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汚れ・シミの検出とは?課題と対策・製品を解説

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外観・画像検査における汚れ・シミの検出とは?
エレクトロニクス製品の製造工程において、製品表面に付着した微細な汚れやシミを画像処理技術を用いて自動的に検出・識別するプロセスです。製品の品質保証、不良品の流出防止、歩留まり向上を目的とします。
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【カメラモジュール向け】組付け・外観を自動検査する検査装置
カメラモジュールでは、レンズへの異物混入やキズ・汚れが撮影画像の品質低下に直結するほか、レンズの傾きや部品の欠品・位置ズレといった組付け不良も、製品の信頼性を損なう要因となります。透明なレンズ面の微細な異物は見る角度や明るさで見え方が変わるため目視判定が難しく、検査員の負担や判定のばらつき、見落としリスクが課題となっています。
当社は、レンズの形状や欠陥の種類に応じたカメラ・照明・画像処理の構成から、搬送・位置決め・排出機構までを含めた検査装置を、お客様の製品仕様・生産タクトに合わせて個別に設計・開発します。
【検査対象の例】
・レンズ表面への異物混入、キズ、汚れ
・レンズの傾き、部品の有無、位置ズレなどの組付 け状態
・出荷前の全数外観検査
【導入の効果】
・判定基準の定量化による判定ばらつきの解消
・全数自動検査による不良流出リスクの低減
・目視検査工程の省人化と負担軽減
【当社の対応範囲】
・検査方式の検討(カメラ・照明・画像処理)
・搬送・位置決め・排出機構を含めた装置設計
・既存ラインへの組込み、設備改造にも対応
【家電向け】外観部品
【電子機器向け】画像検査処理装置
電子機器業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、部品の正確な検査が不可欠です。特に、小型化が進む電子部品においては、微細なキズや汚れが製品の性能に大きな影響を与える可能性があります。手作業による検査には限界があり、時間とコストがかかるだけでなく、検査結果にばらつきが生じることもあります。当社の画像検査処理装置は、高速かつ高精度な検査を実現し、電子機器の品質管理を強力にサポートします。
【活用シーン】
・電子部品のキズ、汚れ検査
・基板実装後の部品検査
・コネクタ、端子の形状検査
【導入の効果】
・不良品の早期発見による歩留まり向上
・検査工程の自動化によるコスト削減
・検査精度の向上による製品品質の安定化
【半導体製造向け】アンモニア自動連 続測定装置 AT-3000
半導体製造業界では、製造プロセスにおける水のクリーン度が製品の品質を大きく左右します。特に、アンモニアなどの微量な汚染物質は、製品の歩留まりを低下させる原因となります。クリーンルームで使用される水は、高純度が求められ、アンモニア濃度を厳密に管理する必要があります。AT-3000は、24時間連続測定により、水質変動を早期に把握し、異常を検知することで、製造プロセスを安定させます。
【活用シーン】
・クリーンルーム用水のモニタリング
・排水処理プロセスの監視
・製造用水の品質管理
【導入の効果】
・アンモニア濃度をリアルタイムで監視し、異常を早期発見
・手分析作業の削減によるコスト削減
・製造プロセスの安定化と歩留まり向上
【電子部品向け】AI外観検査システムスターターセット
【プリント基板向け】キズ・汚れ・異物を検出する自動外観検査装置
プリント基板では、回路パターンや部品実装における微細なキズ、汚れ、異物、実装不良が、製品の性能低下や故障に直結します。一方、これらを目視で検査するには限界があり、検査員の負担増大、判定基準の個人差、見落としリスクが多くの現場で課題となっています。
当社は、カメラ・照明・画像処理の構成から、基板の搬送・排出機構までを含めた検査装置を、お客様の基板仕様・検査基準・生産タクトに合わせて個別に設計・開発します。汎用AOIでは対応が難しい検査条件や、既存ラインへの組込みにも、構想段階からご相談いただけます。
【検査対象の例】
回路パターンの異常、キズ、汚れ
実装部品の有無、位置ズレ
異物混入、はんだ部の外観
出荷前の全数外観検査
【導入の効果】
判定基準の定量化により、検査員ごとのばらつきを解消
全数自動検査による不良流出リスクの低減
目視検査工程の省人化と、検査員の負担軽減
【当社の対応範囲】
検査方式の検討(カメラ構成・照明方法・画像処理)
搬送・排出機構を含めた装置設計
既存ラインへの組込み、設備改造にも対応
