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検査速度の向上とは?課題と対策・製品を解説

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外観・画像検査における検査速度の向上とは?
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【検査装置向け】業界最薄クラス薄型DDモーター【DMTシリーズ】
【電子部品向け】Go-X 5GBASE-T対応モデル
【電子機器向け】画像検査処理装置
パッシブ除振台
生地ブラシ機能付与製品(CHBH)
【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型
ピッカーハンドラー『KIG-3000』
チップLED用超高速分類機 NCS-3300
デジタルクリンプハイト測定器 「ユニゲージ」
枚数計測器『リードフレームカウンター』
基盤外観検査装置 Sherlock-300F/FH<卓上タイプ>
フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』
レーザーダイオードテストシステム【LD2920MTB】
モジュール検査装置 CM2030(カメラモジュール)
反転機能付きXY読取装置『NTC-250E-2D』
基板外観検査装置 Sherlock-300I/IH
電子機器部品検査装置 精密部品検査梱包装置
必要な機能のアプリを選択して使用できるデジタルマイクロスコープ
タイバ切断機『ismart72G』
セラミックLED用高速分類機 NCS-4200
コンパクトX線リールカウンター
測定ハンドラー テーピング装置『TH288LD』
X線検査方式リール部品カウンター XQuik II Plus
Lサイズ基板対応目視検査装置『NVS400DL』
【技術資料】光検出素子
電子機器 OEMサービス
『超低抵抗器トリマー』高精度・高速にレーザートリミング
非接触検査装置リールtoリール型検査システム 「TRV」
研究開発エンジニア用ー1to8 eMMC Duplicator。
タッチパネル・タッチモニター・液晶モニター 修理事例
基板検査工程【主要な検査装置】
【厳しい検査に耐える圧倒的信頼性】『自社一貫生産』外観部品
【課題解決事例】車載用 液晶モジュール 輸入品受入検査
【開発事例】ホコリセンサIC
フルカラー暗視スコープ『OPSIN(オプシン)』
モジュラータイプリフローチェ ッカー RCX-1
【アプリケーション例】検証線アプリ
ヤマトマテリアル株式会社 事業紹介
実装基板外観検査装置『Summitシリーズ』
目視検査支援機『Neoview』
必要な機能のアプリのみ選択して使用できるデジタルマイクロスコープ
洗浄装置
TAGARNO FHD デジタルマイクロスコープ フロント
手動式プリント配線板外観検査機 VISPER 3シリーズ
ダミー(完了)ホール測定器 「NCH-250」
Forecast Pro (半導体 やその装置市場の需要予測等)
次世代ディスプレイ不良評価解析事例
デジタルマイクロスコープ『TAGARNO フルHD トレンド』
『miRadar 8-EV-2 評価キット』
中小型液晶パネル用点灯検査装置『USG-104』

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外観・画像検査における検査速度の向上
外観・画像検査における検査速度の向上とは?
エレクトロニクス製品の製造工 程において、外観や画像データから欠陥を検出する検査のスピードを向上させることです。これにより、生産ライン全体の効率化、コスト削減、および品質管理の強化を目指します。
課題
高解像度化による処理負荷増大
製品の微細化・高機能化に伴い、検査対象の画像解像度が向上し、データ量が膨大になることで、従来の検査システムでは処理に時間がかかり、スループットが低下する。
複雑な欠陥パターンの検出
微細な傷、異物混入、印刷ズレなど、複雑で多様な欠陥パターンを正確に検出するには、高度な画像解析アルゴリズムが必要となり、処理に時間を要する。
リアルタイム性の要求
生産ラインの高速化に伴い、検査結果をリアルタイムでフィードバックし、即座に不良品を排除する必要があるが、検査速度が追いつかない。
多品種少量生産への対応
製品ラインナップが増加し、多品種少量生産が主流となる中で、検査条件の切り替えや学習に時間がかかり、全体の検査速度が低下する。
対策
ハードウェアアクセラレーションの活用
GPUやFPGAなどの専用ハードウェアを用いて画像処理を高速化し、CPUへの負荷を軽減することで、検査速度を大幅に向上させる。
AI・深層学習アルゴリズムの最適化
効率的な深層学習モデルの設計や、軽量化されたアルゴリズムの採用により、複雑な欠陥検出における処理時間を短縮する。
並列処理・分散処理の導入
複数の検査装置やコンピュータで処理を分担・並列化することで、全体の処理能力を高め、リアルタイム性を確保する。
検査プロセスの自動化・統合
検査条件の設定、学習、結果分析などのプロセスを自動化し、生産管理システムと統合することで、多品種少量生産への対応力を高め、検査速度を維持・向上させる。
対策に役立つ製品例
高性能画像処理ユニット
GPUや専用チップを搭載し、高度な画像解析アルゴリズムを高速に実行できるため、高解像度画像や複雑な欠陥検出における処理負荷を軽減し、検査速度を向上させる。
AIベースの画像解析ソフトウェア
最適化された深層学習モデルを採用しており、少ない計算リソースで高精度な欠陥検出を実現するため、複雑な欠陥パターンでも高速に処理できる。
分散型検査システム
複数の検査ノードが連携して処理を行うため、個々の処理能力に依存せず、全体として高いスループットを実現し、リアルタイム性を確保する。
自動検査条件設定・管理システム
製品情報や過去の検査データに基づき、最適な検査条件を自動で設定・最適化するため、多品種少量生産における段取り時間を短縮し、検査速度の低下を防ぐ。
⭐今週のピックアップ

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