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量産向けの高速検査とは？課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？

エレクトロニクス製品の量産ラインにおいて、製造された部品や製品の電気的特性を迅速かつ正確に評価するプロセスです。不良品の流出を防ぎ、生産効率を最大化することを目的とします。

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【医療機器向け】ICテストハンドラNS-8080SH

兼松ＰＷＳ株式会社

医療機器業界では、製品の品質と信頼性が最重要視されます。特に、精密な電子部品を使用する医療機器においては、ICの正確なテストが不可欠です。テストの精度が低いと、機器の誤作動や性能低下につながり、患者さんの安全を脅かす可能性があります。株式会社NSテクノロジーズのICテストハンドラNS-8080SHは、高いスループットと温度管理機能を備え、医療機器製造におけるICテストの効率化と品質向上に貢献します。【活用シーン】・医療用電子機器のICテスト・精密電子部品の選別・品質管理部門での検査【導入の効果】・テスト時間の短縮・不良品の早期発見・製品の信頼性向上

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パッシブ除振台

藤倉コンポジット株式会社

エレクトロニクス制御分野では、微小な振動が試験結果に大きな影響を与える可能性があります。特に、精密機器の性能評価においては、外部からの振動を極限まで抑制することが重要です。当社のパッシブ除振台は、振動問題を解決し、正確なデータ取得を可能にします。【活用シーン】 * 精密機器の性能試験 * 振動試験 * クリーンルーム環境下での精密測定【導入の効果】 * 装置特性の信頼性向上 * 精度の向上 * 加工時間の短縮

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【データセンター向け】アドバンストパッケージ向けソケット

株式会社JMT

データセンター業界では、AIやビッグデータ処理の需要増加に伴い、高性能かつ高密度な半導体パッケージが求められています。これらのパッケージのテストにおいては、多Pin対応と高速動作が不可欠です。安定した電気的接続を確保しつつ、コスト効率も両立できる測定方法が重要となっています。当社の「アドバンストパッケージ向けソケット」は、PCR技術により、短距離接続と安定接触を実現し、多Pinパッケージ測定におけるコストメリットを提供します。大型パッケージのそりにも対応し、ストローク量不足の不安を解消します。【活用シーン】・高密度パッケージのテスト・多Pinパッケージの測定・AI、ビッグデータ処理向けチップのテスト【導入の効果】・安定した電気的接続の確保・コスト効率の向上・高速動作テストへの対応

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【IoTデバイス向け】TY-CHECKER Type E テスタ

太洋テクノレックス株式会社

IoTデバイス業界では、製品の信頼性を確保するために、基板の正確な電気検査が不可欠です。特に、多様なセンサーや通信モジュールが搭載されるIoTデバイスにおいては、接続不良やショート、オープンといった電気的な問題が、デバイスの動作不良やデータ通信の途絶を引き起こす可能性があります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、IoTデバイスの品質向上に貢献します。【活用シーン】・IoTデバイス製造における基板検査・センサーモジュール、通信モジュールの接続性検査・製品開発段階での試作基板の検査【導入の効果】・接続不良や電気的欠陥の早期発見・製品の品質向上と信頼性向上・検査時間の短縮による生産効率の向上

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ヤマトマテリアル株式会社事業紹介

ヤマトマテリアル株式会社

ヤマトマテリアル株式会社は、主に「容器・包装」「生産システム」「エレクトロニクス関連商品」の各事業分野をフィールドとする専門商社です。半導体・エレクトロ二クス分野の検査・梱包から生産設備までの企画販売を行う新素材事業本部。【事業内容】 ■新素材事業本部 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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＜Pickering社＞リードリレーファインダー

株式会社コムクラフト

○Pickering社リードリレー製品 ■4mm^2 (フォーミリスクエアー) 超高密度実装リードリレー 3.9mm角の極小フットプリントで超高密度実装を実現！業界最小のパッケージサイズで自動計測装置に貢献！ ■SIL-SIP シングルインライン高密度実装リードリレー SIL-SIPパッケージに用途に応じた様々なコンフィギュレーションをラインナップピカリング社リードリレーの主力製品 ■SIL-SIP シングルインラインミューメタル外装リードリレー高密度実装で問題となる磁気干渉を抑止する "ミューメタル"パッケージを用いたタイプ ■200シリーズ表面実装リードリレー / 5GHz対応表面実装タイプの超小型高速信号用リードリレー水銀タイプ、同軸タイプなどのコンフィギュレーションも提供可能 ●上記以外のリードリレー各シリーズも、充実したラインナップを取り揃えております。

