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デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

電気的検査・テスタのデバイス特性の評価とは、電子部品や電子機器が設計通りの電気的な性能を発揮しているかを確認するプロセスです。これにより、製品の品質保証、信頼性向上、および設計の妥当性検証を行います。

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【データセンター向け】SLTソケット

株式会社JMT

データセンターでは、機器の信頼性と効率的な運用が不可欠です。システムレベルテスト（SLT）は、これらの要求に応えるために重要ですが、正確な測定が求められます。PCRソケットは、短距離接続と面接触により、実装状態に近い状態で特性を検証できます。これにより、実際の機器に近い状態で安定した測定が可能となり、効率的なシステム運用に貢献します。【活用シーン】・サーバー、ネットワーク機器の特性評価・高密度実装基板のテスト【導入の効果】・精度の高い測定による信頼性向上・効率的なシステム運用

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アバランシェ耐量試験装置『ST-1322』

嶺光音電機株式会社

『ST-1322』は、POWER MOS FET Nch/PchのL負荷アバランシェ測定し、 GO/NG判定を行う装置です。全ての試験項目は、ハードウェアにて処理解析していますので、従来のディジタルオシロスコープを使用した装置に比べ高速に試験が可能。上位コンピュータとオンラインで接続しデータの管理やテスト条件の管理ができます。また、セルフテスト機能を有しております。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■スピードを飛躍的に向上 ■低電圧にて、大電流試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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Eureka DDR4 2933, DIMMテスター

有限会社シーピーアイ

Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。

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レーザーダイオードテストシステム【LD2920TB】

アルファクス株式会社

長波長レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。＜特長＞ ■ 供給から測定・分類などを全自動搬送できます ■ 最大13台のカメラにより運転状況の把握が容易です ■ +２０℃～-１００℃まで任意の温度で測定可能です ■FRONT光、BACK光のIL測定を同時に行います。詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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RFプローブ・校正基板【広い周波数帯域、ピッチ、優れた耐久性！】

ベクターセミコン株式会社

当社は、広い周波数帯域、ピッチ、優れた耐久性、すべてバランスよく備えたRFプローブ・校正基板を低価格で販売しております。独自の先端形状により、コンタクト時少ないスケーティング量で安定したコンタクトが可能となっており、デバイスへのダメージ軽減や高い再現性を図ります。校正アシストソフトウェアは「Allstron TITAN Probeシリーズ」の製品データが既に登録されており、プローブを選択するだけですぐにご使用頂けます。【製品一覧】 ■Allstron RF Probe「TITAN」 ■Allstron RF Probe「TITAN-RC」 ■RF Calibration Substrates「AC」 ■Calibration software「QAlibria」 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

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半導体集積回路(IC)の受託開発製造　※センサIC等受託積極受付

インターチップ株式会社

当社が行っている『コントロールIC事業』についてご紹介します。小型軽量化、高機能化、集積化で部品点数が削減した事によるコストダウンに貢献いたします。設計受託ではなく、設計・製造・テスト・品質保証と最終製品まで対応することが可能です。また、レーザートリミングや自社メモリを内蔵することにより、1チップで製品のバリエーションを増やすことができます。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■水晶発振器のコントロールIC分野でW.Wの高いシェアを獲得 ■長年にわたり数100品種の開発実績あり【こんな点にお悩みの方必見】 ■汎用部品だと小型化できない。 ■既存のICだと所望の機能を満たせない ■現在使用のICがEOLで継続使用ができない。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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Burn-In Board

ディ・アイジャパン株式会社

ディ・アイジャパン株式会社が取り扱う『Burn-In Board』をご紹介します。精巧なドッキング及び高い信頼性を保証できる「HI-FIX BOARD」や、ウェハテスト時にテスターのステーションとプローブカードを接続して信号と電源等を中継する必須パーツ「Wafer Mother Board」などをラインアップしています。【ラインアップ】 ■MEMORY用 BIB ■LOGIC用 BIB ■Wafer Mother Board ■HI-FIX BOARD ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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低高温　トライテンプハンドラ

