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デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

電気的検査・テスタのデバイス特性の評価とは、電子部品や電子機器が設計通りの電気的な性能を発揮しているかを確認するプロセスです。これにより、製品の品質保証、信頼性向上、および設計の妥当性検証を行います。

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【データセンター向け】SLTソケット

株式会社JMT

データセンターでは、機器の信頼性と効率的な運用が不可欠です。システムレベルテスト（SLT）は、これらの要求に応えるために重要ですが、正確な測定が求められます。PCRソケットは、短距離接続と面接触により、実装状態に近い状態で特性を検証できます。これにより、実際の機器に近い状態で安定した測定が可能となり、効率的なシステム運用に貢献します。【活用シーン】・サーバー、ネットワーク機器の特性評価・高密度実装基板のテスト【導入の効果】・精度の高い測定による信頼性向上・効率的なシステム運用

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スピーカーFo&Ze測定器『OST-828』

株式会社オンソク

『OST-828』は、スピーカーの最低共振周波数FoとインピーダンスZeを定電圧法で測定し、複数の測定値を用いて統計計算し規格判定する自動測定器です。測定データを全て保存出来ます。また、Q（Qes, Qms, Qts）の値も計算します。スピーカーの直流抵抗は、別途抵抗計で測定しキー入力します。【システム構成】 ■測定ユニット ■OST-828専用ノートパソコン（OS：Windows10 64bit版） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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小型テストハンドラー『TH281』

綜和機電株式会社

『TH281』は、SOP、SSOP、TSSOPなどのデバイスに対応した常温/高温測定用の小型テストハンドラーです。大型テストヘッドドッキング可能な構造で、標準ソケット、高周波用ソケット、フラットコンタクト等各種ソケットに対応可能。また、各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成しました。【特長】 ■高スループット・低ジャム率・省スペース ■大量生産に適した大容量のローダー、アンローダー ■大型テストヘッドドッキング可能な構造 ■各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成 ■各種ソケットに対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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LD・ICピックアップ検査装置　LDマルチテスター　LDMT-2100

株式会社システム計測

Blu-ray/DVD/CD　光ピックアップの性能検査装置のご紹介です。【搭載機能】・Blu-ray/DVD/CDのマルチに対応（最大60ピン）・レーザーダイオード発光機能・I-Lカーブ測定機能・オープン、ショートチェック機能・測定結果ロギング機能・機能拡張用マルチポート ※詳細はお問合せ、又はカタログをダウンロード下さい。

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MEMSテストハンドラ『ULTRA P』

株式会社テセック

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスのファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部ユニットも準備しております。【特長】 ■多数個同時測定（～96DUT） ■高精度温度制御（±1℃以内） ■60OFでの測定が可能 ■UPH20,000個以上を実現 ■磁気テスト（オプション）が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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コーヨーテクノス製　ICソケット

株式会社コーヨーテクノス

VBPC(Vertical Bending Probe Card)を仕様したチップソケットは、BGA、CSPなどの標準ピッチをはじめ、FPCドライバーやICチップへのダイレクトコンタクトなどのファインピッチにも幅広く対応しております。また、試作、特殊設計などにも1セットから制作致します。

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【分析事例】SNDMのSiCMOS高感度評価

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SNDM (走査型非線形誘電率顕微鏡)では半導体のp/n極性を識別し、拡散層の形状を可視化することができます。本手法は、従来から用いられているSCM（走査型静電容量顕微鏡）の機能を包括しており、 SCMでは評価が難しいSiCを代表とする次世代のパワーデバイスにおいても、低濃度から高濃度まで十分に評価を行うことができます。高感度を特徴とし、あらゆる化合物半導体デバイスに適用可能です。一例として、SiC Planer Power MOSの断面を製作し、SNDM分析を行った事例をご紹介します。

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ANDON Electronics社製　BGAソケット/アダプター

