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デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

電気的検査・テスタのデバイス特性の評価とは、電子部品や電子機器が設計通りの電気的な性能を発揮しているかを確認するプロセスです。これにより、製品の品質保証、信頼性向上、および設計の妥当性検証を行います。

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【データセンター向け】SLTソケット

株式会社JMT

データセンターでは、機器の信頼性と効率的な運用が不可欠です。システムレベルテスト（SLT）は、これらの要求に応えるために重要ですが、正確な測定が求められます。PCRソケットは、短距離接続と面接触により、実装状態に近い状態で特性を検証できます。これにより、実際の機器に近い状態で安定した測定が可能となり、効率的なシステム運用に貢献します。【活用シーン】・サーバー、ネットワーク機器の特性評価・高密度実装基板のテスト【導入の効果】・精度の高い測定による信頼性向上・効率的なシステム運用

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半導体テスタ「オートマティックDCテスター ATS-3201」

株式会社イーアールディー

「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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半導体テスター

北斗電子工業株式会社

当社では、半導体テスターを取り扱っております。半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■半導体後工程でのAC特性検査用テスター ■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ ■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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スプリングプローブ（Spring Probe)

株式会社AMT

清田製作所（Kiyota)から、パワー半導体測定用　Φ4.0　スプリングプローブ（Spring Probe)が新製品として開発・製造されました。　特長　電流：25A　最大：2.0ｍΩ

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テスター基板(パフォーマンス/プローブ/半導体評価)

株式会社アーセルデザイン

半導体テスター向けのカスタム基板　各種対応実績ございます。

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HDD/SSD Tester D010

株式会社ダイチューテクノロジーズ

弊社は１０数年来、ハードディスクドライブの製造向け試験装置の開発、製造を行ってきました。この経験を生かし、多様なインターフェースのHDD/SSD の評価試験のできるオリジナル試験装置(HDD/SSD Tester)を開発致しました。

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DDR3 DIMM/SODIMM テスター

有限会社シーピーアイ

Eureka DDR3 1866 DIMM/SODIMMテスターは、モジュールメーカー及びモジュールディストリビュータ向けにデザインされたメモリーモジュールのファンクションテスターで、様々なDDR3 RDIMM, UDIMM, SODIMM, Mini-DIMM, VLP-RDIMM, LRDIMM等のテストが可能です。

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機器組込用　微少電流計測ユニット

バンデバイス株式会社

フェムト〜ピコアンペアオーダーの電流を測定 ■測定範囲は-250pA〜+250pA　ノイズレベルは5fAp-p ■最大8点の電流を同時測定 ■専用パソコンによりデータ収集 ※詳細はカタログをご覧下さい。

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株式会社ハートエレクトロニクス　事業紹介

株式会社ハートエレクトロニクス

株式会社ハートエレクトロニクスは、ICテスタアプリケーションや特注システムの設計製作を行っております。特注システムでは、お客様のニーズに沿った適切なシステムをご提案。またICテスタの検査プログラム、検査ボードの設計製作、テスタに付加機能追加の為の設計製作や検査データの評価も行います。特性確認、回路調査から不具合原因の調査までサポートいたしますので、ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。【事業概要】 ■特注システムの設計製作 ■ICテスタアプリケーション ■製品評価、故障解析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

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【基板回路設計・基板実装】測定レンジについて

株式会社相信

当資料は、測定レンジについて掲載しております。コンデンサー容量測定での実用測定範囲が4.0pF～33.0pFや 33.0pF～330.0pFをご紹介。モードごとに表示されており、参考にしやすい一冊となっております。是非、ご一読ください。【掲載内容(抜粋)】 ■抵抗値測定 ■コンデンサー容量測定 ■コイルインダクタンス測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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インターフェースユニット『EP-100』

アイフォーコム京栄株式会社

『EP-100』は、I.S.P-310に接続する事で、さらに多種のデバイスに書き込むことが可能になるインターフェースユニットです。フラッシュプログラマ I.S.P-310にてプログラミングを行う時、電圧供給が必要なデバイスに対し、必要な電圧を供給する機能を持ちます。 ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応。ご要望により特殊対応可能な品種もあります。【特長】 ■I.S.P-310に接続する事で、さらに多種のデバイスに書き込むことが可能 ■I.S.P-310にてプログラミングを行う時、必要な電圧を供給する機能を持つ ■ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応 ■78K0ファミリ、78K0Rファミリにも対応 ■ご要望により特殊対応可能な品種もあり ※ダウンロード資料は取り扱い説明書となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【評価装置の提案例】OCV測定ユニット