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半導体テスト開発/半導体テスト受託サービス

株式会社エリア

当社では、半導体テスト開発(テスト設計、テストプログラムコーディング、治具設計製作、デバッグ、立上げ)から量産テスト受託まで一貫したサービスを提供しております。量産テストではテスター選定、テストの効率化、歩留まり改善を施し好適なテストを実現するとともにお客様のニーズに合わせ、少量多品種、試作評価にも対応。その他、装置及び電子機器の設計製作・販売(装置ターンキー)や、外観検査装置の販売・サポートも行っております。【事業内容】 ■テストターンキー　・半導体テスト開発/半導体テスト受託 ■装置ターンキー　・装置及び電子機器の設計製作・販売　・外観検査装置の販売・サポート ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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オプティマイズドDCテストシステム

株式会社シバソク

シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。 2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。

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フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』

株式会社テセック

『4170-IH』は、QFN、CSPなどのリードレスデバイスをダイシング後、そのままウェハリング上でテストするフィルムフレームテストハンドラです。測定前にビジュアルによる位置補正（xyzθ）をすることにより、デバイスの正確な位置情報とプローブピンの好適な測圧がストリップ上の全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。【特長】 ■ハイスループット ■高耐荷重、高推力テーブル ■ストリップ貼り付けエリアを拡大・縦260mm×横300mm以内（WLCSPはφ300mm以内） ■バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応 ■品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換 ※ダウンロード頂けるPDF資料は、英語版のカタログです。　詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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「インサーキットテスター」フラグシップモデル

イーグローバレッジ株式会社

・アナログ部品テスト・デジタル部品テスト・バウンダリスキャンテスト・ピン浮きテスト（FrameScanFx）・ファンクションテストその他、多彩なテスト方法をご提供致します。

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ロードロック式周波数調整装置「SFE-B03-II」

株式会社昭和真空

ロードロック式周波数調整装置「SFE-B03-II」は、省スペース・高精度・低価格、タクトタイム0.4 s/pcs以下を実現しました。（※SMD3.2 × 2.5, 24 MHz, H1000 ppm/s, L50 ppm/s の場合）新型イオンガン (ビーム幅: 100 mm) 搭載で、標準24～32個同時処理が可能となりました。高精度・高安定・高再現性の搬送機構により、2.0 × 1.6以下の微小ワークも安定して生産できます。 FLモード (負荷容量自動演算モード) を搭載しています。イオンガン本体、コンタクト機構のメンテナンス性が大幅向上しました。２室ロードロック方式を採用することで、処理室は常時真空に保持されているので、タクトタイムが真空排気及び大気開放の時間に依存しません。オプションユニットとしてオーバードライブ機構付ローダー・アンローダー装置装着により、連続運転が可能となりました。【特徴】 ○コンパクト設計 ○高精度 ○低価格 ○高安定性 ○高再現性詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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コンタクトプローブのご紹介｜先端径1μまで対応可能！

清光接点金属株式会社

清光接点金属株式会社では、試作・研究のためのコンタクトプローブや小ロットの生産など、お客様の仕様にあったコンタクトプローブの製作を行っております。特にタングステンニードルを得意としております。また、各種材料メーカーの代理店をしておりますので、回路の素材にあわせた材料の選定・提案などを行うことも可能です。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『チェンジキット』

