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デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

電気的検査・テスタのデバイス特性の評価とは、電子部品や電子機器が設計通りの電気的な性能を発揮しているかを確認するプロセスです。これにより、製品の品質保証、信頼性向上、および設計の妥当性検証を行います。

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【データセンター向け】SLTソケット

株式会社JMT

データセンターでは、機器の信頼性と効率的な運用が不可欠です。システムレベルテスト（SLT）は、これらの要求に応えるために重要ですが、正確な測定が求められます。PCRソケットは、短距離接続と面接触により、実装状態に近い状態で特性を検証できます。これにより、実際の機器に近い状態で安定した測定が可能となり、効率的なシステム運用に貢献します。【活用シーン】・サーバー、ネットワーク機器の特性評価・高密度実装基板のテスト【導入の効果】・精度の高い測定による信頼性向上・効率的なシステム運用

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DDR2コンプライアンス・テスト・オプションQPHY-DDR2

テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社

テレダイン・レクロイのQualiPHY-DDR2、DDR2試験パッケージは、最高のDDR2メモリ・インタフェース試験ツールです。400MHz、533MHz、667MHz、800MHz、1066MHzと任意の速度に対応しています。QualiPHY-DDR2は、クロック（JEDECの仕様とインテルの仕様：JEDEC仕様の付録によって規定される電気およびタイミング・テスト）に完全に準拠したテストを行うことができます。テレダイン・レクロイのQualiPHYフレームワークは、シンプルなユーザ・インタフェースを持つので操作が簡単で、かつのカスタマイズや判定条件の変更に柔軟性に対応できます。また、グラフィカルな結線図を示すことにより確実な装置の接続を支持し、各項目でワーストケースの不良測定結果の画面を含む全ての計測結果をレポートにまとめることができます。そのうえ、QualiPHY-DDR2によってされる全ての波形データは、後から再試験ができるように保存することができます。詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

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Eureka DDR4 2933, DIMMテスター

有限会社シーピーアイ

Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。

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TG45AX専用LVDS出力ユニット

株式会社シバソク

TG45AX002は、TG45AXテスト信号発生器専用のLVDS出力オプションです。高精細度および高色域化が進む表示パネル向けに、最大12ビットのLVDSを出力します。ドットクロック周波数により、1相モード（20〜135MHz）、2相モード（40〜270MHz）、4相モード（80〜400MHz）での切替え出力が可能で、またRGB各チャンネルの諧調を8、10、12ビットの切替えも可能です（ドットクロック周波数200MHz以上は8ビット階調）。 TG45AX本体のテスト信号はもちろん自然画信号を出力し、更に信号レベル可変・周波数可変・位相可変などの可変機能に連動して出力が可能です。

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オプティマイズドDCテストシステム

株式会社シバソク

シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。 2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。

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検査用ソケット『W-CSP』

東洋電子技研株式会社

『W-CSP』は、ウエハよりチップをダイシング後、同軸型4端子コンタクトプローブ(PATENT)を利用して手動測定が可能な検査用ソケットです。チップの開発や抜取り検査・不良解析などに使用可能。ソケットの蓋は、着脱可能で、自動機(ハンドラ式)検査にも使用できます。【特長】 ■BGA、LGA、ベアチップなどの動作確認検査が可能 ■MOS-FETのオン抵抗値測定が可能 ■端子間の電圧測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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セル電圧発生装置

株式会社東海テクノ

セル電圧発生装置は1台で16chの絶縁された電圧を発生します。セル電圧発生装置を最大6台直列に接続することで、96chの絶縁された電圧を発生することが出来ます。各chの最大電圧は5Vで、各セル毎に電圧を設定することが可能です。リチウムイオンバッテリーのセルコントローラ基板の評価・検査にご使用いただけます。また、セル電圧発生装置を使用して、セルコントローラ基板の自動試験装置の製作も承っております。

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テスト基板評価用同軸エンドランチコネクタ『EL-KFシリーズ』

