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汚れ・シミの検出とは?課題と対策・製品を解説

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外観・画像検査における汚れ・シミの検出とは?
エレクトロニクス製品の製造工程において、製品表面に付着した微細な汚れやシミを画像処理技術を用いて自動的に検出・識別するプロセスです。製品の品質保証、不良品の流出防止、歩留まり向上を目的とします。
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【プリント基板向け】キズ・汚れ・異物を検出する自動外観検査装置
プリント基板では、回路パターンや部品実装における微細なキズ、汚れ、異物、実装不良が、製品の性能低下や故障に直結します。一方、これらを目視で検査するには限界があり、検査員の負担増大、判定基準の個人差、見落としリスクが多くの現場で課題となっています。
当社は、カメラ・照明・画像処理の構成から、基板の搬送・排出機構までを含めた検査装置を、お客様の基板仕様・検査基準・生産タクトに合わせて個別に設計・開発します。汎用AOIでは対応が難しい検査条件や、既存ラインへの組込みにも、構想段階からご相談いただけます。
【検査対象の例】
回路パターンの異常、キズ、汚れ
実装部品の有無、位置ズレ
異物混入、はんだ部の外観
出荷前の全数外観検査
【導入の効果】
判定基準の定量化により、検査員ごとのばらつきを解消
全数自動検査による不良流出リスクの低減
目視検査工程の省人化と、検査員の負担軽減
【当社の対応範囲】
検査方式の検討(カメラ構成・照明方法・画像処理)
搬送・排出機構を含めた装置設計
既存ラインへの組込み、設備改造にも対応
【カメラモジュール向け】組付け・外観を自動検査する検査装置
カメラモジュールでは、レンズへの異物混入やキズ・汚れが撮影画像の品質低下に直結するほか、レンズの傾きや部品の欠品・位置ズレといった組付け不良も、製品の信頼性を損なう要因となります。透明なレンズ面の微細な異物は見る角度や明るさで見え方が変わるため目視判定が難しく、検査員の負担や判定のばらつき、見落としリスクが課題となっています。
当社は、レンズの形状や欠陥の種類に応じたカメラ・照明・画像処理の構成から、搬送・位置決め・排出機構までを含めた検査装置を、お客様の製品仕様・生産タクトに合わせて個別に設計・開発します。
【検査対象の例】
・レンズ表面への異物混入、キズ、汚れ
・レンズの傾き、部品の有無、位置ズレなどの組付け状態
・出荷前の全数外観検査
【導入の効果】
・判定基準の定量化による判定ばらつきの解消
・全数自動検査による不良流出リスクの低減
・目視検査工程の省人化と負担軽減
【当社の対応範囲】
・検査方式の検討(カメラ・照明・画像処理)
・搬送・位置決め・排出機構を含めた装置設計
・既存ラインへの組込み、設備改造にも対応
【家電向け】外観部品
【電子部品向け】AI外観検査システムスターターセット
【半導体製造向け】アンモニア自動連続測定装置 AT-3000
半導体製造業界では、製造プロセスにおける水のクリーン度が製品の品質を大きく左右します。特に、アンモニアなどの微量な汚染物質は、製品の歩留まりを低下させる原因となります。クリーンルームで使用される水は、高純度が求められ、アンモニア濃度を厳密に管理する必要があります。AT-3000は、24時間連続測定により、水質変動を早期に把握し、異常を検知することで、製造プロセスを安定させます。
【活用シーン】
・クリーンルーム用水のモニタリング
・排水処理プロセスの監視
・製造用水の品質管理
【導入の効果】
・アンモニア濃度をリアルタイムで監視し、異常を早期発見
・手分析作業の削減によるコスト削減
・製造プロセスの安定化と歩留まり向上