ミクナスファインエンジニアリング株式会社

『チェンジキット』は、全てのエプソン社製ハンドラに適した製品です。品質、性能、機能等は、エプソンブランド時の優れたままに、ミクナスブランドとして丸文株式会社より販売いたします。互換品ではなく、設計から製作までエプソン標準の純正品と同じ商品のご提供となります。テストソケット、テストプロープ、テスト基板までワンストップでご提案いたします。その他、様々なご要望にお応えいたしますので、お気軽にご相談下さい。【特長】 ■仕様のご指定等は従前同様 ■自在なカスタマイズ及びオプション対応 ■多彩な表面処理可能 (樹脂コーティング可能) ■オープントップソケット対応 ■両面コンタクト対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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株式会社エンプラス半導体機器　ICソケット総合カタログ

株式会社エンプラス半導体機器

「ICテストソケット総合カタログ」は、ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGYやENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTIONのTEST SOCKETやBURN-IN SOCKETなど多数掲載したカタログです。株式会社エンプラス半導体機器の「ICテストソケット」は、ICの高集積化に伴う超多ピン化、ファインピッチ化などあらゆるニーズに対応しております。【掲載製品】 ○ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGY ［ENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTION] ○TEST SOCKET ○BURN-IN SOCKET　他詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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フラッシュプログラミングシステム

ウェーブテクノロジー株式会社

□■書き込み時のオーバーヘッドを最適化　　　　　　デバイスの実力値に接近した処理速度を実現！■□ 【特長】 ●WindowsベースのGUIによる簡単・快適な操作性 ●量産性が大幅にUP！試作研究開発にも威力発揮！ ●各種パッケージに迅速に対応！【主な仕様】・ＰＣベースのプログラミングシステム(Wndows2000/WndowsXPのみ対応) ・USB1.1 インターフェイス搭載・TSOP,PLCC,FBGA,uBGA,QFPなどの各種パッケージに迅速に対応・標準メモリー　4Gビット・サイズ・重量　330Wx310Dx95H　4.5Kg（付属品を除く）

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小型テストハンドラー『TH281』

綜和機電株式会社

『TH281』は、SOP、SSOP、TSSOPなどのデバイスに対応した常温/高温測定用の小型テストハンドラーです。大型テストヘッドドッキング可能な構造で、標準ソケット、高周波用ソケット、フラットコンタクト等各種ソケットに対応可能。また、各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成しました。【特長】 ■高スループット・低ジャム率・省スペース ■大量生産に適した大容量のローダー、アンローダー ■大型テストヘッドドッキング可能な構造 ■各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成 ■各種ソケットに対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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実装基板チェッカー

株式会社タツミ

当社では、ワンタッチ操作で生産性向上を実現する『実装基板チェッカー』を取り扱っております。信頼のある製品作りの手助けに貢献いたします。また各メーカー様仕様のオーダーも承っておりますので、お気軽にご相談ください。【ラインアップ】 ■NUタイプ ■TBタイプ ■TBWEBタイプ/TBWEタイプ ■TBWBTタイプ ■YKTタイプ　など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。 ※受注生産のため「価格表」はございません。

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計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011A

アール・エス・ティ・エンジニアリング株式会社

計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011Aは電解コンデンサの漏れ電流を高い精度と安定度で、しかも高速に測定します。デジタルコンパレータを内蔵し、良否の選別を行ったうえで判定結果を出力。プリンター出力を標準装備していますので測定ごとにすべての判定データを印字することができます。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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セラミックLED用高速分類機　NCS-4100

ワイエイシイガーター株式会社

NCS-4100は、パーツフィーダより供給されるセラミックLEDの輝度、色調、電気的特性を積分球測定し、ランク別に各収納箱へ自動選別するマシンです。処理能力は最速0.25秒/個を実現しました。排出部の自由落下方式の採用等、セラミックワークへの衝撃緩和を考慮した装置です。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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半導体テスタ「オートマティックDCテスター ATS-3201」

株式会社イーアールディー

「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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Multifunction Analyzer

株式会社Sohwa & Sophia Technologies

電子機器の開発に必要な機器が詰まった、開発者に開発効率の向上と開発のスピードアップを低コストで提供する製品をご提案します。エンジニアの夢であった1人に1台の環境も可能になります。