ホンリャン・ジャパン株式会社

『EL-KFシリーズ』は、評価用テスト基板への取付けが簡単な同軸エンドランチコネクタです。独自のロッドクランプ機構により、機械的に挟み込むだけでテスト基板を固定。はんだ付けやネジ止め不要で、取り付け時間を短縮できます。 2.92mmタイプで最大40GHzの周波数に対応しており、多くのアプリケーションに対応可能です。 ※『EL-KFシリーズ』の詳細は英語版のPDF資料をご覧ください。　お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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ダブル・トリプルハイトエクステンダーボード

株式会社エスアールシー

＜仕様＞ ◆基板材質：エポキシガラス(FR-4、1.6t、4層板) ◆コネクター：DIN41612規格品 ◆信号接断：ショートプラグの挿脱による ◆J1結線仕様：VME-J1バス／パラレル ◆J2結線仕様：32bit拡張／I/Oチャンネル／パラレル ◆J3結線仕様：パラレル ◆基板長：350mm（ガイドレール除く）423.0mm（ガイドレール含む）／ 530mm（ガイドレール除く）603.0mm（ガイドレール含む）（構成についてはお問い合わせ下さい） ※トリプルハイトは受注生産品＜特長＞ ◆全ての信号はGND パターンが配置されていますので、信号間のクロストークは最小限に押さえられています。 ◆パラレル結線されているタイプのものは、電源ピンの接続は任意にできますので、各種バスに対応できます。 ◆+5V およびGND は全面パターンとして内層に設けられており、電源の安定が図られています。 ◆信号ラインのターミネーションを行う場合は、ターミネータ用プラグに挿着すればターミネーションできます。

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HDD/SSD Tester D010

株式会社ダイチューテクノロジーズ

弊社は１０数年来、ハードディスクドライブの製造向け試験装置の開発、製造を行ってきました。この経験を生かし、多様なインターフェースのHDD/SSD の評価試験のできるオリジナル試験装置(HDD/SSD Tester)を開発致しました。

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納期たったの2週間！カスタム対応可の『ＩＣソケット』

株式会社笠作エレクトロニクス

QFP,BGA,CSP,LED,CLYSTAL用など、あらゆる半導体およびそれに類する素子の検査、実験等に使えるソケットを、設計、製造販売しております。【特徴】 ○ピン数はデバイスに合わせて製作可能です ○寿命(ライフテスト）10,000回～1,000,000回 ○耐熱-60℃より150℃（125℃連続使用可） ●詳しくはお問い合せ、またはカタログをご覧ください。

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小型テストハンドラー『TH281』

綜和機電株式会社

『TH281』は、SOP、SSOP、TSSOPなどのデバイスに対応した常温/高温測定用の小型テストハンドラーです。大型テストヘッドドッキング可能な構造で、標準ソケット、高周波用ソケット、フラットコンタクト等各種ソケットに対応可能。また、各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成しました。【特長】 ■高スループット・低ジャム率・省スペース ■大量生産に適した大容量のローダー、アンローダー ■大型テストヘッドドッキング可能な構造 ■各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成 ■各種ソケットに対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011A

アール・エス・ティ・エンジニアリング株式会社

計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011Aは電解コンデンサの漏れ電流を高い精度と安定度で、しかも高速に測定します。デジタルコンパレータを内蔵し、良否の選別を行ったうえで判定結果を出力。プリンター出力を標準装備していますので測定ごとにすべての判定データを印字することができます。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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コンタクトプローブのカスタムオーダー

株式会社サンケイエンジニアリング

お客様の測定情況に合わせたコンタクトプローブを設計・製造します。電気製品の進化に伴い、電子部品の測定に求められる内容も厳しくなっています。大電流通電用、高温・低温域での使用、特残素材の測定等、様々な使用情況でお使い頂けるプローブを選定・設計します。詳しくはHPからお問い合わせください。 http://www.sankei-engineering.com/

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半導体テスタ「オートマティックDCテスター ATS-3201」

株式会社イーアールディー

「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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スプリングプローブ（Spring Probe)

