デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

こんなお悩みございませんか？
・外観検査やX線検査では判定できない基本的な動作を非破壊で確認したい
・メーカー規定のスペックを満たす製品か選別したい

コアスタッフの解析センターでは
半導体・電子部品の『真贋判定』や『故障解析』など、お客様に最適なサービスを提案いたします！！

当社は、お客様仕様に合わせたテスト開発・生産能力改善をご提案致します。

製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法の構築・テストプログラム開発製作・
テストボード／プローブカードの開発製作を行っています。

「OST（Outliers Screening Test）」では、
自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、
ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化。

テストの個別項目の測定値について、分布を算出、主分布より外れた
データのチップを不良化する「PAT」や、テスト結果のマップデータにて
ウエハ上の位置的な分布より、良品分布から外れたチップを検出、不良化する
「GAT」テストなどがございます。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

TG45AX002は、TG45AXテスト信号発生器専用のLVDS出力オプションです。高精細度および高色域化が進む表示パネル向けに、最大12ビットのLVDSを出力します。
ドットクロック周波数により、1相モード（20〜135MHz）、2相モード（40〜270MHz）、4相モード（80〜400MHz）での切替え出力が可能で、またRGB各チャンネルの諧調を8、10、12ビットの切替えも可能です（ドットクロック周波数200MHz以上は8ビット階調）。
TG45AX本体のテスト信号はもちろん自然画信号を出力し、更に信号レベル可変・周波数可変・位相可変などの可変機能に連動して出力が可能です。

テーピング機搭載用測定器　容量計6062は高速・高精度型。チップタイプコンデンサのテーピング機搭載用測定器です。 コンデンサの容量値（0～199.9μFまで）を測定し、良否の判定します。各設定はフロントパネル部のキースイッチで行うキー入力設定方式を採用し、これにより測定治具等のストレー容量を自動補正します。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

当製品は、様々な測定ニーズに対応するセミオートプローバーです。

「TS2000-SE」は、高性能、超低ノイズ、高精度でありながら
テストコスト削減のもとに設計されました。

微小電流測定、高い信頼性のDC/IV測定、1/f測定、RF測定、パワーデバイス
測定など、すべてにおいて最高クラスのパフォーマンスを発揮します。

【特長】
＜TS2000-SE＞
■最大8インチウェハに対応
■EMI対策、RFI対策、遮光に優れた設計
■ウェハのロード・アンロードを自動で行う
■最大-60℃～300℃の温調が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『OST-828』は、スピーカーの最低共振周波数FoとインピーダンスZeを
定電圧法で測定し、複数の測定値を用いて統計計算し規格判定する
自動測定器です。

測定データを全て保存出来ます。
また、Q（Qes, Qms, Qts）の値も計算します。

スピーカーの直流抵抗は、別途抵抗計で測定しキー入力します。

【システム構成】
■測定ユニット
■OST-828専用ノートパソコン（OS：Windows10 64bit版）

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

Blu-ray/DVD/CD　光ピックアップの性能検査装置のご紹介です。

【搭載機能】
・Blu-ray/DVD/CDのマルチに対応（最大60ピン）
・レーザーダイオード発光機能
・I-Lカーブ測定機能
・オープン、ショートチェック機能
・測定結果ロギング機能
・機能拡張用マルチポート

※詳細はお問合せ、又はカタログをダウンロード下さい。

当社では『定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置』を取扱って
おります。

当社オリジナルのドライブ基板を選択し、御希望に合わせたシステム装置の
提案・製作を行っています。

ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の設定が
可能。1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能です。

【特長】
■ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の
　設定が可能
■1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能
■タッチパネルを使用し、画面上から容易に設定やデータ閲覧が可能
■御希望に合わせたシステム装置の提案・製作が可能
■機能追加のカスタマイズ対応も可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『NDM0101』は、各温度測定ユニットプール部にセットされたデバイスを
個別にピックアップし、測定部において電気特性検査を行い、測定結果に
応じて次工程の測定ユニットにデバイスを供給する半自動検査装置です。

トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能に。検査に
必要な温度ユニットのみを搭載するなど必要最低限の装置構築ができます。

【特長】
■トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能
■必要最低限の装置構築ができる
■本機のみで温度精製を行う
■省スペース化を実現

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『MRT-4010型』は、複数リレーを同時に検査できる生産ライン用の
試験システム。

同時に5個のリレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示、
不良をアラーム。10秒以下で全項目測定を完了します。

リレー性能の正確なデータが得られるほか、受入検査に導入すれば、
入荷リレーの良否を自動的に判断し、トラブルを事前に防ぎます。

【使用効果】
■正確なデータ管理
■受入検査に活躍
■エージング効果
■スクリーニングテストが可能
■メンテナンス効果を評価
■故障診断器として利用
■データの自動記録

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社が行っている『コントロールIC事業』についてご紹介します。

小型軽量化、高機能化、集積化で部品点数が削減した事によるコストダウンに貢献いたします。
設計受託ではなく、設計・製造・テスト・品質保証と最終製品まで対応することが可能です。

また、レーザートリミングや自社メモリを内蔵することにより、1チップで製品のバリエーションを増やすことができます。
ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■水晶発振器のコントロールIC分野でW.Wの高いシェアを獲得
■長年にわたり数100品種の開発実績あり

【こんな点にお悩みの方必見】
■汎用部品だと小型化できない。
■既存のICだと所望の機能を満たせない
■現在使用のICがEOLで継続使用ができない。

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『ST-1322』は、POWER MOS FET Nch/PchのL負荷アバランシェ測定し、
GO/NG判定を行う装置です。

全ての試験項目は、ハードウェアにて処理解析していますので、従来の
ディジタルオシロスコープを使用した装置に比べ高速に試験が可能。

上位コンピュータとオンラインで接続しデータの管理やテスト条件の
管理ができます。また、セルフテスト機能を有しております。
ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■スピードを飛躍的に向上
■低電圧にて、大電流試験が可能

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

サイリスタ、トライアック、MOSFET、IGBTなどのパワー半導体のテスト用ソケットです。

Eureka DDR3 1866 DIMM/SODIMMテスターは、モジュールメーカー及びモジュールディストリビュータ向けにデザインされたメモリーモジュールのファンクションテスターで、様々なDDR3 RDIMM, UDIMM, SODIMM, Mini-DIMM, VLP-RDIMM, LRDIMM等のテストが可能です。

Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。

バーンインボードのことなら株式会社笠作エレクトロニクスにおまかせください。
ご要望に合わせたバーンイン・ボード、ＩＣソケット、チェッカーなどを短納期でお届けします。

【特徴】
○プリント板の設計、部材の調達、組配、検査をして納入します
○プリント板は、一般的なバーンインボードの他、特殊な基板も出来る物もございます
○BGAやCSP等のピッチ変換ボードは 6層から12層で作ります

●詳しくはお問い合せ、またはカタログをご覧ください。

アニモテックが取り扱うADC-USB3.0搭載の『FPGAボード』を
ご紹介します。

高速でADコンバータからのデータを取得・信号処理を行いUSB3.0で
パソコンに取り込むことが可能。

電圧・電流などを監視する試験装置やアナログデータを信号処理したい
装置等に使用できます。

【特長】
■パソコン側アプリのサンプルプログラムを提供
■カスタマイズも対応可能
■高速でADコンバータからのデータを取得・信号処理を行う
■USB3.0でパソコンに取り込むことができる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

お客様の測定情況に合わせたコンタクトプローブを設計・製造します。電気製品の進化に伴い、電子部品の測定に求められる内容も厳しくなっています。大電流通電用、高温・低温域での使用、特残素材の測定等、様々な使用情況でお使い頂けるプローブを選定・設計します。