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【生産ライン用】HIROSEの高速度リレー自動検査装置

株式会社廣瀬技術研究所

『MRT-4010型』は、複数リレーを同時に検査できる生産ライン用の試験システム。同時に5個のリレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示、不良をアラーム。10秒以下で全項目測定を完了します。リレー性能の正確なデータが得られるほか、受入検査に導入すれば、入荷リレーの良否を自動的に判断し、トラブルを事前に防ぎます。【使用効果】 ■正確なデータ管理 ■受入検査に活躍 ■エージング効果 ■スクリーニングテストが可能 ■メンテナンス効果を評価 ■故障診断器として利用 ■データの自動記録 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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半導体テスタレーザクリーニングシステム

サマック株式会社

ロジック用　レーザクリーニングシステムＩＭＴ８００ＭＶ＜＜＜＜　特徴　＞＞＞＞ □ ブラッシング、ケミカルクリーニング不要　 ■ クリーニングプロセスへの移行が短時間で可能 □ クリーニング後の廃棄物・臭気がありません ■ ソケットピン表面のダメージ、　　不完全クリーニング排除による能力向上ロジック用ならでは。 ●　マニュアルクリーニングプロセス ○　高速クリーニング（約10秒＠ソケット） ● プローブカードクリーニングも可能

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デュアルRFプローブ　　（高周波プローブ）

株式会社テクノプローブ

デュアルRFプローブ（高周波プローブ）特徴・完全国内生産・針先端：GSSG、GSGSG ・周波数：DC-40GHz ・インサションロス：2dB以下・リターンロス：12dB以上・ピッチ：75-600μm ・コネクタ：Kコネクタ・高耐久・ローコスト・修理、リフレッシュ可能・特殊使用承ります。

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高速インサーキットテスター『ESI-2020』

オカノ電機株式会社

『ESI-2020』は、OSにMicrosoft Windows7,10を採用した高速インサーキットテスターです。従来の当社ICT「ESI-2002」に比べ、約25%の検査時間の短縮を実現。通信方式にEthernetを採用し、4端子低抵抗測定機能を標準装備しました。立ち作業向けタテ型機「ESI-2020ST」やインライン機「ESI-2020STB」など、ご使用の条件に合わせて4つのモデルから選択可能です。【特長】 ■Windows 7,10にて動作 ■超高速検査を実現 ■通信方式にEthernetを採用 ■4端子低抵抗測定機能を標準装備 ■ESI-2002のデーターの共有化と多彩な編集機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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DCRF混在プローブ　　（電源と高周波の混在プローブ）

株式会社テクノプローブ

RFプローブに合わせて使用頂けるDCRF混在プローブ（電源と高周波の混在プローブ）特長・完全国内生産・DC−40GHz ・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。・短納期・ローコスト（イニシャルコスト不要）

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MEMSマイクロフォン用ソケット/圧力センサ用ソケット

エム・アイ・エステクノロジー株式会社

『MEMSマイクロフォン用ソケット/圧力センサ用ソケット』は、センサ用ソケットの開発で蓄積されたノウハウから誕生したソケットです。業界最多レベルの豊富な品揃え。また、試作から量産まで用途に合わせて成形、切削、3Dプリンター品をご用意しており、数量1個から製作可能です。【特長】 ■センサ用ソケットの開発で蓄積されたノウハウから誕生 ■業界最多レベルの豊富な品揃え ■試作から量産まで用途に合わせて成形、切削、3Dプリンター品をご用意 ■数量1個から製作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ICソケット

株式会社モリモト

当社では、デバイスに好適なプローブを採用した『ICソケット』を製作しています。量産目的のハンドラー用ソケットから開発、評価目的のものまで、幅広く対応可能。さらに、お客さまの特殊な要求(高温、高周波、大電流)に応じた、オンリーワンの製品にも対応いたします。【特長】 ■プローブピン、ピンブロック、フタ等をカスタムメイド ■高周波対応設計可能 ■初期評価、ハンドラー等の仕様に幅広く対応 ■0.15mmピッチまで対応可能 ■デバイス種類はBGA、QFP、CSP、QFN等多種対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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DCテスタ『471-TT』

株式会社テセック

『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現したDCテスタです。長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における複数チップ同時測定を実現。当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。【特長】 ■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの　向上 ■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現 ■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現 ■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現　（Max 2kV/20A） ■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能 ■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値）　以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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スプリングコンタクトプローブの総合カタログ

