IC内部の機能検証とは？課題と対策・製品を解説

旧LPBKボード(Rev.01)は2021年に製造、販売を終了しました。
新製品 Rev.03 は2023年7月31日から販売開始です。

EP-ROMライター＆EP-ROMイレーサー『Palette family＆Eraser party』は、電子部品・電子機器の開発、製造、販売を行っている株式会社ロジパックの製品カタログです。

多機能ライターとイレーサーが一体化したパーソナルROMライター「Palette-11」をはじめ、A5サイズコンパクト設計の「スタンダードPalette-22」や、EP-ROMの内容を消去するイレーサー「EP-ROM Eraser E-01-50/E01-60」などを掲載しています。

【ラインアップ(一部)】
〔Palette family〕
■Palette-11
■Palette-11 BATTERY
■Palette-11 HANDY
〔Eraser party〕
■EP-ROM Eraser E-01-50/E01-60
■MOBILE EP-ROM Eraser E-07

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社が行っている『コントロールIC事業』についてご紹介します。

小型軽量化、高機能化、集積化で部品点数が削減した事によるコストダウンに貢献いたします。
設計受託ではなく、設計・製造・テスト・品質保証と最終製品まで対応することが可能です。

また、レーザートリミングや自社メモリを内蔵することにより、1チップで製品のバリエーションを増やすことができます。
ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■水晶発振器のコントロールIC分野でW.Wの高いシェアを獲得
■長年にわたり数100品種の開発実績あり

【こんな点にお悩みの方必見】
■汎用部品だと小型化できない。
■既存のICだと所望の機能を満たせない
■現在使用のICがEOLで継続使用ができない。

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

DO-254/CTSはターゲットボードによってテストを補強し、検証カバレッジを高め、DO-254/ED-80の検証目標を達成できるようにカスタマイズされたハードウェアおよびソフトウェアプラットフォームです。ターゲットデザインはカスタムドーターカードのターゲットデバイス上で実速度で実行されます。シミュレーションテストベンチをテストベクタとして使い、FPGAピンレベルで100%コントロール・監視しながら要求ベース検証を行い、通常範囲と異常範囲でのテストを実行できます。FPGAテスト結果を実速度でキャプチャし、シミュレータの波形ビューアに表示して高度な解析や文書化などに進むことができます。

システムデバッグ支援周辺モデル「SyDAP model」は、仮想検証向けのマイコン周辺モジュールのSystemCモデル群です。
既存の仮想検証環境にも容易に組み込むことができ、かつ機能部はC言語で実装することで高速に動作させることができます。
レジスタ設定値のエラーチェックと警告表示機能も備わっているので、実機では発見が困難な設定ミスも容易に発見することができます。

【特徴】
○標準仕様SystemC / TLM2.0準拠
○実行速度重視LT (Loosely Timed)
○接続が簡単で早期着手・工期短縮
○擬似的な故障を注入することも容易

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

東洋電子技研株式会社で取り扱う、『実機基板上IC検査用ユニット治具』
をご紹介します。

「実装基板上でのIC検査治具」は、ICの性能評価を行う際、他の部品を
全て実装状態で評価試験が可能。

「高機能基板検査用治具」は、基板上のICソケットのプローブの信号を
2分岐することにより、実動作での検査および解析を行えます。

詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。

【特長】
■実装基板上でのIC検査治具
　ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となる
■高機能基板検査用治具
　基板上のICソケットのプローブの信号を2分岐し、実動作での検査および
　解析を可能にする

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

パソコンまたはマイコンを使用して、顧客仕様のファンクションテスタを開発・製造いたします。システムは、制御（電源供給制御、ワーク状態制御）、計測（電圧、電流、周波数等の測定および判定）、通信（コマンド送信、応答チェック）の３つの機能から成り立ちます。また、編集機能により仕様変更・設計変更にも素早く対応します。標準ソフトによって、デバッグも容易になっています。

Corelis JTAGエミュレータ・デバッガには、Eclipse(Java）ベースのIDE（統合開発環境）とJTAG対応CPUのデバッガソフトウエアの2種類があります。CPU開発・製造各社のCPUに対応しており、特定（ターゲット）のCPUプログラム開発・デバッグ用ソフトです。使用に際しては、PCI、USB等のインターフェース（コントローラ）の指定が必要です。

Blu-ray/DVD/CD　光ピックアップの性能検査装置のご紹介です。

【搭載機能】
・Blu-ray/DVD/CDのマルチに対応（最大60ピン）
・レーザーダイオード発光機能
・I-Lカーブ測定機能
・オープン、ショートチェック機能
・測定結果ロギング機能
・機能拡張用マルチポート

※詳細はお問合せ、又はカタログをダウンロード下さい。

●MultifunctionI/Oテスト基板
●ADX2-85-1M-PCIEX,ADX2-85-1M-PCI用に使用可能
●スイッチ、LEDランプ、ボリュームでI/Oの動作を確認できます

『W-CSP』は、ウエハよりチップをダイシング後、同軸型4端子コンタク
トプローブ(PATENT)を利用して手動測定が可能な検査用ソケットです。

チップの開発や抜取り検査・不良解析などに使用可能。
ソケットの蓋は、着脱可能で、自動機(ハンドラ式)検査にも使用できます。

【特長】
■BGA、LGA、ベアチップなどの動作確認検査が可能
■MOS-FETのオン抵抗値測定が可能
■端子間の電圧測定が可能

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。