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エレクトロニクス検査・試験

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検査速度の向上とは?課題と対策・製品を解説

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外観・画像検査における検査速度の向上とは?

エレクトロニクス製品の製造工程において、外観や画像データから欠陥を検出する検査のスピードを向上させることです。これにより、生産ライン全体の効率化、コスト削減、および品質管理の強化を目指します。

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【検査装置向け】業界最薄クラス薄型DDモーター【DMTシリーズ】

【検査装置向け】業界最薄クラス薄型DDモーター【DMTシリーズ】
装置設計において、省スペース化が常に求められています。装置全体の小型化は、設置場所の有効活用、コスト削減、そして生産性の向上に繋がります。薄型DDモーター【DMTシリーズ】は、この課題に応えるために開発されました。 【活用シーン】 ・ロボットアーム ・搬送システム ・精密位置決めステージ 【導入の効果】 ・装置全体の小型化 ・省スペース化の実現 ・高精度な位置決め ・ステージ組立工数の削減

【電子部品向け】Go-X 5GBASE-T対応モデル

【電子部品向け】Go-X 5GBASE-T対応モデル
電子部品業界では、製品の品質を確保するために、外観検査による欠陥の早期発見が重要です。特に、小型化が進む電子部品においては、微細な傷や異物の検出が求められます。従来の検査方法では、検査速度の遅さや、検出精度の限界が課題となっています。Go-X 5GBASE-T対応モデルは、5Gbpsの高速データ伝送により、検査工程の高速化を実現し、GigEVision規格のネットワーク機能とグラバーレス接続により、検査システムの構築を容易にします。 【活用シーン】 ・電子部品の外観検査 ・基板実装後の検査 ・コネクタや端子の検査 【導入の効果】 ・検査時間の短縮 ・不良品の早期発見による歩留まり向上 ・検査精度の向上

【電子機器向け】画像検査処理装置

【電子機器向け】画像検査処理装置
電子機器業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、部品の正確な検査が不可欠です。特に、小型化が進む電子部品においては、微細なキズや汚れが製品の性能に大きな影響を与える可能性があります。手作業による検査には限界があり、時間とコストがかかるだけでなく、検査結果にばらつきが生じることもあります。当社の画像検査処理装置は、高速かつ高精度な検査を実現し、電子機器の品質管理を強力にサポートします。 【活用シーン】 ・電子部品のキズ、汚れ検査 ・基板実装後の部品検査 ・コネクタ、端子の形状検査 【導入の効果】 ・不良品の早期発見による歩留まり向上 ・検査工程の自動化によるコスト削減 ・検査精度の向上による製品品質の安定化

パッシブ除振台

パッシブ除振台
エレクトロニクス制御分野では、微小な振動が試験結果に大きな影響を与える可能性があります。特に、精密機器の性能評価においては、外部からの振動を極限まで抑制することが重要です。当社のパッシブ除振台は、振動問題を解決し、正確なデータ取得を可能にします。 【活用シーン】 * 精密機器の性能試験 * 振動試験 * クリーンルーム環境下での精密測定 【導入の効果】 * 装置特性の信頼性向上 * 精度の向上 * 加工時間の短縮

生地ブラシ機能付与製品(CHBH)

生地ブラシ機能付与製品(CHBH)
当社では、柔軟な繊維表面にバインダーレスで機能粒子コーティングを 施したブラシを開発しております。 機能粒子コーティングによる繊維表面の特性、形状変化が様々な効果を もたらします。 また、CHBと同様の外層絶縁構造を持つため、荷電粒子の静電的吸着能にも 優れます。 機能粒子は主に無機材料です。材質、粒径等についてはご相談下さい。 【CHBHの特長】 ■繊維表面の粗さの増大による掻き取り性の向上 ■粒子種類の多様性による、対象物質と相性の最適化 ■外層絶縁構造による静電的クリーニング性能の向上 ■繊維表面の硬度と粗さを増大させ、ブラシに研磨機能を付与 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型

【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型
『集積回路測高検査装置2型』は、視野角10mm内、高さ0.7mm以内の高さ計測が可能な製品です。 スロットマガジンに格納されているリードフレーム(最大30×50)を1枚ずつ計測ステージにローディングし、高さ計測を実施。 検査結果によるNG排出を行い、空ポケットに良品ワークを自動充填します。 当社は、FA装置の開発・設計から組立調整、設置、納品後のメンテナンスや改善・改造提案まで一貫したサービスを展開しています! 掲載装置は製作実績です。 こちらをご参考に、類似した装置または新規製作に対応致しますので、お気軽にお問い合わせ下さい。

ピッカーハンドラー『KIG-3000』

ピッカーハンドラー『KIG-3000』
『KIG-3000』は、最大処理能力0.35S/個の高速対応が可能な ピッカーハンドラーです。 ダイシング済みのウエハーからデバイスをピックアップして(反転マーク) 反転後、トレイ収納やテーピングが可能。 独自の縦型ロータリーヘッド方式により、高速かつ安定性を実現しました。 【特長】 ■高速対応可能 最大処理能力0.35S/個 ■独自の縦型ロータリーヘッド方式で高速かつ安定性を実現 ■豊富な検査項目 ■ダメージレス搬送 ■オートリカバリー機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