光貿易株式会社

半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換を可能とするBGAソケット/アダプター【特徴】 ○BGAデバイスをPCBに実装する為のソケット ○各種BGAデバイス用のソケットとアダプターをご用意 ○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能 ○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等をご用意 ○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、　ターミナル等もラインアップ ●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。　日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

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レーザーダイオードテストシステム【LD2920TB】

アルファクス株式会社

長波長レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。＜特長＞ ■ 供給から測定・分類などを全自動搬送できます ■ 最大13台のカメラにより運転状況の把握が容易です ■ +２０℃～-１００℃まで任意の温度で測定可能です ■FRONT光、BACK光のIL測定を同時に行います。詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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レヤーショート試験機『IKD3031』

株式会社アイ・ケイ・ディー

当社で取り扱う、レヤーショート試験機『IKD3031』をご紹介いたします。各種トランス、チョークトランス、ソレノイド等、商用電源で使用する電機機器の層間耐電圧試験を行う目的で製作。負荷電流に対する判定機能に加え、MHz帯に延びたコロナ検出機能を備えていますので、格段に高い巻線試験の品質評価が可能です。【特長】 ■負荷短絡保護 ■120VAの高出力 ■コロナ検出機能(パーセント表示) ■タイマー機能装備 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TFE電子銃用-10kV高圧電源・CD-SEM,レビューSEM用

フューテックス株式会社

本製品は、CD-SEM,レビューSEM用の高圧電源装置です。加速電源、フィラメント電源、サプレッサ電源、エキストラクタ電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。

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機器組込用　微少電流計測ユニット

バンデバイス株式会社

フェムト〜ピコアンペアオーダーの電流を測定 ■測定範囲は-250pA〜+250pA　ノイズレベルは5fAp-p ■最大8点の電流を同時測定 ■専用パソコンによりデータ収集 ※詳細はカタログをご覧下さい。

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eDP簡易信号発生装置『iM1283』

アイ・エス・エックス株式会社

『iM1283』は、コストを抑えてスピーディーに導入できる eDP(embedded Display Port/5.4G)出力の簡易信号発生装置です。編集ソフトを同梱しており、お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が自由自在です。また、簡単な操作とコンパクトデザインは、省スペースですぐにご利用できます。【製品仕様(一部抜粋)】 ■8bit 出力(4lane Display Port 5.4Gbps相当) ■eDP設定(RGB, 1.62Gbps, 2.7Gbps, 5.4Gbps, 2.16Gbps, 2.43Gbps, 3.24Gbps, 4.32Gbps) ■補助電源出力機能(DC12V) ■パターン/タイミングの編集に対応 ■DisplayPortのAUX通信プログラム可能 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011A

アール・エス・ティ・エンジニアリング株式会社

計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011Aは電解コンデンサの漏れ電流を高い精度と安定度で、しかも高速に測定します。デジタルコンパレータを内蔵し、良否の選別を行ったうえで判定結果を出力。プリンター出力を標準装備していますので測定ごとにすべての判定データを印字することができます。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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半導体集積回路(IC)の受託開発製造　※センサIC等受託積極受付

インターチップ株式会社

当社が行っている『コントロールIC事業』についてご紹介します。小型軽量化、高機能化、集積化で部品点数が削減した事によるコストダウンに貢献いたします。設計受託ではなく、設計・製造・テスト・品質保証と最終製品まで対応することが可能です。また、レーザートリミングや自社メモリを内蔵することにより、1チップで製品のバリエーションを増やすことができます。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■水晶発振器のコントロールIC分野でW.Wの高いシェアを獲得 ■長年にわたり数100品種の開発実績あり【こんな点にお悩みの方必見】 ■汎用部品だと小型化できない。 ■既存のICだと所望の機能を満たせない ■現在使用のICがEOLで継続使用ができない。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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Eureka DDR4 2933, DIMMテスター

