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エレクトロニクス検査・試験に関連する気になるカタログにチェックを入れると、まとめてダウンロードいただけます。
量産向けの高速検査とは？課題と対策・製品を解説
電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？
エレクトロニクス製品の量産ラインにおいて、製造された部品や製品の電気的特性を迅速かつ正確に評価するプロセスです。不良品の流出を防ぎ、生産効率を最大化することを目的とします。
各社の製品
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【IoTデバイス向け】TY-CHECKER Type E テスタ
IoTデバイス業界では、製品の信頼性を確保するために、基板の正確な電気検査が不可欠です。特に、多様なセンサーや通信モジュールが搭載されるIoTデバイスにおいては、接続不良やショート、オープンといった電気的な問題が、デバイスの動作不良やデータ通信の途絶を引き起こす可能性があります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、IoTデバイスの品質向上に貢献します。
【活用シーン】
・IoTデバイ ス製造における基板検査
・センサーモジュール、通信モジュールの接続性検査
・製品開発段階での試作基板の検査
【導入の効果】
・接続不良や電気的欠陥の早期発見
・製品の品質向上と信頼性向上
・検査時間の短縮による生産効率の向上
【医療機器向け】ICテストハンドラNS-8080SH
【データセンター向け】アドバンストパッケージ向けソケット
データセンター業界では、AIやビッグデータ処理の需要増加に伴い、高性能かつ高密度な半導体パッケージが求められています。これらのパッケージのテストにおいては、多Pin対応と高速動作が不可欠です。安定した電気的接続を確保しつつ、コスト効率も両立できる測定方法が重要となっています。当社の「アドバンストパッケージ向けソケット」は、PCR技術により、短距離接続と安定接触を実現し、多Pinパッケージ測定におけるコストメリットを提供します。大型パッケージのそりにも対応し、ストローク量不足の不安を解消します 。
【活用シーン】
・高密度パッケージのテスト
・多Pinパッケージの測定
・AI、ビッグデータ処理向けチップのテスト
【導入の効果】
・安定した電気的接続の確保
・コスト効率の向上
・高速動作テストへの対応
パッシブ除振台
HDD/SSD Tester D011G-3S1EX16
『HDD/SSD Tester D011G-3S1EX16』は、本体と拡張ボックスラックで
構成されています。
当社従来製品「D010」の測定セル数を増やしHDD/SSD量産試験用に適した
仕様となっており、セル当たりのコストがリーズナブル。
品質トレーサビリティを高めるためのレポーティング機能付き。
当社従来製品「D010」と同じで個別に異なった試験も可能となっています。
【特長】
■1vs16セルの大量のデュプリケーション対応
■大量のスクリーニン グ対応
■品質トレーサビリティ・レポーティング機能
■サマリーデータ・レポーティング機能
■技術者に納得いただける様なコマンド・編集機能を用意
■各セル毎による単独動作も可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ロードロック式周波数 調整装置 「SFE-B03-II」
ロードロック式周波数調整装置 「SFE-B03-II」は、省スペース・高精度・低価格、タクトタイム0.4 s/pcs以下を実現しました。（※SMD3.2 × 2.5, 24 MHz, H1000 ppm/s, L50 ppm/s の場合）
新型イオンガン (ビーム幅: 100 mm) 搭載で、標準24～32個同時処理が可能となりました。
高精度・高安定・高再現性の搬送機構により、2.0 × 1.6以下の微小ワークも安定して生産できます。
FLモード (負荷容量自動演算モード) を搭載しています。
イオンガン本体 、コンタクト機構のメンテナンス性が大幅向上しました。
２室ロードロック方式を採用することで、処理室は常時真空に保持されているので、タクトタイムが真空排気及び大気開放の時間に依存しません。
オプションユニットとしてオーバードライブ機構付ローダー・アンローダー装置装着により、連続運転が可能となりました。
【特徴】
○コンパクト設計
○高精度
○低価格
○高安定性
○高再現性
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
オンボード・フラッシュメモリ・プログラマFP-40
FP-40は、Cortex-Mコア内蔵フラッシュメモリをはじめ、様々なフラッシュメモリへ書き込むためのフラッシュ・プログラマです。
鮮明で見やすい有機ELディスプレイを搭載。
書込み結果・進行状況・残り時間・チェックサム等が一目で分かる。
給電機能で作業の効率をアップ。