詳しくはHPからお問い合わせください。
http://www.sankei-engineering.com/

ロジックアナライザ用　DDR3解析プローブ

■ 最速DDR3 1867 DIMMモジュールまで測定可能！！
■ 全ての240ピン DDR3 SDRAM DIMM対応
■ インターポーザのため、解析用のスロット不要
■ 全ての信号を測定可能
■ ロジックアナライザ専用ソフトウェア付属
　・タイミング測定
　・プロトコル測定
　・コンプライアンス測定

「半導体カーブトレーサ　CS-5000シリーズ」は、IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど
各種半導体の特性測定に最適です。
V-Iカーブ観測及び、電圧、電流の印加波形も観測することができます。
測定項目は、最大ピーク電圧:5000V（高電圧モード）、
最大ピーク電流:1500A（CS-5400大電流モード）です。
その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

『PermSRAM』は、標準ロジックプロセスで製造可能な
OTP不揮発メモリIPコアです。

0.18um世代から先端の28nm世代とその先まで、幅広いプロセスに対して
1回のみ書込が可能な不揮発メモリを提供。

64bラッチタイプから1MByteのコード格納用メモリまで、
様々な不揮発メモリコア用途に合わせたカスタマイズが可能です。

【特長】
■世界最小クラス面積
■リバース・エンジニア耐性
■低電圧書込
■テスト回路搭載
■車載グレード（150℃保証可）

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に
他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。

日本における代理店:
ベクターセミコン株式会社
東京都荒川区西日暮里2-43-2
TEL 03-5604-1701
FAX 03-5604-1707

QFP,BGA,CSP,LED,CLYSTAL用など、あらゆる半導体およびそれに類する素子の検査、実験等に使えるソケットを、 設計、製造販売しております。

【特徴】
○ピン数はデバイスに合わせて製作可能です
○寿命(ライフテスト）10,000回～1,000,000回
○耐熱-60℃より150℃（125℃連続使用可）

●詳しくはお問い合せ、またはカタログをご覧ください。

テレダイン・レクロイのQualiPHY-DDR2、DDR2試験パッケージは、最高のDDR2メモリ・インタフェース試験ツールです。400MHz、533MHz、667MHz、800MHz、1066MHzと任意の速度に対応しています。QualiPHY-DDR2は、クロック（JEDECの仕様とインテルの仕様：JEDEC仕様の付録によって規定される電気およびタイミング・テスト）に完全に準拠したテストを行うことができます。テレダイン・レクロイのQualiPHYフレームワークは、シンプルなユーザ・インタフェースを持つので操作が簡単で、かつのカスタマイズや判定条件の変更に柔軟性に対応できます。また、グラフィカルな結線図を示すことにより確実な装置の接続を支持し、各項目でワーストケースの不良測定結果の画面を含む全ての計測結果をレポートにまとめることができます。そのうえ、QualiPHY-DDR2によってされる全ての波形データは、後から再試験ができるように保存することができます。
詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

PFDAはシンクランド製Two-Tone光源とRohde＆Schwarz製ベクトルネットワークアナライザを組み合わせたオリジナリティ溢れるシステムとして開発されました。

最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。

『205A』は、自動オフセット補正（ZERO SET）機能が搭載された
短波長光リンクの光パワーメータです。

オプションの光源ユニットを内蔵して、ロステストセットとしても
使用可能です。

【特長】
■相対値測定（REL）機能
■アナログ出力、オート/マニュアルレンジ、データホールド機能
■スミリンク、トスリンクなど各種短波長光リンクに対応
■自動オフセット補正（ZERO SET）機能
■光源ユニット（別売）を内蔵してロステストセットとして使用可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