有限会社シーピーアイ

Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。

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RFプロービング用高性能マイクロウェーブプローブ

阪和トレーディング株式会社

当社はプローブシステムに用いる様々なRFポジショナーを揃えております。一例：SP-67A 柔軟なチップを備え、低損失の同軸技術を用いて1.1db未満の挿入損失と、67GHzで14dbを超えるリターンロスを実現。プロービング表面への確実な接触を保証する独立したバネ式チップを有しており、チップには柔軟性があるため、回路損傷を最小限に抑え、プローブ寿命を延ばします。また、標準のマイクロ波プローブステーションで用いるべく様々なアダプタに取り付けることが可能。搭載はカスタマイズできます。【特長】 ■耐久性のあるRFプローブ ■独立したバネ式コンタクト ■豊富なフットプリント ■同軸設計 ■13種のアダプタ様式で利用可能　など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

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ICレギュレータテスタ『ME-8』

株式会社城西システム

『ME-8』は、0～25Vのオルタネータ発生電圧や、5～20Vのレギュレータ調整電圧の測定が可能なICレギュレータテスタです。サイズは221×142×46ｍｍ、重量は約0.5Kgとコンパクトです。【特長】 ■大型メータで読み取り易い ■単体及び装着状態での測定が可能 ■適正ゾーンの表示で良否判定が簡単 ■乾電池式で軽量コンパクトボディ ■吊り下げフック付で作業性向上 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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半導体テスター

北斗電子工業株式会社

当社では、半導体テスターを取り扱っております。半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■半導体後工程でのAC特性検査用テスター ■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ ■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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DCプローブ　　（電源用プローブ）

株式会社テクノプローブ

RFプローブ(高周波プローブ）と組合わせて使用頂けるDCプローブ（電源プローブ）特長・完全国内生産・DC−40GHz ・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。・短納期・ローコスト（イニシャルコスト不要）・高耐久

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ウエハテストの技術

株式会社菱進テック

当社は、お客様仕様に合わせたテスト開発・生産能力改善をご提案致します。製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法の構築・テストプログラム開発製作・テストボード／プローブカードの開発製作を行っています。「OST（Outliers Screening Test）」では、自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化。テストの個別項目の測定値について、分布を算出、主分布より外れたデータのチップを不良化する「PAT」や、テスト結果のマップデータにてウエハ上の位置的な分布より、良品分布から外れたチップを検出、不良化する「GAT」テストなどがございます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ダブル・トリプルハイトエクステンダーボード

株式会社エスアールシー

＜仕様＞ ◆基板材質：エポキシガラス(FR-4、1.6t、4層板) ◆コネクター：DIN41612規格品 ◆信号接断：ショートプラグの挿脱による ◆J1結線仕様：VME-J1バス／パラレル ◆J2結線仕様：32bit拡張／I/Oチャンネル／パラレル ◆J3結線仕様：パラレル ◆基板長：350mm（ガイドレール除く）423.0mm（ガイドレール含む）／ 530mm（ガイドレール除く）603.0mm（ガイドレール含む）（構成についてはお問い合わせ下さい） ※トリプルハイトは受注生産品＜特長＞ ◆全ての信号はGND パターンが配置されていますので、信号間のクロストークは最小限に押さえられています。 ◆パラレル結線されているタイプのものは、電源ピンの接続は任意にできますので、各種バスに対応できます。 ◆+5V およびGND は全面パターンとして内層に設けられており、電源の安定が図られています。 ◆信号ラインのターミネーションを行う場合は、ターミネータ用プラグに挿着すればターミネーションできます。

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半導体カーブトレーサ CS-3000シリーズ

岩崎通信機株式会社

最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。

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ペルチェ温調ヘッド『iT520/iT525』

センサーコントロールズ株式会社

当製品は、実装基板上のICの温度試験ができるペルチェ温調ヘッドです。－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能。 Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用しています。ラボでの手軽な卓上実験用にはハンディー型の『iT520』、工場での評価用にはソケット装着型の『iT525』がお勧めです。【特長】 ■－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能 ■－40℃から＋125℃まで、わずか数分で昇温(Rtから－40℃までの降温も数分) ■Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用 ■±0.1℃の精度で温度制御可能 ■接触アタッチメントの凸部の形状及び寸法は、お客様の仕様にあわせ変更可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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CAN_LD 320CH温度/DC特性自動評価装置