株式会社エヌエスティー

当製品は、バッテリのOCV（開回路電圧，開放電圧）と IR（絶縁抵抗）を測定し、合否判定するユニットです。 ※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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コアスタッフの半導体・電子部品解析センター

コアスタッフ株式会社

こんなお悩みございませんか？・外観検査やX線検査では判定できない基本的な動作を非破壊で確認したい・メーカー規定のスペックを満たす製品か選別したいコアスタッフの解析センターでは半導体・電子部品の『真贋判定』や『故障解析』など、お客様に最適なサービスを提案いたします！！

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定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置

新日本電工株式会社

当社では『定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置』を取扱っております。当社オリジナルのドライブ基板を選択し、御希望に合わせたシステム装置の提案・製作を行っています。ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の設定が可能。1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能です。【特長】 ■ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の　設定が可能 ■1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能 ■タッチパネルを使用し、画面上から容易に設定やデータ閲覧が可能 ■御希望に合わせたシステム装置の提案・製作が可能 ■機能追加のカスタマイズ対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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レーザーダイオードテストシステム【LD2920TB】

アルファクス株式会社

長波長レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。＜特長＞ ■ 供給から測定・分類などを全自動搬送できます ■ 最大13台のカメラにより運転状況の把握が容易です ■ +２０℃～-１００℃まで任意の温度で測定可能です ■FRONT光、BACK光のIL測定を同時に行います。詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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ANDON Electronics社製　BGAソケット/アダプター

光貿易株式会社

半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換を可能とするBGAソケット/アダプター【特徴】 ○BGAデバイスをPCBに実装する為のソケット ○各種BGAデバイス用のソケットとアダプターをご用意 ○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能 ○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等をご用意 ○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、　ターミナル等もラインアップ ●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。　日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

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V-By-One(R) HS信号発生装置『SV100』

アイ・エス・エックス株式会社

『SV100』は、Ultra book/Tablet/TV向けLCDモジュールに対応した、 V-By-One(R) HS 16laneインターフェースを持つパターン編集ソフトを同梱したV-By-One(R) HS信号発生装置(16Lane出力)です。お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が自由自在に行えます。【特長】 ■ネットワーク対応 ■パターン／タイミング編集に対応 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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TLP試験器「HED-T5000 series」

阪和電子工業株式会社

保護回路の動作特性をシミュレーションする装置です。集積回路に組み込まれた保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。 VFTLP試験も可能です。【ラインナップ】 ○HED-T5000/T5000VF ○Wafer Type ○Package Type 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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TG45AX専用LVDS出力ユニット

株式会社シバソク

TG45AX002は、TG45AXテスト信号発生器専用のLVDS出力オプションです。高精細度および高色域化が進む表示パネル向けに、最大12ビットのLVDSを出力します。ドットクロック周波数により、1相モード（20〜135MHz）、2相モード（40〜270MHz）、4相モード（80〜400MHz）での切替え出力が可能で、またRGB各チャンネルの諧調を8、10、12ビットの切替えも可能です（ドットクロック周波数200MHz以上は8ビット階調）。 TG45AX本体のテスト信号はもちろん自然画信号を出力し、更に信号レベル可変・周波数可変・位相可変などの可変機能に連動して出力が可能です。

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DCプローブ　　（電源用プローブ）

株式会社テクノプローブ

RFプローブ(高周波プローブ）と組合わせて使用頂けるDCプローブ（電源プローブ）特長・完全国内生産・DC−40GHz ・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。・短納期・ローコスト（イニシャルコスト不要）・高耐久

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回路素子測定器『LCRメータ』

株式会社エヌエフ回路設計ブロック

高速・高精度で安定した測定を実現したLCRメータシリーズのご紹介です。 1mHzの低周波領域から最高5.5MHzまで、広い周波数範囲をカバーする LCRメータ ZMシリーズ。高速かつバラツキの少ない安定した測定で、材料の研究から部品の生産ラインまで、幅広い用途に対応。「ZM2371」「ZM2372」「ZM2376」の3種類をラインアップしました。【機能（抜粋）】 ■広い測定周波数範囲と高分解能設定 ■広い測定レベルとALC機能 ■高速測定 ■高精度 ■DCバイアス電圧 ■直流抵抗（DCR）測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ウエハテストの技術

