デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

データセンターでは、機器の信頼性と効率的な運用が不可欠です。システムレベルテスト（SLT）は、これらの要求に応えるために重要ですが、正確な測定が求められます。PCRソケットは、短距離接続と面接触により、実装状態に近い状態で特性を検証できます。これにより、実際の機器に近い状態で安定した測定が可能となり、効率的なシステム運用に貢献します。

【活用シーン】
・サーバー、ネットワーク機器の特性評価
・高密度実装基板のテスト

【導入の効果】
・精度の高い測定による信頼性向上
・効率的なシステム運用

本製品は、スマートフォンやタブレット端末に使われている
有機ELやLTPS型液晶セルの点灯検査用信号発生器です。
検査レシピをプログラミングできるので、多様な検査に対応できます。

同パターンの信号を2CH同時出力。
各出力信号は駆動特性を有しており、レシピは駆動パラメータの入力のみ
の簡単設定が可能です。

【特長】
■良好な操作性
■良好なメンテナンス性
■高度な拡張性

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

本製品は、超高解像度8K4K/60Hzに対応した、V-by-One(R) HS 32laneの
インターフェースを持つ、簡易型の信号発生基板です。

お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成や
タイミング設定が自由自在。

また、4K2K/120Hzのモジュールにも対応いたします。

【標準仕様】
■DC12V単一電源駆動
■データの書き換えはPCからのUSB接続で実施
■PCを用いた外部制御に対応
■オプションでスイッチ操作部を延長するRemote Boxに対応

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『EL-KFシリーズ』は、評価用テスト基板への取付けが簡単な同軸エンドランチコネクタです。

独自のロッドクランプ機構により、機械的に挟み込むだけでテスト基板を固定。
はんだ付けやネジ止め不要で、取り付け時間を短縮できます。

2.92mmタイプで最大40GHzの周波数に対応しており、
多くのアプリケーションに対応可能です。

※『EL-KFシリーズ』の詳細は英語版のPDF資料をご覧ください。
　お問い合わせもお気軽にどうぞ。

半導体テスター向けのカスタム基板　各種対応実績ございます。

半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、
交換を可能とするPLCCソケット

【特徴】
○各種のスルーホールやSMD PLCCソケットをご用意
○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能
○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等ご用意
○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、
　 ターミナル等もラインアップ

●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。
　 日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

Blu-ray/DVD/CD　光ピックアップの性能検査装置のご紹介です。

【搭載機能】
・Blu-ray/DVD/CDのマルチに対応（最大60ピン）
・レーザーダイオード発光機能
・I-Lカーブ測定機能
・オープン、ショートチェック機能
・測定結果ロギング機能
・機能拡張用マルチポート

※詳細はお問合せ、又はカタログをダウンロード下さい。

「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。
水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。
汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。

【特徴】
○水銀レス
○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測
○高信頼性実現
○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続
○軽量・コンパクト

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

ディ・アイジャパン株式会社が取り扱う『Burn-In Board』をご紹介します。

精巧なドッキング及び高い信頼性を保証できる「HI-FIX BOARD」や、
ウェハテスト時にテスターのステーションとプローブカードを接続して
信号と電源等を中継する必須パーツ「Wafer Mother Board」などを
ラインアップしています。

【ラインアップ】
■MEMORY用 BIB
■LOGIC用 BIB
■Wafer Mother Board
■HI-FIX BOARD

※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

「大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ」は、
超高電圧・大電流CS-3100の機能に下記HVとHCの機能を追加しました。
○HVモード：10kV（+DCのみ）
○HCモード：8,000A（CS-10800）、4,000A（CS-10400）、
　　　　　　　　パルス幅 / パルスインターバル /測定ポイント　可変可能
測定項目は、最大ピーク電圧:10kV（高電圧モード）、
最大ピーク電流:8000A（CS-10800大電流モード）です。
その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

Eureka DDR3 1866 DIMM/SODIMMテスターは、モジュールメーカー及びモジュールディストリビュータ向けにデザインされたメモリーモジュールのファンクションテスターで、様々なDDR3 RDIMM, UDIMM, SODIMM, Mini-DIMM, VLP-RDIMM, LRDIMM等のテストが可能です。

PFDAはシンクランド製Two-Tone光源とRohde＆Schwarz製ベクトルネットワークアナライザを組み合わせたオリジナリティ溢れるシステムとして開発されました。

セル電圧発生装置は1台で16chの絶縁された電圧を発生します。
セル電圧発生装置を最大6台直列に接続することで、96chの絶縁された電圧を発生することが出来ます。
各chの最大電圧は5Vで、各セル毎に電圧を設定することが可能です。
リチウムイオンバッテリーのセルコントローラ基板の評価・検査にご使用いただけます。
また、セル電圧発生装置を使用して、セルコントローラ基板の自動試験装置の製作も承っております。