株式会社上野精機長野

『NDM0101』は、各温度測定ユニットプール部にセットされたデバイスを個別にピックアップし、測定部において電気特性検査を行い、測定結果に応じて次工程の測定ユニットにデバイスを供給する半自動検査装置です。トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能に。検査に必要な温度ユニットのみを搭載するなど必要最低限の装置構築ができます。【特長】 ■トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能 ■必要最低限の装置構築ができる ■本機のみで温度精製を行う ■省スペース化を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ANDON Electronics社製　BGAソケット/アダプター

光貿易株式会社

半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換を可能とするBGAソケット/アダプター【特徴】 ○BGAデバイスをPCBに実装する為のソケット ○各種BGAデバイス用のソケットとアダプターをご用意 ○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能 ○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等をご用意 ○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、　ターミナル等もラインアップ ●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。　日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

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簡易型信号発生基板『CV200』

アイ・エス・エックス株式会社

本製品は、超高解像度8K4K/60Hzに対応した、V-by-One(R) HS 32laneのインターフェースを持つ、簡易型の信号発生基板です。お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が自由自在。また、4K2K/120Hzのモジュールにも対応いたします。【標準仕様】 ■DC12V単一電源駆動 ■データの書き換えはPCからのUSB接続で実施 ■PCを用いた外部制御に対応 ■オプションでスイッチ操作部を延長するRemote Boxに対応 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【品質向上事例】 NANDデバイスの不良調査

東亜エレクトロニクス株式会社

この書込みシステムは、お客様の検査部門で有効なNANDデバイスの品質確認のための不良ブロックの確認システムです。対象デバイスに対して、ERASE-PROGRAM-VERIFY(データは任意に設定可能)を繰り返し、途中で発生する後天的バッドブロックの監視などを行います。試験内容の変更(例：ERASEのみを繰り返す)、バッドブロックの発生位置・回数のカウントや、動作時の電源電圧を変えての試験など、お客様のご要求にあわせたアルゴリズム開発が可能です。【特長・目的】 ■品質管理 ■カスタム対応 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※下記より、会社案内資料をダウンロードいただけます。

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【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

単結晶Siのラマンスペクトルのピークは、試料に圧縮応力が働いている場合は高波数シフト、引張応力が働いている場合は低波数シフトします。これにより、Siの応力に関する知見を得ることができます。 IGBT（絶縁ゲートバイポーラトランジスタ）の断面について、ラマンマッピングで応力の分布を確認した例を示します。

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オシロプローブ用　チェック端子　HOT26080

株式会社廣杉計器

小型タイプであらゆる方向から使用可能な RoHS対応のオシロプローブ用、チェック端子【特徴】 ○2.54ピッチ又はハーフピッチなため　使用場所を選ばない ○10色のカラーで回路分けが可能 ○ハイポジションタイプもあり　プローブの引っ掛けが容易にきる ○ピン　材質：リン青銅(C5191) 　処理：金メッキ0.1μ(下地ニッケル2μ) ○台　材質：PBT(ガラス繊維30％入）　色：10色　熱変形温度：1.82Mpa…200℃(耐ハンダ性) 　UL規格：UL94V-0(材料) 　RoHS対応製品 ●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。

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超低高温　トライテンプハンドラ

株式会社上野精機長野

『NDM0102』は、段積みされたチューブに収納されたデバイスを自動供給し、低温部・高温部の各測定において電気特性検査を行い、測定結果によりデバイスをチューブに分類収納するトライテンプハンドラです。装置本体内部に各温度精製機器を装備することで、装置サイズの極小化を実現。３温度の一貫検査を可能とし、各温度の検査結果により、分類収納を可能としました。【特長】 ■極高低温 ■外付けの温度供給器等を必要としない ■装置本体内部に各温度精製機器を装備 ■装置サイズの極小化を実現 ■3温度の一貫検査が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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半導体カーブトレーサ CS-3000シリーズ