テスプロ株式会社

スプリングコンタクトプローブのカタログを無料進呈中！！ ★ご希望の方は、お問い合わせ下さい★ ★一部のカタログはダウンロードからご覧いただけます★ 【概要】世界最大のワイヤーハーネス検査用プローブメーカーFEINMETALL社(独)の日本総代理店。幅広い製品ラインアップによりワンストップソリューションを実現。特注仕様も承ります。大電流・高周波・回転・スイッチ・非磁性・耐熱...プローブのことなら何でもご相談下さい。【製品例】 ◆外径1.0mmのスイッチプローブ ◆600Aまで対応する大電流プローブ ◆20GHzまで対応する高周波プローブ ◆直径0.20mm・全長3.3mm・バネ圧60g・寿命100万回以上の半導体プローブ

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MEMSテストハンドラ『ULTRA P』

株式会社テセック

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスのファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部ユニットも準備しております。【特長】 ■多数個同時測定（～96DUT） ■高精度温度制御（±1℃以内） ■60OFでの測定が可能 ■UPH20,000個以上を実現 ■磁気テスト（オプション）が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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高速S＆R式電気検査装置『STAR REC M6V SW』

ニデックアドバンステクノロジー株式会社

当社で取り扱う、高速S＆R式電気検査装置『STAR REC M6V SW』をご紹介いたします。省スペース化対応L/UL一体型で、M6シリーズ史上最高クラスの高速/高精度化を実現。 LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です。ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■省スペース化対応L/UL一体型 ■高速/高精度対応モデル ■AGVシステム対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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検査機器【ケーブルチェッカー】作業効率UP【動画・デモ機貸出有】

有限会社エーテックス

弊社の主力商品となりますケーブルチェッカーは2018年に誕生した初号機より、年々機能追加などのバージョンアップを重ね、様々なお客様のニーズにお応えできる様に変化を続けております。コネクタの形状は最大50PINまで設置可能、しかもフルオーダー可能です。更にはオプション基板実装スロットの増設により、通話機能や、DC電源発生器の機能を併せ持ったりと、可能性はまだまだ無限に広がっております。最新機種に至ってはLCDを搭載し、PCとの接続によるログデータのやり取りや、同一ケーブルの自動チェック等、成長は止まりません！是非御社が必要としている機能をご相談ください。最新機種のデモ機貸し出しも実施しておりますので、どうぞお気軽にご連絡ください。 ※詳しくはPDF資料(ATECS1801,1901を併せてご参照ください)をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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プリント基板検査ユニット『CCシリーズ』

株式会社ファインテック

『CCシリーズ』は、シャーシ部がプレート毎に分離可能となり、追加加工等が容易に出来るようになった汎用コンタクト治具です。機構部とピンボード部は簡単に分離できるので、設計工数を大幅に削減可能。本体は汎用的なプレスユニット構造のため、ピンボード部のみを交換することもできます。また、下ピンボード部が30mmストロークするため治具設計の自由度が増します。【特長】 ■RoHS2対応品 ■プレート毎に分離可能なシャーシ部 ■追加加工等が容易に出来る ■本体は汎用的なプレスユニット構造 ■ピンボード部のみを交換することも可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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『ローコストソリューション』のご提案

KYECジャパン株式会社

『ローコストソリューション』として、内製のLSIテスタ「E320シリーズ」を用いた量産テストサービスをご提案しております。コストパフォーマンスを追求した内製テスタを開発し、テストコストの大幅削減を実現し、テストボードやアクセサリキットなども標準化しており、テスト開発に伴う初期投資も抑えることができます。また、テスタ・コンバージョンのための各種ツールをご用意。他のテスタから「E320シリーズ」への移行もスムーズにおこなえます。【特長】 ■高いコストパフォーマンス ■フレキシブルな技術サポート ■テストプログラム開発環境 ■テスタ・コンバージョン環境 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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株式会社H・Iシステック　各種半導体テスト事業のご紹介