外部の機器から当製品を制御する事で生産システムとして構築可能。
書き込み後の内蔵フラッシュ・メモリのプロテクト/セキュリテ ィ
処理も可能。
パソコンがなくても書き込みができ、フィールド・メンテナンスでの
ファームウェアの更新にも威力を発揮。
【特長】
■JTAG/SWDのデバッグインターフェースで接続
UARTやLINなどのカスタム対応も可能
■モバイルバッテリーで動作可能
■約4000種のデバイスに対応
■未対応のデバイスでもホームページから対応リクエストが可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
また、技術サポート付きの無償貸出を行っているほか、無料ウェビナーも随時行っています。お気軽にお問い合わせください。
半導体テスト開発/半導体テスト受託サービス
当社では、半導体テスト開発(テスト設計、テストプログラムコーディング、
治具設計製作、デバッグ、立上げ)から量産テスト受託まで一貫した
サ ービスを提供しております。
量産テストではテスター選定、テストの効率化、歩留まり改善を施し
好適なテストを実現するとともにお客様のニーズに合わせ、少量多品種、
試作評価にも対応。
その他、装置及び電子機器の設計製作・販売(装置ターンキー)や、
外観検査装置の販売・サポートも行っております。
【事業内容】
■テストターンキー
・半導体テスト開発/半導体テスト受託
■装置ターンキー
・装置及び電子機器の設計製作・販売
・外観検査装置の販売・サポート
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
テストソリューション『PCR』
【生産ライン用】HIROSEの高速度リレー自動検査装置
回路素子測定器『LCRメータ』
『テスタプラットホーム』のご提案
Multifunction Analyzer
MEMSマイクロフォン用ソケット/圧力センサ用ソケット
デュアルRFプローブ （高周波プローブ）
コンタクトプローブのご紹介｜先端径1μまで対応可能！
シングルチップテスタ- 抵抗値測定
絶縁抵抗試験器『ST5520』
計測機器 電解コンデンサ用LC測定器1011A
ATE基板
半導体テスト装置（ATE）向けの高精度基板を提供します。プローブカードは最大板厚6.35mm、反り量0.2%（2mils/inch）でのコントロールが可能。Advantest 93000&DD、Teradyne Ultra-FLEX/J750/ETS、Chroma 3380P等の主要ATEプラットフォームに対応した実績があります。パフォーマンスボードは最大板厚6.35mm、BGA 0.35mm対応、パッド オンビア凹み量10μm以下、バックドリル最小径0.25mm/深さ公差最小0.075mm。バーンインボードは最大28層、段差付き端子金めっき加工で高多層基板にも対応。HTOL/HAST/THBなどの各種試験タイプに対応し、MCC（HPB）、LC2等の試験設備での実績があります。設計から基板製造まで一貫対応可能です。
【デモ機貸出可】高速GANGプログラマ『AF9751』
『AF9751』は、開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応した
UFSメモリ専用の高速GANGプログラマです。
「Universal Flash Storage Association」規格の
Ver.3.1のUFSメモリに対して高速データ書込みを実現。
専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに
UFSデバイスに対し書込みが可能です。
【特長】
■UFSメモリ高速書込み
■開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応
■専用アプリケーション にて作成したプロジェクトファイルをもとに
UFSデバイスに対し書込み可能
■デバイス品種追加についてはWEB公開の専用アプリケーションを
ダウンロードいただくことで対応可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DCテスタ『471-TT』
『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を
実現したDCテスタです。
長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における
複数チップ同時測定を実現。
当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理
することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。
【特長】
■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの
向上
■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現
■ リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現
■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現
（Max 2kV/20A）
■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能
■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値）
以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ショートプローブ
スプリングコンタクトプローブの総合カタログ
スプリングコンタクトプローブのカタログを無料進呈中！！
★ご希望の方は、お問い合わせ下さい★
★一部のカタログはダウンロードからご覧いただけます★
【概要】
世界最大のワイヤーハーネス検査用プローブメーカーFEINMETALL社(独)の日本総代理店。
幅広い製品ラインアップによりワンストップソリューションを実現。特注仕様も承ります。大電流・高周波・回転・スイッチ・非磁性・耐熱...プローブのことなら何でもご相談下さい。
【製品例】
◆外径1.0mmのスイッチプローブ
◆600Aまで対応する大電流プローブ
◆20GHzまで対応する高周波プローブ
◆直径0.20mm・全長3.3mm・バネ圧60g・寿命100万回以上の半導体プローブ
ミックスドシグナルテストシステム SX-3000シリーズ
＜Pickering社＞リードリレーファインダー
○Pickering社リードリレー製品
■4mm^2 (フォーミリスクエアー) 超高密度実装リードリレー
3.9mm角の極小フットプリントで超高密度実装を実現！
業界最小のパッケージサイズで自動計測装置に貢献！
■SIL-SIP シングルインライン 高密度実装リードリレー
SIL-SIPパッケージに用途に応じた様々なコンフィギュレーションをラインナップ ピカリング社リードリレーの主力製品
■SIL-SIP シングルインライン ミューメタル外 装リードリレー
高密度実装で問題となる磁気干渉を抑止する "ミューメタル"パッケージを用いたタイプ
■200シリーズ 表面実装リードリレー / 5GHz対応
表面実装タイプの超小型高速信号用リードリレー
水銀タイプ、同軸タイプなどのコンフィギュレーションも提供可能
●上記以外のリードリレー各シリーズも、充実したラインナップを取り揃えております。
ソケット 開発サービス
フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』
『4170-IH』は、QFN、CSPなどのリードレスデバイスを
ダイシング後、そのままウェハリング上でテストするフィルムフレーム
テストハンドラです。
測定前にビジュアルによる位置補正（xyzθ）をすることにより、
デバイスの正確な位置情報とプローブピンの好適な測圧がストリップ上の
全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。
【特長】
■ハイスループット
■高耐荷重、高推力テーブ ル
■ストリップ貼り付けエリアを拡大
・縦260mm×横300mm以内（WLCSPはφ300mm以内）
■バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応
■品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換
※ダウンロード頂けるPDF資料は、英語版のカタログです。
詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
＜Pickering社＞ 4mm2超高密度実装リードリレー
高速インサーキットテスター『ESI-2020』
『ESI-2020』は、OSにMicrosoft Windows7,10を採用した
高速インサーキットテスターです。
従来の当社ICT「ESI-2002」に比べ、約25%の検査時間の短縮を実現。
通信方式にEthernetを採用し、4端子低抵抗測定機能を標準装備しました。
立ち作業向けタテ型機「ESI-2020ST」やインライン機「ESI-2020STB」など、
ご使用の条件に合わせて4つのモデルから選択可能です。
【特長】
■Windows 7,10にて動作
■超高速検査を実現
■通信方式にEthernetを採 用
■4端子低抵抗測定機能を標準装備
■ESI-2002のデーターの共有化と多彩な編集機能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『チェンジキット』
『チェンジキット』は、全てのエプソン社製ハンドラに適した製品です。
品質、性能、機能等は、エプソンブランド時の優れたままに、
ミクナスブランドとして丸文株式会社より販売いたします。
互換品ではなく、設計から製作までエプソン標準の純正品と同じ
商品のご提供となります。
テストソケット、テストプロープ、テスト基板までワンストップでご提案いたします。