チップLED用超高速分類機 NCS-3300

チップLED用超高速分類機 NCS-3300
NCS-3300シリーズは、パーツフィーダより供給されるLEDの輝度、色調および電気的特性の測定を行い、ランク別に各収納箱へ自動選別するマシンです。処理能力は選別タクト最速0.1秒/個を実現しました。また、専用部品の交換により、1台でTopViewとSideViewの共用が可能です。さらに、真空ノズル自動クリー二ング、消耗部品のライフカウンタ機能等により、設備のメンテナンス性向上に寄与します。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

デジタルクリンプハイト測定器 「ユニゲージ」

デジタルクリンプハイト測定器 「ユニゲージ」
デジタルクリンプハイト測定器「ユニゲージ」は、ワイヤーハーネス作業の合理化と、安定性の向上に実力を発揮します。測定圧が一定なので、測定者による誤差を軽減します。正確性の向上と作業時間短縮に手軽に利用できる簡単操作です。オプションのデジマチックイニプロセッサーの使用により、データのプリントアウト、平均値、最大、最小、偏差値等、あらゆる統計演算が可能となります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

枚数計測器『リードフレームカウンター』

枚数計測器『リードフレームカウンター』
『リードフレームカウンター』は、L/F(リードフレーム)・樹脂基盤・ ICトレイの枚数計測器です。 計数時間の短縮、計数ミスの削減に効果を発揮。 操作は、スタートボタンとカウントクリアの簡単操作です。 また、L/F厚最薄0.1mm、重ね合わせ最小隙間0.3mmまで。 L/Fの材質やメッキ処理に影響されず、樹脂基盤にも対応しております。 【特長】 ■簡単操作 ■設定フリー ■小型、軽量 ■低価格 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

基盤外観検査装置 Sherlock-300F/FH<卓上タイプ>

基盤外観検査装置 Sherlock-300F/FH<卓上タイプ>
株式会社レクザムは40年以上に渡り、電子実装基板の開発・設計・製造を行ってまいりました。 その歴史の中で、基板メーカーであるからこそ見えてくる基板外観検査装置に求められる機能を集約しつつ、医療検眼機で実績のある光学機器の技術を投入することで基板製造の現場で求められる基板外観検査装置の開発を進めてまいりました。 基盤外観検査装置 Sherlock-300F/FH    【特長】   ◇開閉不要・自動検査   ◇21.5インチ タッチパネルスクリーンでキーボード不要!   ◇便利なティーチング支援ツールでデータ作成時間を短縮   カタログでは、Sherlock-300シリーズが全製品掲載しており、用途に合わせてお選び頂けます。   カタログダウンロードよりご覧頂き、お気軽にお問い合わせください。  ――――――――――――――――――――――――――――――――――   ↓ ↓ ↓                     ↓ ↓ ↓

フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』

フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』
『4170-IH』は、QFN、CSPなどのリードレスデバイスを ダイシング後、そのままウェハリング上でテストするフィルムフレーム テストハンドラです。 測定前にビジュアルによる位置補正(xyzθ)をすることにより、 デバイスの正確な位置情報とプローブピンの好適な測圧がストリップ上の 全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。 【特長】 ■ハイスループット ■高耐荷重、高推力テーブル ■ストリップ貼り付けエリアを拡大 ・縦260mm×横300mm以内(WLCSPはφ300mm以内) ■バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応 ■品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換 ※ダウンロード頂けるPDF資料は、英語版のカタログです。  詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

レーザーダイオードテストシステム【LD2920MTB】

レーザーダイオードテストシステム【LD2920MTB】
本装置は長波長(光通信用)レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するLDテストシステムです。 <特長> ■ ブルーシートに貼りつけたLDチップをグリップリング状態のまま供給か   ら測定・分類級までを高速で全自動搬送します。 ■ 測定項目(フロント/バック LIV、λ特性)を2温度環境下で標準項目として測  定可能。 ■ -40°C~+95°Cまでの任意の温度で測定選別が可能。 ■ FRONT光、BACK光の同時にIL測定が可能。 ■ チップの位置決め方法としてSHゲージング方式を採用。 ■ 集光レンズ方式の採用で波長測定の調心時間をゼロにしました。 ■ 最大13台のカメラで各ポジションでのLDチップの有無、状態をモニタリング。 運転状況の把握、各部の調整が容易に可能。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

モジュール検査装置 CM2030(カメラモジュール)

モジュール検査装置 CM2030(カメラモジュール)
CM2030はイメージセンサーカメラモジュールの外観検査対応の検査装置になります。基本はイメージセンサーですが、CCTECHのCMシリーズはモジュールだけではなく、カスタマイズすることにより、さまざまな外観検査に対応することが可能。 昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査までさまざまな欠陥を検査することが可能な製品です。

