドロホンの音響感度
当資料は、高分子圧電体を用いたハイドロホンの音響感度について 紹介しています。 ハイドロホンについての素子構成や、インピーダンス変換回路の解説を はじめ、静水圧感度測定法及び静水圧感度、音響感度の周波数特性などを 図と表を用いて掲載。 資料を進呈していますので、ぜひダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■はじめに ■ハイドロホンについて ■音圧感度 ■おわりに ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

温度管理用 示温材『サーモラベル スーパーミニ 3R』

温度管理用 示温材『サーモラベル スーパーミニ 3R』
ラベルタイプの示温材『サーモラベル スーパーミニ 3R』シリーズは、温度による変色後に色が戻らない不可逆仕様。 小サイズなのに複数温度を測定できる、小型部品や狭い場所にも適した丸型3点表示タイプです。 小型かつ安価なため、「大量製造時の熱処理温度を部品ごとに測りたい」 「出荷梱包ごとの流通温度を管理したい」などの場面に最適です。 トランジスタ・抵抗・コンデンサなどの小型電子部品や、小型モータなど、 有線センサでの管理が難しい場所の異常発熱監視、保守管理にも活躍します。 【特長】 ■特定温度でシャープに変色。一度変色すると、元の色に戻らない不可逆仕様。 ■貼るスペースを選ばない極小サイズ。 ■裏面に耐熱性粘着剤付き。温度を測りたい場所に貼るだけで使用可能。 ■温度域:40~150℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

開発評価試験

開発評価試験
瑞菱電機株式会社が行っている『開発評価試験』についてご紹介します。 試作開発品など、評価試験項目・判定基準などをご提示いただき、 信頼性評価試験を行います。 当社では、主要取引先への品質保証部門、設計開発部門への人材派遣、 および本社工場による受託サービスを行っています。 本社工場では、熟練者による高度な技術・技能により、FA機器の故障解析・ 改造業務など、幅広いニーズに対応いたします。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

超安定標準抵抗器【HRUシリーズ】(特許取得済)

超安定標準抵抗器【HRUシリーズ】(特許取得済)
アルファ・エレクトロニクスは長年に渡り安定した性能を提供し続けています。 HRUシリーズは新世代ストレスフリーBulk Metal(R)(バルクメタル)フォイルテクノロジーと独自のニッケルクロム合金を採用した超安定抵抗素子を特長としています。 抵抗素子は湿度・酸化から保護するために特別に設計されたセラミックケースに封止されております。 これらの特長から0.2ppm/年(0.05ppm/年実力値)という卓越した安定性とα23̟±0.05ppm/℃、β±0.005ppm/℃2という極めて小さい温度特性を実現しました。 【特長】 ■卓越した長期安定性:≦0.2ppm/年(実力値:≦0.05ppm/年)を実現 ■卓越した温度特性:≦α23±0.05ppm/℃、β±0.05ppm/℃2を実現 ■卓越した湿度特性:≦0.1ppm/%RHを実現 ■卓越した気圧特性:≦0.001ppm/hPαを実現 ■抵抗値範囲:10Ω、100Ω(1Ω、1kΩは2019年リリース予定) ■高価でメンテナンスの煩雑なオイルバスを必要とせず気中での使用が可能 約240g(0.52lbs)

LDエージング装置『LDS-9000 シリーズ』

LDエージング装置『LDS-9000 シリーズ』
『LDS-9000 シリーズ』は、各種形状LDの評価を、高精度で連続的に 処理する機能を持つエージング装置です。 ホストコンピュータ、恒温槽、制御計測ターミナル、及び駆動用ドライバで 構成されており、計測ターミナルには演算プロセッサを搭載し高速に データを計測。 計測はホストコンピュータから駆動、時間、温度、計測等の条件を 槽単位及びDUTボード単位に設定可能です。 【特長】 ■試験中にデバイスのI-L、V、Im特性曲線の計測が可能 ■光出力の自動較正機能により、光出力のOFFSET調整とGAIN調整は自動 ■光出力測定用PD及びLD駆動ドライバは、安定な動作及び高信頼性が保証 ■停電あるいは突然の電源ライン停止によるLDへの影響に対して、  スローダウン、スローアップ回路やプロテクト回路が働き、LDを完全に保護 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

プログラマブル直流電子負荷『MODEL 63200Eシリーズ』

プログラマブル直流電子負荷『MODEL 63200Eシリーズ』
『MODEL 63200Eシリーズ』は、電力容量2kW~24kW、電圧150V、600V、 1200Vの計36モデルをラインアップしているプログラマブル直流電子負荷です。 1ユニットの最大電流が24kW/150Vモデルで2000Aとなり、バッテリー、EV充電 ケーブル・ステーションなどの大型パワーエレクトロニクス製品試験に好適。 試験プログラム設定保存機能を持ち、いつでも保存された設定を呼び出すことで、 入力作業が簡略化され自動検査の工数削減に寄与します。 【特長】 ■経済性と性能を両立させた電子負荷 ■大容量出力 ■試験プログラム保存機能 ■高精度出力&測定 ■ユーザーフレンドリーな操作パネル ■安全に配慮した設計 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