【LED業界向け】封止樹脂の気泡・異物を検出する自動外観検査装置
LEDでは、発光面のムラや輝度・色味のばらつきが、製品の見栄えや品質評価に直結します。一方、ムラの良否判定は「どこからが不良か」の基準が曖昧になりやすく、検査員の経験に頼った官能検査では、判定のばらつき、見落とし、検査員の負担増大が課題となります。
当社は、発光ムラ・輝度・色味を画像処理で数値化し、定量的な基準で自動判定する検査装置を、お客様の製品仕様・判定基準・生産タクトに合わせて個別に設計・開発します。点灯用の電源供給や通電機構を含めた装置構成、判定しきい値の決め方など、ムラ検査特有の検討事項も構想段階からご相談いただけます。
【検査対象の例】
発光面のムラ、輝度ムラ、色ムラ
発光面・封止樹脂のキズ、汚れ、異物付着
不点灯・部分点灯の検出
出荷前の全数検査
【導入の効果】
ムラ判定の数値化により、検査員ごとのばらつきを解消
全数自動検査による不良流出リスクの低減
目視検査工程の省人化と、検査員の負担軽減
【当社の対応範囲】
検査方式の検討(カメラ構成・撮像条件・画像処理)
点灯・通電機構、搬送・排出機構を含めた装置設計
既存ラインへの組込み、設備改造にも対応
PLAZMARK O2クリーニング用・Arクリーニング用
『PLAZMARK O2クリーニング用・Arクリーニング用』は実装工程や後工程
向けのプラズマ処理効果の評価ツールです。
「O2クリーニング用」はラジカル性のプラズマ検知に最適化。
UV洗浄やUVオゾン洗浄にも適用できます。
「Arクリーニング用」はイオン性のArプラズマを効率よく検知。
ラジカル主体のプラズマや、ラジカル源となるガスとの混合系では
O2クリーニング用のほうが適しています。
【使用例】
■めっき前の 表面改質
■ワイヤーボンディングなど接合面の表面改質
■部品実装後のアンダーフィル前クリーニング
■LSI、メモリ、MEMS等電子デバイスの封止前のクリーニング
※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
電化製品用部材 検査サービス
異物外観検査装置
☆異物外観検査装置☆
○特徴
1.上+斜め2台カメラで様々な角度から基板上の異物を確実に捕らえます。
2.弊社独自の照明ユニットにより、基板と異物の輝度が明確になり、基板 上の異物のみを検出することが可能です。
3.検査対象は、基板上(シルク除く)・金パッド等様々な検査対象物上の異 物を検査します。
4.弊社独自の異物検査アルゴリズムにより、異物の検出精度・検査結果の 安定性が向上します。
5.メカ設計・電気設計・ソフト設計・組立・配線を社内で一貫して行って いるため、お客様のあらゆる特注ニーズへの対応可能です。
6.装置ラインナップは、バッ チ式・インライン式・両面対応、またクリー ンルーム対応機も製作可能です。
現在、数多くの自動車関連メーカで稼動中です。是非一度弊社の異物検査の実力をご覧下さい。
【異物検査装置】二次電池等のセパレーターシート検査装置
エフケー光学研究所の異物検査装置は、検査対象サンプルに合わせ検査に最適な光(波長)に切替る波長選択型の検査装置です。
どの波長においても均一に照射可能です。
検査撮像素子に対して迷光ノイズ成分を十分に抑えた光学設計となっています。
また、お客様のライン構成に最適化可能な豊富なラインナップを取り揃えています。
1.ロールtoロールやコンベアー等々で搬送されるフィルム状シートや基盤の検査を行います。
2.微細なピンホール欠陥、表面に付着した異物を検査致します。
3.フィルムコート後の物質によってはコート塗布の筋状の欠陥等々も検出可能です。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【製造業でのブラックライトの用途】電子基板のチェック
製造業におけるブラックライトの活用例をご紹介します。
ハンダ付けを行ったPCB基板を「UV-SVGNC365-01」で照射して撮影。
電子基板のフラックスはブラックライトで蛍光するため、残留フラックスの
確認を目視で行うことが可能です。
また、ショートの原因になるホコリ等の異物の発見も容易に行うことが
できますので、電子部品の検品に役立ちます。
【LEDブラックライトの特長】
■電源、すぐに100%の出 力を照射
■正確な出力が必要な検査等にはHygrangeaシリーズ、
簡単な検査などには砲弾型のシリーズがおすすめ
■紫外線硬化樹脂等にも使用可能
■365nm~405nmまでの波長をご用意
※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高解像度分析【フラックス洗浄後の分析サポート】
液晶基盤検査装置 G10検査装置