岩崎通信機株式会社

最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。

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TITAN T26 RFプローブ・ヘッド (DC~26GHz)

MPI Corporation

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。日本における代理店: ベクターセミコン株式会社東京都荒川区西日暮里2-43-2 TEL 03-5604-1701 FAX 03-5604-1707

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テスター基板(パフォーマンス/プローブ/半導体評価)

株式会社アーセルデザイン

半導体テスター向けのカスタム基板　各種対応実績ございます。

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CW/Pulse I-Lテスター　SEC-7000

システム技研株式会社

LDをCW～Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です

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【基板回路設計・基板実装】測定レンジについて

株式会社相信

当資料は、測定レンジについて掲載しております。コンデンサー容量測定での実用測定範囲が4.0pF～33.0pFや 33.0pF～330.0pFをご紹介。モードごとに表示されており、参考にしやすい一冊となっております。是非、ご一読ください。【掲載内容(抜粋)】 ■抵抗値測定 ■コンデンサー容量測定 ■コイルインダクタンス測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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テーピング機搭載用測定器　容量計6062

アール・エス・ティ・エンジニアリング株式会社

テーピング機搭載用測定器　容量計6062は高速・高精度型。チップタイプコンデンサのテーピング機搭載用測定器です。コンデンサの容量値（0～199.9μFまで）を測定し、良否の判定します。各設定はフロントパネル部のキースイッチで行うキー入力設定方式を採用し、これにより測定治具等のストレー容量を自動補正します。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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TITAN RC(微小パッド用)RFプローブ・ヘッド

MPI Corporation

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テストツール『ITS-8001』

株式会社インターエナジー

『ITS-8001』は、125M～2.7Gbpsのビットレートに対応し、簡単にビットエラーを測定できるテストツールです。各種設定や制御をする機能を外付けPC（オプション）とし、本体の機能を限定することで廉価な構成を実現しました。主に通信用光モジュール試験や通信用デバイス試験に使用されます。【特長】 ■125M～2.7Gbpsの各ビットレートに対応 ■出力振幅が800mVpp ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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検査用ソケット『W-CSP』

東洋電子技研株式会社

『W-CSP』は、ウエハよりチップをダイシング後、同軸型4端子コンタクトプローブ(PATENT)を利用して手動測定が可能な検査用ソケットです。チップの開発や抜取り検査・不良解析などに使用可能。ソケットの蓋は、着脱可能で、自動機(ハンドラ式)検査にも使用できます。【特長】 ■BGA、LGA、ベアチップなどの動作確認検査が可能 ■MOS-FETのオン抵抗値測定が可能 ■端子間の電圧測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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8インチウェハセミオートシステム

ベクターセミコン株式会社

当製品は、様々な測定ニーズに対応するセミオートプローバーです。「TS2000-SE」は、高性能、超低ノイズ、高精度でありながらテストコスト削減のもとに設計されました。微小電流測定、高い信頼性のDC/IV測定、1/f測定、RF測定、パワーデバイス測定など、すべてにおいて最高クラスのパフォーマンスを発揮します。【特長】＜TS2000-SE＞ ■最大8インチウェハに対応 ■EMI対策、RFI対策、遮光に優れた設計 ■ウェハのロード・アンロードを自動で行う ■最大-60℃～300℃の温調が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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納期たったの2週間！カスタム対応可の『ＩＣソケット』

株式会社笠作エレクトロニクス

QFP,BGA,CSP,LED,CLYSTAL用など、あらゆる半導体およびそれに類する素子の検査、実験等に使えるソケットを、設計、製造販売しております。【特徴】 ○ピン数はデバイスに合わせて製作可能です ○寿命(ライフテスト）10,000回～1,000,000回 ○耐熱-60℃より150℃（125℃連続使用可） ●詳しくはお問い合せ、またはカタログをご覧ください。