株式会社AMT

清田製作所（Kiyota)から、パワー半導体測定用　Φ4.0　スプリングプローブ（Spring Probe)が新製品として開発・製造されました。　特長　電流：25A　最大：2.0ｍΩ

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機器組込用　微少電流計測ユニット

バンデバイス株式会社

フェムト〜ピコアンペアオーダーの電流を測定 ■測定範囲は-250pA〜+250pA　ノイズレベルは5fAp-p ■最大8点の電流を同時測定 ■専用パソコンによりデータ収集 ※詳細はカタログをご覧下さい。

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LD・ICピックアップ検査装置　LDマルチテスター　LDMT-2100

株式会社システム計測

Blu-ray/DVD/CD　光ピックアップの性能検査装置のご紹介です。【搭載機能】・Blu-ray/DVD/CDのマルチに対応（最大60ピン）・レーザーダイオード発光機能・I-Lカーブ測定機能・オープン、ショートチェック機能・測定結果ロギング機能・機能拡張用マルチポート ※詳細はお問合せ、又はカタログをダウンロード下さい。

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【生産ライン用】HIROSEの高速度リレー自動検査装置

株式会社廣瀬技術研究所

『MRT-4010型』は、複数リレーを同時に検査できる生産ライン用の試験システム。同時に5個のリレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示、不良をアラーム。10秒以下で全項目測定を完了します。リレー性能の正確なデータが得られるほか、受入検査に導入すれば、入荷リレーの良否を自動的に判断し、トラブルを事前に防ぎます。【使用効果】 ■正確なデータ管理 ■受入検査に活躍 ■エージング効果 ■スクリーニングテストが可能 ■メンテナンス効果を評価 ■故障診断器として利用 ■データの自動記録 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【評価装置の提案例】OCV測定ユニット

株式会社エヌエスティー

当製品は、バッテリのOCV（開回路電圧，開放電圧）と IR（絶縁抵抗）を測定し、合否判定するユニットです。 ※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ANDON Electronics社製　BGAソケット/アダプター

光貿易株式会社

半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換を可能とするBGAソケット/アダプター【特徴】 ○BGAデバイスをPCBに実装する為のソケット ○各種BGAデバイス用のソケットとアダプターをご用意 ○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能 ○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等をご用意 ○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、　ターミナル等もラインアップ ●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。　日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

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半導体カーブトレーサ CS-3000シリーズ

岩崎通信機株式会社

最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。

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光パワーメータ『205A』

グレイテクノス株式会社

『205A』は、自動オフセット補正（ZERO SET）機能が搭載された短波長光リンクの光パワーメータです。オプションの光源ユニットを内蔵して、ロステストセットとしても使用可能です。【特長】 ■相対値測定（REL）機能 ■アナログ出力、オート/マニュアルレンジ、データホールド機能 ■スミリンク、トスリンクなど各種短波長光リンクに対応 ■自動オフセット補正（ZERO SET）機能 ■光源ユニット（別売）を内蔵してロステストセットとして使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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eDP簡易信号発生装置『iM1283』

アイ・エス・エックス株式会社

『iM1283』は、コストを抑えてスピーディーに導入できる eDP(embedded Display Port/5.4G)出力の簡易信号発生装置です。編集ソフトを同梱しており、お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が自由自在です。また、簡単な操作とコンパクトデザインは、省スペースですぐにご利用できます。【製品仕様(一部抜粋)】 ■8bit 出力(4lane Display Port 5.4Gbps相当) ■eDP設定(RGB, 1.62Gbps, 2.7Gbps, 5.4Gbps, 2.16Gbps, 2.43Gbps, 3.24Gbps, 4.32Gbps) ■補助電源出力機能(DC12V) ■パターン/タイミングの編集に対応 ■DisplayPortのAUX通信プログラム可能 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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半導体集積回路(IC)の受託開発製造　※センサIC等受託積極受付