電子基板・部品の解析

電子基板・部品の解析
「電子基板・部品の解析」は、お客様の”知りたいレベル”に応じて 表面分析手法をご提案します。 FT-IR(反射法・ATR法)をはじめ、XPS表面分析や、AES深さ分析など 電子基板配線パターンの銅表面を様々な手法で分析することで問題を 解決しました。 【電子基板の解析事例(配線パターン)】 ■FT-IR(反射法・ATR法) ■XPS表面分析 ■AES深さ分析 ■TOF-SIMS分析 ■熱分解GC/MS ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『バーンイン装置』(デバイス、チップ、素子向け)

『バーンイン装置』(デバイス、チップ、素子向け)
弊社の『 バーンイン装置』は、チャンバー式ではなく、治具ごとに温度や 電源条件を制御でき、使い勝手のいい設備です。 【特長】 ■最大1システム4224pcsのデバイスを同時バーンイン ■治具ごとに温度や電源条件を制御できる ■専用治具はwireボンディング、ローダ、バーンイン、  アンローダー、検査まで対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

高速・高信頼性試験装置『HDD/SSD Tester D020』

高速・高信頼性試験装置『HDD/SSD Tester D020』
『HDD/SSD Tester D020』は、小型軽量で持ち運びも可能な、2セルタイプの 2.5インチ、3.5インチHDD/SSD用高速・高信頼性試験装置です。 HDD/SSDの評価選定用や不具合の解析等の作業の効率化及び作業時間の 短縮の実現、ドライブの品質トレーサビリティを高めます。 作業者に優しい独自のHDD/SSDハンドリング機構により、誰でもミスなく HDD/SSDを差し込み、取り外しがワンタッチで行えます。 【特長】 ■作業者に優しい独自のHDD/SSDハンドリング機構 ■多様なHDD/SSDのインターフェースへの対応 ■安定した動作環境での評価試験、耐久性試験を実現 ■技術者に納得頂ける様々なコマンドを用意 ■品質トレーサビリティを高めるロギング/レポーティング機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【コラム】絶縁耐力検査で感電や火災を未然に防ぐ

【コラム】絶縁耐力検査で感電や火災を未然に防ぐ
感電事故や火災発生を防ぐために電気製品は絶縁耐力を検査する必要があります。 特に一般家庭向けの製品の場合、製品を扱ったり設置するのは多くの場合電気の 知識がない一般の方です。 絶縁耐力の検査は絶縁されるべき場所に通常の10~20倍程の電圧を規定時間印加し、 その絶縁物質が絶縁破壊をおこさないかを検査します。 絶縁破壊とは絶縁体に加わる電場の強さがある値を超えた時に電気抵抗が急激に 低下して電気を通してしまう現象です。 ※コラムの詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。  詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

HDD/SSD評価技術サービス

HDD/SSD評価技術サービス
HDD(ハード・ディスク・ドライブ)/SSD(ソリッド・ステイト・ドライブ)の信頼性評価、高温高湿槽での耐久試験、サイクル試験、故障分解解析を行います。 HDDスクリーニング、SSDエージングにより初期障害率、フィールド偶発障害率の低減が図れます。 HDD中古品、在庫品、運用品、の性能確認にも最適です。 【特徴】 ○少量、一品でも対応 ○三映電子工業様との連携サービス 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

リチウムイオン電池セル変位測定装置『BEL-Z』

リチウムイオン電池セル変位測定装置『BEL-Z』
※製品の問い合わせは弊社HPからお問い合わせください。https://www.mitsuiec.co.jp/ 『BEL-Z』はリチウムイオン電池製造後の“充放電試験”において セルの形状変化を監視・測定できる製品評価用のテスト装置。 デジタル制御化とロギングソフトを採用し、 長期連続試験での高精度な測定が可能になりました。 また検査に伴う膨張の初動を圧力と変位で測定でき、 グラフや表にして一目で確認できます。 【特長】 ■デジタル制御化により高精度な測定が可能 ■ロギングソフトの採用で1週間以上の連続試験が可能 ■環境試験にも対応でき、恒温槽の中でも試験が可能 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。