システム技研株式会社

-40～90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います

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V-By-One(R) HS信号発生装置『SV100』

アイ・エス・エックス株式会社

『SV100』は、Ultra book/Tablet/TV向けLCDモジュールに対応した、 V-By-One(R) HS 16laneインターフェースを持つパターン編集ソフトを同梱したV-By-One(R) HS信号発生装置(16Lane出力)です。お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が自由自在に行えます。【特長】 ■ネットワーク対応 ■パターン／タイミング編集に対応 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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定電流電源・検査装置

バロン電子株式会社

定電流電源・検査装置は、数10μAの超微電流定電流電流駆動によるLED静電破壊評価ができます。LED直列多灯点灯回路の駆動、各チャンネル毎に定電流値設定も可能です。微電流・定常電流（10～30mA）の切り替え動作ができます。表示器の有無や自動制御等ご要望によりカスタマイズ承ります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

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【分析事例】ESM-RISM法LIB電解液成分シミュレーション

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

リチウムイオン二次電池の充放電過程において、電解液中及び負極との界面近傍では溶媒和の形成、脱溶媒和、電気二重層の形成、Liイオンの脱挿入など様々な現象が生じています。当資料では、有効遮蔽媒質法とReference Interaction Site ModelをハイブリッドさせたESM-RISM法を用いて、電解液成分のミクロな分布をシミュレーションによって評価した事例をご紹介。当手法は二次電池だけでなく、燃料電池、各種触媒反応や金属表面の腐食・防食など広範な分野での応用が期待されます。【掲載内容】 ■概要 ■データ・負極（グラファイト）-電解液界面近傍の模式図・電解液中の溶媒和構造・負極-電解液界面近傍の電気二重層 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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インターフェースユニット『EP-100』

アイフォーコム京栄株式会社

『EP-100』は、I.S.P-310に接続する事で、さらに多種のデバイスに書き込むことが可能になるインターフェースユニットです。フラッシュプログラマ I.S.P-310にてプログラミングを行う時、電圧供給が必要なデバイスに対し、必要な電圧を供給する機能を持ちます。 ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応。ご要望により特殊対応可能な品種もあります。【特長】 ■I.S.P-310に接続する事で、さらに多種のデバイスに書き込むことが可能 ■I.S.P-310にてプログラミングを行う時、必要な電圧を供給する機能を持つ ■ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応 ■78K0ファミリ、78K0Rファミリにも対応 ■ご要望により特殊対応可能な品種もあり ※ダウンロード資料は取り扱い説明書となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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DCテスタ『471-TT』

株式会社テセック

『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現したDCテスタです。長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における複数チップ同時測定を実現。当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。【特長】 ■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの　向上 ■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現 ■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現 ■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現　（Max 2kV/20A） ■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能 ■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値）　以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【評価装置の提案例】OCV測定ユニット

株式会社エヌエスティー

当製品は、バッテリのOCV（開回路電圧，開放電圧）と IR（絶縁抵抗）を測定し、合否判定するユニットです。 ※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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テスター基板(パフォーマンス/プローブ/半導体評価)

株式会社アーセルデザイン

半導体テスター向けのカスタム基板　各種対応実績ございます。

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SP3000, DIMMテスター

有限会社シーピーアイ

SP3000はDDR等DIMM及びBGA等メモリーチップのテストが可能な高性能メモリーテスターで、テストアダプター交換により様々なメモリーをリアルバススピード、リアルサイクルタイムでテストすることができます。 SP3000は豊富なアダプターオプションによりDRAM, SDRAM, SGRAM, DDR SDRAM等様々なメモリーテストが可能な他、DDR3, DDR4等、将来に渡り陳腐化することなくご使用頂ける柔軟性に富むアーキテクチャー、RoboFlexハンドラーによるボリュームテスティングにも対応可能など、その優れたデザインと信頼性の高さにより多数のメモリーモジュール製造メーカー、ディストリビューター、ディーラー及びサービス部門に於いてご使用頂いております。

