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エレクトロニクス検査・試験に関連する気になるカタログにチェックを入れると、まとめてダウンロードいただけます。
検査速度の向上とは？課題と対策・製品を解説
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外観・画像検査における検査速度の向上とは？
エレクトロニクス製品の製造工程において、外観や画像データから欠陥を検出する検査のスピードを向上させることです。これにより、生産ライン全体の効率化、コスト削減、および品質管理の強化を目指します。
各社の製品
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【電子機器向け】画像検査処理装置
電子機器業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、部品の正確な検査が不可欠です。特に、小型化が進む電子部品においては、微細なキズや汚れが製品の性能に大きな影響を与える可能性があります。手作業による検査には限界があり、時間とコストがかかるだけでなく、検査結果にばらつきが生じることもあります。当社の画像検査処理装置は、高速かつ高精度な検査を実現し、電子機器の品質管理を強力にサポートします。
【活用シーン】
・電子部品のキズ、汚れ検査
・基板実装後の部品検査
・コネクタ、端子の形状検査
【導入の効果】
・不良品の早期発見による歩留まり向上
・検査工程の自動化によるコスト削減
・検査精度の向上による製品品質の安定化
【電子部品向け】Go-X 5GBASE-T対応モデル
電子部品業界では、製品の品質を確保するために、外観検査による欠陥の早期発見が重要です。特に、小型化が進む電子部品においては、微細な傷や異物の検出が求められます。従来の検査方法では、検査速度の遅さや、検出精度の限界が課題となっています。Go-X 5GBASE-T対応モデルは、5Gbpsの高速データ伝送により、検査工程の高速化を実現し、GigEVision規格のネットワーク機能とグラバーレス接続により、検査システムの構築を容易にします。
【活用シーン】
・電子部品の外観検査
・基板実装後の検査
・コネクタや端子の検査
【導入の効果】
・検査時間の短縮
・不良品の早期発見による歩留まり向上
・検査精度の向上
パッシブ除振台
【半導体製造向け】アンモニア自動連続測定装置 AT-3000
半導体製造業界では、製造プロセスにおける水のクリーン度が製品の品質を大きく左右します。特に、アンモニアなどの微量な汚染物質は、製品の歩留まりを低下させる原因となります。クリーンルームで使用される水は、高純度が求められ、アンモニア濃度を厳密に管理する必要があります。AT-3000は、24時間連続測定により、水質変動を早期に把握し、異常を検知することで、製造プロセスを安定させます。
【活用シーン】
・クリーンルーム用水のモニタリング
・排水処理プロセスの監視
・製造用水の品質管理
【導入の効果】
・アンモニア濃度をリアルタイムで監視し、異常を早期発見
・手分析作業の削減によるコスト削減
・製造プロセスの安定化と歩留まり向上
【検査装置向け】業界最薄クラス薄型DDモーター【DMTシリーズ】
超高速CMOSイメージセンサー『LUX530』
液晶基盤検査装置 G10検査装置
枚数計測器『リードフレームカウンター』
LED用 選別分類機 （LEDソーター）
非接触検査装置リールtoリール型検査システム 「TRV」
非接触検査装置リールtoリール型検査システム「TRV」は、TAB/COF/TCP/TBGA対応した非接触検査装置リールtoリール型検査システムです。検査ステージが上下して独立して、駆動可能。この機構によって、目標位置に対する正確な位置決めと安定した検査が可能です。2カメラCCDを搭載X・Y・φ軸のの補正が可能で高精度アライメントが可能。また、従来の検査速度を30%UP高速検査・高速搬送を実現しました。当社独自の 非接触検査方式により、ICボンディング・パッド部の微細端子部にダメージを与えません。スプロケットを一切使用せず搬送可能。テンションフリー構造によりテープにダメージを与えません。薄厚テープに最適な搬送方式を採用しています。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
洗浄装置
大日商事株式会社が取扱う『洗浄装置』についてご紹介します。
「純水・準水系インライン洗浄装置」は、光化学部品・硝子基板用洗浄装置や、
NCスプレー洗浄装置をはじめ9種類の洗浄装置の取扱いがあります。
「フラックス洗浄装置」は、小型シャワー式で上下の温純粋シャワーで強力