反転機能付きXY読取装置『NTC-250E-2D』

反転機能付きXY読取装置『NTC-250E-2D』
『NTC-250E-2D』は、基板の表面/裏面の任意の位置にあるIDコードを 自動で読取る装置です。 事前に位置情報をデータ登録することにより自動で読み取り、 基板の表面/裏面にあるIDコードを両面とも読み取ることが可能。 オプションのコンベア自動幅調整機構と組み合わせると、登録したファイルを 読み出すだけで段取り替えが完了します。 また、安全を考慮したフルカバーボディを標準採用しています。 【特長】 ■基板の表面/裏面にあるIDコードを両面とも読み取ることができる ■事前に位置情報をデータ登録することにより自動で読み取る ■安全を考慮したフルカバーボディを標準採用 ■ご指定のカメラを取り付けることができる ■オプションのコンベア自動幅調整機構と組み合わせると、  登録したファイルを読み出すだけで段取り替えが完了 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基板外観検査装置 Sherlock-300I/IH

基板外観検査装置 Sherlock-300I/IH
株式会社レクザムは40年以上に渡り、電子実装基板の開発・設計・製造を行ってまいりました。 その歴史の中で、基板製造の現場で求められる基板外観検査装置の開発を進めて参りました。  ――――基板検査装置 Sherlock-300I/IH ―――――             【特長】   ◇リフロー前基板の検査にも最適    ・高剛性カメラ移動機構    ・基板はステージに固定    ・低振動高速駆動用のモーション制御技術を採用   ◇21.5インチ タッチパネルスクリーンでキーボード不要!   ◇コンパクトなボディー[幅620mm]で、既存ラインへの追加配置もOK!   カタログでは、Sherlock-300IをはじめSherlock-300シリーズが     全製品掲載しており、用途に合わせてお選び頂けます。  ▼カタログダウンロードよりご覧頂き、お気軽にお問い合わせください。▼  ――――――――――――――――――――――――――――――――――

電子機器部品検査装置 精密部品検査梱包装置

電子機器部品検査装置 精密部品検査梱包装置
エム・イーシステム株式会社は、精密機器の製造工程で使用する治工具の設計・製作、また半導体後工程で使用する精密製造装置の設計・製作を主に精密機械・精密板金の加工を行っています。 精密部品検査梱包装置は検査からラッピングまでを行う装置です。対象ワークの外観検査、異物混入検査、数量計測し、一定数量に達した所で梱包袋へ乾燥剤と共にラッピングします。最後に製品詳細と数量をラベルに印字、そのラベルを袋に自動貼付をします。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

必要な機能のアプリを選択して使用できるデジタルマイクロスコープ

必要な機能のアプリを選択して使用できるデジタルマイクロスコープ
『TAGARNO フルHDトレンド』は、AF機能や高感度光センサーを搭載し、歪みのないシャープな画像を取得できるデジタルマイクロスコープ。 1080p画質や60fps、光学30倍、総合最高倍率330倍での撮影に対応し、 USB3.0、USB2.0接続で、モニターでの動画や静止画の観察が簡単。 品質管理に役立つ全9種のアプリを用意。偏光レンズ、偏光ライト、赤外線ライト、紫外線ライト、バックライト、同軸ライトなど視認性を高めるオプションも充実。 【提供アプリ例】 ◎DXFオーバーレイ  ■CADファイルを読み込み製品画像に重ね合わせて検証、倍率連動。 ◎画像比較  ■参照とサンプル画像を左右に並べ比較可能、分割表示や透かしも可能 ◎計測  ■距離、角度、面積、円の半径と直径等の計測と矢印や注釈の挿入 ◎PNG参照  ■PNG画像を呼び込み製品と形状やサイズを比較 ◎検証線  ■水平及び垂直線を使用し製品の形状に合わせた検証線を作成し検証 ◎全焦点合成画像  ■深度合成画像の作成 ※詳細は資料参照

タイバ切断機『ismart72G』

タイバ切断機『ismart72G』
『ismart72G』は、マガジンにセットされたモールド済みリードフレームを 順次取り出し、プレス金型にてダイバ部を抜き落し、マガジン収納までを 自動で行う装置です。 また、画像検査により切断後の製品外観の全数チェックも実施します。 ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。 【特長】 ■多品種対応(最大ワーク:100×300mm) ■500万画素による全数外観検査 ■高速仕様:80spm ■RFIDタグによる金型ID認識 ■重量:1,050kg ■装置寸法:1,430(W)×1,040(D)×1,712(H) ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

セラミックLED用高速分類機 NCS-4200

セラミックLED用高速分類機 NCS-4200
NCS-4200は、パーツフィーダより供給されるセラミックLEDの輝度、色調、電気的特性を積分球測定し、ランク別に各収納箱へ自動選別するマシンです。中型ワーク処理能力は最速0.4秒/個を実現しました。排出部の自由落下方式の採用等、セラミックワークへの衝撃緩和を考慮した装置です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