株式会社H・Iシステック

株式会社H・Iシステックは、バーインボードを始めとするさまざまな半導体関連テスト基板を設計・製作しております。半導体テスト工程全般（ウェハー、バーンイン、ファイナル）のテスト関連基板に設計から製作まで顧客仕様に応じて対応。また、より良い検査体制にて間違いない確実な製品をご提供しております。【製品】 ■バーンインボード ■前工程テスト基板 ■変換基板 ■パフォーマンスボード　など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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シングルチップテスタ-　抵抗値測定

株式会社HiPA Photonics Japan

【製品特徴】多種な高精度のデジタル抵抗測定器にも対応 ■ 分離式プローブを利用して、様々な寸法の抵抗器に適応できる ■ 1mΩ-100MΩの測定範囲で異なるタイプの抵抗測定器を選択できる ■ お客様の要求に応じ、自社製の制御システムでコードスキャンとMESのカスタイマイズにも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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＜Pickering社＞　4mm2超高密度実装リードリレー

株式会社コムクラフト

ピカリング社製120, 122, 124の各シリーズは、4mm角垂直実装タイプの画期的な信号用リードリレーです。その業界最小のフットプリントで驚異的な超高密度実装を実現、ATE装置の小型化に絶大な威力を発揮します。業界での最高密度実装を実現する4mm角パッケージパワーに応じた3種類のラインナップ（5Ｗ, 10Ｗ, 20Ｗ）Ａ接点タイプ／ノーマリーオープンタイプ（1 Form A NO）高速スイッチング時間を実現、高速テストシステムに対応絶縁抵抗10^12Ωオーダーの高アイソレーション

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大電流プローブ(High Current Probes)

テスプロ株式会社

最大６００Aまで対応；ファインピッチ対応（ピッチ0.5mmから）。プラグインタイプとねじ式、内バネ式と外バネ式がございます。

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デバイスプログラマ（1-64個書き）

ファルコン電子株式会社

ALL-100AXはEPROM,EEPROM,シリアルPROM,Flash,PLD,CPLD,FPGA,MPU ,MCUなどあらゆるタイプのICに対応した万能デバイスプログラマです。さまざまなパッケージにも対応しています。最新のICが追加されたソフトが順次弊社のホームページからダウンロード可能で、購入後も新規IC用のアルゴリズムの追加が容易に行えます。高速多ピンドラバーで高速、低電圧デバイスを含め、あらゆるメモリで高速書き込み、信頼性の高い書き込みを実現しています。

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半導体製造装置　水平搬送式テストハンドラー

エム・イーシステム株式会社

エム・イーシステム株式会社は、精密機器の製造工程で使用する治工具の設計・製作、また半導体後工程で使用する精密製造装置の設計・製作を主に精密機械・精密板金の加工を行っています。水平搬送式テストハンドラーは、ICのパッケージ後の検査工程で、テスターと接続して使用し、テスターからのテスト結果信号に基づきICを良品と不良品に自動選別する装置です。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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SPIフラッシュプログラマ FP-30

株式会社コンピューテックス　　

FP-30 は、1個書きの超高速SPIフラッシュ(Serial NOR Flash Memory)専用プログラマです。これ1台で「オンボード」と「オフボード」両方の書込み方式に対応。オンボード・モデルでは、ボードに接続するための専用ケーブル型アダプタを、オフボード・モデルでは各種パッケージに対応した専用ソケット型アダプタをご用意しています。書込み速度はデバイスの実力値を実現。さらに高速に書込める「高電圧書込み機能」もサポートしています。当社製FP-10と同様にLEDおよびブザーによる結果のお知らせ機能はもちろん、各プロセスや経過時間が有機ELディスプレイに表示され、進行状況と残り時間を一目で確認できます。

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フラッシュメモリプログラマ『FL-PR6』

株式会社内藤電誠町田製作所

『FL-PR6』は、量産ライン書込みのほか、オンサイトメンテナンスにも適したフラッシュメモリプログラマです。 Renesas製RL78ファミリからRXファミリやRH850ファミリ、さらに新ファミリのRAファミリやREファミリにも対応。従来品の主要な機能はそのまま継承し、互換性を重視しました。【特長】 ■Renesas製フラッシュメモリ内蔵マイコン対応 ■量産ライン書込みのほか、オンサイトメンテナンスにも好適 ■従来品の主要な機能はそのまま継承し、互換性を重視 ■書き込み時間を短縮 ■量産コスト削減に寄与(最大40%短縮) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【デモ機貸出可】高速GANGプログラマ『AF9751』