その他、様々なご要望にお応えいたしますので、お気軽にご相談下さい。
【特長】
■仕様のご指定等は従前同様
■自在なカスタマイズ及びオプション対応
■多彩な表面処理可能 (樹脂コーティング可能)
■オープントップソケット対応
■両面コンタクト対応可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【生産性の向上に貢献】プローブ組立機
半導体テスタ レーザクリーニングシステム
『KYECビジネス』のご提案
ウエハテストの技術
当社は、お客様仕様に合わせたテスト開発・生産能力改善をご提案致します。
製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法の構築・テストプログラム開発製作・
テストボード／プローブカードの開発製作を行っています。
「OST（Outliers Screening Test）」では、
自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、
ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化。
テストの個別項目の測定値について、分布を算出、主分布より外れた
データのチップを不良化する「PAT」や、テスト結果のマップデータにて
ウエハ上の位置的な分布より、良品分布から外れたチップを検出、不良化する
「GAT」テストなどがございます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
プリント基板検査ユニット『CCシリーズ』
セラミックLED用高速分類機 NCS-4100
ICソケット
DCRF混在プローブ （電源と高周波の混在プローブ）
株式会社エンプラス半導体機器 ICソケット 総合カタログ
「ICテストソケット 総合カタログ」は、ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGYやENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTIONのTEST SOCKETやBURN-IN SOCKETなど多数掲載したカタログです。
株式会社エンプラス半導体機器の「ICテストソケット」は、ICの高集積化に伴う超多ピン化、ファインピッチ化などあらゆるニーズに対応しております。
【掲載製品】
○ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGY
［ENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTION]
○TEST SOCKET
○BURN-IN SOCKET 他
詳 しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
検査機器【ケーブルチェッカー】作業効率UP【動画・デモ機貸出有】
弊社の主力商品となりますケーブルチェッカーは2018年に誕生した初号機より、年々機能追加などのバージョンアップを重ね、様々なお客様のニーズにお応えできる様に変化を続けております。
コネクタの形状は最大50PINまで設置可能、しかもフルオーダー可能です。
更にはオプション基板実装スロットの増設により、通話機能や、DC電源発生器の機能を併せ持ったりと、可能性はまだまだ無限に広 がっております。
最新機種に至ってはLCDを搭載し、PCとの接続によるログデータのやり取りや、同一ケーブルの自動チェック等、成長は止まりません！
是非御社が必要としている機能をご相談ください。
最新機種のデモ機貸し出しも実施しておりますので、どうぞお気軽にご連絡ください。
※詳しくはPDF資料(ATECS1801,1901を併せてご参照ください)をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
120W ACアダプター PSE J62368を取得した外部電源
ACアダプターをお探しですか？
高品質なACアダプターをお探しならお任せください。
120WのPSEマークの表示ありのＡＣアダプター（電気用品安全法）。
出力はDC12V10AやDC24V5Aなど。
国際的な安全認証であるIEC62368-1適合したACアダプターです。
日本の電気用品安全法に基づくPSEマーク付き120WのACアダプターを
短納期でご提供しています。
【特長】
■ PSEマーク付き（電気用品安全法）
■ IEC62368-1適合（一部60950-1）
■ ご希望のDCプラグ接続可
■ 長期安定供給
■ 全数検査実施
■ 長期保証1年
貴社で開発中の電子機器や、輸入予定の電気製品への接続にぜひご検討ください。
ACアダプターには、お客様指定のDCプラグ、二次側コネクタの接続もお気軽にご相談ください。
信頼性を重視しOVPやSCPなど各種保護回路を搭載しています。
長期安定供給、全数検査実施、スタッフ一貫対応、アフターサポート、長期保証しています。