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低高温　トライテンプハンドラ

株式会社上野精機長野

『NDM0101』は、各温度測定ユニットプール部にセットされたデバイスを個別にピックアップし、測定部において電気特性検査を行い、測定結果に応じて次工程の測定ユニットにデバイスを供給する半自動検査装置です。トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能に。検査に必要な温度ユニットのみを搭載するなど必要最低限の装置構築ができます。【特長】 ■トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能 ■必要最低限の装置構築ができる ■本機のみで温度精製を行う ■省スペース化を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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バーンインボード

株式会社笠作エレクトロニクス

バーンインボードのことなら株式会社笠作エレクトロニクスにおまかせください。ご要望に合わせたバーンイン・ボード、ＩＣソケット、チェッカーなどを短納期でお届けします。【特徴】 ○プリント板の設計、部材の調達、組配、検査をして納入します ○プリント板は、一般的なバーンインボードの他、特殊な基板も出来る物もございます ○BGAやCSP等のピッチ変換ボードは 6層から12層で作ります ●詳しくはお問い合せ、またはカタログをご覧ください。

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納期たったの2週間！カスタム対応可の『ＩＣソケット』

株式会社笠作エレクトロニクス

QFP,BGA,CSP,LED,CLYSTAL用など、あらゆる半導体およびそれに類する素子の検査、実験等に使えるソケットを、設計、製造販売しております。【特徴】 ○ピン数はデバイスに合わせて製作可能です ○寿命(ライフテスト）10,000回～1,000,000回 ○耐熱-60℃より150℃（125℃連続使用可） ●詳しくはお問い合せ、またはカタログをご覧ください。

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大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ

岩崎通信機株式会社

「大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ」は、超高電圧・大電流CS-3100の機能に下記HVとHCの機能を追加しました。 ○HVモード：10kV（+DCのみ） ○HCモード：8,000A（CS-10800）、4,000A（CS-10400）、　　　　　　　　パルス幅 / パルスインターバル /測定ポイント　可変可能測定項目は、最大ピーク電圧:10kV（高電圧モード）、最大ピーク電流:8000A（CS-10800大電流モード）です。その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

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TITAN T26 RFプローブ・ヘッド (DC~26GHz)

MPI Corporation

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。日本における代理店: ベクターセミコン株式会社東京都荒川区西日暮里2-43-2 TEL 03-5604-1701 FAX 03-5604-1707

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パワートランジスタ用ソケット

日本コネクト工業株式会社

サイリスタ、トライアック、MOSFET、IGBTなどのパワー半導体のテスト用ソケットです。

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検査用ソケット『W-CSP』

東洋電子技研株式会社

『W-CSP』は、ウエハよりチップをダイシング後、同軸型4端子コンタクトプローブ(PATENT)を利用して手動測定が可能な検査用ソケットです。チップの開発や抜取り検査・不良解析などに使用可能。ソケットの蓋は、着脱可能で、自動機(ハンドラ式)検査にも使用できます。【特長】 ■BGA、LGA、ベアチップなどの動作確認検査が可能 ■MOS-FETのオン抵抗値測定が可能 ■端子間の電圧測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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センサテスタ

株式会社サイアン

「簡単なセンサテスタが欲しい」というお客様の声から生まれたオリジナル製品です。電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェックでき、12V/5V電源電圧表示、2chを同時表示などが可能です。AC、乾電池、バッテリで駆動し、角度変換表示機能付きで、バックライトも付いています。大手自動車メーカー様テスト用、他に採用実績があります。ボディカラーは、ご希望に応じます。【特徴】 ○電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェック ○12V/5V電源電圧表示 ○2chを同時表示 ○DC9～18V（車載バッテリーに対応） ○AC、乾電池、バッテリで駆動 ○角度変換表示機能付き ○バックライト付き ○サイズ：約156×100×h50mm（コネクタの突起を除く） ○ボディカラー：ご希望に応じます ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

