量産向けの高速検査とは？課題と対策・製品を解説

IoTデバイス業界では、製品の信頼性を確保するために、基板の正確な電気検査が不可欠です。特に、多様なセンサーや通信モジュールが搭載されるIoTデバイスにおいては、接続不良やショート、オープンといった電気的な問題が、デバイスの動作不良やデータ通信の途絶を引き起こす可能性があります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、IoTデバイスの品質向上に貢献します。

【活用シーン】
・IoTデバイス製造における基板検査
・センサーモジュール、通信モジュールの接続性検査
・製品開発段階での試作基板の検査

【導入の効果】
・接続不良や電気的欠陥の早期発見
・製品の品質向上と信頼性向上
・検査時間の短縮による生産効率の向上

『ローコストソリューション』として、内製のLSIテスタ「E320シリーズ」
を用いた量産テストサービスをご提案しております。

コストパフォーマンスを追求した内製テスタを開発し、テストコストの
大幅削減を実現し、テストボードやアクセサリキットなども標準化しており、
テスト開発に伴う初期投資も抑えることができます。

また、テスタ・コンバージョンのための各種ツールをご用意。
他のテスタから「E320シリーズ」への移行もスムーズにおこなえます。

【特長】
■高いコストパフォーマンス
■フレキシブルな技術サポート
■テストプログラム開発環境
■テスタ・コンバージョン環境

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『ESI-2020』は、OSにMicrosoft Windows7,10を採用した
高速インサーキットテスターです。

従来の当社ICT「ESI-2002」に比べ、約25%の検査時間の短縮を実現。
通信方式にEthernetを採用し、4端子低抵抗測定機能を標準装備しました。

立ち作業向けタテ型機「ESI-2020ST」やインライン機「ESI-2020STB」など、
ご使用の条件に合わせて4つのモデルから選択可能です。

【特長】
■Windows 7,10にて動作
■超高速検査を実現
■通信方式にEthernetを採用
■4端子低抵抗測定機能を標準装備
■ESI-2002のデーターの共有化と多彩な編集機能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『PCR』は、今後の5G、IoT時代に向けたハイスペックなパッケージに最適なテストソリューションです。低インダクタンス、低抵抗及び低接触特性を必要とする高周波検査に優れた性能を発揮します。また、シンプルな構造により、メンテナンスが容易で、ソケット交換時の生産ラインの停止時間が短縮でき生産性向上を可能とします。

【特長】
■測定基板などにダメージを与えない
■優れた価格優位性
■メンテナンスが用意
■生産性向上が可能

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

FP-40は、Cortex-Mコア内蔵フラッシュメモリをはじめ、様々なフラッシュメモリへ書き込むためのフラッシュ・プログラマです。

鮮明で見やすい有機ELディスプレイを搭載。
書込み結果・進行状況・残り時間・チェックサム等が一目で分かる。

給電機能で作業の効率をアップ。
外部の機器から当製品を制御する事で生産システムとして構築可能。

書き込み後の内蔵フラッシュ・メモリのプロテクト/セキュリティ
処理も可能。

パソコンがなくても書き込みができ、フィールド・メンテナンスでの
ファームウェアの更新にも威力を発揮。

【特長】
■JTAG/SWDのデバッグインターフェースで接続
　UARTやLINなどのカスタム対応も可能
■モバイルバッテリーで動作可能
■約4000種のデバイスに対応
■未対応のデバイスでもホームページから対応リクエストが可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
また、技術サポート付きの無償貸出を行っているほか、無料ウェビナーも随時行っています。お気軽にお問い合わせください。

当社では、ワンタッチ操作で生産性向上を実現する
『実装基板チェッカー』を取り扱っております。

信頼のある製品作りの手助けに貢献いたします。

また各メーカー様仕様のオーダーも承っておりますので、
お気軽にご相談ください。

【ラインアップ】
■NUタイプ
■TBタイプ
■TBWEBタイプ/TBWEタイプ
■TBWBTタイプ
■YKTタイプ　など

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
※受注生産のため「価格表」はございません。

当社では、デバイスに好適なプローブを採用した『ICソケット』を
製作しています。

量産目的のハンドラー用ソケットから開発、評価目的のものまで、
幅広く対応可能。

さらに、お客さまの特殊な要求(高温、高周波、大電流)に応じた、
オンリーワンの製品にも対応いたします。

【特長】
■プローブピン、ピンブロック、フタ等をカスタムメイド
■高周波対応設計可能
■初期評価、ハンドラー等の仕様に幅広く対応
■0.15mmピッチまで対応可能
■デバイス種類はBGA、QFP、CSP、QFN等多種対応