東亜エレクトロニクス株式会社

『AF9751』は、開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応した UFSメモリ専用の高速GANGプログラマです。「Universal Flash Storage Association」規格の Ver.3.1のUFSメモリに対して高速データ書込みを実現。専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに UFSデバイスに対し書込みが可能です。【特長】 ■UFSメモリ高速書込み ■開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応 ■専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに　UFSデバイスに対し書込み可能 ■デバイス品種追加についてはWEB公開の専用アプリケーションを　ダウンロードいただくことで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ミックスドシグナルテストシステム　SX-3000シリーズ

株式会社スパンドニクス

テストコスト削減の要求に応えるべく、多数個同時測定ハイスループットを実現した、最新型テスタです。測定精度向上のため、細部にわたり、最新の技術を導入しています。用途に合わせた、3種の汎用パーピンのほか、各種パワー電源、デジタルオプション、ACオプションなどもご用意し、広範なデバイスに対応します。また、数多くのお客様に採用されているSX-2100シリーズとはアプリケーション互換ですので、テスト資産の共有化が図れます。

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テストハンドラー『TH285』

綜和機電株式会社

『TH285』は、最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに接続可能なSOP、SSOP、DIP用テストハンドラーです。アルミあるいはプラスチックのマガジンにより供給されたICを、個別に取り出し、1個あるいは2個同時に測定ソケットに装着して、測定結果に基づき指定のスティックに分類収納します。小型化、品種交換簡素化、メンテナンス簡素化、付加オプションの充実を考慮してあります。【特長】 ■大型テストボックスが接続できる大量生産タイプ ■最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに接続可能 ■品種交換が簡単 ■タッチパネルによる簡単な操作性 ■リード検査機構がオプションで搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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無料モニタ貸出 JTAGポートに挿すだけで簡単FPGAコンフィグ

悟空株式会社

【モニタ条件】 ◆下記３点がご了解いただければ、最長３週間、お貸し出し致します。 (1)JTAGポートが装備された評価可能なFPGAボードを準備できること。 (2)後日、ご利用いただいたご感想にご協力いただけること。 (3)モニタ終了後、お客様ご負担で、弊社にモニタ品を返送していただけること。（ご購入の場合はそのままご利用いただくことも可能です。）発送時は弊社が負担します。【製品説明】 ◆JTAGポートが装備されたボードであれば、本モジュールを挿すだけでmicroSDCardからコンフィグが可能となります。 ◆出来合いのEvaluation Kitや、製品ボードの評価やデバッグにご利用いただけます。 ◆煩わしいJTAGケーブルの接続から開放されます。 ◆指定するバイナリデータによって、FPGAのコンフィグRAMに毎回コンフィグする【シンプルモード】と、FPGAに接続されているSPIやBPIを書き換える【プロフェッショナルモード】の２つのモードがあります。 ◆これら２つのモードは、使用するファイルで自動的に選択され、実行されます。

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120W ACアダプター PSE J62368に適合した外部電源

トキトレーディング株式会社

ACアダプターをお探しですか？高品質なACアダプターをお探しならお任せください。 120WのPSEマークの表示ありのＡＣアダプター（電気用品安全法）。出力はDC12V10AやDC24V5Aなど。国際的な安全認証であるIEC62368-1適合したACアダプターです。日本の電気用品安全法に基づくPSEマーク付き120WのACアダプターを短納期でご提供しています。【特長】 ■ PSEマーク付き（電気用品安全法） ■ IEC62368-1適合（一部60950-1） ■ ご希望のDCプラグ接続可 ■ 長期安定供給 ■ 全数検査実施 ■ 長期保証1年貴社で開発中の電子機器や、輸入予定の電気製品への接続にぜひご検討ください。 ACアダプターには、お客様指定のDCプラグ、二次側コネクタの接続もお気軽にご相談ください。信頼性を重視しOVPやSCPなど各種保護回路を搭載しています。長期安定供給、全数検査実施、スタッフ一貫対応、アフターサポート、長期保証しています。 ※ACアダプタ―のご用命はお気軽にお問い合わせください ※最新の適合状況はお問い合わせください。