コンパクトX線リールカウンター

コンパクトX線リールカウンター
Easy Counterはこれまでにないお求めやすい価格を実現。 コンパクトなためこれまで置き場所に悩まれていた方も是非ご検討下さい。 99%の精度とカウント時間10秒 操作は簡単で、部品カウントに掛かるコストを大幅に削減できます。 【特長】 ■計測時間:約14秒/1リール ■様々な部品のカウントが可能(カット部品、袋入り部品など) ■操作が簡単なため、10分でトレーニング完了 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい

測定ハンドラー テーピング装置『TH288LD』

測定ハンドラー テーピング装置『TH288LD』
『TH288LD』は、プラステイックチューブに収められた ガルウイングリード形状のパワートランジスターを高温状態および 常温状態で接続されたテスターで電気的特性を測定し、その後 外観検査を行い、チューブ収納または、テーピング収納する装置です。 各構成は必要に応じて変更可能。また、デバイスのリード形状について ストレートリードL曲げ品など対応も可能です。 【装置仕様(一部抜粋)】 ■処理能力:0.55sec/1デバイス テストタイム250m sec含む ■供給:プラステイックチューブ 80本 空チューブはストッカーに収納 ■測定  ・高温測定:1又は2か所 3端子 リーフコンタクト        高温仕様 100℃~120℃±3℃  ・常温仕様:6ヶ所 3端子 リーフコンタクト ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

X線検査方式リール部品カウンター XQuik II Plus

X線検査方式リール部品カウンター XQuik II Plus
操作はリールを装置内キャビネットに置き、扉を閉めて“COUNT”ボタンを押すだけ。検査のための煩雑な条件設定やセットアップは基本的に不要です。 独自の画像処理技術AccuCount テクノロジーにより部品のサイズおよび総数を自動でカウントします。

Lサイズ基板対応目視検査装置『NVS400DL』

Lサイズ基板対応目視検査装置『NVS400DL』
『NVS400DL』は独自のダブルカメラ方式で、繊細な不良も上から斜めから 自在に検査し、検査画像をすべて記録する「Neoview series」の一つです。 外観検査装置がNG検出した箇所を自動で映し出すので検査員は画面に映った箇所を判定するだけ。難しい操作は必要ありません。 撮影条件設定機能を搭載。 不良項目ごとに上と斜めのカメラのどちらで映すか、さらにカメラの回転角度や照明の明るさもあらかじめ設定でき、カメラ操作は最低限で済むので、検査時間の削減につながります。 また、蓄積した検査結果を活用すれば品質向上の切り口もすぐに見つかります。 【特長】 ■不良箇所を漏れなく表示し、見逃し防止 ■画像付き検査データでトレーサビリティ保証 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【技術資料】光検出素子

【技術資料】光検出素子
フォトダイオード(PD )は、半導体の PN 接合部に光を照射したときにその光強度変化を電気信号(電圧、電流)に変換する受光素子です。フォトダイオードはその特性や構造によって、PNPD、PIN-PD、そして APDの3つに大分されています。各々の特性の違いを理解して、用途に応じて使い分けます。 【掲載内容のご紹介】 ・ フォトダイオードとは ・ フォトダイオードの用途 ・ フォトダイオードの構造と原理 ・ 等価回路 ・ フォトトランジスタ 光検出素子(フォトダイオード・フォトトランジスタ・光給電素子)の概要に関する解説資料を無料でプレゼントしています!詳しくはPDFをダウンロードしてご入手ください。 弊社の取り扱っているフォトダイオードについての詳細は、お気軽にお問い合わせください。

電子機器 OEMサービス

電子機器 OEMサービス
当社では、自動車関連をはじめ、医療機器、精密機械、自動ドア、 船舶設備機器、防災装置等、産業用から一般製品まで幅広い分野の 電子機器・制御装置・基板をOEMにて制作しています。 製品は企画の状態から完成品までトータルでコーディネート可能。 メンテナンスや改良、修理もお任せください。 【取扱い商品例】 ■測定器:トルク計測器、身体等の密度測定器 他 ■操作パネル ■検出器:地絡検出器、巡回型設備診断装置 他 ■信号発生器:試験機制御&解析装置 ■パワーアンプ&ドライバー:インバータ、DC/AC変換パワーアンプ(10kW) 他 ■音声合成装置 他 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『超低抵抗器トリマー』高精度・高速にレーザートリミング

『超低抵抗器トリマー』高精度・高速にレーザートリミング
自社開発のMOPA発振器を搭載、カスタマイズ可能 良いレーザー安定性&迅速なアフターサービス対応 【特長】 ■ お客様の要求に応じ、自社製の制御システムでコードスキャンとMESのカスタ イマイズにも対応 ■ 多くの品種サイズ(01005-2512)と多くの基板サイズにも対応(5060、6070、8084) ■ 加工ステージ繰り返し精度高い(±1μm) ■ トリミングアルゴリズム種類が多い(シングル、ダブル、L/I+L/U/Jカット、サーペンタ イン、 オーバーラップ)。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