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

清光接点金属株式会社では、試作・研究のためのコンタクトプローブや
小ロットの生産など、お客様の仕様にあったコンタクトプローブの製作を
行っております。

特にタングステンニードルを得意としております。

また、各種材料メーカーの代理店をしておりますので、回路の素材に
あわせた材料の選定・提案などを行うことも可能です。

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

ケミカル・メカニカル・ポリシャ«CMP»は、シリコンウェハ表面を滑らかにしたり研磨したりするために使用される主要な技術の1つです。
一般的には、この工程では、脱イオン水、CMPスラリー(コロイド状シリコンやアルミナ液体分散体)、および過酸化水素(強酸化剤)を一定の濃度と比率で混合する工程です。
過酸化水素は経時的に劣化するため、CMP工程を効率よく繰り返し行うためには、その濃度をオンラインで常時監視する必要があります。このように、CMPスラリーが常に規格内であることを確認し、必要に応じて混合物を調整することで、製品の歩留まりを抑制します。

『MRT-4010型』は、複数リレーを同時に検査できる生産ライン用の
試験システム。

同時に5個のリレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示、
不良をアラーム。10秒以下で全項目測定を完了します。

リレー性能の正確なデータが得られるほか、受入検査に導入すれば、
入荷リレーの良否を自動的に判断し、トラブルを事前に防ぎます。

【使用効果】
■正確なデータ管理
■受入検査に活躍
■エージング効果
■スクリーニングテストが可能
■メンテナンス効果を評価
■故障診断器として利用
■データの自動記録

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ロードロック式周波数調整装置 「SFE-B03-II」は、省スペース・高精度・低価格、タクトタイム0.4 s/pcs以下を実現しました。（※SMD3.2 × 2.5, 24 MHz, H1000 ppm/s, L50 ppm/s の場合）
新型イオンガン (ビーム幅: 100 mm) 搭載で、標準24～32個同時処理が可能となりました。
高精度・高安定・高再現性の搬送機構により、2.0 × 1.6以下の微小ワークも安定して生産できます。
FLモード (負荷容量自動演算モード) を搭載しています。
イオンガン本体、コンタクト機構のメンテナンス性が大幅向上しました。
２室ロードロック方式を採用することで、処理室は常時真空に保持されているので、タクトタイムが真空排気及び大気開放の時間に依存しません。
オプションユニットとしてオーバードライブ機構付ローダー・アンローダー装置装着により、連続運転が可能となりました。

【特徴】
○コンパクト設計
○高精度
○低価格
○高安定性
○高再現性

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

海外の超一流メーカーでATE基板の製造を行います。
プローブカード、パフォーマンスボード、バーンインボードなど実績多数です。
AW設計対応（国内）も可能です。

ヤマトマテリアル株式会社は、主に「容器・包装」「生産システム」
「エレクトロニクス関連商品」の各事業分野をフィールドとする
専門商社です。

半導体・エレクトロ二クス分野の検査・梱包から生産設備までの企画販売
を行う新素材事業本部。

【事業内容】
■新素材事業本部

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【モニタ条件】
◆下記３点がご了解いただければ、最長３週間、お貸し出し致します。
(1)JTAGポートが装備された評価可能なFPGAボードを準備できること。
(2)後日、ご利用いただいたご感想にご協力いただけること。
(3)モニタ終了後、お客様ご負担で、弊社にモニタ品を返送していただけること。（ご購入の場合はそのままご利用いただくことも可能です。）発送時は弊社が負担します。

【製品説明】
◆JTAGポートが装備されたボードであれば、本モジュールを挿すだけでmicroSDCardからコンフィグが可能となります。
◆出来合いのEvaluation Kitや、製品ボードの評価やデバッグにご利用いただけます。
◆煩わしいJTAGケーブルの接続から開放されます。
◆指定するバイナリデータによって、FPGAのコンフィグRAMに毎回コンフィグする【シンプルモード】と、FPGAに接続されているSPIやBPIを書き換える【プロフェッショナルモード】の２つのモードがあります。
◆これら２つのモードは、使用するファイルで自動的に選択され、実行されます。

フラッシュ書き込みツール「Flasher」シリーズでは、生産ラインでのスタンドアローンモード（パソコン側のプログラム起動は不要）で、数多くのマイコンデバイスの内蔵フラッシュはもちろん、外付けのNOR/SPIフラッシュメモリへの書き込み可能です。