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有機EL/LTPS型液晶セル用信号発生器『OGI-007MK2』

オオクマ・ソリューション関西株式会社

本製品は、スマートフォンやタブレット端末に使われている有機ELやLTPS型液晶セルの点灯検査用信号発生器です。検査レシピをプログラミングできるので、多様な検査に対応できます。同パターンの信号を2CH同時出力。各出力信号は駆動特性を有しており、レシピは駆動パラメータの入力のみの簡単設定が可能です。【特長】 ■良好な操作性 ■良好なメンテナンス性 ■高度な拡張性 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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パワートランジスタ用ソケット

日本コネクト工業株式会社

サイリスタ、トライアック、MOSFET、IGBTなどのパワー半導体のテスト用ソケットです。

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MEMSジャイロセンサ用ソケット

エム・アイ・エステクノロジー株式会社

『MEMSジャイロセンサ用ソケット』は、オートモーティブ向け、ビデオRVC、 AGV向けジャイロセンサの評価用ソケットです。高精度で小型なジャイロセンサは素子の素材と構造の違いにより、角速度の精度に大きく影響するため、ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現。試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意しており、数量1個から製作可能です。【特長】 ■ジャイロセンサの評価用ソケット ■高精度で小型 ■ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現 ■試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意 ■数量1個から製作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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DDR2コンプライアンス・テスト・オプションQPHY-DDR2

テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社

テレダイン・レクロイのQualiPHY-DDR2、DDR2試験パッケージは、最高のDDR2メモリ・インタフェース試験ツールです。400MHz、533MHz、667MHz、800MHz、1066MHzと任意の速度に対応しています。QualiPHY-DDR2は、クロック（JEDECの仕様とインテルの仕様：JEDEC仕様の付録によって規定される電気およびタイミング・テスト）に完全に準拠したテストを行うことができます。テレダイン・レクロイのQualiPHYフレームワークは、シンプルなユーザ・インタフェースを持つので操作が簡単で、かつのカスタマイズや判定条件の変更に柔軟性に対応できます。また、グラフィカルな結線図を示すことにより確実な装置の接続を支持し、各項目でワーストケースの不良測定結果の画面を含む全ての計測結果をレポートにまとめることができます。そのうえ、QualiPHY-DDR2によってされる全ての波形データは、後から再試験ができるように保存することができます。詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

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DCテスタ『471-TT』

株式会社テセック

『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現したDCテスタです。長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における複数チップ同時測定を実現。当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。【特長】 ■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの　向上 ■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現 ■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現 ■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現　（Max 2kV/20A） ■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能 ■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値）　以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【分析事例】ESM-RISM法LIB電解液成分シミュレーション

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

リチウムイオン二次電池の充放電過程において、電解液中及び負極との界面近傍では溶媒和の形成、脱溶媒和、電気二重層の形成、Liイオンの脱挿入など様々な現象が生じています。当資料では、有効遮蔽媒質法とReference Interaction Site ModelをハイブリッドさせたESM-RISM法を用いて、電解液成分のミクロな分布をシミュレーションによって評価した事例をご紹介。当手法は二次電池だけでなく、燃料電池、各種触媒反応や金属表面の腐食・防食など広範な分野での応用が期待されます。【掲載内容】 ■概要 ■データ・負極（グラファイト）-電解液界面近傍の模式図・電解液中の溶媒和構造・負極-電解液界面近傍の電気二重層 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TLP試験器「HED-T5000 series」

阪和電子工業株式会社

保護回路の動作特性をシミュレーションする装置です。集積回路に組み込まれた保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。 VFTLP試験も可能です。【ラインナップ】 ○HED-T5000/T5000VF ○Wafer Type ○Package Type 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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CAN_LD 320CH温度/DC特性自動評価装置

システム技研株式会社

'-40～90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います

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定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置

