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エレクトロニクス検査・試験

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複雑形状の検査とは?課題と対策・製品を解説

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外観・画像検査における複雑形状の検査とは?

エレクトロニクス製品の製造工程において、部品や基板などの外観に存在する微細な欠陥や異常を、画像処理技術を用いて自動的に検出する検査手法です。特に、従来の単純な形状では難しかった、凹凸、曲面、多層構造など、複雑な形状を持つ対象物の検査に焦点を当てています。これにより、製品の品質向上、不良品の流出防止、生産効率の向上を目指します。

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【試験装置メーカー向け】ナノ精度位置決めステージ

【試験装置メーカー向け】ナノ精度位置決めステージ
エレクトロニクス検査・試験分野では、製品の微細化・高密度化に伴い、検査精度と再現性への要求が年々高まっています。特に、プローブやセンサ、カメラなどの検査ヘッドを正確に位置決めする工程では、わずかなズレや振動が測定誤差や誤判定の原因となり、品質信頼性に大きな影響を与えます。 当社のナノ精度位置決めステージは、高剛性構造による安定した直線動作と優れた繰返し位置決め精度を実現し、エレクトロニクス検査装置に求められる高精度な位置制御を支えます。安定した動作により検査条件のばらつきを抑え、信頼性の高い検査・試験環境の構築に貢献します。 【活用シーン】 ・電子部品・基板の外観検査装置 ・プローブを用いた電気特性検査・接触試験 ・センサ・カメラ位置決め用直線ステージ ・信頼性試験・耐久試験装置の位置決め軸 ・検査工程におけるヘッドの自動位置調整 【導入の効果】 ・検査ヘッドの位置ズレを抑制し、測定精度と再現性を向上 ・動作の安定化により、検査結果のばらつきを低減 ・高精度な直線位置決めにより、誤判定・再検査の削減 ・検査工程の信頼性向上による、品質管理レベルの底上げ

【電子機器・電子部品向け】HIWIN単軸リニアモーターステージ

【電子機器・電子部品向け】HIWIN単軸リニアモーターステージ
エレクトロニクス検査・試験工程では、製品の微細化・高密度化に伴い、これまで以上に高精度かつ安定した検査動作が求められています。特に、外観検査や電気的検査においては、検査ヘッドやプローブの位置決め精度が、そのまま検査結果の信頼性に直結します。位置ズレや繰返し誤差が発生すると、誤判定や検査漏れを招き、品質低下や再検査による工数増加につながります。HIWINの単軸リニアモーターステージは、高剛性構造と安定した直線動作により、検査・試験装置に求められる高精度な位置決めと再現性を実現します。 【活用シーン】 ・AOI(自動光学検査)装置の検査ヘッド位置決め ・電子基板・実装基板の外観検査工程 ・電気的検査・機能試験用プローブの直線駆動 ・半導体・電子部品の外観/電気特性検査 【導入の効果】 ・検査ヘッド・プローブの位置ズレを抑制し、検査精度を安定化 ・繰返し精度の高い直線動作により、誤判定・検査ばらつきを低減 ・安定した剛性により、高速検査時でも精度を維持 ・検査工程の自動化・省人化を進め、検査タクト短縮に貢献

レコード針

レコード針
当社で取り扱っている『レコード針』は、およそ2,000種類(約30メーカーに 対応)のモデルがあり、その全てを1本単位で一貫生産しております。 1本のレコード針には最小で2個、最大で45個のパーツが必要であり、それらは 職人と呼べる熟練した社員が、ひとつずつ手仕事で組み上げを実施。 その製造工程に必要な工具や治具、検査機器は全て自社で設計、製造し、 多品種の品質維持には不可欠なものとなっています。 【特長】 ■およそ2,000種類(約30メーカーに対応)のモデルあり ■全てを1本単位で一貫生産 ■職人と呼べる熟練した社員が、ひとつずつ手仕事で組み上げ ■製造工程に必要な工具や治具、検査機器は全て自社で設計、製造 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較
走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM)及び走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope:SIM)は、どちらも二次電子像を得ることで試料表面近傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに、測定例としてCu表面を観察した事例をご紹介します。

縦置きステージ

縦置きステージ
コストパフォーマンスに優れ、フットプリントが小さい省スペースタイプ。 リニアモーター採用により発塵が少ない。 FPD用大型マスク検査、リペア用に最適なステージ。 ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。

電子部品検査対応

電子部品検査対応
株式会社スピックでは、電子部品やコネクタの寸法測定及び検査を 製品の品質基準に合わせ行います。 当社では品質にこだわり厳しい目で製品を確認致します。 測定のみの依頼も可能でデータ作成業務も行います。 【特長】 ■電子部品やコネクタの寸法測定及び検査を実施 ■品質にこだわり厳しい目で製品を確認 ■測定のみの依頼も可能 ■データ作成業務も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