『NDM0101』は、各温度測定ユニットプール部にセットされたデバイスを
個別にピックアップし、測定部において電気特性検査を行い、測定結果に
応じて次工程の測定ユニットにデバイスを供給する半自動検査装置です。

トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能に。検査に
必要な温度ユニットのみを搭載するなど必要最低限の装置構築ができます。

【特長】
■トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能
■必要最低限の装置構築ができる
■本機のみで温度精製を行う
■省スペース化を実現

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社では、デバイスに好適なプローブを採用した『ICソケット』を
製作しています。

量産目的のハンドラー用ソケットから開発、評価目的のものまで、
幅広く対応可能。

さらに、お客さまの特殊な要求(高温、高周波、大電流)に応じた、
オンリーワンの製品にも対応いたします。

【特長】
■プローブピン、ピンブロック、フタ等をカスタムメイド
■高周波対応設計可能
■初期評価、ハンドラー等の仕様に幅広く対応
■0.15mmピッチまで対応可能
■デバイス種類はBGA、QFP、CSP、QFN等多種対応

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当資料は、測定レンジについて掲載しております。

コンデンサー容量測定での実用測定範囲が4.0pF～33.0pFや
33.0pF～330.0pFをご紹介。

モードごとに表示されており、参考にしやすい一冊となっております。
是非、ご一読ください。

【掲載内容(抜粋)】
■抵抗値測定
■コンデンサー容量測定
■コイルインダクタンス測定

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

サイリスタ、トライアック、MOSFET、IGBTなどのパワー半導体のテスト用ソケットです。

お客様の測定情況に合わせたコンタクトプローブを設計・製造します。電気製品の進化に伴い、電子部品の測定に求められる内容も厳しくなっています。大電流通電用、高温・低温域での使用、特残素材の測定等、様々な使用情況でお使い頂けるプローブを選定・設計します。

詳しくはHPからお問い合わせください。
http://www.sankei-engineering.com/

テレダイン・レクロイのQualiPHY-DDR2、DDR2試験パッケージは、最高のDDR2メモリ・インタフェース試験ツールです。400MHz、533MHz、667MHz、800MHz、1066MHzと任意の速度に対応しています。QualiPHY-DDR2は、クロック（JEDECの仕様とインテルの仕様：JEDEC仕様の付録によって規定される電気およびタイミング・テスト）に完全に準拠したテストを行うことができます。テレダイン・レクロイのQualiPHYフレームワークは、シンプルなユーザ・インタフェースを持つので操作が簡単で、かつのカスタマイズや判定条件の変更に柔軟性に対応できます。また、グラフィカルな結線図を示すことにより確実な装置の接続を支持し、各項目でワーストケースの不良測定結果の画面を含む全ての計測結果をレポートにまとめることができます。そのうえ、QualiPHY-DDR2によってされる全ての波形データは、後から再試験ができるように保存することができます。
詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011Aは電解コンデンサの漏れ電流を高い精度と安定度で、しかも高速に測定します。デジタルコンパレータを内蔵し、良否の選別を行ったうえで判定結果を出力。プリンター出力を標準装備していますので測定ごとにすべての判定データを印字することができます。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。
2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。

TG45AX002は、TG45AXテスト信号発生器専用のLVDS出力オプションです。高精細度および高色域化が進む表示パネル向けに、最大12ビットのLVDSを出力します。
ドットクロック周波数により、1相モード（20〜135MHz）、2相モード（40〜270MHz）、4相モード（80〜400MHz）での切替え出力が可能で、またRGB各チャンネルの諧調を8、10、12ビットの切替えも可能です（ドットクロック周波数200MHz以上は8ビット階調）。
TG45AX本体のテスト信号はもちろん自然画信号を出力し、更に信号レベル可変・周波数可変・位相可変などの可変機能に連動して出力が可能です。

『iM1283』は、コストを抑えてスピーディーに導入できる
eDP(embedded Display Port/5.4G)出力の簡易信号発生装置です。

編集ソフトを同梱しており、お客様が実施する試験環境に合わせて、
パターン作成やタイミング設定が自由自在です。

また、簡単な操作とコンパクトデザインは、省スペースで
すぐにご利用できます。

【製品仕様(一部抜粋)】
■8bit 出力(4lane Display Port 5.4Gbps相当)
■eDP設定(RGB, 1.62Gbps, 2.7Gbps, 5.4Gbps, 2.16Gbps, 2.43Gbps, 3.24Gbps, 4.32Gbps)
■補助電源出力機能(DC12V)
■パターン/タイミングの編集に対応
■DisplayPortのAUX通信プログラム可能

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社では『定電流方式 LEDエージング装置/バーンイン装置』を取扱って
おります。

