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エレクトロニクス検査・試験

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エレクトロニクス検査・試験

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量産向けの高速検査とは？課題と対策・製品を解説

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外観・画像検査

生産ラインの高速化
全数検査の実施
位置ずれ・浮き
検査基準の数値化
欠け・割れの検出
異物の付着検出
変形・形状不良の検出
寸法不良の検出
複雑形状の検査
狭小部の検査
多点検査
マーキング・印字の確認
色味の異常・変色
はんだ付け不良
キズの検出
異種部品の混入
汚れ・シミの検出
実装不良の検出
検査速度の向上
不良品の流出防止
生産ラインの高速化
全数検査の実施
位置ずれ・浮き

電気的検査・テスタ

ベアボード導通
実装基板ショート検査
配線不良の検出
電源ショートの検査
はんだボールの接続
IC接触不良
ワイヤーボンディング不良
多層基板の故障解析
高密度基板の検査
完成品の動作確認
IC内部の機能検証
通信機能の検査
複雑回路網の診断
リペア後の基板検査
多機能製品の検査
デバイス特性の評価
多ピンICの検査
メモリICの検査
高速デバイスの信号評価
信号波形の解析
高電圧・高電流の検査
高周波回路の検査
小ロット生産向け検査
量産向けの高速検査
ベアボード導通
実装基板ショート検査
配線不良の検出

非破壊検査

はんだ接合部のボイド
ワイヤーの断線・接触不良
内部構造の透視
高密度部品の内部検査
多層構造の評価
異種材料の混入
めっき層の厚さ
多層基板の層間剥離
実装位置ずれ・傾き
全数検査の実現
内部配線の断線
寸法・形状の測定
内部のクラック
故障発生時の原因特定
表面下の欠陥を検出
複合材料内部の検査
はんだ量の適正評価
部品内部の構造観察
偽造（模倣品）検査
表面の微細キズ・汚れ
トレーサビリティの確保
はんだ接合部のボイド
ワイヤーの断線・接触不良
内部構造の透視

物理・環境試験・分析

接続部の強度
振動耐久性
落下衝撃耐性
ねじれ・変形の影響分析
摩耗・摩擦への耐性
曲げ疲労寿命の予測
湿気・結露による絶縁抵抗
実装部の接合信頼性
低温起動・動作の保証
温度変化への耐性
熱サイクルによる寿命
挿抜耐久性
低圧・高圧環境下の動作
筐体の耐久性
塩害・腐食耐性
製品の故障原因を究明
材料の熱特性評価
化学薬品耐性
IPコードの検証
競合品の技術分析
異種材料間の熱膨張差
接続部の強度
振動耐久性
落下衝撃耐性

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テスタ
リワーク／リペア装置
外観検査装置
検査関連部品
測定・試験・分析機器
非破壊検査装置
分析受託サービス
その他エレクトロニクス検査・試験
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電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？

エレクトロニクス製品の量産ラインにおいて、製造された部品や製品の電気的特性を迅速かつ正確に評価するプロセスです。不良品の流出を防ぎ、生産効率を最大化することを目的とします。

各社の製品

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【データセンター向け】アドバンストパッケージ向けソケット

【データセンター向け】アドバンストパッケージ向けソケット
株式会社JMT
データセンター業界では、AIやビッグデータ処理の需要増加に伴い、高性能かつ高密度な半導体パッケージが求められています。これらのパッケージのテストにおいては、多Pin対応と高速動作が不可欠です。安定した電気的接続を確保しつつ、コスト効率も両立できる測定方法が重要となっています。当社の「アドバンストパッケージ向けソケット」は、PCR技術により、短距離接続と安定接触を実現し、多Pinパッケージ測定におけるコストメリットを提供します。大型パッケージのそりにも対応し、ストローク量不足の不安を解消します。 【活用シーン】 ・高密度パッケージのテスト ・多Pinパッケージの測定 ・AI、ビッグデータ処理向けチップのテスト 【導入の効果】 ・安定した電気的接続の確保 ・コスト効率の向上 ・高速動作テストへの対応
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【IoTデバイス向け】TY-CHECKER Type E テスタ

【IoTデバイス向け】TY-CHECKER Type E テスタ
太洋テクノレックス株式会社
IoTデバイス業界では、製品の信頼性を確保するために、基板の正確な電気検査が不可欠です。特に、多様なセンサーや通信モジュールが搭載されるIoTデバイスにおいては、接続不良やショート、オープンといった電気的な問題が、デバイスの動作不良やデータ通信の途絶を引き起こす可能性があります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、IoTデバイスの品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・IoTデバイス製造における基板検査 ・センサーモジュール、通信モジュールの接続性検査 ・製品開発段階での試作基板の検査 【導入の効果】 ・接続不良や電気的欠陥の早期発見 ・製品の品質向上と信頼性向上 ・検査時間の短縮による生産効率の向上
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【医療機器向け】ICテストハンドラNS-8080SH