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【生産性の向上に貢献】プローブ組立機

株式会社エス・シー・エム

プリント基板等の検査用に使用される組み立て装置のご紹介です。簡単操作で高い生産性向上に期待できます！【特長】・連続の安定した組み立てが可能・着脱や組付け、カシメ動作が簡単・小型かつ軽量 ※詳しくはPDFカタログをダウンロードください

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リレー自動試験システム

株式会社中央電機計器製作所

リレーをソケットに挿入し、画面上のスタートボタンを押すだけで簡単に試験が出来ます。同時に複数個リレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示します。数十秒以下で全項目の測定を完了出来るので、業務の効率化に貢献します。

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電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査

電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？

課題

検査時間のボトルネック化

製品の複雑化に伴い、個々の検査項目が増加し、全体の検査時間が長くなることで生産ラインの速度が低下する。

多品種少量生産への対応困難

多種多様な製品が混在するラインでは、検査プログラムの切り替えや設定に時間がかかり、迅速な対応が難しい。

検査精度の維持と高速化の両立

検査速度を上げると、微細な異常を見逃すリスクが増加し、品質低下につながる可能性がある。

データ管理と解析の非効率性

大量の検査データをリアルタイムで収集・分析するシステムが未整備で、問題点の早期発見や改善に時間がかかる。

対策

並列検査システムの導入

複数の検査項目を同時に実行できるテスタやシステムを導入し、検査時間を大幅に短縮する。

自動化・省力化された検査治具

製品の着脱や検査設定を自動化する治具を使用し、オペレーターの負担軽減と検査時間の短縮を図る。

AIを活用した異常検知

AIが過去の検査データを学習し、異常パターンを高速かつ高精度に検知することで、検査員の負担を減らし、見逃しを防ぐ。

統合型検査データ管理システム

検査データを一元管理し、リアルタイムで分析・可視化できるシステムを導入し、迅速な意思決定を支援する。

対策に役立つ製品例

高速並列検査システム

複数の検査モジュールを搭載し、同時に異なる電気的特性を測定することで、検査時間を劇的に短縮する。

インテリジェント自動検査ステーション

製品の自動搬送、位置決め、検査プログラムの自動選択・実行機能を備え、多品種少量生産にも柔軟に対応する。

機械学習ベースの品質予測ツール

検査データから製品の潜在的な不良リスクを予測し、早期に改善策を講じることで、品質の安定化と検査効率向上に貢献する。

クラウド型検査データ分析サービス

膨大な検査データをクラウド上で集約・分析し、生産ライン全体のパフォーマンスを可視化することで、継続的な改善活動を支援する。

⭐今週のピックアップ

読み込み中

量産向けの高速検査とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？

各社の製品

電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査

電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？

課題

検査時間のボトルネック化

多品種少量生産への対応困難

検査精度の維持と高速化の両立

データ管理と解析の非効率性

対策

並列検査システムの導入

自動化・省力化された検査治具

AIを活用した異常検知

統合型検査データ管理システム

対策に役立つ製品例

高速並列検査システム

インテリジェント自動検査ステーション

機械学習ベースの品質予測ツール

クラウド型検査データ分析サービス

量産向けの高速検査とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？

各社の製品

電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査

電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？

​課題

検査時間のボトルネック化

多品種少量生産への対応困難

検査精度の維持と高速化の両立

データ管理と解析の非効率性

​対策

並列検査システムの導入

自動化・省力化された検査治具

AIを活用した異常検知

統合型検査データ管理システム

​対策に役立つ製品例

高速並列検査システム

インテリジェント自動検査ステーション

機械学習ベースの品質予測ツール

クラウド型検査データ分析サービス

課題

対策

対策に役立つ製品例