洗浄可能な装置で、「炭化水素・有機溶剤真空洗浄機」は、機密プレス部品の
洗浄実績がある製品です。
プリント基板上のゴミやバリ を除去する「PC基板クリーナー」も取り扱っています。
【純水・準水系インライン洗浄装置ラインアップ】
■光化学部品・硝子基板用洗浄装置
■NCスプレー洗浄装置
■半導体パッケージ洗浄装置（ダイレクトパス洗浄装置）
■インライン型硝子基板洗浄装置（対向超音波・ブラシ洗浄工程）
■ウェハー洗浄装置
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
必要な機能のアプリを選択して使用できるデジタルマイクロスコープ
『TAGARNO フルHDトレンド』は、AF機能や高感度光センサーを搭載し、歪みのないシャープな画像を取得できるデジタルマイクロスコープ。
1080p画質や60fps、光学30倍、総合最高倍率330倍での撮影に対応し、
USB3.0、USB2.0接続で、モニターでの動画や静止画の観察が簡単。
品質管理に役立つ全９種のアプリを用意。偏光レンズ、偏光ライト、赤外線ライト、紫外線ライト、バックライト、同軸ライト など視認性を高めるオプションも充実。
【提供アプリ例】
◎DXFオーバーレイ
■CADファイルを読み込み製品画像に重ね合わせて検証、倍率連動。
◎画像比較
■参照とサンプル画像を左右に並べ比較可能、分割表示や透かしも可能
◎計測
■距離、角度、面積、円の半径と直径等の計測と矢印や注釈の挿入
◎PNG参照
■PNG画像を呼び込み製品と形状やサイズを比較
◎検証線
■水平及び垂直線を使用し製品の形状に合わせた検証線を作成し検証
◎全焦点合成画像
■深度合成画像の作成
※詳細は資料参照
株式会社ソアー22 会社案内
部品・製品の組立て加工、目視外観検査
あらゆる分野の部品・製品の組立て加工から外観検査、梱包出荷業務の一貫生産を行っております。
外観検査は、1.5mm×0.9mmのフラットリッドのような小さな製品も得意としています。
スマートフォン液晶保護フィルム、カメラレンズカバー、液晶テレビ用フレームから、ペットボトル等の外観検査も経験しております。
組立ては、スイッチ、小型モーター、コンセント、スマートフォン内部部品等の組立ての経験がございます。
工場は鉄筋2階建。
1階は67.36m2、2階は64.00m2の合計131.36m2です。
LIDテーピング装置をはじめ、小型クリーンエアーユニットや顕微鏡、拡大鏡、イオナイザーなどの設備を保有しています。
ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。
【事業内容】
■電子・電機部品の検査、組立
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
モジュール検査装置 CM2030（カメラモジュール）
電化製品用部材 検査サービス
タッチモニター、液晶ディスプレイモニターのメンテナンス、修理
全自動回路AOI【回路検査のインライン化が可能！！】
マルチプレートモニター『MP-1 MODEL 7100』
『MP-1 MODEL 7100』は、イオナイザのメンテナンス用として
ご使用頂けるチャージプレートモニターです。
イオナイザの「除電時間」「イオンバランス」を簡易的に
計測することができます。
タッチパネルによるスムーズな操作により、日々のイオナイザメンテナンスが
簡素化されます。計測データはグラフによるリアルタイム表示のため、
イオナイザの動作状態を一目で判断する事ができます。
【特長】
■見やすいグラフィック表示
■操作し易いタッチパネル設計
■除電時間、イオンバランスの自動測定が可能
■センサープレートは2枚まで接続が可能
■同時に2箇所の測定が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
目視検査支援機『Neoview』
【開発事例】ホコリセンサIC
ユーザー様ではホコリセンサモジュールの小型化と、検査工程の省力化を
望んでおり、小型化を実現するには、部品点数を削減する必要あります。
そこで当社は、受光素子など多くのディスクリート部品で構成していた
ホコリセンサモジュールの機能をホコリセンサICで集積化することで、
部品点数の削減が可能となり、ホコリセンサモジュールの小型化を実現。
ホコリセンサモジュールの小型化と検査工程の省力化を実現できたことで、
ユーザー様は新たな販路を獲得することができました。
【効果】
■ホコリセンサモジュールの小型化と検査工程の省力化を実現
■ユー ザー様は新たな販路を獲得することができた
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
紫-青色LD「TG4xx」
電子機器 OEMサービス