インターチップ株式会社

当社が行っている『コントロールIC事業』についてご紹介します。小型軽量化、高機能化、集積化で部品点数が削減した事によるコストダウンに貢献いたします。設計受託ではなく、設計・製造・テスト・品質保証と最終製品まで対応することが可能です。また、レーザートリミングや自社メモリを内蔵することにより、1チップで製品のバリエーションを増やすことができます。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■水晶発振器のコントロールIC分野でW.Wの高いシェアを獲得 ■長年にわたり数100品種の開発実績あり【こんな点にお悩みの方必見】 ■汎用部品だと小型化できない。 ■既存のICだと所望の機能を満たせない ■現在使用のICがEOLで継続使用ができない。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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有機EL/LTPS型液晶セル用信号発生器『OGI-007MK2』

オオクマ・ソリューション関西株式会社

本製品は、スマートフォンやタブレット端末に使われている有機ELやLTPS型液晶セルの点灯検査用信号発生器です。検査レシピをプログラミングできるので、多様な検査に対応できます。同パターンの信号を2CH同時出力。各出力信号は駆動特性を有しており、レシピは駆動パラメータの入力のみの簡単設定が可能です。【特長】 ■良好な操作性 ■良好なメンテナンス性 ■高度な拡張性 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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インターフェースユニット『EP-100』

アイフォーコム京栄株式会社

『EP-100』は、I.S.P-310に接続する事で、さらに多種のデバイスに書き込むことが可能になるインターフェースユニットです。フラッシュプログラマ I.S.P-310にてプログラミングを行う時、電圧供給が必要なデバイスに対し、必要な電圧を供給する機能を持ちます。 ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応。ご要望により特殊対応可能な品種もあります。【特長】 ■I.S.P-310に接続する事で、さらに多種のデバイスに書き込むことが可能 ■I.S.P-310にてプログラミングを行う時、必要な電圧を供給する機能を持つ ■ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応 ■78K0ファミリ、78K0Rファミリにも対応 ■ご要望により特殊対応可能な品種もあり ※ダウンロード資料は取り扱い説明書となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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OTP不揮発メモリIPコア『PermSRAM』

株式会社NSCore

『PermSRAM』は、標準ロジックプロセスで製造可能な OTP不揮発メモリIPコアです。 0.18um世代から先端の28nm世代とその先まで、幅広いプロセスに対して 1回のみ書込が可能な不揮発メモリを提供。 64bラッチタイプから1MByteのコード格納用メモリまで、様々な不揮発メモリコア用途に合わせたカスタマイズが可能です。【特長】 ■世界最小クラス面積 ■リバース・エンジニア耐性 ■低電圧書込 ■テスト回路搭載 ■車載グレード（150℃保証可） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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レーザーダイオードテスター『AT-143』

福興システム株式会社

『AT-143』は、レーザーダイオード(LD)の特性評価に必要な 5つの機能を有するレーザーダイオードテスターです。マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能。また、標準測定機構部(別売)に接続すればフィールドパターン測定ができます。さらに、標準測定ソフトウェア(別売)を使用すれば簡単に温度特性評価ができます。【特長】 ■マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能 ■標準測定ソフトウェアを使用すれば簡単に温度特性評価ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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センサテスタ

株式会社サイアン

「簡単なセンサテスタが欲しい」というお客様の声から生まれたオリジナル製品です。電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェックでき、12V/5V電源電圧表示、2chを同時表示などが可能です。AC、乾電池、バッテリで駆動し、角度変換表示機能付きで、バックライトも付いています。大手自動車メーカー様テスト用、他に採用実績があります。ボディカラーは、ご希望に応じます。【特徴】 ○電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェック ○12V/5V電源電圧表示 ○2chを同時表示 ○DC9～18V（車載バッテリーに対応） ○AC、乾電池、バッテリで駆動 ○角度変換表示機能付き ○バックライト付き ○サイズ：約156×100×h50mm（コネクタの突起を除く） ○ボディカラー：ご希望に応じます ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