株式会社菱進テック

当社は、お客様仕様に合わせたテスト開発・生産能力改善をご提案致します。製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法の構築・テストプログラム開発製作・テストボード／プローブカードの開発製作を行っています。「OST（Outliers Screening Test）」では、自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化。テストの個別項目の測定値について、分布を算出、主分布より外れたデータのチップを不良化する「PAT」や、テスト結果のマップデータにてウエハ上の位置的な分布より、良品分布から外れたチップを検出、不良化する「GAT」テストなどがございます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TFE電子銃用-10kV高圧電源・CD-SEM,レビューSEM用

フューテックス株式会社

本製品は、CD-SEM,レビューSEM用の高圧電源装置です。加速電源、フィラメント電源、サプレッサ電源、エキストラクタ電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。

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実機基板上IC検査用ユニット治具

東洋電子技研株式会社

東洋電子技研株式会社で取り扱う、『実機基板上IC検査用ユニット治具』をご紹介します。「実装基板上でのIC検査治具」は、ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能。「高機能基板検査用治具」は、基板上のICソケットのプローブの信号を 2分岐することにより、実動作での検査および解析を行えます。詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。【特長】 ■実装基板上でのIC検査治具　ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となる ■高機能基板検査用治具　基板上のICソケットのプローブの信号を2分岐し、実動作での検査および　解析を可能にする ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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小型テストハンドラー『TH281』

綜和機電株式会社

『TH281』は、SOP、SSOP、TSSOPなどのデバイスに対応した常温/高温測定用の小型テストハンドラーです。大型テストヘッドドッキング可能な構造で、標準ソケット、高周波用ソケット、フラットコンタクト等各種ソケットに対応可能。また、各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成しました。【特長】 ■高スループット・低ジャム率・省スペース ■大量生産に適した大容量のローダー、アンローダー ■大型テストヘッドドッキング可能な構造 ■各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成 ■各種ソケットに対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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定電流電源・検査装置

バロン電子株式会社

定電流電源・検査装置は、数10μAの超微電流定電流電流駆動によるLED静電破壊評価ができます。LED直列多灯点灯回路の駆動、各チャンネル毎に定電流値設定も可能です。微電流・定常電流（10～30mA）の切り替え動作ができます。表示器の有無や自動制御等ご要望によりカスタマイズ承ります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

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MEMSジャイロセンサ用ソケット

エム・アイ・エステクノロジー株式会社

『MEMSジャイロセンサ用ソケット』は、オートモーティブ向け、ビデオRVC、 AGV向けジャイロセンサの評価用ソケットです。高精度で小型なジャイロセンサは素子の素材と構造の違いにより、角速度の精度に大きく影響するため、ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現。試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意しており、数量1個から製作可能です。【特長】 ■ジャイロセンサの評価用ソケット ■高精度で小型 ■ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現 ■試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意 ■数量1個から製作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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光パワーメータ『205A』

グレイテクノス株式会社

『205A』は、自動オフセット補正（ZERO SET）機能が搭載された短波長光リンクの光パワーメータです。オプションの光源ユニットを内蔵して、ロステストセットとしても使用可能です。【特長】 ■相対値測定（REL）機能 ■アナログ出力、オート/マニュアルレンジ、データホールド機能 ■スミリンク、トスリンクなど各種短波長光リンクに対応 ■自動オフセット補正（ZERO SET）機能 ■光源ユニット（別売）を内蔵してロステストセットとして使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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eDP簡易信号発生装置『iM1283』

アイ・エス・エックス株式会社

『iM1283』は、コストを抑えてスピーディーに導入できる eDP(embedded Display Port/5.4G)出力の簡易信号発生装置です。編集ソフトを同梱しており、お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が自由自在です。また、簡単な操作とコンパクトデザインは、省スペースですぐにご利用できます。【製品仕様(一部抜粋)】 ■8bit 出力(4lane Display Port 5.4Gbps相当) ■eDP設定(RGB, 1.62Gbps, 2.7Gbps, 5.4Gbps, 2.16Gbps, 2.43Gbps, 3.24Gbps, 4.32Gbps) ■補助電源出力機能(DC12V) ■パターン/タイミングの編集に対応 ■DisplayPortのAUX通信プログラム可能 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ

岩崎通信機株式会社

「大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ」は、超高電圧・大電流CS-3100の機能に下記HVとHCの機能を追加しました。 ○HVモード：10kV（+DCのみ） ○HCモード：8,000A（CS-10800）、4,000A（CS-10400）、　　　　　　　　パルス幅 / パルスインターバル /測定ポイント　可変可能測定項目は、最大ピーク電圧:10kV（高電圧モード）、最大ピーク電流:8000A（CS-10800大電流モード）です。その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

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シングルチップテスタ-　抵抗値測定

株式会社HiPA Photonics Japan

【製品特徴】多種な高精度のデジタル抵抗測定器にも対応 ■ 分離式プローブを利用して、様々な寸法の抵抗器に適応できる ■ 1mΩ-100MΩの測定範囲で異なるタイプの抵抗測定器を選択できる ■ お客様の要求に応じ、自社製の制御システムでコードスキャンとMESのカスタイマイズにも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【デモ機貸出可】高速GANGプログラマ『AF9751』

東亜エレクトロニクス株式会社

『AF9751』は、開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応した UFSメモリ専用の高速GANGプログラマです。「Universal Flash Storage Association」規格の Ver.3.1のUFSメモリに対して高速データ書込みを実現。専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに UFSデバイスに対し書込みが可能です。【特長】 ■UFSメモリ高速書込み ■開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応 ■専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに　UFSデバイスに対し書込み可能 ■デバイス品種追加についてはWEB公開の専用アプリケーションを　ダウンロードいただくことで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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Eureka DDR4 2933, DIMMテスター

有限会社シーピーアイ

Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。

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レーザーダイオードテスター『AT-143』

福興システム株式会社

『AT-143』は、レーザーダイオード(LD)の特性評価に必要な 5つの機能を有するレーザーダイオードテスターです。マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能。また、標準測定機構部(別売)に接続すればフィールドパターン測定ができます。さらに、標準測定ソフトウェア(別売)を使用すれば簡単に温度特性評価ができます。【特長】 ■マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能 ■標準測定ソフトウェアを使用すれば簡単に温度特性評価ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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DCテスタ『471-TT』

株式会社テセック

『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現したDCテスタです。長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における複数チップ同時測定を実現。当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。【特長】 ■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの　向上 ■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現 ■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現 ■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現　（Max 2kV/20A） ■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能 ■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値）　以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ICレギュレータテスタ『ME-8』

株式会社城西システム

『ME-8』は、0～25Vのオルタネータ発生電圧や、5～20Vのレギュレータ調整電圧の測定が可能なICレギュレータテスタです。サイズは221×142×46ｍｍ、重量は約0.5Kgとコンパクトです。【特長】 ■大型メータで読み取り易い ■単体及び装着状態での測定が可能 ■適正ゾーンの表示で良否判定が簡単 ■乾電池式で軽量コンパクトボディ ■吊り下げフック付で作業性向上 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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MEMSテストハンドラ『ULTRA P』

株式会社テセック

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスのファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部ユニットも準備しております。【特長】 ■多数個同時測定（～96DUT） ■高精度温度制御（±1℃以内） ■60OFでの測定が可能 ■UPH20,000個以上を実現 ■磁気テスト（オプション）が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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PCIE LoopBack PCIE-G4-LPBK Rev03

立野電脳株式会社

旧LPBKボード(Rev.01)は2021年に製造、販売を終了しました。新製品 Rev.03 は2023年7月31日から販売開始です。

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OTP不揮発メモリIPコア『PermSRAM』

株式会社NSCore

『PermSRAM』は、標準ロジックプロセスで製造可能な OTP不揮発メモリIPコアです。 0.18um世代から先端の28nm世代とその先まで、幅広いプロセスに対して 1回のみ書込が可能な不揮発メモリを提供。 64bラッチタイプから1MByteのコード格納用メモリまで、様々な不揮発メモリコア用途に合わせたカスタマイズが可能です。【特長】 ■世界最小クラス面積 ■リバース・エンジニア耐性 ■低電圧書込 ■テスト回路搭載 ■車載グレード（150℃保証可） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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低高温　トライテンプハンドラ