当社では、自動車関連をはじめ、医療機器、精密機械、自動ドア、
船舶設備機器、防災装置等、産業用から一般製品まで幅広い分野の
電子機器・制御装置・基板をOEMにて制作しています。
製品は企画の状態から完成品までトータルでコーディネート可能。
メンテナンスや改良、修理もお任せください。
【取扱い商品例】
■測定器：トルク計測器、身体等の密度測定器 他
■操作パネル
■検出器：地絡検出器、巡回型設備診断装置 他
■信号発生器：試験機制御&解析装置
■パワーアンプ&ドライバー：インバータ、DC/AC変換パワーアンプ（10kW） 他
■音声合成装置 他
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
液晶パネル接着冶具 製作事例
完全非接触検査装置 「GX3/GX7」
電子基板外観計測検査機『Focus-5000GX』
『Focus-5000GX』は、ベクターイメージング計測と半田形状解析により
部品位置ズレ、半田の品質評価指数を計測、分析し定量的に判定する
電子基板外観計測検査機です。
良品サンプル基板不要。自動検査対応の為基板搬送コンベアーを
標準装備しています。
CADデータ、実装データ及び標準装備の部品外形を示すパッケージライブラリ
によりテストプログラムを自動作成します。
【特長】
■基板部品をLED多方向照明の多重画像で 判定
■良品サンプル基板不要
■最大460×510mmの大型基板対応
■高精度直交ロボット
■自動検査対応の為基板搬送コンベアーを標準装備
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Ｘ線検査方式リール部品カウンター XQuik II Plus
生地ブラシ機能付与製品（CHBH）
当社では、柔軟な繊維表面にバインダーレスで機能粒子コーティングを
施したブラシを開発しております。
機能粒子コーティングによる繊維表面の特性、形状変化が様々な効果を
もたらします。
また、CHBと同様の外層絶縁構造を持つため、荷電粒子の静電的吸着能にも
優れます。
機能粒子は主に無機材料です。材質、粒径等についてはご相談下さい。
【CHBHの特長】
■繊維表面の粗さの増大による掻き取り性の向上
■粒子種類の多様性による、対象物質と相性の最適化
■外層絶縁構造による静電的クリーニング性能の向上
■繊維表面の硬度と粗さを増大させ、ブラシに研磨機能を付与
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
タイバ切断機『ismart 70G』
研究開発エンジニア用ー1to8 eMMC Duplicator。
LED点灯・個数測定システム『SR10-LT』
『SR10-LT』は、基板のLEDの点灯個数および光量を評価することができ、
リアルタイム表示も可能なLED点灯・個数測定システムです。
基板のLEDの個数を点灯せずに計測可能なほか、インライン上での
自動測定ができます。
画像認識によるLED位置検出や形状検出、コネクタなどのパーツの有無の
判別など、各種オプションやカスタム仕様に対応いたします。
【特長】
■リアルタイム表示が可能
■基板のLEDの個数を点灯せずに 計測できる
■インライン上での自動測定が可能
■ティーチングにより各品種の形状等を登録可能
■各種オプション・カスタム仕様に対応
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
セラミックLED用高速分類機 NCS-4100
タッチパネル・タッチモニター・液晶モニター 修理事例
タッチパネル・タッチモニター・液晶モニターを取り扱うフューチャーコネクトでは保守・修理も行なっております。
故障したタッチパネル・タッチモニター・液晶モニターを買い替えるのは、費用や手間がかかってしまいます。
また、産業機械などに組み込まれているタッチパネル・タッチモニター・液晶モニターは簡単に買い換えるというわけにもいきません。
例えば、下記のようなことはありま せんか？
・バックライトが点灯しない
・液晶が割れた
・画面が白っぽい
・タッチパネルが反応しない
フューチャーコネクトでは、社取扱い製品以外の国内・海外製液晶モニターの修理、バックライト交換なども承ります。
「タッチパネル・液晶モニター 修理事例」では弊社で修理をした事例と修理の流れをご紹介しております。
また、保守業務も行っております。
詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』
『4170-IH』は、QFN、CSPなどのリードレスデバイスを
ダイシング後、そのままウェハリング上でテストするフィルムフレーム
テストハンドラです。
測定前にビジュアルによる位置補正（xyzθ）をすることにより、