新日本電工株式会社

当社では『定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置』を取扱っております。当社オリジナルのドライブ基板を選択し、御希望に合わせたシステム装置の提案・製作を行っています。ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の設定が可能。1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能です。【特長】 ■ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の　設定が可能 ■1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能 ■タッチパネルを使用し、画面上から容易に設定やデータ閲覧が可能 ■御希望に合わせたシステム装置の提案・製作が可能 ■機能追加のカスタマイズ対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【分析事例】SNDMのSiCMOS高感度評価

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SNDM (走査型非線形誘電率顕微鏡)では半導体のp/n極性を識別し、拡散層の形状を可視化することができます。本手法は、従来から用いられているSCM（走査型静電容量顕微鏡）の機能を包括しており、 SCMでは評価が難しいSiCを代表とする次世代のパワーデバイスにおいても、低濃度から高濃度まで十分に評価を行うことができます。高感度を特徴とし、あらゆる化合物半導体デバイスに適用可能です。一例として、SiC Planer Power MOSの断面を製作し、SNDM分析を行った事例をご紹介します。

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DCプローブ　　（電源用プローブ）

株式会社テクノプローブ

RFプローブ(高周波プローブ）と組合わせて使用頂けるDCプローブ（電源プローブ）特長・完全国内生産・DC−40GHz ・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。・短納期・ローコスト（イニシャルコスト不要）・高耐久

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【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

パワー半導体デバイスでは、ライフタイム制御のために、Si基板内に結晶欠陥を形成することがあります。ライフタイム制御領域の作成に用いられる元素の一つである水素イオンの熱処理条件の違いによるキャリア濃度分布を評価した事例を示します。

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【分析事例】ワイドギャップ半導体ドーパントサイト同定電子状態評価

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

β-Ga2O3は広いバンドギャップを有し、優れた送電効率や低コスト化の面で次世代パワーデバイスや酸化物半導体の材料として期待されています。近年、β-Ga2O3はSiまたはSnのドーピングでn型化することが報告されています。本資料では、β-Ga2O3にSiもしくはSnをドープしたモデルに対して構造最適化計算を実施し、各ドーパントが結晶中でどのサイトを占有しやすいかを評価しました。続いて、得られた構造モデルから状態密度を計算し、ドーピングによる電子状態の変化を調査しました。

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大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ

岩崎通信機株式会社

「大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ」は、超高電圧・大電流CS-3100の機能に下記HVとHCの機能を追加しました。 ○HVモード：10kV（+DCのみ） ○HCモード：8,000A（CS-10800）、4,000A（CS-10400）、　　　　　　　　パルス幅 / パルスインターバル /測定ポイント　可変可能測定項目は、最大ピーク電圧:10kV（高電圧モード）、最大ピーク電流:8000A（CS-10800大電流モード）です。その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

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【評価装置の提案例】OCV測定ユニット

株式会社エヌエスティー

当製品は、バッテリのOCV（開回路電圧，開放電圧）と IR（絶縁抵抗）を測定し、合否判定するユニットです。 ※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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シングルチップテスタ-　抵抗値測定

株式会社HiPA Photonics Japan

【製品特徴】多種な高精度のデジタル抵抗測定器にも対応 ■ 分離式プローブを利用して、様々な寸法の抵抗器に適応できる ■ 1mΩ-100MΩの測定範囲で異なるタイプの抵抗測定器を選択できる ■ お客様の要求に応じ、自社製の制御システムでコードスキャンとMESのカスタイマイズにも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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スプリングプローブ（Spring Probe)

株式会社AMT

清田製作所（Kiyota)から、パワー半導体測定用　Φ4.0　スプリングプローブ（Spring Probe)が新製品として開発・製造されました。　特長　電流：25A　最大：2.0ｍΩ