株式会社上野精機長野

『NDM0101』は、各温度測定ユニットプール部にセットされたデバイスを個別にピックアップし、測定部において電気特性検査を行い、測定結果に応じて次工程の測定ユニットにデバイスを供給する半自動検査装置です。トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能に。検査に必要な温度ユニットのみを搭載するなど必要最低限の装置構築ができます。【特長】 ■トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能 ■必要最低限の装置構築ができる ■本機のみで温度精製を行う ■省スペース化を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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半導体集積回路(IC)の受託開発製造　※センサIC等受託積極受付

インターチップ株式会社

当社が行っている『コントロールIC事業』についてご紹介します。小型軽量化、高機能化、集積化で部品点数が削減した事によるコストダウンに貢献いたします。設計受託ではなく、設計・製造・テスト・品質保証と最終製品まで対応することが可能です。また、レーザートリミングや自社メモリを内蔵することにより、1チップで製品のバリエーションを増やすことができます。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■水晶発振器のコントロールIC分野でW.Wの高いシェアを獲得 ■長年にわたり数100品種の開発実績あり【こんな点にお悩みの方必見】 ■汎用部品だと小型化できない。 ■既存のICだと所望の機能を満たせない ■現在使用のICがEOLで継続使用ができない。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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TITAN RC(微小パッド用)RFプローブ・ヘッド

MPI Corporation

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。日本における代理店: ベクターセミコン株式会社東京都荒川区西日暮里2-43-2 TEL 03-5604-1701 FAX 03-5604-1707

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SP3000, DIMMテスター

有限会社シーピーアイ

SP3000はDDR等DIMM及びBGA等メモリーチップのテストが可能な高性能メモリーテスターで、テストアダプター交換により様々なメモリーをリアルバススピード、リアルサイクルタイムでテストすることができます。 SP3000は豊富なアダプターオプションによりDRAM, SDRAM, SGRAM, DDR SDRAM等様々なメモリーテストが可能な他、DDR3, DDR4等、将来に渡り陳腐化することなくご使用頂ける柔軟性に富むアーキテクチャー、RoboFlexハンドラーによるボリュームテスティングにも対応可能など、その優れたデザインと信頼性の高さにより多数のメモリーモジュール製造メーカー、ディストリビューター、ディーラー及びサービス部門に於いてご使用頂いております。

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スピーカーFo&Ze測定器『OST-828』

株式会社オンソク

『OST-828』は、スピーカーの最低共振周波数FoとインピーダンスZeを定電圧法で測定し、複数の測定値を用いて統計計算し規格判定する自動測定器です。測定データを全て保存出来ます。また、Q（Qes, Qms, Qts）の値も計算します。スピーカーの直流抵抗は、別途抵抗計で測定しキー入力します。【システム構成】 ■測定ユニット ■OST-828専用ノートパソコン（OS：Windows10 64bit版） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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セル電圧発生装置

株式会社東海テクノ

セル電圧発生装置は1台で16chの絶縁された電圧を発生します。セル電圧発生装置を最大6台直列に接続することで、96chの絶縁された電圧を発生することが出来ます。各chの最大電圧は5Vで、各セル毎に電圧を設定することが可能です。リチウムイオンバッテリーのセルコントローラ基板の評価・検査にご使用いただけます。また、セル電圧発生装置を使用して、セルコントローラ基板の自動試験装置の製作も承っております。

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CW/Pulse I-Lテスター　SEC-7000

システム技研株式会社

LDをCW～Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です

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超低高温　トライテンプハンドラ

株式会社上野精機長野

『NDM0102』は、段積みされたチューブに収納されたデバイスを自動供給し、低温部・高温部の各測定において電気特性検査を行い、測定結果によりデバイスをチューブに分類収納するトライテンプハンドラです。装置本体内部に各温度精製機器を装備することで、装置サイズの極小化を実現。３温度の一貫検査を可能とし、各温度の検査結果により、分類収納を可能としました。【特長】 ■極高低温 ■外付けの温度供給器等を必要としない ■装置本体内部に各温度精製機器を装備 ■装置サイズの極小化を実現 ■3温度の一貫検査が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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半導体カーブトレーサ CS-3000シリーズ