デバイスの正確な位置情報とプローブピンの好適な測圧がストリップ上の
全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。
【特長】
■ハイスループット
■高耐荷重、高推力テーブル
■ストリップ貼り付けエリアを拡大
・縦260mm×横300mm以内（WLCSPはφ300mm以内）
■バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応
■品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換
※ダウンロード頂けるPDF資料は、英語版のカタログです。
詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
中小型液晶パネル用点灯検査装置『USG-104』
『USG-104』は、携帯電話やタブレット端末などに使用される中小型
液晶パネル用の簡易点灯検査装置です。
a-Si、LTPS両方のプラットフォームに対応。液晶パネルを駆動するために
必要な電源と信号を本機1台に搭載しており、駆動データ(検査プログラム)を
ユーザーが簡単に作製・編集することができます。
また、生産ラインでの使用のためにリモートボックスをご用意しています。
【特長】
■a-Si、LTPS両方のプラットフォームに対応
■OSレスで装置を瞬時に立上げ、立下げ
■最大99種類の検査データを作製、保存
■自動検査に対応
※詳しくは、お気軽に下記までお問い合わせください。
Tel. 0942-41-2101
HP: https://www.mecc-jp.com/ee/contact
高速・高信頼性試験装置『HDD/SSD Tester D020』
『HDD/SSD Tester D020』は、小型軽量で持ち運びも可能な、2セルタイプの
2.5インチ、3.5インチHDD/SSD用高速・高信頼性試験装置です。
HDD/SSDの評価選定用や不具合の解析等の作業の効率化及び作業時間の
短縮の実現、ドライブの品質トレーサビリティを高めます。
作業者に優しい独自のHDD/SSDハンドリング機構により、誰でもミスなく
HDD/SSDを差し込み、取り外しがワンタッチで行えます。
【特長】
■作業者に優 しい独自のHDD/SSDハンドリング機構
■多様なHDD/SSDのインターフェースへの対応
■安定した動作環境での評価試験、耐久性試験を実現
■技術者に納得頂ける様々なコマンドを用意
■品質トレーサビリティを高めるロギング/レポーティング機能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ダイソータ・テストハンドラ『LT-evo』
次世代ディスプレイ不良評価解析事例
プリント基板高速穴位置検査機『PXL-2020』
『PXL-2020』は、不良品の早期発見、穴明機のメンテナンスコストの低減を
目的に開発されたプリント基板のための専用測定、検査装置です。
専用機ならではの高速測定はもちろん、精度、操作性など様々な部分で
圧倒的なパフォーマンスを発揮するとともに、人間に配慮した操作環境を実現。
ユーザーの生産システムにおける生産性の向上、コスト削減に大きく寄与し
納入したその日から高い信頼で測定、検査が可能です。
【特長】
■従来の「PXL-2000」を継承し、更にパワーアップ
■不良品の早期発見、穴明機のメンテナンスコストの低減を目的に開発
■専用機ならではの高速測定が可能
■ユーザーの生産システムにおける生産性の向上、コスト削減に大きく寄与
■納入したその日から高い信頼で測定、検査が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
基板外観検査装置 Sherlock-300I/IH
株式会社レクザムは４０年以上に渡り、電子実装基板の開発・設計・製造を行ってまいりました。
その歴史の中で、基板製造の現場で求められる基板外観検査装置の開発を進めて参りました。
――――基板検査装置 Sherlock-300I/IH ―――――
【特長】
◇リフロー前基板の検査にも最適
・高剛性カメラ移動機構
・基板はステージに固定
・低振動高速駆動用のモーション制御技術を採用
◇21.5インチ タッチパネルスクリーンでキーボード不要！
◇コンパクトなボディー[幅620mm]で、既存ラインへの追加配置もOK！
カタログでは、Sherlock-300IをはじめSherlock-300シリーズが
全製品掲載しており、用途に合わせてお選び頂けます。
▼カタログダウンロードよりご覧頂き、お気軽にお問い合わせください。▼
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ポータブル端子カットモニター『CS-04PC』