インクス株式会社 事業紹介

インクス株式会社 事業紹介
インクス株式会社は、精密プローブ、精密部品、精密モデル(desktopZERO など)を提供しております。  プローブ事業では、スプリングプローブ、高周波プローブ、積層型プローブ など、独創技術で高性能を実現。高性能を追求するため、自動機は使用せず ハンドメイドで製作しています。 また製品事業では、基盤となるプレス技術に、コンシューマ事業で培った 経験・知識・ノウハウを組み入れ、お客様の困ったを解決致します。 【事業内容】 ■プローブ事業:精密プローブの設計・試作・量産・販売 ■製品事業:精密部品の設計・試作・量産・販売 ■コンシューマ事業:民生商品の企画・設計・製作・販売 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『MEMSミラー』

『MEMSミラー』
『MEMSミラー』は、オーテックスが取り扱うFRAUNHOFER社の製品です。 ドイツ、フラウンホーファー研究所では、現在までに 最大アパーチャサイズ20mmのミラーなど優れた特徴の数々を持つ MEMSミラーを開発してきました。 長い開発の歴史が培った現在までの技術の到着点です。 【特長】 ■小型ミラー ■寸法 5mm×7mm×3.5mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

簡易型 外観検査装置『ACT-α1』

簡易型 外観検査装置『ACT-α1』
『ACT-α1』は、実使用状態の検査を可能にした簡易型外観検査装置です。 検査ステージに置かれたコネクタなどの対象物のコブラナリティーや ピッチを4方向から画像処理で検査を行います。 カメラスライダーで任意の位置を登録することで、複数のポジションを 連続的に検査可能。搬送部との連結により、自動供給・エンボス排出にも 対応可能です。 【特長】 ■実使用状態の検査を可能にした高精度・高速な検査システム ■狭ピッチの実装コネクタ・カードコネクタ・極小チップ部品など  難しいワークに対応 ■カメラスライダーで任意の位置を登録で、複数のポジションを連続的に  検査可能 ■搬送部との連結により、自動供給・エンボス排出にも対応可能 ■「自重状態」でコブラナリティを検査可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【デモ機貸し出し可能】デジタル線幅測定機

【デモ機貸し出し可能】デジタル線幅測定機
『AccuLine II』は、プリント配線板の導体幅(トップ・ボトム)や絶縁間隔を 測定できるデジタル線幅測定機です。 スタンドアローンで、導体幅(最大900μm、最小30μm)の自動測定が可能。 TH径(最大 700μm)の手動測定もできます。 また、操作性や測定ターゲット合わせ、メモリ機能が大幅に改善しました。 「アドバンスタイプ」「ベーシックタイプ」「マニュアルタイプ」の3種類を ラインアップしており、お客様の用途に合わせてお選びいただけます。 【特長】 ■スタンドアローン ■自動測定・手動測定が可能 ■導体のボトム・トップ幅を同時測定 ■3.5インチカラーLCD搭載 ■設定により合否判定を表示可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

LVH等の孔検査に最適な光学式外観検査装置 『MIYABI 7』

LVH等の孔検査に最適な光学式外観検査装置 『MIYABI 7』
◆スルーホールやレーザービア(LVH)をパターンと同時に全穴検査 ◆あらゆる基板を高精度に検査する新開発の照明系 ◆パッド・ラインを個別に条件設定、欠陥検出精度を向上 ◆フロントソフトウェアセットアップ時間短縮(約15分)

最小カメラを接続できる小型USBカメラモジュール

最小カメラを接続できる小型USBカメラモジュール
USB2001は、株式会社モステクノが開発した小型のUSBカメラモジュールです。1/9インチ100万画素のCOMSイメージセンサーを搭載し、最大1280×720ピクセルのMJPEG形式で30fpsの映像出力が可能です。対角110°の広画角で、10cm〜15cmの撮影距離に対応します。USB 2.0 Type-Cコネクタから給電・出力が可能で、-20℃〜70℃の幅広い温度範囲で動作します。

FSTN方式グラフィックLCD、「BPシリーズ」液晶モジュール

FSTN方式グラフィックLCD、「BPシリーズ」液晶モジュール
◆◆日本語対応可能です◆◆ ボリミンは20年間蓄えたノウハウに基づいて、お客様に高く評価された産業用液晶表示器製品を始め、組込みシステムでの研究・開発・生産に力を尽くしていきます。 ===《製品紹介》FSTN方式グラフィック表示LCD「BPシリーズ」液晶モジュール=== 「BPシリーズ」はFSTN液晶を採用するTAB/TCPタイプのグラフィック液晶モジュールです。 分析機器/測定器/各種モニタリングシステムなど様々な産業で使用されており、パターンデータを送れば、漢字・記号・図形を自由に表示できます。 製品の詳細はカタログをダウンロード、もしくはお気軽にお問い合わせください。 ●ISO-9001、ISO-14001、ISO-50001 認証取得● Bolymin(ボリミン)は組込みシステム・エンベデッドシステム及び液晶モジュールの開発・生産活動を行い、世界中の顧客にベストな製品とサービスをお届けするよう日々努力していきます。