非接触検査装置リールtoリール型検査システム 「TRV」

非接触検査装置リールtoリール型検査システム 「TRV」
非接触検査装置リールtoリール型検査システム「TRV」は、TAB/COF/TCP/TBGA対応した非接触検査装置リールtoリール型検査システムです。検査ステージが上下して独立して、駆動可能。この機構によって、目標位置に対する正確な位置決めと安定した検査が可能です。2カメラCCDを搭載X・Y・φ軸のの補正が可能で高精度アライメントが可能。また、従来の検査速度を30%UP高速検査・高速搬送を実現しました。当社独自の非接触検査方式により、ICボンディング・パッド部の微細端子部にダメージを与えません。スプロケットを一切使用せず搬送可能。テンションフリー構造によりテープにダメージを与えません。薄厚テープに最適な搬送方式を採用しています。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

研究開発エンジニア用ー1to8 eMMC Duplicator。

研究開発エンジニア用ー1to8 eMMC Duplicator。
2x RS232で1つのマスターから8つのターゲットに。 ※詳しくはカタログをダウンロードしてご確認ください。

タッチパネル・タッチモニター・液晶モニター 修理事例

タッチパネル・タッチモニター・液晶モニター 修理事例
タッチパネル・タッチモニター・液晶モニターを取り扱うフューチャーコネクトでは保守・修理も行なっております。 故障したタッチパネル・タッチモニター・液晶モニターを買い替えるのは、費用や手間がかかってしまいます。 また、産業機械などに組み込まれているタッチパネル・タッチモニター・液晶モニターは簡単に買い換えるというわけにもいきません。 例えば、下記のようなことはありませんか? ・バックライトが点灯しない ・液晶が割れた ・画面が白っぽい ・タッチパネルが反応しない フューチャーコネクトでは、社取扱い製品以外の国内・海外製液晶モニターの修理、バックライト交換なども承ります。 「タッチパネル・液晶モニター 修理事例」では弊社で修理をした事例と修理の流れをご紹介しております。 また、保守業務も行っております。 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基板検査工程【主要な検査装置】

基板検査工程【主要な検査装置】
検査工程では、高速で高精度な検査装置を利用し、品質を支えています。 回路基板の高速な検査に対応するインサーキットテスター 「ESI-2002-STB」をはじめ、3D形状復元技術で高品質検査が可能な 3D基板外観検査装置「VT-S730」などをラインアップしています。 【主要な検査装置】 ■基板外観検査装置 ■インサーキットテスター ■フィクスチャレステスター ■X線透視装置 ■基板外観検査装置 ■3Dはんだ印刷検査機 ■3D基板外観検査装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【厳しい検査に耐える圧倒的信頼性】『自社一貫生産』外観部品

【厳しい検査に耐える圧倒的信頼性】『自社一貫生産』外観部品
電気製品などの外側に取り付けられる部品。 その製品の外観に直接関わるため厳しい外観検査に耐えられる信頼性の高さが求められますが 弊社では長年の経験によって確立した技術がお客様の信頼を勝ち取っています。 スクリーン印刷→切削→プレス→組立 の自社一貫生産が可能です。

【課題解決事例】車載用 液晶モジュール 輸入品受入検査

【課題解決事例】車載用 液晶モジュール 輸入品受入検査
家庭用電気用品・配線用電気用品・電子応用機器・プラスチック 成形品の設計・製造及び販売を行なっている株式会社アイデンの 「車載用 液晶モジュール 輸入品受入検査事例」をご紹介いたします。 当事例では、海外生産品をユーザ納入前にクリーンルーム環境で 品質検査することにより、納入品質不具合0件を実現しました。 【事例】 ■商品:車載用 液晶モジュール ■受入検査内容  ・海外生産品をユーザ納入前に品質検査  ・クリーンルーム環境(クラス10,000/0.5μm)での点灯、外観検査 ■成果  ・納入品質不具合0件  ・ユーザーからの安心感、必要性向上(日本品質) ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【開発事例】ホコリセンサIC

【開発事例】ホコリセンサIC
ユーザー様ではホコリセンサモジュールの小型化と、検査工程の省力化を 望んでおり、小型化を実現するには、部品点数を削減する必要あります。 そこで当社は、受光素子など多くのディスクリート部品で構成していた ホコリセンサモジュールの機能をホコリセンサICで集積化することで、 部品点数の削減が可能となり、ホコリセンサモジュールの小型化を実現。 ホコリセンサモジュールの小型化と検査工程の省力化を実現できたことで、 ユーザー様は新たな販路を獲得することができました。 【効果】 ■ホコリセンサモジュールの小型化と検査工程の省力化を実現 ■ユーザー様は新たな販路を獲得することができた ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

フルカラー暗視スコープ『OPSIN(オプシン)』

フルカラー暗視スコープ『OPSIN(オプシン)』
『OPSIN(オプシン)』は、ブラックシリコンCMOSセンサーを搭載した フルカラー暗視スコープです。 鮮明なAMOLEDディスプレイ(1920×1080ピクセル)を搭載し、付属の スイングアームマウントと外付けバッテリーでヘルメット装着ハンズフリー。 また、約8時間フル稼働でmicroSDカード録画対応し、 GPS位置情報・磁気コンパス機能もついております。 【特長】 ■防塵防水性能:IP67準拠、悪天候や過酷な状況下でもタフに使用可能 ■広い視界:広範囲の監視・情報収集が可能 ■認識性能:150m先にある人間大の大きさの対象物を確認可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