○Pickering社リードリレー製品

■4mm^2 (フォーミリスクエアー) 超高密度実装リードリレー
3.9mm角の極小フットプリントで超高密度実装を実現！
業界最小のパッケージサイズで自動計測装置に貢献！

■SIL-SIP シングルインライン 高密度実装リードリレー
SIL-SIPパッケージに用途に応じた様々なコンフィギュレーションをラインナップ ピカリング社リードリレーの主力製品

■SIL-SIP シングルインライン ミューメタル外装リードリレー
高密度実装で問題となる磁気干渉を抑止する "ミューメタル"パッケージを用いたタイプ

■200シリーズ 表面実装リードリレー / 5GHz対応
表面実装タイプの超小型高速信号用リードリレー
水銀タイプ、同軸タイプなどのコンフィギュレーションも提供可能

●上記以外のリードリレー各シリーズも、充実したラインナップを取り揃えております。

株式会社H・Iシステックは、バーインボードを始めとするさまざまな
半導体関連テスト基板を設計・製作しております。

半導体テスト工程全般（ウェハー、バーンイン、ファイナル）のテスト
関連基板に設計から製作まで顧客仕様に応じて対応。

また、より良い検査体制にて間違いない確実な製品をご提供しております。

【製品】
■バーンインボード
■前工程テスト基板
■変換基板
■パフォーマンスボード　など

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『HDD/SSD Tester D011G-3S1EX16』は、本体と拡張ボックスラックで
構成されています。

当社従来製品「D010」の測定セル数を増やしHDD/SSD量産試験用に適した
仕様となっており、セル当たりのコストがリーズナブル。

品質トレーサビリティを高めるためのレポーティング機能付き。
当社従来製品「D010」と同じで個別に異なった試験も可能となっています。

【特長】
■1vs16セルの大量のデュプリケーション対応
■大量のスクリーニング対応
■品質トレーサビリティ・レポーティング機能
■サマリーデータ・レポーティング機能
■技術者に納得いただける様なコマンド・編集機能を用意
■各セル毎による単独動作も可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

スプリングコンタクトプローブのカタログを無料進呈中！！
★ご希望の方は、お問い合わせ下さい★
★一部のカタログはダウンロードからご覧いただけます★

【概要】
世界最大のワイヤーハーネス検査用プローブメーカーFEINMETALL社(独)の日本総代理店。
幅広い製品ラインアップによりワンストップソリューションを実現。特注仕様も承ります。大電流・高周波・回転・スイッチ・非磁性・耐熱...プローブのことなら何でもご相談下さい。

【製品例】
◆外径1.0mmのスイッチプローブ
◆600Aまで対応する大電流プローブ
◆20GHzまで対応する高周波プローブ
◆直径0.20mm・全長3.3mm・バネ圧60g・寿命100万回以上の半導体プローブ

当社では、各種ソケットの開発・製造・販売を行っております。

自動化対応に適した機構で量産に好適な「オープントップ型」や
蓋式構造で評価・試験に適した「クラムシェル型」、
自動化対応に好適な構造で量産に用いられる「バタフライ型」などを
ご用意しております。

【特長】
■デバイスに当たるコンタクトの順序を決めるシーケンス機構
■デバイスをソケットにセットしたとき、デバイスが常に
　センターリングできるセルフアライメント機構
■200℃耐熱

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

NCS-4100は、パーツフィーダより供給されるセラミックLEDの輝度、色調、電気的特性を積分球測定し、ランク別に各収納箱へ自動選別するマシンです。処理能力は最速0.25秒/個を実現しました。排出部の自由落下方式の採用等、セラミックワークへの衝撃緩和を考慮した装置です。
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

FP-30 は、1個書きの超高速SPIフラッシュ(Serial NOR Flash Memory)専用プログラマです。

これ1台で「オンボード」と「オフボード」両方の書込み方式に対応。
オンボード・モデルでは、ボードに接続するための専用ケーブル型アダプタを、オフボード・モデルでは各種パッケージに対応した専用ソケット型アダプタをご用意しています。
書込み速度はデバイスの実力値を実現。さらに高速に書込める「高電圧書込み機能」もサポートしています。
当社製FP-10と同様にLEDおよびブザーによる結果のお知らせ機能はもちろん、各プロセスや経過時間が有機ELディスプレイに表示され、進行状況と残り時間を一目で確認できます。