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レヤーショート試験機『IKD3031』

株式会社アイ・ケイ・ディー

当社で取り扱う、レヤーショート試験機『IKD3031』をご紹介いたします。各種トランス、チョークトランス、ソレノイド等、商用電源で使用する電機機器の層間耐電圧試験を行う目的で製作。負荷電流に対する判定機能に加え、MHz帯に延びたコロナ検出機能を備えていますので、格段に高い巻線試験の品質評価が可能です。【特長】 ■負荷短絡保護 ■120VAの高出力 ■コロナ検出機能(パーセント表示) ■タイマー機能装備 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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レーザーダイオードテスター『AT-143』

福興システム株式会社

『AT-143』は、レーザーダイオード(LD)の特性評価に必要な 5つの機能を有するレーザーダイオードテスターです。マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能。また、標準測定機構部(別売)に接続すればフィールドパターン測定ができます。さらに、標準測定ソフトウェア(別売)を使用すれば簡単に温度特性評価ができます。【特長】 ■マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能 ■標準測定ソフトウェアを使用すれば簡単に温度特性評価ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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LDエージング装置『LDS-9000 シリーズ』

ユアサエレクトロニクス株式会社

『LDS-9000 シリーズ』は、各種形状LDの評価を、高精度で連続的に処理する機能を持つエージング装置です。ホストコンピュータ、恒温槽、制御計測ターミナル、及び駆動用ドライバで構成されており、計測ターミナルには演算プロセッサを搭載し高速にデータを計測。計測はホストコンピュータから駆動、時間、温度、計測等の条件を槽単位及びDUTボード単位に設定可能です。【特長】 ■試験中にデバイスのI-L、V、Im特性曲線の計測が可能 ■光出力の自動較正機能により、光出力のOFFSET調整とGAIN調整は自動 ■光出力測定用PD及びLD駆動ドライバは、安定な動作及び高信頼性が保証 ■停電あるいは突然の電源ライン停止によるLDへの影響に対して、　スローダウン、スローアップ回路やプロテクト回路が働き、LDを完全に保護 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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DO-254 CTS

アルデック・ジャパン株式会社

DO-254/CTSはターゲットボードによってテストを補強し、検証カバレッジを高め、DO-254/ED-80の検証目標を達成できるようにカスタマイズされたハードウェアおよびソフトウェアプラットフォームです。ターゲットデザインはカスタムドーターカードのターゲットデバイス上で実速度で実行されます。シミュレーションテストベンチをテストベクタとして使い、FPGAピンレベルで100%コントロール・監視しながら要求ベース検証を行い、通常範囲と異常範囲でのテストを実行できます。FPGAテスト結果を実速度でキャプチャし、シミュレータの波形ビューアに表示して高度な解析や文書化などに進むことができます。

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TG45AX専用LVDS出力ユニット

株式会社シバソク

TG45AX002は、TG45AXテスト信号発生器専用のLVDS出力オプションです。高精細度および高色域化が進む表示パネル向けに、最大12ビットのLVDSを出力します。ドットクロック周波数により、1相モード（20〜135MHz）、2相モード（40〜270MHz）、4相モード（80〜400MHz）での切替え出力が可能で、またRGB各チャンネルの諧調を8、10、12ビットの切替えも可能です（ドットクロック周波数200MHz以上は8ビット階調）。 TG45AX本体のテスト信号はもちろん自然画信号を出力し、更に信号レベル可変・周波数可変・位相可変などの可変機能に連動して出力が可能です。

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定電流電源・検査装置

バロン電子株式会社

定電流電源・検査装置は、数10μAの超微電流定電流電流駆動によるLED静電破壊評価ができます。LED直列多灯点灯回路の駆動、各チャンネル毎に定電流値設定も可能です。微電流・定常電流（10～30mA）の切り替え動作ができます。表示器の有無や自動制御等ご要望によりカスタマイズ承ります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