日本製 CMOSカメラモジュール

日本製 CMOSカメラモジュール
当社では、日本ケミコン株式会社の日本製CMOSカメラモジュールを 小ロットからご提供しております。 本製品は、低消費電力、原色オンチップカラーフィルタ採用による良好な 色再現性、信号処理内蔵による小型化を実現。 PDA用内蔵カメラ、PC カメラ、ウエアラブルカメラ、静脈・顔認証用カメラ、 ドライブレコーダ、監視カメラ、ドアフォン、コードスキャナーなどの 画像入力装置に適したデバイスとなっております。 【ラインアップ】 ■NCM03-V ■NCM03-S ■NCM03-W2 ■NCM13-M ■NCM13-K など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

【アプリケーション例】DXFオーバーレイ

【アプリケーション例】DXFオーバーレイ
『DXFオーバーレイ』は、デジタルマイクロスコープにDXFファイル(CADファイル)をインポートして、小さなPCBコンポーネントを識別します。 マイクロスコープの倍率に応じて、様々な倍率レベルで品質管理を行うことが容易になります。 この他にも、品質管理を改善し、一貫して高品質の製品を確保するのに役立つアプリを取り扱っています。 【特長】 ■DXFオーバーレイを使用して障害のあるPCBを識別する ■様々な倍率レベルで品質管理を行うことが容易になる ■小さなコンポーネンツを検索 ■モニターに現在強調表示されている検索結果を中央に置くことが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

微細組立・検査

微細組立・検査
当社では半導体組立・検査の技術を生かし、微細な組立、検査を行います。 もちろんクリーンルーム内での作業です。 これまでに、ミクロンオーダーの部品接合、接着組立。微細半田付け。 部再部品、ICチップの外観検査など実績があります。

レーザーブラインドビアAOIM【BVHビア全穴検査が可能!】

レーザーブラインドビアAOIM【BVHビア全穴検査が可能!】
【レーザービア(止まり穴)全穴検査が可能!】 ■デュアルCCD,アライメント不要,同解像度業界最速:25sec/枚(5um) ■Telecentric 望遠レンズを使用,角度による誤認識問題無し ■複数のプロセス、コンフォーマル、DLDで使用可能 ■高解像度2umの場合、 最小測定可能径20um ■オリジナルのワンタッチミニマリスト操作モード ■基板全面検査、ブラインドホール欠損統計分析、 不良検出穴のグループチェック機能、再検査効率UP ■客戶販売実績: 417台、トップシェア
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外観・画像検査における複雑形状の検査

外観・画像検査における複雑形状の検査とは?

エレクトロニクス製品の製造工程において、部品や基板などの外観に存在する微細な欠陥や異常を、画像処理技術を用いて自動的に検出する検査手法です。特に、従来の単純な形状では難しかった、凹凸、曲面、多層構造など、複雑な形状を持つ対象物の検査に焦点を当てています。これにより、製品の品質向上、不良品の流出防止、生産効率の向上を目指します。

​課題

形状の多様性による検出漏れ

部品の形状が多岐にわたり、わずかな角度や光沢の違いでも正常と誤認識したり、欠陥を見落としたりするリスクがあります。

微細な欠陥の識別困難性

複雑な形状の表面に存在する傷、異物、バリなどの微細な欠陥は、背景とのコントラストが低く、画像処理での識別が困難です。

検査時間の増大とコスト負担

複雑な形状を正確に検査するためには、高解像度カメラや特殊な照明、高度な画像処理アルゴリズムが必要となり、検査時間とコストが増加します。

熟練オペレーターへの依存

複雑形状の検査では、経験豊富なオペレーターの判断に頼る部分が多く、属人化による品質のばらつきや、人材育成の課題が生じます。

​対策

多視点・多角度からの画像取得

複数のカメラや回転機構を用いて、対象物を様々な角度から撮影し、死角をなくすことで、形状の複雑さに起因する検出漏れを防ぎます。

高度な画像処理アルゴリズムの活用

AI(深層学習)を用いたパターン認識や、差分画像処理、エッジ検出などの高度なアルゴリズムを組み合わせ、微細な欠陥を高精度に識別します。

最適化された照明・光学系の導入

対象物の材質や形状に合わせて、拡散光、同軸落射光、偏光照明などを使い分け、欠陥部分のコントラストを強調し、検査精度を向上させます。

自動化・標準化された検査システムの構築

検査条件や判定基準をシステムで管理し、自動化することで、オペレーターのスキルに依存せず、安定した品質の検査を実現します。

​対策に役立つ製品例

高解像度エリアスキャンカメラ

微細な欠陥も捉えることができる高精細な画像を取得し、複雑な形状の細部まで鮮明に描写することで、検査精度を高めます。

3D形状計測システム

対象物の立体的な形状情報を取得し、設計データとの比較や、表面の凹凸を正確に把握することで、複雑形状特有の異常を検出します。

AI画像解析ソフトウェア

大量の画像データから学習したAIが、複雑な形状における様々な欠陥パターンを識別し、人手では見落としがちな異常を高精度に検出します。

インテリジェント照明システム

対象物の形状や材質に応じて、最適な光量、角度、色温度を自動調整し、欠陥部分を効果的に浮かび上がらせることで、画像処理の精度を向上させます。

⭐今週のピックアップ

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