センサテスタ

センサテスタ
「簡単なセンサテスタが欲しい」というお客様の声から生まれたオリジナル製品です。電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェックでき、12V/5V電源電圧表示、2chを同時表示などが可能です。AC、乾電池、バッテリで駆動し、角度変換表示機能付きで、バックライトも付いています。 大手自動車メーカー様テスト用、他に採用実績があります。 ボディカラーは、ご希望に応じます。 【特徴】 ○電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェック ○12V/5V電源電圧表示 ○2chを同時表示 ○DC9~18V(車載バッテリーに対応) ○AC、乾電池、バッテリで駆動 ○角度変換表示機能付き ○バックライト付き ○サイズ:約156×100×h50mm(コネクタの突起を除く) ○ボディカラー:ご希望に応じます ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

硫黄化合物

硫黄化合物
段ボールから発生する硫黄化合物等の影響により、電子機器、精密機器が腐食され、製品動作不良の原因となります。東レテクノでは、硫黄化合物等を独自の高感度分析手法を用いて定量し、製品トラブル防止のお手伝いを行います。

修理、再生(オーバーホール)

修理、再生(オーバーホール)
当社は、レーザー事業の拡大に伴い、半導体業界に数多く使用されている レーザー関連の修理・再生・開発をワールドワイドに行っている TSL社と業務提携しております。 非常に高価なLithography(スキャナー、ステッパー)に使われる レーザーパーツなどをリーズナブルな価格で提供可能。 取り扱いメーカーも多岐にわたり、お客様からご好評を頂いております。 【主な取り扱いメーカー】 ■ASML ■CANON ■NIKON ■ULTRATECH ■HITACHI ■ZYGO ■JDS Uniphase ■HP(Keysight) etc. ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【分析事例】チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察

【分析事例】チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察
ABF-STEM像(走査透過環状明視野像)により軽元素の原子位置を直接観察することができます。 HAADF-STEM像との同時取得で、より詳細な構造解析が可能となりました。 本事例では、チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラムを観察した事例をご紹介します。EDX元素分布分析を組み合わせることで、視覚的に原子の分布を明らかにすることができます。 測定法:TEM・EDX 製品分野:LSI・メモリ 分析目的:形状評価・構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

電子機器評価サービス

電子機器評価サービス
当社では、恒温槽、恒温室など、検査機器を備え、さまざまな環境で 電子機器他のテストを行い、評価・報告いたします。 また、ソフトウエアに欠陥が無いか、効率良く機能を発揮するか、 シュミレーションを行い評価いたします。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【環境試験 詳細】 ■環境試験室(全4機)では-30℃~80℃での室内温度試験ができ、  10℃から湿度コントロールも可能 ■製品の使用場所や環境変化まで考慮した評価テストを行える ■1日から貸出可能 ■環境試験室を使用した受託試験もお引き受け可能 ■24時間365日対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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物理・環境試験・分析における製品の故障原因を究明

物理・環境試験・分析における製品の故障原因を究明とは?

エレクトロニクス製品が、物理的な衝撃や過酷な環境下での使用により故障した場合、その根本原因を特定し、将来の製品設計や製造プロセス改善に繋げるための活動です。これにより、製品の信頼性向上と品質保証を実現します。

​課題

故障モードの特定困難

製品の故障が、どの物理的・環境的要因によって引き起こされたのか、その具体的なモードを特定するのが難しい場合があります。

再現性の確保

実際の使用環境に近い条件で故障を再現させることが難しく、原因究明の精度が低下する可能性があります。

データ解析の複雑性

試験中に収集される膨大な物理・環境データを、効率的かつ正確に解析し、故障との相関関係を見出すことが困難です。

専門知識・設備の不足

高度な分析機器や、特定の物理・環境試験を実施するための専門知識・設備が社内に不足している場合があります。

​対策

高度な分析手法の導入

非破壊検査や材料分析など、最新の分析手法を導入し、微細な損傷や劣化の原因を特定します。

環境シミュレーション試験の実施

温度、湿度、振動、衝撃などの環境を精密に制御し、実際の使用環境を再現した試験を実施します。

データ統合・可視化ツールの活用

試験データと故障データを統合し、AIなどを活用して相関関係を分析・可視化するツールを導入します。

外部専門機関との連携

高度な分析機器や専門知識を持つ外部機関と連携し、客観的かつ詳細な原因究明を行います。

​対策に役立つ製品例

高精度環境試験装置

温度、湿度、気圧などを精密に制御し、様々な環境下での製品の挙動を再現・分析することで、環境要因による故障原因を特定します。

非破壊検査システム

X線や超音波などを用いて、製品を分解せずに内部の損傷や欠陥を可視化し、物理的衝撃による故障原因の特定を支援します。

データ解析システム

試験で得られた多種多様なデータを統合・分析し、故障との相関関係を統計的に導き出すことで、原因究明の精度を高めます。

材料分析サービス

製品に使用されている材料の劣化や変質を分析し、環境要因や使用による材料変化が故障に繋がった原因を特定します。

⭐今週のピックアップ

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