top of page

エレクトロニクス検査・試験に関連する気になるカタログにチェックを入れると、まとめてダウンロードいただけます。
変形・形状不良の検出とは?課題と対策・製品を解説

目的・課題で絞り込む
カテゴリで絞り込む
テスタ |
リワーク/リペア装置 |
外観検査装置 |
検査関連部品 |
測定・試験・分析機器 |
非破壊検査装置 |
分析受託サービス |
その他エレクトロニクス検査・試験 |

外観・画像検査における変形・形状不良の検出とは?
エレクトロニクス製品の製造工程において、製品の外観や形状に生じる微細な歪み、へこみ、膨らみ、ねじれなどの不良を、画像処理技術を用いて自動的に検出・判定する技術です。製品の品質向上と不良品の流出防止に不可欠なプロセスです。
各社の製品
絞り込み条件:
▼チェックした製品のカタログをダウンロード
一度にダウンロードできるカタログは20件までです。
【電子部品業界向け】微細な外観不良を検出する自動外観検査装置
コネクタ、基板、端子、センサ部品、小型成形部品など、電子部品に発生する外観不良を、カメラ画像処理により自動で検査する装置です。
キズ、欠け、汚れ、変形、異物、印字不良、部品の有無、位置ズレなどを検出し、目視検査の省人化、判定基準の安定化、不良品流出の低減に貢献します。
検査対象やライン構成に合わせて、カメラ・照明・搬送部・排出機構などを組み合わせた仕様提案が可能です。
【活用シ ーン】
・電子部品の出荷前検査
・コネクタ・端子・小型部品の外観検査
・基板や実装部品の有無・位置ズレ確認
・キズ・欠け・汚れ・異物の検査
・印字・刻印・ラベル表示の確認
・目視検査工程の自動化・省人化
【導入の効果】
・目視検査の負担軽減
・微細な不良の見落とし低減
・検査員による判定ばらつきの低減
・不良品流出リスクの低減
・品質管理レベルの向上
・検査工程の省人化・効率化
基板外観検査装置『ESV-7000』