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株式会社ハートエレクトロニクス　事業紹介

株式会社ハートエレクトロニクス

株式会社ハートエレクトロニクスは、ICテスタアプリケーションや特注システムの設計製作を行っております。特注システムでは、お客様のニーズに沿った適切なシステムをご提案。またICテスタの検査プログラム、検査ボードの設計製作、テスタに付加機能追加の為の設計製作や検査データの評価も行います。特性確認、回路調査から不具合原因の調査までサポートいたしますので、ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。【事業概要】 ■特注システムの設計製作 ■ICテスタアプリケーション ■製品評価、故障解析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

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DDR3 1867 DIMM解析プローブ

アンドールシステムサポート株式会社

ロジックアナライザ用　DDR3解析プローブ ■ 最速DDR3 1867 DIMMモジュールまで測定可能！！ ■ 全ての240ピン DDR3 SDRAM DIMM対応 ■ インターポーザのため、解析用のスロット不要 ■ 全ての信号を測定可能 ■ ロジックアナライザ専用ソフトウェア付属　・タイミング測定　・プロトコル測定　・コンプライアンス測定

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電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

課題

微細化・高集積化による測定困難性

デバイスの小型化・高密度化が進み、従来のプローブやテスタでは物理的に接触・測定が困難になるケースが増加しています。

多様化するデバイス特性への対応

アナログ、デジタル、RF、パワーデバイスなど、特性が多岐にわたり、それぞれに最適な評価手法やテスタの選定が複雑化しています。

高速化・高精度化要求への追随

デバイスの動作速度が向上し、より高い周波数帯域や微小な信号レベルでの正確な測定が求められるため、テスタの性能限界に達することがあります。

データ解析・管理の煩雑化

大量の検査データを効率的に収集、解析、管理し、傾向分析や不良原因特定に繋げることが、人的リソースやシステム面で課題となっています。

対策

非接触・遠隔測定技術の導入

光学式測定器や電磁波を利用した非接触測定技術を導入し、物理的な接触が難しいデバイスの特性評価を可能にします。

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

評価したいデバイス特性に合わせて測定モジュールを組み合わせたり、ソフトウェアで機能を拡張したりできる柔軟なテスタシステムを採用します。

高帯域・高分解能テスタへの更新

最新の高速信号処理技術や高精度ADC/DACを搭載したテスタに更新し、要求される測定精度と帯域幅に対応します。

自動化・AI活用によるデータ処理

検査プロセスの自動化や、AI/機械学習を用いたデータ解析ツールを導入し、迅速かつ的確なデータ処理と洞察を得られるようにします。

対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

広帯域幅と高サンプリングレートにより、高速信号の波形を正確に捉え、微細な電圧変動やタイミング誤差を検出できます。

多機能パラメータアナライザ

様々な電気的パラメータ（電圧、電流、抵抗、容量など）を一台で測定でき、多様なデバイス特性評価に対応可能です。

自動テストシステム構築ソフトウェア

GUIベースでテストシーケンスを容易に作成・編集でき、データ収集・解析・レポート作成までを自動化します。

非接触式プローブシステム

微小なデバイスや高密度実装基板上の信号を、物理的な接触なしに高精度で測定することを可能にします。

⭐今週のピックアップ

読み込み中

デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

各社の製品

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

課題

微細化・高集積化による測定困難性

多様化するデバイス特性への対応

高速化・高精度化要求への追随

データ解析・管理の煩雑化

対策

非接触・遠隔測定技術の導入

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

高帯域・高分解能テスタへの更新

自動化・AI活用によるデータ処理

対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

多機能パラメータアナライザ

自動テストシステム構築ソフトウェア

非接触式プローブシステム

デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

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各社の製品

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

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微細化・高集積化による測定困難性

多様化するデバイス特性への対応

高速化・高精度化要求への追随

データ解析・管理の煩雑化

​対策

非接触・遠隔測定技術の導入

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

高帯域・高分解能テスタへの更新

自動化・AI活用によるデータ処理

​対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

多機能パラメータアナライザ

自動テストシステム構築ソフトウェア

非接触式プローブシステム

課題

対策

対策に役立つ製品例