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ICソケット

株式会社モリモト

当社では、デバイスに好適なプローブを採用した『ICソケット』を製作しています。量産目的のハンドラー用ソケットから開発、評価目的のものまで、幅広く対応可能。さらに、お客さまの特殊な要求(高温、高周波、大電流)に応じた、オンリーワンの製品にも対応いたします。【特長】 ■プローブピン、ピンブロック、フタ等をカスタムメイド ■高周波対応設計可能 ■初期評価、ハンドラー等の仕様に幅広く対応 ■0.15mmピッチまで対応可能 ■デバイス種類はBGA、QFP、CSP、QFN等多種対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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DDR3 1867 DIMM解析プローブ

アンドールシステムサポート株式会社

ロジックアナライザ用　DDR3解析プローブ ■ 最速DDR3 1867 DIMMモジュールまで測定可能！！ ■ 全ての240ピン DDR3 SDRAM DIMM対応 ■ インターポーザのため、解析用のスロット不要 ■ 全ての信号を測定可能 ■ ロジックアナライザ専用ソフトウェア付属　・タイミング測定　・プロトコル測定　・コンプライアンス測定

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テスター基板(パフォーマンス/プローブ/半導体評価)

株式会社アーセルデザイン

半導体テスター向けのカスタム基板　各種対応実績ございます。

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DCテスタ『471-TT』

株式会社テセック

『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現したDCテスタです。長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における複数チップ同時測定を実現。当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。【特長】 ■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの　向上 ■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現 ■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現 ■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現　（Max 2kV/20A） ■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能 ■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値）　以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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MEMSジャイロセンサ用ソケット

エム・アイ・エステクノロジー株式会社

『MEMSジャイロセンサ用ソケット』は、オートモーティブ向け、ビデオRVC、 AGV向けジャイロセンサの評価用ソケットです。高精度で小型なジャイロセンサは素子の素材と構造の違いにより、角速度の精度に大きく影響するため、ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現。試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意しており、数量1個から製作可能です。【特長】 ■ジャイロセンサの評価用ソケット ■高精度で小型 ■ソケット挿入時の姿勢角度±0.1°を実現 ■試作から量産まで用途に合わせて成形、切削をご用意 ■数量1個から製作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ICレギュレータテスタ『ME-8』

株式会社城西システム

『ME-8』は、0～25Vのオルタネータ発生電圧や、5～20Vのレギュレータ調整電圧の測定が可能なICレギュレータテスタです。サイズは221×142×46ｍｍ、重量は約0.5Kgとコンパクトです。【特長】 ■大型メータで読み取り易い ■単体及び装着状態での測定が可能 ■適正ゾーンの表示で良否判定が簡単 ■乾電池式で軽量コンパクトボディ ■吊り下げフック付で作業性向上 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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8インチウェハセミオートシステム

ベクターセミコン株式会社

当製品は、様々な測定ニーズに対応するセミオートプローバーです。「TS2000-SE」は、高性能、超低ノイズ、高精度でありながらテストコスト削減のもとに設計されました。微小電流測定、高い信頼性のDC/IV測定、1/f測定、RF測定、パワーデバイス測定など、すべてにおいて最高クラスのパフォーマンスを発揮します。【特長】＜TS2000-SE＞ ■最大8インチウェハに対応 ■EMI対策、RFI対策、遮光に優れた設計 ■ウェハのロード・アンロードを自動で行う ■最大-60℃～300℃の温調が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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テストソケット GUシリーズ

日本コネクト工業株式会社

電子部品「テストソケット」は、お客さまのご要望に応じ、カスタム製作が可能です。小ロット生産にも対応します。【特徴】 ○標準フレームサイズ　□20mm～□66mm ○方端・両端可動プローブは標準タイプの在庫を豊富に取り揃えている詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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MEMSテストハンドラ『ULTRA P』

株式会社テセック

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスのファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部ユニットも準備しております。【特長】 ■多数個同時測定（～96DUT） ■高精度温度制御（±1℃以内） ■60OFでの測定が可能 ■UPH20,000個以上を実現 ■磁気テスト（オプション）が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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半導体テスター

北斗電子工業株式会社

当社では、半導体テスターを取り扱っております。半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■半導体後工程でのAC特性検査用テスター ■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ ■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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スピーカーFo&Ze測定器『OST-828』

