摩耗・摩擦への耐性とは？課題と対策・製品を解説

従来Ｐｉｎ５本、新規Ｐｉｎ５本（+Ref用1本） 等を用い、各Lapにて抵抗値や荷重を測定します。ストロークｖｓ 抵抗値に加えストロークｖｓ 荷重も測定可能で、全回数抵抗値測定も可能です（ただし１本ずつとなります）。Lapは、0、10k、50k、100k、150k、200k回等、指定回数にて実施します。摺動方法は、指定ストロークで摺動させます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

「プローブの接触不良、何をやっても解決しない」とお悩みではありませんか？ サンケイエンジニアリングでは、お客様のワーク（検査対象物）を直接お預かりし、自社設備で接触抵抗などを実測・実験します。得られた客観的な数値データをもとに接触不良の根本原因を究明し、確実な改善につながる最適なコンタクトプローブを選定・ご提案いたします。 電気測定において発生するコンタクトプローブの接触不良の原因は、 ・スプリングの劣化による荷重低下 ・フラックスや異物の付着 ・コンタクトプローブと測定ワークのミスマッチ など多岐にわたるため、特定が容易ではありません。 そこで当社では、コンタクトプローブメーカーとして培ってきた知見を活かし、実験・測定を通じて接触不良の根本原因を解き明かします。 そのうえで、実測データに基づき、改善につながるコンタクトプローブを数値という根拠とともにご提案します。 接触不良による測定不良の不安を解消し、安心して長くご使用いただける検査環境を実現します。 接触不良でお悩みの方は、是非当社HPお問い合わせフォームよりご相談ください。