小型タイプであらゆる方向から使用可能な
RoHS対応のオシロプローブ用、チェック端子

【特徴】
○2.54ピッチ又はハーフピッチなため
　使用場所を選ばない
○10色のカラーで回路分けが可能
○ハイポジションタイプもあり
　プローブの引っ掛けが容易にきる
○ピン
　材質：リン青銅(C5191)
　処理：金メッキ0.1μ(下地ニッケル2μ)
○台
　材質：PBT(ガラス繊維30％入）
　色：10色
　熱変形温度：1.82Mpa…200℃(耐ハンダ性)
　UL規格：UL94V-0(材料)
　RoHS対応製品

●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。

東洋電子技研株式会社で取り扱う、『実機基板上IC検査用ユニット治具』
をご紹介します。

「実装基板上でのIC検査治具」は、ICの性能評価を行う際、他の部品を
全て実装状態で評価試験が可能。

「高機能基板検査用治具」は、基板上のICソケットのプローブの信号を
2分岐することにより、実動作での検査および解析を行えます。

詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。

【特長】
■実装基板上でのIC検査治具
　ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となる
■高機能基板検査用治具
　基板上のICソケットのプローブの信号を2分岐し、実動作での検査および
　解析を可能にする

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

保護回路の動作特性をシミュレーションする装置です。
集積回路に組み込まれた保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。
VFTLP試験も可能です。

【ラインナップ】
○HED-T5000/T5000VF
○Wafer Type
○Package Type

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

長波長レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。

＜特長＞
■ 供給から測定・分類などを全自動搬送できます
■ 最大13台のカメラにより運転状況の把握が容易です
■ +２０℃～-１００℃まで任意の温度で測定可能です
■FRONT光、BACK光のIL測定を同時に行います。

詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

高速・高精度で安定した測定を実現したLCRメータシリーズのご紹介です。

1mHzの低周波領域から最高5.5MHzまで、広い周波数範囲をカバーする
LCRメータ ZMシリーズ。高速かつバラツキの少ない安定した測定で、
材料の研究から部品の生産ラインまで、幅広い用途に対応。

「ZM2371」「ZM2372」「ZM2376」の3種類をラインアップしました。

【機能（抜粋）】
■広い測定周波数範囲と高分解能設定
■広い測定レベルとALC機能
■高速測定
■高精度
■DCバイアス電圧
■直流抵抗（DCR）測定

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『EP-100』は、I.S.P-310に接続する事で、さらに多種の
デバイスに書き込むことが可能になるインターフェースユニットです。

フラッシュプログラマ I.S.P-310にてプログラミングを行う時、
電圧供給が必要なデバイスに対し、必要な電圧を供給する機能を持ちます。

ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応。ご要望により
特殊対応可能な品種もあります。

【特長】
■I.S.P-310に接続する事で、さらに多種のデバイスに書き込むことが可能
■I.S.P-310にてプログラミングを行う時、必要な電圧を供給する機能を持つ
■ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応
■78K0ファミリ、78K0Rファミリにも対応
■ご要望により特殊対応可能な品種もあり

※ダウンロード資料は取り扱い説明書となります。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に
他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。

日本における代理店:
ベクターセミコン株式会社
東京都荒川区西日暮里2-43-2
TEL 03-5604-1701
FAX 03-5604-1707

VBPC(Vertical Bending Probe Card)を仕様したチップソケットは、BGA、CSPなどの標準ピッチをはじめ、FPCドライバーやICチップへのダイレクトコンタクトなどのファインピッチにも幅広く対応しております。また、試作、特殊設計などにも1セットから制作致します。

計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011Aは電解コンデンサの漏れ電流を高い精度と安定度で、しかも高速に測定します。デジタルコンパレータを内蔵し、良否の選別を行ったうえで判定結果を出力。プリンター出力を標準装備していますので測定ごとにすべての判定データを印字することができます。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスの
ファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・

独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・
高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。

また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部
ユニットも準備しております。

【特長】
■多数個同時測定（～96DUT）
■高精度温度制御（±1℃以内）
■60OFでの測定が可能
■UPH20,000個以上を実現
■磁気テスト（オプション）が可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『ITS-8001』は、125M～2.7Gbpsのビットレートに対応し、簡単にビット
エラーを測定できるテストツールです。