株式会社オンソク

『OST-828』は、スピーカーの最低共振周波数FoとインピーダンスZeを定電圧法で測定し、複数の測定値を用いて統計計算し規格判定する自動測定器です。測定データを全て保存出来ます。また、Q（Qes, Qms, Qts）の値も計算します。スピーカーの直流抵抗は、別途抵抗計で測定しキー入力します。【システム構成】 ■測定ユニット ■OST-828専用ノートパソコン（OS：Windows10 64bit版） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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パワートランジスタ用ソケット

日本コネクト工業株式会社

サイリスタ、トライアック、MOSFET、IGBTなどのパワー半導体のテスト用ソケットです。

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コーヨーテクノス製　ICソケット

株式会社コーヨーテクノス

VBPC(Vertical Bending Probe Card)を仕様したチップソケットは、BGA、CSPなどの標準ピッチをはじめ、FPCドライバーやICチップへのダイレクトコンタクトなどのファインピッチにも幅広く対応しております。また、試作、特殊設計などにも1セットから制作致します。

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株式会社ハートエレクトロニクス　事業紹介

株式会社ハートエレクトロニクス

株式会社ハートエレクトロニクスは、ICテスタアプリケーションや特注システムの設計製作を行っております。特注システムでは、お客様のニーズに沿った適切なシステムをご提案。またICテスタの検査プログラム、検査ボードの設計製作、テスタに付加機能追加の為の設計製作や検査データの評価も行います。特性確認、回路調査から不具合原因の調査までサポートいたしますので、ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。【事業概要】 ■特注システムの設計製作 ■ICテスタアプリケーション ■製品評価、故障解析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

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CW/Pulse I-Lテスター　SEC-7000

システム技研株式会社

LDをCW～Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です

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オシロプローブ用　チェック端子　HOT26080

株式会社廣杉計器

小型タイプであらゆる方向から使用可能な RoHS対応のオシロプローブ用、チェック端子【特徴】 ○2.54ピッチ又はハーフピッチなため　使用場所を選ばない ○10色のカラーで回路分けが可能 ○ハイポジションタイプもあり　プローブの引っ掛けが容易にきる ○ピン　材質：リン青銅(C5191) 　処理：金メッキ0.1μ(下地ニッケル2μ) ○台　材質：PBT(ガラス繊維30％入）　色：10色　熱変形温度：1.82Mpa…200℃(耐ハンダ性) 　UL規格：UL94V-0(材料) 　RoHS対応製品 ●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。

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DO-254 CTS

アルデック・ジャパン株式会社

DO-254/CTSはターゲットボードによってテストを補強し、検証カバレッジを高め、DO-254/ED-80の検証目標を達成できるようにカスタマイズされたハードウェアおよびソフトウェアプラットフォームです。ターゲットデザインはカスタムドーターカードのターゲットデバイス上で実速度で実行されます。シミュレーションテストベンチをテストベクタとして使い、FPGAピンレベルで100%コントロール・監視しながら要求ベース検証を行い、通常範囲と異常範囲でのテストを実行できます。FPGAテスト結果を実速度でキャプチャし、シミュレータの波形ビューアに表示して高度な解析や文書化などに進むことができます。

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TITAN T26 RFプローブ・ヘッド (DC~26GHz)

MPI Corporation

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。日本における代理店: ベクターセミコン株式会社東京都荒川区西日暮里2-43-2 TEL 03-5604-1701 FAX 03-5604-1707

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ペルチェ温調ヘッド『iT520/iT525』

センサーコントロールズ株式会社

当製品は、実装基板上のICの温度試験ができるペルチェ温調ヘッドです。－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能。 Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用しています。ラボでの手軽な卓上実験用にはハンディー型の『iT520』、工場での評価用にはソケット装着型の『iT525』がお勧めです。【特長】 ■－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能 ■－40℃から＋125℃まで、わずか数分で昇温(Rtから－40℃までの降温も数分) ■Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用 ■±0.1℃の精度で温度制御可能 ■接触アタッチメントの凸部の形状及び寸法は、お客様の仕様にあわせ変更可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【品質向上事例】 NANDデバイスの不良調査