モジュラータイプリフローチェッカー RCX-1

モジュラータイプリフローチェッカー RCX-1
「モジュラータイプリフローチェッカー RCX-1」は、コアユニットの温度測定6chに必要な測定ユニットを追加できる新しいコンセプトの測定システムです。リフロー工程管理に必要な12ch温度測定・酸素濃度・風速ユニットを用意しました。専用システムプログラムにて、酸素濃度、風速を同一画面上に表示できます。電源は単4電池・リチウムイオン充電池のいずれかを選択可能です。BLUETOOTHを新たに採用しワイヤレスでのデータ転送が可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

【アプリケーション例】検証線アプリ

【アプリケーション例】検証線アプリ
『TAGARNO検証線アプリ』は、タガルノ社フルHDデジタルマイクロスコープで、製品のサイズや形状を確認するするために、製造ラインなどでご使用いただけます。定規やルーラー表示させなくても、簡単に形状検査が実施できます。 [特徴] ■製品ごとに名前を付けて検証線を保存可能 ■一覧から製品の検証線を呼び出し、サンプルに当てはめて比較 ■許容範囲を設定することで、瞬時にエラー品か確認できる

ヤマトマテリアル株式会社 事業紹介

ヤマトマテリアル株式会社  事業紹介
ヤマトマテリアル株式会社は、主に「容器・包装」「生産システム」 「エレクトロニクス関連商品」の各事業分野をフィールドとする 専門商社です。 半導体・エレクトロ二クス分野の検査・梱包から生産設備までの企画販売 を行う新素材事業本部。 【事業内容】 ■新素材事業本部 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

実装基板外観検査装置『Summitシリーズ』

実装基板外観検査装置『Summitシリーズ』
『Summitシリーズ』は、内部に1800万画素高解像度カメラ4台(CV-Lは3台)を 搭載し、軽量コンパクトで低価格を実現した実装基板外観検査装置です。 パーツライブラリー不要で検査設定が行える「メッシュマッチング」機能と Aiを組み合わせた「AI-Mesh」機能を搭載。良品と未実装基板を読み込ませれば Aiが分析し、検査の必要な場所に必要なパラメーターが全自動で設定されます。 それにより、だれでも短時間で検査設定が行え、短時間で利用することができます。 【特長】 ■0603部品から、印刷後はんだ、防湿剤塗布まで一台で幅広い検査対応力 ■Mサイズ基板10秒以内の超高速検査タクトタイム ■簡単設定でプログラム新規作成からわずか15分で検査スタート可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

目視検査支援機『Neoview』

目視検査支援機『Neoview』
『Neoview』は、独自の高画質エンジンを搭載した目視検査支援機です。 角度により反射して見えにくい半田面を、⾼画質エンジンを搭載し、 白飛の無い美しい基板検査画像の提供が可能となりました。 自然に近い画像でより正確な検査ができます。 【特長】 ■独自の高画質エンジン搭載 ■500万画素カメラ(4K) ■白飛の無い美しい基板検査画像の提供が可能 ■自然に近い画像でより正確な検査ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

必要な機能のアプリのみ選択して使用できるデジタルマイクロスコープ

必要な機能のアプリのみ選択して使用できるデジタルマイクロスコープ
『TAGARNO フルHDトレンド』は、AF機能や高感度光センサーを搭載し、歪みのないシャープな画像を取得できるデジタルマイクロスコープ。 1080p画質や60fps、光学30倍、総合最高倍率330倍での撮影に対応し、 USB3.0、USB2.0接続で、モニターでの動画や静止画の観察が簡単。 品質管理に役立つ全9種のアプリを用意。偏光レンズ、偏光ライト、赤外線ライト、紫外線ライト、バックライト、同軸ライトなど視認性を高めるオプションも充実。 【提供アプリ例】 ◎DXFオーバーレイ  ■CADファイルを読み込み製品画像に重ね合わせて検証、倍率連動。 ◎画像比較  ■参照とサンプル画像を左右に並べ比較可能、分割表示や透かしも可能 ◎計測  ■距離、角度、面積、円の半径と直径等の計測と矢印や注釈の挿入 ◎PNG参照  ■PNG画像を呼び込み製品と形状やサイズを比較 ◎検証線  ■水平及び垂直線を使用し製品の形状に合わせた検証線を作成し検証 ◎全焦点合成画像  ■深度合成画像の作成 ◎オンラインでの画像共有が可能 ※詳細は資料参照

洗浄装置

洗浄装置
大日商事株式会社が取扱う『洗浄装置』についてご紹介します。 「純水・準水系インライン洗浄装置」は、光化学部品・硝子基板用洗浄装置や、 NCスプレー洗浄装置をはじめ9種類の洗浄装置の取扱いがあります。 「フラックス洗浄装置」は、小型シャワー式で上下の温純粋シャワーで強力 洗浄可能な装置で、「炭化水素・有機溶剤真空洗浄機」は、機密プレス部品の 洗浄実績がある製品です。 プリント基板上のゴミやバリを除去する「PC基板クリーナー」も取り扱っています。 【純水・準水系インライン洗浄装置ラインアップ】 ■光化学部品・硝子基板用洗浄装置 ■NCスプレー洗浄装置 ■半導体パッケージ洗浄装置(ダイレクトパス洗浄装置) ■インライン型硝子基板洗浄装置(対向超音波・ブラシ洗浄工程) ■ウェハー洗浄装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