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Burn-In Board

ディ・アイジャパン株式会社

ディ・アイジャパン株式会社が取り扱う『Burn-In Board』をご紹介します。精巧なドッキング及び高い信頼性を保証できる「HI-FIX BOARD」や、ウェハテスト時にテスターのステーションとプローブカードを接続して信号と電源等を中継する必須パーツ「Wafer Mother Board」などをラインアップしています。【ラインアップ】 ■MEMORY用 BIB ■LOGIC用 BIB ■Wafer Mother Board ■HI-FIX BOARD ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

パワー半導体デバイスでは、ライフタイム制御のために、Si基板内に結晶欠陥を形成することがあります。ライフタイム制御領域の作成に用いられる元素の一つである水素イオンの熱処理条件の違いによるキャリア濃度分布を評価した事例を示します。

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スプリングプローブ（Spring Probe)

株式会社AMT

清田製作所（Kiyota)から、パワー半導体測定用　Φ4.0　スプリングプローブ（Spring Probe)が新製品として開発・製造されました。　特長　電流：25A　最大：2.0ｍΩ

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有機EL/LTPS型液晶セル用信号発生器『OGI-007MK2』

オオクマ・ソリューション関西株式会社

本製品は、スマートフォンやタブレット端末に使われている有機ELやLTPS型液晶セルの点灯検査用信号発生器です。検査レシピをプログラミングできるので、多様な検査に対応できます。同パターンの信号を2CH同時出力。各出力信号は駆動特性を有しており、レシピは駆動パラメータの入力のみの簡単設定が可能です。【特長】 ■良好な操作性 ■良好なメンテナンス性 ■高度な拡張性 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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MEMSジャイロセンサ用ソケット

エム・アイ・エステクノロジー株式会社

『MEMSジャイロセンサ用ソケット』は、オートモーティブ向け、ビデオRVC、 AGV向けジャイロセンサの評価用ソケットです。高精度で小型なジャイロセンサは素子の素材と構造の違いにより、角速度の精度に大きく影響するため、ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現。試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意しており、数量1個から製作可能です。【特長】 ■ジャイロセンサの評価用ソケット ■高精度で小型 ■ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現 ■試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意 ■数量1個から製作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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回路素子測定器『LCRメータ』

株式会社エヌエフ回路設計ブロック

高速・高精度で安定した測定を実現したLCRメータシリーズのご紹介です。 1mHzの低周波領域から最高5.5MHzまで、広い周波数範囲をカバーする LCRメータ ZMシリーズ。高速かつバラツキの少ない安定した測定で、材料の研究から部品の生産ラインまで、幅広い用途に対応。「ZM2371」「ZM2372」「ZM2376」の3種類をラインアップしました。【機能（抜粋）】 ■広い測定周波数範囲と高分解能設定 ■広い測定レベルとALC機能 ■高速測定 ■高精度 ■DCバイアス電圧 ■直流抵抗（DCR）測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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LDエージング装置『LDS-9000 シリーズ』

ユアサエレクトロニクス株式会社

『LDS-9000 シリーズ』は、各種形状LDの評価を、高精度で連続的に処理する機能を持つエージング装置です。ホストコンピュータ、恒温槽、制御計測ターミナル、及び駆動用ドライバで構成されており、計測ターミナルには演算プロセッサを搭載し高速にデータを計測。計測はホストコンピュータから駆動、時間、温度、計測等の条件を槽単位及びDUTボード単位に設定可能です。【特長】 ■試験中にデバイスのI-L、V、Im特性曲線の計測が可能 ■光出力の自動較正機能により、光出力のOFFSET調整とGAIN調整は自動 ■光出力測定用PD及びLD駆動ドライバは、安定な動作及び高信頼性が保証 ■停電あるいは突然の電源ライン停止によるLDへの影響に対して、　スローダウン、スローアップ回路やプロテクト回路が働き、LDを完全に保護 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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HDD/SSD Tester D010