東亜エレクトロニクス株式会社

この書込みシステムは、お客様の検査部門で有効なNANDデバイスの品質確認のための不良ブロックの確認システムです。対象デバイスに対して、ERASE-PROGRAM-VERIFY(データは任意に設定可能)を繰り返し、途中で発生する後天的バッドブロックの監視などを行います。試験内容の変更(例：ERASEのみを繰り返す)、バッドブロックの発生位置・回数のカウントや、動作時の電源電圧を変えての試験など、お客様のご要求にあわせたアルゴリズム開発が可能です。【特長・目的】 ■品質管理 ■カスタム対応 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※下記より、会社案内資料をダウンロードいただけます。

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電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

課題

微細化・高集積化による測定困難性

デバイスの小型化・高密度化が進み、従来のプローブやテスタでは物理的に接触・測定が困難になるケースが増加しています。

多様化するデバイス特性への対応

アナログ、デジタル、RF、パワーデバイスなど、特性が多岐にわたり、それぞれに最適な評価手法やテスタの選定が複雑化しています。

高速化・高精度化要求への追随

デバイスの動作速度が向上し、より高い周波数帯域や微小な信号レベルでの正確な測定が求められるため、テスタの性能限界に達することがあります。

データ解析・管理の煩雑化

大量の検査データを効率的に収集、解析、管理し、傾向分析や不良原因特定に繋げることが、人的リソースやシステム面で課題となっています。

対策

非接触・遠隔測定技術の導入

光学式測定器や電磁波を利用した非接触測定技術を導入し、物理的な接触が難しいデバイスの特性評価を可能にします。

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

評価したいデバイス特性に合わせて測定モジュールを組み合わせたり、ソフトウェアで機能を拡張したりできる柔軟なテスタシステムを採用します。

高帯域・高分解能テスタへの更新

最新の高速信号処理技術や高精度ADC/DACを搭載したテスタに更新し、要求される測定精度と帯域幅に対応します。

自動化・AI活用によるデータ処理

検査プロセスの自動化や、AI/機械学習を用いたデータ解析ツールを導入し、迅速かつ的確なデータ処理と洞察を得られるようにします。

対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

広帯域幅と高サンプリングレートにより、高速信号の波形を正確に捉え、微細な電圧変動やタイミング誤差を検出できます。

多機能パラメータアナライザ

様々な電気的パラメータ（電圧、電流、抵抗、容量など）を一台で測定でき、多様なデバイス特性評価に対応可能です。

自動テストシステム構築ソフトウェア

GUIベースでテストシーケンスを容易に作成・編集でき、データ収集・解析・レポート作成までを自動化します。

非接触式プローブシステム

微小なデバイスや高密度実装基板上の信号を、物理的な接触なしに高精度で測定することを可能にします。

⭐今週のピックアップ

読み込み中

デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

各社の製品

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

課題

微細化・高集積化による測定困難性

多様化するデバイス特性への対応

高速化・高精度化要求への追随

データ解析・管理の煩雑化

対策

非接触・遠隔測定技術の導入

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

高帯域・高分解能テスタへの更新

自動化・AI活用によるデータ処理

対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

多機能パラメータアナライザ

自動テストシステム構築ソフトウェア

非接触式プローブシステム

デバイス特性の評価とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

各社の製品

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価

電気的検査・テスタにおけるデバイス特性の評価とは？

​課題

微細化・高集積化による測定困難性

多様化するデバイス特性への対応

高速化・高精度化要求への追随

データ解析・管理の煩雑化

​対策

非接触・遠隔測定技術の導入

モジュール化・カスタマイズ可能なテスタシステム

高帯域・高分解能テスタへの更新

自動化・AI活用によるデータ処理

​対策に役立つ製品例

高精度オシロスコープ

多機能パラメータアナライザ

自動テストシステム構築ソフトウェア

非接触式プローブシステム

課題

対策

対策に役立つ製品例