『CS-04PC』は、品質確認、アプリ調整など、手軽に圧着の現場で
断面サンプルを確認できるポータブル端子カットモニターです。
専用の端子クランパーに端子をセットしてスタートボタンを押します。
端子のファインカットは自動送り機構で完全自動化。
過負荷を防止して低石の破損、消耗を最小限に抑えます。
当製品は、あえて研磨時のスライド機構を手動化して微妙な調整を
可能にしています。カット＆研磨 に要する時間は2～3分です。
【特長】
■一体型ファインカット＆研磨テーブル
■カバー開で運転を停止するインターロック機構
■研磨の送り調整が可能
■加水研磨が可能
■標準・細線の2種のクランパーを標準装備
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
反転機能付きXY読取装置『NTC-250E-2D』
『NTC-250E-2D』は、基板の表面／裏面の任意の位置にあるIDコードを
自動で読取る装置です。
事前に位置情報をデータ登録することにより自動で読み取り、
基板の表面／裏面にあるIDコードを両面とも読み取ることが可能。
オプションのコンベア自動幅調整機構と組み合わせると、登録したファイルを
読み出すだけで段取り替えが完了します。
また、安全を考慮したフルカバーボディを標準採用しています。
【特長】
■基 板の表面／裏面にあるIDコードを両面とも読み取ることができる
■事前に位置情報をデータ登録することにより自動で読み取る
■安全を考慮したフルカバーボディを標準採用
■ご指定のカメラを取り付けることができる
■オプションのコンベア自動幅調整機構と組み合わせると、
登録したファイルを読み出すだけで段取り替えが完了
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ピッカーハンドラー『KIG-3000』
基盤外観検査装置 Sherlock-300F/FH<卓上タイプ>
株式会社レクザムは４０年以上に渡り、電子実装基板の開発・設計・製造を行ってまいりました。
その歴史の中で、基板メーカーであるからこそ見えてくる基板外観検査装置に求められる機能を集約しつつ、医療検眼機で実績のある光学機器の技術を投入することで基板製造の現場で求められる基板外観検査装置の開発を進めてまいりました。
基盤外観検査装置 Sherlock-300F/FH
【特長】
◇開閉不要・自動検査
◇21.5インチ タッチパネルスクリーンでキーボード不要！
◇便利なティーチング支援ツールでデータ作成時間を短縮
カタログでは、Sherlock-300シリーズが全製品掲載しており、用途に合わせてお選び頂けます。
カタログダウンロードよりご覧頂き、お気軽にお問い合わせください。
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ACF接合検査装置『SEL-V170AL』
『SEL-V170AL』は、IC、FPCの接合ズレ量の検査と接合部の圧痕数
カウントを、取得する検査画像に応じた好適な光学系、照明を
採用して高精度な検査を可能にしたACF接合検査装置です。
ズレ検査と圧痕カ ウントをそれぞれ独立したステージで行う事により、
検査タクトの高速化を図り、製造ラインの生産性を確保。
生産管理情報に基づき、品質トレンドを見える化して製造ラインの
管理が容易になります。
また、2枚搬送できる「V170Ax3」もご用意しております。
【特長】
■接合のズレ/圧痕カウント/異物を好適な光学系を用い検査する
■ライン生産性を確保出来る高速検査を行う
■品質の見える化をサポート
■1枚搬送のみ
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最小カメラを接続できる小型USBカメラモジュール
3D SPI / はんだ印刷後検査装置『Mirage II』
実装基板外観検査装置『Summitシリーズ』
『Summitシリーズ』は、内部に1800万画素高解像度カメラ4台（CV-Lは3台）を
搭載し、軽量コンパクトで低価格を実現した実装基板外観検査装置です。
パーツライブラリー不要で検査設定が行える「メッシュマッチング」機能と
Aiを組み合わせた「AI-Mesh」機能を搭載。良品と未実装基板を読み込ませれば
Aiが分析し、検査の必要な場所に必要なパラメーターが全自動で設定されます。
それにより、だれでも短時間で検査設定が行え、短時間で利用することができます。
【特長】
■0603部品から、印刷後はんだ、防湿剤塗布まで一台で幅広い検査対応力
■Mサイズ基板10秒以内の超高速検査タクトタイム
■簡単設定でプログラム新規作成からわずか15分で検査スタート可能
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