※最新の規格適合状況はお問合せください。
※ACアダプタ―のご用命はお気軽にお申し付けください。
MEMSテストハンドラ『ULTRA P』
「インサーキットテスター」フラグシップモデル
実装基板チェッカー
テストハンドラー『TH285』
『TH285』は、最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに
接続可能なSOP、SSOP、DIP用テストハンドラーです。
アルミあるいはプラスチックのマガジンにより供給されたICを、個別に
取り出し、1個あるいは2個同時に測定ソケットに装着して、測定結果に
基づき指定のスティックに分類収納します。
小型化、品種交換簡素化、メンテナンス簡素化、付加オプションの充実を
考慮してあります。
【特長】
■大型テストボックスが接続できる大量生産タイプ
■最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに接続可能
■品種交換が簡単
■タッチパネルによる簡単な操作性
■リード検査機構がオプションで搭載可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フラッシュ書込ツール - Flasher ARM
リレー自動試験システム
無料モニタ貸出 JTAGポートに挿すだけで簡単FPGAコンフィグ
【モニタ条件】
◆下記３点がご了解いただければ、最長３週間、お貸し出し致します。
(1)JTAGポートが装備された評価可能なFPGAボードを準備できること。
(2)後日、ご利用いただいたご感想にご協力いただけること。
(3)モニタ終了後、お客様ご負担で、弊社にモニタ品を返送していただけること。（ご購入の場合はそのままご利用いただくことも可能です。）発送時は弊社が負担します。
【製品説明】
◆JTAGポート が装備されたボードであれば、本モジュールを挿すだけでmicroSDCardからコンフィグが可能となります。
◆出来合いのEvaluation Kitや、製品ボードの評価やデバッグにご利用いただけます。
◆煩わしいJTAGケーブルの接続から開放されます。
◆指定するバイナリデータによって、FPGAのコンフィグRAMに毎回コンフィグする【シンプルモード】と、FPGAに接続されているSPIやBPIを書き換える【プロフェッショナルモード】の２つのモードがあります。
◆これら２つのモードは、使用するファイルで自動的に選択され、実行されます。
ハンディタイプ USB-eMMCプログラマ
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電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査
電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？
エレクトロニクス製品の量産ラインにおいて、製造された部品や製品の電気的特性を迅速かつ正確に評価するプロセスです。不良品の流出を防ぎ、生産効率を最大化することを目的とします。
課題
検査時間のボトルネック化
製品の複雑化に伴い、個々の検査項目が増加し、全体の検査時間が長くなることで生産ラインの速度が低下する。
多品種少量生産への対応困難
多種多様な製品が混在するラインでは、検査プログラムの切り替えや設定に時間がかかり、迅速な対応が難しい。
検査精度の維持と高速化の両立
検査速度を上げると、微細な異常を見逃すリスクが増加し、品質低下につながる可能性がある。
データ管理と解析の非効率性
大量の検査データをリアルタイムで収集・分析するシステムが未整備で、問題点の早期発見や改善に時間がかかる。
対策
並列検査システムの導入
複数の検査項目を同時に実行できるテスタやシステムを導入し、検査時間を大幅に短縮する。
自動化・省力 化された検査治具
製品の着脱や検査設定を自動化する治具を使用し、オペレーターの負担軽減と検査時間の短縮を図る。
AIを活用した異常検知
AIが過去の検査データを学習し、異常パターンを高速かつ高精度に検知することで、検査員の負担を減らし、見逃しを防ぐ。
統合型検査データ管理システム
検査データを一元管理し、リアルタイムで分析・可視化できるシステムを導入し、迅速な意思決定を支援する。
対策に役立つ製品例
高速並列検査システム
複数の検査モジュールを搭載し、同時に異なる電気的特性を測定することで、検査時間を劇的に短縮する。
インテリジェント自動検査ステーション
製品の自動搬送、位置決め、検査プログラムの自動選択・実行機能を備え、多品種少量生産にも柔軟に対応する。
機械学習ベースの品質予測ツール
検査データから製品の潜在的な不良リスクを予測し、早期に改善策を講じることで、品質の安定化と検査効率向上に貢献する。
クラウド型検査データ分析サービス
膨大な検査データをクラウド上で集約・分析し、生産ライン全体のパフォーマンスを可視化することで、継続的な改善活動を支援する。
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