TAGARNO FHD デジタルマイクロスコープ フロント

TAGARNO FHD デジタルマイクロスコープ フロント
TAGARNO FHD デジタルマイクロスコープ「フロント」は、カメラヘッドの取り付け位置を変更できるため、奥行や高さのある様々なサンプルの観察に適しています。1.6倍~660倍までの拡大観察が可能で、ワンタッチで画像の保存が可能です。画像は接続したUSBメモリー又は内蔵メモリーに保存され、いつでもファイル名で呼び出し可能です。又オンライン会議アプリを使用して現在観察しているライブ画像を、遠方の関係者と同時に観察する事も可能。又必要なアプリのみ導入することで、初期導入コストを削減できます。その後必要となったアプリはいつでも購入してアップデートできます。アプリは30日間無料でお試しいただき、有効性を確認後、購入していただくことができます。FHD、60fpsの高品質画像では、歪みや遅延の無いスムーズでシャープな画像で観察可能、動くサンプルや動かして観察するサンプルに有効です。

手動式プリント配線板外観検査機 VISPER 3シリーズ

手動式プリント配線板外観検査機 VISPER 3シリーズ
「VISPER 3シリーズ」は、卓上の片面手動機から、両面同時撮像の手動機までラインアップしています。段取り時間の短縮が可能なソフトウェアを搭載し、よりスムーズな登録作業を実現します。解析結果から不具合内容を集計する品質管理向けソフトも充実しています。その他、分解能、検査サイズ等から、お客様のニーズに合った検査機をご提案します。 【ラインナップ】 ○VISPER310CLWZ 携帯電話などの高密度・高精度な基板検査に対応する手動機 ○VISPER330CLWZ/360CLWZ 大型基板の高精度な検査に対応する手動機 その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問合せ下さい。

ダミー(完了)ホール測定器 「NCH-250」

ダミー(完了)ホール測定器 「NCH-250」
ダミー(完了)ホール測定器 「NCH-250」は、プリント基板のスルホール加工後に使用されたドリルで、基板の隅に明けられたダミー(完了)ホールを高解像度カメラにより穴径を自動測定し、OK/NGの判定を行います。 従来のようにピンゲージを使って1個づつ測定する必要がありません。 【特徴】 ○従来のようにピンゲージを使って1個づつ測定する必要がない ○指定公差に対しての実測値または良否判定をプリントアウトし  データ管理に利用できる(オプション) ○小型卓上タイプで設置場所を選ばない 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

Forecast Pro (半導体 やその装置市場の需要予測等)

Forecast Pro (半導体 やその装置市場の需要予測等)
半導体市場、エレクトロにクス市場、半導体装置市場の需要予測をご提供するというサブスクリプションサービスです。 こちらのサービスでは、上記以外でもPackaging Demand Analysis(Type別、Lead数別)や、Advanced Packaging Deman Analysis(Type別、Demand Application別)、 あるいはSilicon Wafer Demand(半導体需要予測個数別、$別ではなく、Wafer Demandとして算出ご提供) 更にManufacturing Database(主要Foundry、Memory Maker、IDMのキャパシティー、Production、稼働率の予測データをご提供)を含んでいる為、 半導体の製造に関して、前工程、後工程共に材料、または基材をご提供されている会社様にとりましてご興味のあるデータかと考えております。

次世代ディスプレイ不良評価解析事例

次世代ディスプレイ不良評価解析事例
次世代ディスプレイとして有機ELディスプレイが広がり始めている中、 Mini-LEDディスプレイ、Micro-LEDディスプレイ、 量子ドットディスプレイ等の開発が盛んになってきています。 当資料では、微細化された次世代ディスプレイの開発・設計及び 量産時の評価として、OLEDなどを例とした「不良評価解析事例」について 掲載しています。 【掲載事例(一部)】 ■階調ムラ評価 ■サブピクセル個体差評価 ■サブピクセル面内ムラ評価 ■混色(バンク材漏れ光)評価 ■NIR-OLED(顔認証光源)評価 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

デジタルマイクロスコープ『TAGARNO フルHD トレンド』

デジタルマイクロスコープ『TAGARNO フルHD トレンド』
『TAGARNO フルHDトレンド』は、AF機能や高感度光センサーなどを搭載し、 歪みのないシャープな画像を取得できるデジタルマイクロスコープです。 1080p画質や60fps、光学30倍(総合最高倍率330倍)での撮影に対応し、 USB3.0、USB2.0スロットを備えており、モニターでの動画や静止画の観察が簡単に行えます。 品質管理に役立つ全9種のアプリケーションを用意。高さ調整テーブルや フットスイッチなど、利便性を高めるオプションも充実しています。 【提供アプリケーション(抜粋)】 ◎カラーアナライザー  ■色値を客観的にチェック可能。色彩計の代替に好適  ■ピーナッツやコーヒー豆の焙煎度合の検査など幅広く活躍 ◎粒度分布アナライザー  ■サイズ・形状を正確に計測可能。目視での見落としを削減  ■魚用の飼料ペレットなどの品質管理に ◎スペックカウント  ■小麦粉中の斑点とふすまのカウントが可能  ■粉乳などの各種粉末の品質管理にも使用可能 ※製品について詳しくは資料をご覧ください。 ★JASIS2020、食品開発展2020に出展!