『FL-PR6』は、量産ライン書込みのほか、オンサイトメンテナンスにも
適したフラッシュメモリプログラマです。

Renesas製RL78ファミリからRXファミリやRH850ファミリ、さらに
新ファミリのRAファミリやREファミリにも対応。

従来品の主要な機能はそのまま継承し、互換性を重視しました。

【特長】
■Renesas製フラッシュメモリ内蔵マイコン対応
■量産ライン書込みのほか、オンサイトメンテナンスにも好適
■従来品の主要な機能はそのまま継承し、互換性を重視
■書き込み時間を短縮
■量産コスト削減に寄与(最大40%短縮)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

・アナログ部品テスト
・デジタル部品テスト
・バウンダリスキャンテスト
・ピン浮きテスト（FrameScanFx）
・ファンクションテスト
その他、多彩なテスト方法をご提供致します。

KYECジャパン株式会社は、1,900台以上の各種LSIテスタを保有しており、
お客様のご要求に応える好適なプラットフォームをご提案いたします。

各種装置も多数取り揃えております。

【試験装置ラインナップ】
■プローバー
■ハンドラー
■レーザーリペア

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

□■書き込み時のオーバーヘッドを最適化
　　　　　　デバイスの実力値に接近した処理速度を実現！■□

【特長】
●WindowsベースのGUIによる簡単・快適な操作性
●量産性が大幅にUP！試作研究開発にも威力発揮！
●各種パッケージに迅速に対応！

【主な仕様】
・ＰＣベースのプログラミングシステム(Wndows2000/WndowsXPのみ対応)
・USB1.1 インターフェイス搭載
・TSOP,PLCC,FBGA,uBGA,QFPなどの各種パッケージに迅速に対応
・標準メモリー　4Gビット
・サイズ・重量　330Wx310Dx95H　4.5Kg（付属品を除く）

「Agilent Medalist i1000D」は、次世代に対応した業界最小クラスの高性能PCB製造ライン向けインサーキット・テスタです。
さらに、バウンダリ・スキャン・テスト、オンボード・プログラミング、ライブラリ・ベースのデジタル・テスト、パーピン・プログラマブル・デジタル・ドライバ／レシーバなど、真のデジタル・テスト・カバレージを提供します。

【特徴】
○業界最高水準のテストカバレッジを実現可能
○低コスト治具で柔軟なデジタルテスト
○アジレントの最新技術を搭載

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

ピカリング社製120, 122, 124の各シリーズは、4mm角 垂直実装タイプの画期的な信号用リードリレーです。
その業界最小のフットプリントで驚異的な超高密度実装を実現、ATE装置の小型化に絶大な威力を発揮します。

業界での最高密度実装を実現する4mm角パッケージ
パワーに応じた3種類のラインナップ（5Ｗ, 10Ｗ, 20Ｗ）
Ａ接点タイプ／ノーマリーオープンタイプ（1 Form A NO）
高速スイッチング時間を実現、高速テストシステムに対応
絶縁抵抗10^12Ωオーダーの高アイソレーション

『MTP120A』は、内蔵ブルートゥースドングルを使用してDUTとの
ブルートゥース接続を確立した後のオーディオ性能をテストするために
開発された製品です。

20Hz～20kHzのトーン信号を0.1Hz単位で生成可能。シグナルアナライザ、
周波数応答、トーンレベル、歪み(SNR、SINAD、THD)を一度に測定可能。

同時に2台のブルートゥースDUTを接続することができ、また入力ポートと
出力ポートが4個ずつ付いているので、開発段階から生産ラインのテストまで
必要な要件を満たせる様に設計されています。

【ストロングポイント(一部)】
■ブルートゥース 2チャンネルの同時測定
■Bluetooth A2DP,HFP,HFS,SPP,AVRCPプロトコルをサポート
■シグナルジェネレータとシグナルアナライザの機能を統合
■オーディオ性能テスト(周波数・トーンレベル・SNR・THD・SINAD)の同時測定
■Bluetooth機能付の音響機器生産ラインに好適な入力4ポート・出力4ポートの搭載

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『CCシリーズ』は、シャーシ部がプレート毎に分離可能となり、追加加工等が
容易に出来るようになった汎用コンタクト治具です。

機構部とピンボード部は簡単に分離できるので、設計工数を大幅に削減可能。
本体は汎用的なプレスユニット構造のため、ピンボード部のみを
交換することもできます。

また、下ピンボード部が30mmストロークするため治具設計の自由度が増します。

【特長】
■RoHS2対応品
■プレート毎に分離可能なシャーシ部
■追加加工等が容易に出来る
■本体は汎用的なプレスユニット構造
■ピンボード部のみを交換することも可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