当社オリジナルのドライブ基板を選択し、御希望に合わせたシステム装置の
提案・製作を行っています。

ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の設定が
可能。1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能です。

【特長】
■ドライブ基板は1ch毎に電流設定ができ、1ボード毎に通電時間の
　設定が可能
■1装置内で同時に複数条件での評価試験等を行う事が可能
■タッチパネルを使用し、画面上から容易に設定やデータ閲覧が可能
■御希望に合わせたシステム装置の提案・製作が可能
■機能追加のカスタマイズ対応も可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『ME-8』は、0～25Vのオルタネータ発生電圧や、5～20Vの
レギュレータ調整電圧の測定が可能なICレギュレータテスタです。

サイズは221×142×46ｍｍ、重量は約0.5Kgとコンパクトです。

【特長】
■大型メータで読み取り易い
■単体及び装着状態での測定が可能
■適正ゾーンの表示で良否判定が簡単
■乾電池式で軽量コンパクトボディ
■吊り下げフック付で作業性向上

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

定電流電源・検査装置は、数10μAの超微電流定電流電流駆動によるLED静電破壊評価ができます。LED直列多灯点灯回路の駆動、各チャンネル毎に定電流値設定も可能です。微電流・定常電流（10～30mA）の切り替え動作ができます。表示器の有無や自動制御等ご要望によりカスタマイズ承ります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を
実現したDCテスタです。

長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における
複数チップ同時測定を実現。

当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理
することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。

【特長】
■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの
　向上
■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現
■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現
■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現
　（Max 2kV/20A）
■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能
■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値）
　以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

「半導体カーブトレーサ　CS-5000シリーズ」は、IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど
各種半導体の特性測定に最適です。
V-Iカーブ観測及び、電圧、電流の印加波形も観測することができます。
測定項目は、最大ピーク電圧:5000V（高電圧モード）、
最大ピーク電流:1500A（CS-5400大電流モード）です。
その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

当製品は、バッテリのOCV（開回路電圧，開放電圧）と
IR（絶縁抵抗）を測定し、合否判定するユニットです。

※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。

当社では、半導体テスターを取り扱っております。

半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、
負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。

製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。
ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■半導体後工程でのAC特性検査用テスター
■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ
■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『W-CSP』は、ウエハよりチップをダイシング後、同軸型4端子コンタク
トプローブ(PATENT)を利用して手動測定が可能な検査用ソケットです。

チップの開発や抜取り検査・不良解析などに使用可能。
ソケットの蓋は、着脱可能で、自動機(ハンドラ式)検査にも使用できます。

【特長】
■BGA、LGA、ベアチップなどの動作確認検査が可能
■MOS-FETのオン抵抗値測定が可能
■端子間の電圧測定が可能

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当製品は、実装基板上のICの温度試験ができるペルチェ温調ヘッドです。

－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能。
Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用しています。

ラボでの手軽な卓上実験用にはハンディー型の『iT520』、
工場での評価用にはソケット装着型の『iT525』がお勧めです。

【特長】
■－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能
■－40℃から＋125℃まで、わずか数分で昇温(Rtから－40℃までの降温も数分)
■Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用
■±0.1℃の精度で温度制御可能
■接触アタッチメントの凸部の形状及び寸法は、お客様の仕様にあわせ変更可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

電子部品 「テストソケット」は、お客さまのご要望に応じ、カスタム製作が可能です。
小ロット生産にも対応します。

【特徴】
○標準フレームサイズ　□20mm～□66mm
○方端・両端可動プローブは標準タイプの在庫を豊富に取り揃えている

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

『SV100』は、Ultra book/Tablet/TV向けLCDモジュールに対応した、
V-By-One(R) HS 16laneインターフェースを持つパターン編集ソフトを
同梱したV-By-One(R) HS信号発生装置(16Lane出力)です。

お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が
自由自在に行えます。

【特長】
■ネットワーク対応
■パターン／タイミング編集に対応

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

旧LPBKボード(Rev.01)は2021年に製造、販売を終了しました。
新製品 Rev.03 は2023年7月31日から販売開始です。

『MEMSジャイロセンサ用ソケット』は、オートモーティブ向け、ビデオRVC、
AGV向けジャイロセンサの評価用ソケットです。

高精度で小型なジャイロセンサは素子の素材と構造の違いにより、角速度の
精度に大きく影響するため、ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現。

試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意しており、
数量1個から製作可能です。

【特長】
■ジャイロセンサの評価用ソケット
■高精度で小型
■ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現
■試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意
■数量1個から製作可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『MRT-4010型』は、複数リレーを同時に検査できる生産ライン用の
試験システム。

同時に5個のリレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示、
不良をアラーム。10秒以下で全項目測定を完了します。