『miRadar 8-EV-2 評価キット』

『miRadar 8-EV-2 評価キット』
『miRadar 8 EV 評価キット』は、「miRadar 8 モジュール」と 評価用ソフトウエアがセットになっている評価キットです。 当製品は、初めてレーダーを使われる方が対象です。 付属Tablet PCに評価ソフトウエア(Standard Version)がインストール済みで すぐに動作確認ができます。 また、レーダー動作を詳しく検証される方、または、初めてレーダーを 使われる方が対象の「miRadar 8EV-2 評価キット」もご用意しております。 【特長】 ■直ぐにフィールドで迅速かつ容易に実験することが可能 ■初めてレーダーを使われる方が対象 ■評価ソフトウエアはインストール済み ■画像およびレーダー検出信号を同時に記録再生ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

中小型液晶パネル用点灯検査装置『USG-104』

中小型液晶パネル用点灯検査装置『USG-104』
『USG-104』は、携帯電話やタブレット端末などに使用される中小型 液晶パネル用の簡易点灯検査装置です。 a-Si、LTPS両方のプラットフォームに対応。液晶パネルを駆動するために 必要な電源と信号を本機1台に搭載しており、駆動データ(検査プログラム)を ユーザーが簡単に作製・編集することができます。 また、生産ラインでの使用のためにリモートボックスをご用意しています。 【特長】 ■a-Si、LTPS両方のプラットフォームに対応 ■OSレスで装置を瞬時に立上げ、立下げ ■最大99種類の検査データを作製、保存 ■自動検査に対応 ※詳しくは、お気軽に下記までお問い合わせください。 Tel. 0942-41-2101 HP: https://www.mecc-jp.com/ee/contact
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外観・画像検査における検査速度の向上

外観・画像検査における検査速度の向上とは?

エレクトロニクス製品の製造工程において、外観や画像データから欠陥を検出する検査のスピードを向上させることです。これにより、生産ライン全体の効率化、コスト削減、および品質管理の強化を目指します。

​課題

高解像度化による処理負荷増大

製品の微細化・高機能化に伴い、検査対象の画像解像度が向上し、データ量が膨大になることで、従来の検査システムでは処理に時間がかかり、スループットが低下する。

複雑な欠陥パターンの検出

微細な傷、異物混入、印刷ズレなど、複雑で多様な欠陥パターンを正確に検出するには、高度な画像解析アルゴリズムが必要となり、処理に時間を要する。

リアルタイム性の要求

生産ラインの高速化に伴い、検査結果をリアルタイムでフィードバックし、即座に不良品を排除する必要があるが、検査速度が追いつかない。

多品種少量生産への対応

製品ラインナップが増加し、多品種少量生産が主流となる中で、検査条件の切り替えや学習に時間がかかり、全体の検査速度が低下する。

​対策

ハードウェアアクセラレーションの活用

GPUやFPGAなどの専用ハードウェアを用いて画像処理を高速化し、CPUへの負荷を軽減することで、検査速度を大幅に向上させる。

AI・深層学習アルゴリズムの最適化

効率的な深層学習モデルの設計や、軽量化されたアルゴリズムの採用により、複雑な欠陥検出における処理時間を短縮する。

並列処理・分散処理の導入

複数の検査装置やコンピュータで処理を分担・並列化することで、全体の処理能力を高め、リアルタイム性を確保する。

検査プロセスの自動化・統合

検査条件の設定、学習、結果分析などのプロセスを自動化し、生産管理システムと統合することで、多品種少量生産への対応力を高め、検査速度を維持・向上させる。

​対策に役立つ製品例

高性能画像処理ユニット

GPUや専用チップを搭載し、高度な画像解析アルゴリズムを高速に実行できるため、高解像度画像や複雑な欠陥検出における処理負荷を軽減し、検査速度を向上させる。

AIベースの画像解析ソフトウェア

最適化された深層学習モデルを採用しており、少ない計算リソースで高精度な欠陥検出を実現するため、複雑な欠陥パターンでも高速に処理できる。

分散型検査システム

複数の検査ノードが連携して処理を行うため、個々の処理能力に依存せず、全体として高いスループットを実現し、リアルタイム性を確保する。

自動検査条件設定・管理システム

製品情報や過去の検査データに基づき、最適な検査条件を自動で設定・最適化するため、多品種少量生産における段取り時間を短縮し、検査速度の低下を防ぐ。

⭐今週のピックアップ

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