ALL-100AXはEPROM,EEPROM,シリアルPROM,Flash,PLD,CPLD,FPGA,MPU
,MCUなどあらゆるタイプのICに対応した万能デバイスプログラマです。さまざまなパッケージにも対応しています。最新のICが追加されたソフトが順次弊社のホームページからダウンロード可能で、購入後も新規IC用のアルゴリズムの追加が容易に行えます。高速多ピンドラバーで高速、低電圧デバイスを含め、あらゆるメモリで高速書き込み、信頼性の高い書き込みを実現しています。

『ST5520』は、最速50msで高速判定ができる絶縁抵抗試験器です。

残留電圧をすばやく放電します。また、コンタクトチェック機能を使うと、
検査前に検査対象にしっかりと接触しているかチェックが行え、接触せず
絶縁抵抗検査を行い、誤った判定をしてしまうことを防止できます。

【特長】
■最速50msですばやく判定
■高速自動放電機能搭載
■接触不良による誤判定防止
■自由な試験電圧値設定（ 1V分解能 25～1000V設定）
■不具合予備軍の市場流出防止

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『MEMSマイクロフォン用ソケット/圧力センサ用ソケット』は、
センサ用ソケットの開発で蓄積されたノウハウから誕生したソケットです。

業界最多レベルの豊富な品揃え。

また、試作から量産まで用途に合わせて成形、切削、3Dプリンター品を
ご用意しており、数量1個から製作可能です。

【特長】
■センサ用ソケットの開発で蓄積されたノウハウから誕生
■業界最多レベルの豊富な品揃え
■試作から量産まで用途に合わせて成形、切削、3Dプリンター品をご用意
■数量1個から製作可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

デュアルRFプローブ
（高周波プローブ）

特徴
・完全国内生産
・針先端：GSSG、GSGSG
・周波数：DC-40GHz
・インサションロス：2dB以下
・リターンロス：12dB以上
・ピッチ：75-600μm
・コネクタ：Kコネクタ
・高耐久
・ローコスト
・修理、リフレッシュ可能
・特殊使用承ります。

ロジック用　レーザクリーニングシステムＩＭＴ８００ＭＶ


＜＜＜＜　特徴　＞＞＞＞

□ ブラッシング、ケミカルクリーニング不要　
■ クリーニングプロセスへの移行が短時間で可能
□ クリーニング後の廃棄物・臭気がありません
■ ソケットピン表面のダメージ、
　　不完全クリーニング排除による能力向上

ロジック用ならでは。
●　マニュアルクリーニングプロセス
○　高速クリーニング（約10秒＠ソケット）
● プローブカードクリーニングも可能

KYECジャパン株式会社は、テストハウスとして1,900セットを超える
テスターを保有し、365日24時間量産体制のもと、お客様の量産ニーズに
柔軟に対応しております。

そこで、日本国内のお客様の量産テスト立ち上げ、量産工程サポートを
強力にバックアップする『KYECビジネス』をご提案しております。

【特長】
■量産移管サポート
■テスト開発(テストプログラム開発、ボード開発)
■量産工程サポート
■ローコストソリューション
■強力にバックアップ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社は、お客様仕様に合わせたテスト開発・生産能力改善をご提案致します。

製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法の構築・テストプログラム開発製作・
テストボード／プローブカードの開発製作を行っています。

「OST（Outliers Screening Test）」では、
自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、
ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化。

テストの個別項目の測定値について、分布を算出、主分布より外れた
データのチップを不良化する「PAT」や、テスト結果のマップデータにて
ウエハ上の位置的な分布より、良品分布から外れたチップを検出、不良化する
「GAT」テストなどがございます。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

通菱テクニカ株式会社では、優良なサービスを低価格でご提供しています。

独自の工程管理システムにてお客様からの受注を各工程ごとにきめ細かく管理。

また、高度な検査技術と熟練した品質管理技術で、製品の製造から品質保証まで
幅広い分野でお客様のお役に立ちます。

ご用命の際は、お気軽にお問い合わせ下さい。

【サービスラインアップ】
■ライティングサービス
■表面実装部品テーピングサービス
■レーザーマーキングサービス
■ICスクリーニングサービス

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

長波長レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。

＜特長＞
■ 供給から測定・分類などを全自動搬送できます
■ 最大13台のカメラにより運転状況の把握が容易です
■ +２０℃～-１００℃まで任意の温度で測定可能です
■FRONT光、BACK光のIL測定を同時に行います。

詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。
2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。

弊社の主力商品となりますケーブルチェッカーは2018年に誕生した初号機より、年々機能追加などのバージョンアップを重ね、様々なお客様のニーズにお応えできる様に変化を続けております。

コネクタの形状は最大50PINまで設置可能、しかもフルオーダー可能です。
更にはオプション基板実装スロットの増設により、通話機能や、DC電源発生器の機能を併せ持ったりと、可能性はまだまだ無限に広がっております。
最新機種に至ってはLCDを搭載し、PCとの接続によるログデータのやり取りや、同一ケーブルの自動チェック等、成長は止まりません！

是非御社が必要としている機能をご相談ください。

最新機種のデモ機貸し出しも実施しておりますので、どうぞお気軽にご連絡ください。

※詳しくはPDF資料(ATECS1801,1901を併せてご参照ください)をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

エム・イーシステム株式会社は、精密機器の製造工程で使用する治工具の設計・製作、また半導体後工程で使用する精密製造装置の設計・製作を主に精密機械・精密板金の加工を行っています。
水平搬送式テストハンドラーは、ICのパッケージ後の検査工程で、テスターと接続して使用し、テスターからのテスト結果信号に基づきICを良品と不良品に自動選別する装置です。
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

【製品特徴】

多種な高精度のデジタル抵抗測定器にも対応

■ 分離式プローブを利用して、様々な寸法の抵抗器に適応できる
■ 1mΩ-100MΩの測定範囲で異なるタイプの抵抗測定器を選択できる
■ お客様の要求に応じ、自社製の制御システムでコードスキャンとMESのカスタ イマイズにも対応

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

電子機器の開発に必要な機器が詰まった、開発者に開発効率の向上と開発のスピードアップを低コストで提供する製品をご提案します。
エンジニアの夢であった1人に1台の環境も可能になります。

「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。
水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。
汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。

【特徴】
○水銀レス
○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測
○高信頼性実現
○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続
○軽量・コンパクト

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011Aは電解コンデンサの漏れ電流を高い精度と安定度で、しかも高速に測定します。デジタルコンパレータを内蔵し、良否の選別を行ったうえで判定結果を出力。プリンター出力を標準装備していますので測定ごとにすべての判定データを印字することができます。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

DDR3信号の試験では非常に多様な計測を行わなければならないだけでなく、非常に多数のサイクルに渡る信号を対象にしなければなりません。こうした大量のデータ処理を短時間で行うことができると、捕らえられた測定値のワーストケースの信頼性が高くなります。多くの場合、QualiPHY-DDR3は、他の計測ソリューションが100個の計測を行う間に数千の計測を処理することができます。このことは、時間をかけて何度も繰り返し計測を行うのと同じ信頼性を1回の計測で済んでしまうことを意味し、大きな省力化につながります。
詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

「ICテストソケット 総合カタログ」は、ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGYやENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTIONのTEST SOCKETやBURN-IN SOCKETなど多数掲載したカタログです。
株式会社エンプラス半導体機器の「ICテストソケット」は、ICの高集積化に伴う超多ピン化、ファインピッチ化などあらゆるニーズに対応しております。

【掲載製品】
○ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGY
［ENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTION]
○TEST SOCKET
○BURN-IN SOCKET　他

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

『チェンジキット』は、全てのエプソン社製ハンドラに適した製品です。

品質、性能、機能等は、エプソンブランド時の優れたままに、
ミクナスブランドとして丸文株式会社より販売いたします。

互換品ではなく、設計から製作までエプソン標準の純正品と同じ
商品のご提供となります。

テストソケット、テストプロープ、テスト基板までワンストップでご提案いたします。
その他、様々なご要望にお応えいたしますので、お気軽にご相談下さい。

【特長】
■仕様のご指定等は従前同様
■自在なカスタマイズ及びオプション対応
■多彩な表面処理可能 (樹脂コーティング可能)
■オープントップソケット対応
■両面コンタクト対応可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

プリント基板等の検査用に使用される組み立て装置のご紹介です。
簡単操作で高い生産性向上に期待できます！

【特長】
・連続の安定した組み立てが可能
・着脱や組付け、カシメ動作が簡単
・小型かつ軽量

※詳しくはPDFカタログをダウンロードください