岩崎通信機株式会社

最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。

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Burn-In Board

ディ・アイジャパン株式会社

ディ・アイジャパン株式会社が取り扱う『Burn-In Board』をご紹介します。精巧なドッキング及び高い信頼性を保証できる「HI-FIX BOARD」や、ウェハテスト時にテスターのステーションとプローブカードを接続して信号と電源等を中継する必須パーツ「Wafer Mother Board」などをラインアップしています。【ラインアップ】 ■MEMORY用 BIB ■LOGIC用 BIB ■Wafer Mother Board ■HI-FIX BOARD ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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センサテスタ

株式会社サイアン

「簡単なセンサテスタが欲しい」というお客様の声から生まれたオリジナル製品です。電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェックでき、12V/5V電源電圧表示、2chを同時表示などが可能です。AC、乾電池、バッテリで駆動し、角度変換表示機能付きで、バックライトも付いています。大手自動車メーカー様テスト用、他に採用実績があります。ボディカラーは、ご希望に応じます。【特徴】 ○電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェック ○12V/5V電源電圧表示 ○2chを同時表示 ○DC9～18V（車載バッテリーに対応） ○AC、乾電池、バッテリで駆動 ○角度変換表示機能付き ○バックライト付き ○サイズ：約156×100×h50mm（コネクタの突起を除く） ○ボディカラー：ご希望に応じます ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

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電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

課題

微細化・高集積化による測定困難性

デバイスの小型化・高密度化が進み、従来のプローブやテスタでは物理的に接触・測定が困難になるケースが増加しています。

多様化するデバイス特性への対応

アナログ、デジタル、RF、パワーデバイスなど、特性が多岐にわたり、それぞれに最適な評価手法やテスタの選定が複雑化しています。

高速化・高精度化要求への追随

デバイスの動作速度が向上し、より高い周波数帯域や微小な信号レベルでの正確な測定が求められるため、テスタの性能限界に達することがあります。

データ解析・管理の煩雑化

大量の検査データを効率的に収集、解析、管理し、傾向分析や不良原因特定に繋げることが、人的リソースやシステム面で課題となっています。

対策

非接触・遠隔測定技術の導入

光学式測定器や電磁波を利用した非接触測定技術を導入し、物理的な接触が難しいデバイスの特性評価を可能にします。

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

評価したいデバイス特性に合わせて測定モジュールを組み合わせたり、ソフトウェアで機能を拡張したりできる柔軟なテスタシステムを採用します。

高帯域・高分解能テスタへの更新

最新の高速信号処理技術や高精度ADC/DACを搭載したテスタに更新し、要求される測定精度と帯域幅に対応します。

自動化・AI活用によるデータ処理

検査プロセスの自動化や、AI/機械学習を用いたデータ解析ツールを導入し、迅速かつ的確なデータ処理と洞察を得られるようにします。

対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

広帯域幅と高サンプリングレートにより、高速信号の波形を正確に捉え、微細な電圧変動やタイミング誤差を検出できます。

多機能パラメータアナライザ

様々な電気的パラメータ（電圧、電流、抵抗、容量など）を一台で測定でき、多様なデバイス特性評価に対応可能です。

自動テストシステム構築ソフトウェア

GUIベースでテストシーケンスを容易に作成・編集でき、データ収集・解析・レポート作成までを自動化します。

非接触式プローブシステム

微小なデバイスや高密度実装基板上の信号を、物理的な接触なしに高精度で測定することを可能にします。

⭐今週のピックアップ

読み込み中

デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

各社の製品

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

課題

微細化・高集積化による測定困難性

多様化するデバイス特性への対応

高速化・高精度化要求への追随

データ解析・管理の煩雑化

対策

非接触・遠隔測定技術の導入

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

高帯域・高分解能テスタへの更新

自動化・AI活用によるデータ処理

対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

多機能パラメータアナライザ

自動テストシステム構築ソフトウェア

非接触式プローブシステム

デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

各社の製品

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

​課題

微細化・高集積化による測定困難性

多様化するデバイス特性への対応

高速化・高精度化要求への追随

データ解析・管理の煩雑化

​対策

非接触・遠隔測定技術の導入

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

高帯域・高分解能テスタへの更新

自動化・AI活用によるデータ処理

​対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

多機能パラメータアナライザ

自動テストシステム構築ソフトウェア

非接触式プローブシステム

課題

対策

対策に役立つ製品例