リレー性能の正確なデータが得られるほか、受入検査に導入すれば、
入荷リレーの良否を自動的に判断し、トラブルを事前に防ぎます。

【使用効果】
■正確なデータ管理
■受入検査に活躍
■エージング効果
■スクリーニングテストが可能
■メンテナンス効果を評価
■故障診断器として利用
■データの自動記録

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

フェムト〜ピコアンペアオーダーの電流を測定

■測定範囲は-250pA〜+250pA　ノイズレベルは5fAp-p

■最大8点の電流を同時測定

■専用パソコンによりデータ収集

※詳細はカタログをご覧下さい。

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスの
ファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・

独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・
高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。

また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部
ユニットも準備しております。

【特長】
■多数個同時測定（～96DUT）
■高精度温度制御（±1℃以内）
■60OFでの測定が可能
■UPH20,000個以上を実現
■磁気テスト（オプション）が可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SP3000はDDR等DIMM及びBGA等メモリーチップのテストが可能な高性能メモリーテスターで、テストアダプター交換により様々なメモリーをリアルバススピード、リアルサイクルタイムでテストすることができます。
SP3000は豊富なアダプターオプションによりDRAM, SDRAM, SGRAM, DDR SDRAM等様々なメモリーテストが可能な他、DDR3, DDR4等、将来に渡り陳腐化することなくご使用頂ける柔軟性に富むアーキテクチャー、RoboFlexハンドラーによるボリュームテスティングにも対応可能など、その優れたデザインと信頼性の高さにより多数のメモリーモジュール製造メーカー、ディストリビューター、ディーラー及びサービス部門に於いてご使用頂いております。

『205A』は、自動オフセット補正（ZERO SET）機能が搭載された
短波長光リンクの光パワーメータです。

オプションの光源ユニットを内蔵して、ロステストセットとしても
使用可能です。

【特長】
■相対値測定（REL）機能
■アナログ出力、オート/マニュアルレンジ、データホールド機能
■スミリンク、トスリンクなど各種短波長光リンクに対応
■自動オフセット補正（ZERO SET）機能
■光源ユニット（別売）を内蔵してロステストセットとして使用可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社が行っている『コントロールIC事業』についてご紹介します。

小型軽量化、高機能化、集積化で部品点数が削減した事によるコストダウンに貢献いたします。
設計受託ではなく、設計・製造・テスト・品質保証と最終製品まで対応することが可能です。

また、レーザートリミングや自社メモリを内蔵することにより、1チップで製品のバリエーションを増やすことができます。
ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■水晶発振器のコントロールIC分野でW.Wの高いシェアを獲得
■長年にわたり数100品種の開発実績あり

【こんな点にお悩みの方必見】
■汎用部品だと小型化できない。
■既存のICだと所望の機能を満たせない
■現在使用のICがEOLで継続使用ができない。

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社はプローブシステムに用いる様々なRFポジショナーを揃えております。

一例：SP-67A
柔軟なチップを備え、低損失の同軸技術を用いて1.1db未満の挿入損失と、67GHzで14dbを超えるリターンロスを実現。
プロービング表面への確実な接触を保証する独立したバネ式チップを有しており、チップには柔軟性があるため、回路損傷を最小限に抑え、プローブ寿命を延ばします。

また、標準のマイクロ波プローブステーションで用いるべく様々な
アダプタに取り付けることが可能。搭載はカスタマイズできます。

【特長】
■耐久性のあるRFプローブ
■独立したバネ式コンタクト
■豊富なフットプリント
■同軸設計
■13種のアダプタ様式で利用可能　など

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

長波長レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。

＜特長＞
■ 供給から測定・分類などを全自動搬送できます
■ 最大13台のカメラにより運転状況の把握が容易です
■ +２０℃～-１００℃まで任意の温度で測定可能です
■FRONT光、BACK光のIL測定を同時に行います。

詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

本品はカスタマ仕様による開発品でございます。ご用命の際ご相談にて承ります。

QFP,BGA,CSP,LED,CLYSTAL用など、あらゆる半導体およびそれに類する素子の検査、実験等に使えるソケットを、 設計、製造販売しております。

【特徴】
○ピン数はデバイスに合わせて製作可能です
○寿命(ライフテスト）10,000回～1,000,000回
○耐熱-60℃より150℃（125℃連続使用可）

●詳しくはお問い合せ、またはカタログをご覧ください。

『TH281』は、SOP、SSOP、TSSOPなどのデバイスに対応した
常温/高温測定用の小型テストハンドラーです。

大型テストヘッドドッキング可能な構造で、標準ソケット、
高周波用ソケット、フラットコンタクト等各種ソケットに対応可能。

また、各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成しました。

【特長】
■高スループット・低ジャム率・省スペース
■大量生産に適した大容量のローダー、アンローダー
■大型テストヘッドドッキング可能な構造
■各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成
■各種ソケットに対応可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

'-40～90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います

Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。