デジタルクリンプハイト測定器 「ユニゲージ」
【課題解決事例】車載用 液晶モジュール 輸入品受入検査
家庭用電気用品・配線用電気用品・電子応用機器・プラスチック
成形品の設計・製造及び販売を行なっている株式会社アイデンの
「車載用 液晶モジュール 輸入品受入検査事例」をご紹介いたします。
当事例では、海外生産品をユーザ納入前にクリーンルーム環境で
品質検査することにより、納入品質不具合0件を実現しました。
【事例】
■商品：車載用 液晶モジュール
■受入検査内容
・海外生産品をユーザ納入前に品質検査
・クリーンルーム環境(クラス10,000/0.5μｍ)での点灯､外観検査
■成果
・納入品質不具合0件
・ユーザーからの安心感､必要性向上(日本品質)
※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Forecast Pro (半導体 やその装置市場の需要予測等）
半導体市場、エレクトロにクス市場、半導体装置市場の需要予測をご提供するというサブスクリプションサービスです。
こちらのサービスでは、上記以外でもPackaging Demand Analysis（Type別、Lead数別）や、Advanced Packaging Deman Analysis（Type別、Demand Application別）、
あるいはSilicon Wafer Demand（半導体需要予測個数別、＄別ではなく、Wafer Demandとして算出ご提供）
更にManufacturing Database（主要Foundry、Memory Maker、IDMのキャパシティー、Production、稼働率の予測データをご提供）を含んでいる為、
半導体の製造に関して、前工程、後工程共に材料、または基材をご提供されている会社様にとりましてご興味のあるデータかと考えております。
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外観・画像検査における検査速度の向上
外観・画像検査における検査速度の向上とは？
エレクトロニクス製品の製造工程において、外観や画像データから欠陥を検出する検査のスピードを向上させることです。これにより、生産ライン全体の効率化、コスト削減、および品質管理の強化を目指します。
課題
高解像度化による処理負荷増大
製品の微細化・高機能化に伴い、検査対象の画像解像度が向上し、データ量が膨大になることで、従来の検査システムでは処理に時間がかかり、スループットが低下する。
複雑な欠陥パターンの検出
微細な傷、異物混入、印刷ズレなど、複雑で多様な欠陥パターンを正確に検出するには、高度な画像解析アルゴリズムが必要となり、処理に時間を要する。
リアルタイム性の要求
生産ラインの高速化に伴い、検査結果をリアルタイムでフィードバックし、即座に不良品を排除する必要があるが、検査速度が追いつかない。
多品種少量生産への対応
製品ラインナップが増加し、多品種少量生産が主流となる中で、検査条件の切り替えや学習に時間がかかり、全体の検査速度が低下する。
対策
ハードウェアアクセラレーションの活用
GPUやFPGAなどの専用ハードウェアを用いて画像処理を高速化し、CPUへの負荷を軽減することで、検査速度を大幅に向上させる。
AI・深層学習アルゴリズムの最適化
効率的な深層学習モデルの設計や、軽量化されたアルゴリズムの採用により、複雑な欠陥検出における処理時間を短縮する。
並列処理・分散処理の導入
複数の検査装置やコンピュータで処理を分担・並列化することで、全体の処理能力を高め、リアルタイム性を確保する。
検査プロセスの自動化・統合
検査条件の設定、学習、結果分析などのプロセスを自動化し、生産管理システムと統合することで、多品種少量生産への対応力を高め、検査速度を維持・向上させる。
対策に役立つ製品例
高性能画像処理ユニット
GPUや専用チップを搭載し、高度な画像解析アルゴリズムを高速に実行できるため、高解像度画像や複雑な欠陥検出における処理負荷を軽減し、検査速度を向上させる。
AIベースの画像解析ソフトウェア
最適化された深層学習モデルを採用しており、少ない計算リソースで高精度な欠陥検出を実現するため、複雑な欠陥パターンでも高速に処理できる。
分散型検査システム
複数の検査ノードが連携して処理を行うため、個々の処理能力に依存せず、全体として高いスループットを実現し、リアルタイム性を確保する。
自動検査条件設定・管理システム
製品情報や過去の検査データに基づき、最適な検査条件を自動で設定・最適化するため、多品種少量生産における段取り時間を短縮し、検査速度の低下を防ぐ。
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