各種設定や制御をする機能を外付けPC（オプション）とし、本体の機能を
限定することで廉価な構成を実現しました。

主に通信用光モジュール試験や通信用デバイス試験に使用されます。

【特長】
■125M～2.7Gbpsの各ビットレートに対応
■出力振幅が800mVpp

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

セル電圧発生装置は1台で16chの絶縁された電圧を発生します。
セル電圧発生装置を最大6台直列に接続することで、96chの絶縁された電圧を発生することが出来ます。
各chの最大電圧は5Vで、各セル毎に電圧を設定することが可能です。
リチウムイオンバッテリーのセルコントローラ基板の評価・検査にご使用いただけます。
また、セル電圧発生装置を使用して、セルコントローラ基板の自動試験装置の製作も承っております。

当製品は、バッテリのOCV（開回路電圧，開放電圧）と
IR（絶縁抵抗）を測定し、合否判定するユニットです。

※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、
交換を可能とするPLCCソケット

【特徴】
○各種のスルーホールやSMD PLCCソケットをご用意
○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能
○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等ご用意
○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、
　 ターミナル等もラインアップ

●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。
　 日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

本製品は、超高解像度8K4K/60Hzに対応した、V-by-One(R) HS 32laneの
インターフェースを持つ、簡易型の信号発生基板です。

お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成や
タイミング設定が自由自在。

また、4K2K/120Hzのモジュールにも対応いたします。

【標準仕様】
■DC12V単一電源駆動
■データの書き換えはPCからのUSB接続で実施
■PCを用いた外部制御に対応
■オプションでスイッチ操作部を延長するRemote Boxに対応

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

清田製作所（Kiyota)から、パワー半導体測定用　Φ4.0　スプリングプローブ（Spring Probe)が新製品として開発・製造されました。　特長　電流：25A　最大：2.0ｍΩ

LDをCW～Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です

【製品特徴】

多種な高精度のデジタル抵抗測定器にも対応

■ 分離式プローブを利用して、様々な寸法の抵抗器に適応できる
■ 1mΩ-100MΩの測定範囲で異なるタイプの抵抗測定器を選択できる
■ お客様の要求に応じ、自社製の制御システムでコードスキャンとMESのカスタ イマイズにも対応

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

DO-254/CTSはターゲットボードによってテストを補強し、検証カバレッジを高め、DO-254/ED-80の検証目標を達成できるようにカスタマイズされたハードウェアおよびソフトウェアプラットフォームです。ターゲットデザインはカスタムドーターカードのターゲットデバイス上で実速度で実行されます。シミュレーションテストベンチをテストベクタとして使い、FPGAピンレベルで100%コントロール・監視しながら要求ベース検証を行い、通常範囲と異常範囲でのテストを実行できます。FPGAテスト結果を実速度でキャプチャし、シミュレータの波形ビューアに表示して高度な解析や文書化などに進むことができます。

フェムト〜ピコアンペアオーダーの電流を測定

■測定範囲は-250pA〜+250pA　ノイズレベルは5fAp-p

■最大8点の電流を同時測定

■専用パソコンによりデータ収集

※詳細はカタログをご覧下さい。

シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。
2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。

ディ・アイジャパン株式会社が取り扱う『Burn-In Board』をご紹介します。

精巧なドッキング及び高い信頼性を保証できる「HI-FIX BOARD」や、
ウェハテスト時にテスターのステーションとプローブカードを接続して
信号と電源等を中継する必須パーツ「Wafer Mother Board」などを
ラインアップしています。

【ラインアップ】
■MEMORY用 BIB
■LOGIC用 BIB
■Wafer Mother Board
■HI-FIX BOARD

※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。
水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。
汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。

【特徴】
○水銀レス
○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測
○高信頼性実現
○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続
○軽量・コンパクト

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。