株式会社ダイチューテクノロジーズ

弊社は１０数年来、ハードディスクドライブの製造向け試験装置の開発、製造を行ってきました。この経験を生かし、多様なインターフェースのHDD/SSD の評価試験のできるオリジナル試験装置(HDD/SSD Tester)を開発致しました。

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【デモ機貸出可】高速GANGプログラマ『AF9751』

東亜エレクトロニクス株式会社

『AF9751』は、開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応した UFSメモリ専用の高速GANGプログラマです。「Universal Flash Storage Association」規格の Ver.3.1のUFSメモリに対して高速データ書込みを実現。専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに UFSデバイスに対し書込みが可能です。【特長】 ■UFSメモリ高速書込み ■開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応 ■専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに　UFSデバイスに対し書込み可能 ■デバイス品種追加についてはWEB公開の専用アプリケーションを　ダウンロードいただくことで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

課題

微細化・高集積化による測定困難性

デバイスの小型化・高密度化が進み、従来のプローブやテスタでは物理的に接触・測定が困難になるケースが増加しています。

多様化するデバイス特性への対応

アナログ、デジタル、RF、パワーデバイスなど、特性が多岐にわたり、それぞれに最適な評価手法やテスタの選定が複雑化しています。

高速化・高精度化要求への追随

デバイスの動作速度が向上し、より高い周波数帯域や微小な信号レベルでの正確な測定が求められるため、テスタの性能限界に達することがあります。

データ解析・管理の煩雑化

大量の検査データを効率的に収集、解析、管理し、傾向分析や不良原因特定に繋げることが、人的リソースやシステム面で課題となっています。

対策

非接触・遠隔測定技術の導入

光学式測定器や電磁波を利用した非接触測定技術を導入し、物理的な接触が難しいデバイスの特性評価を可能にします。

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

評価したいデバイス特性に合わせて測定モジュールを組み合わせたり、ソフトウェアで機能を拡張したりできる柔軟なテスタシステムを採用します。

高帯域・高分解能テスタへの更新

最新の高速信号処理技術や高精度ADC/DACを搭載したテスタに更新し、要求される測定精度と帯域幅に対応します。

自動化・AI活用によるデータ処理

検査プロセスの自動化や、AI/機械学習を用いたデータ解析ツールを導入し、迅速かつ的確なデータ処理と洞察を得られるようにします。

対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

広帯域幅と高サンプリングレートにより、高速信号の波形を正確に捉え、微細な電圧変動やタイミング誤差を検出できます。

多機能パラメータアナライザ

様々な電気的パラメータ（電圧、電流、抵抗、容量など）を一台で測定でき、多様なデバイス特性評価に対応可能です。

自動テストシステム構築ソフトウェア

GUIベースでテストシーケンスを容易に作成・編集でき、データ収集・解析・レポート作成までを自動化します。

非接触式プローブシステム

微小なデバイスや高密度実装基板上の信号を、物理的な接触なしに高精度で測定することを可能にします。

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デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

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多様化するデバイス特性への対応

高速化・高精度化要求への追随

データ解析・管理の煩雑化

対策

非接触・遠隔測定技術の導入

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

高帯域・高分解能テスタへの更新

自動化・AI活用によるデータ処理

対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

多機能パラメータアナライザ

自動テストシステム構築ソフトウェア

非接触式プローブシステム

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

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多様化するデバイス特性への対応

高速化・高精度化要求への追随

データ解析・管理の煩雑化

​対策

非接触・遠隔測定技術の導入

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

高帯域・高分解能テスタへの更新

自動化・AI活用によるデータ処理

​対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

多機能パラメータアナライザ

自動テストシステム構築ソフトウェア

非接触式プローブシステム

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

課題

対策

対策に役立つ製品例