【医療機器向け】ICテストハンドラNS-8080SH
兼松ＰＷＳ株式会社
医療機器業界では、製品の品質と信頼性が最重要視されます。特に、精密な電子部品を使用する医療機器においては、ICの正確なテストが不可欠です。テストの精度が低いと、機器の誤作動や性能低下につながり、患者さんの安全を脅かす可能性があります。株式会社NSテクノロジーズのICテストハンドラNS-8080SHは、高いスループットと温度管理機能を備え、医療機器製造におけるICテストの効率化と品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・医療用電子機器のICテスト ・精密電子部品の選別 ・品質管理部門での検査 【導入の効果】 ・テスト時間の短縮 ・不良品の早期発見 ・製品の信頼性向上
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パッシブ除振台

パッシブ除振台
藤倉コンポジット株式会社
エレクトロニクス制御分野では、微小な振動が試験結果に大きな影響を与える可能性があります。特に、精密機器の性能評価においては、外部からの振動を極限まで抑制することが重要です。当社のパッシブ除振台は、振動問題を解決し、正確なデータ取得を可能にします。 【活用シーン】 * 精密機器の性能試験 * 振動試験 * クリーンルーム環境下での精密測定 【導入の効果】 * 装置特性の信頼性向上 * 精度の向上 * 加工時間の短縮
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テストソリューション『PCR』

テストソリューション『PCR』
株式会社JMT
『PCR』は、今後の5G、IoT時代に向けたハイスペックなパッケージに最適なテストソリューションです。低インダクタンス、低抵抗及び低接触特性を必要とする高周波検査に優れた性能を発揮します。また、シンプルな構造により、メンテナンスが容易で、ソケット交換時の生産ラインの停止時間が短縮でき生産性向上を可能とします。 【特長】 ■測定基板などにダメージを与えない ■優れた価格優位性 ■メンテナンスが用意 ■生産性向上が可能 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい
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シリアルEEPROMプログラマ『EPW-30S』

シリアルEEPROMプログラマ『EPW-30S』
株式会社ソリトンウェーブ
『EPW-30S』は、USB 対応のシリアルEEPROMプログラマです。 使いやすい専用アプリケーションが付属。 また、ユーザー独自のアプリケーション開発用に専用のDLLも付属しています。 標準的なSPIタイプとI2CタイプのシリアルEEPROMに対応しています。 【特長】 ■32ビットまたは64ビット Windows7、Windows8、Windows8.1、Windows10 に対応 ■USB 2.0 Full Speed 対応 ■デバイス未挿入の検出機能 ■ユーザアプリケーション対応のDLL付属 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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株式会社H・Iシステック　各種半導体テスト事業のご紹介

株式会社H・Iシステック　各種半導体テスト事業のご紹介
株式会社H・Iシステック
株式会社H・Iシステックは、バーインボードを始めとするさまざまな 半導体関連テスト基板を設計・製作しております。 半導体テスト工程全般（ウェハー、バーンイン、ファイナル）のテスト 関連基板に設計から製作まで顧客仕様に応じて対応。 また、より良い検査体制にて間違いない確実な製品をご提供しております。 【製品】 ■バーンインボード ■前工程テスト基板 ■変換基板 ■パフォーマンスボード　など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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『チェンジキット』

『チェンジキット』
ミクナスファインエンジニアリング株式会社
『チェンジキット』は、全てのエプソン社製ハンドラに適した製品です。 品質、性能、機能等は、エプソンブランド時の優れたままに、 ミクナスブランドとして丸文株式会社より販売いたします。 互換品ではなく、設計から製作までエプソン標準の純正品と同じ 商品のご提供となります。 テストソケット、テストプロープ、テスト基板までワンストップでご提案いたします。 その他、様々なご要望にお応えいたしますので、お気軽にご相談下さい。 【特長】 ■仕様のご指定等は従前同様 ■自在なカスタマイズ及びオプション対応 ■多彩な表面処理可能 (樹脂コーティング可能) ■オープントップソケット対応 ■両面コンタクト対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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オプティマイズドDCテストシステム

オプティマイズドDCテストシステム
株式会社シバソク
シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。 2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。
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DDR3コンプライアンス・テスト・オプションQPHY-DDR3

DDR3コンプライアンス・テスト・オプションQPHY-DDR3
テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社
DDR3信号の試験では非常に多様な計測を行わなければならないだけでなく、非常に多数のサイクルに渡る信号を対象にしなければなりません。こうした大量のデータ処理を短時間で行うことができると、捕らえられた測定値のワーストケースの信頼性が高くなります。多くの場合、QualiPHY-DDR3は、他の計測ソリューションが100個の計測を行う間に数千の計測を処理することができます。このことは、時間をかけて何度も繰り返し計測を行うのと同じ信頼性を1回の計測で済んでしまうことを意味し、大きな省力化につながります。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
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オンボード・フラッシュメモリ・プログラマFP-40

オンボード・フラッシュメモリ・プログラマFP-40
株式会社コンピューテックス　　
FP-40は、Cortex-Mコア内蔵フラッシュメモリをはじめ、様々なフラッシュメモリへ書き込むためのフラッシュ・プログラマです。 鮮明で見やすい有機ELディスプレイを搭載。 書込み結果・進行状況・残り時間・チェックサム等が一目で分かる。 給電機能で作業の効率をアップ。 外部の機器から当製品を制御する事で生産システムとして構築可能。 書き込み後の内蔵フラッシュ・メモリのプロテクト/セキュリティ 処理も可能。 パソコンがなくても書き込みができ、フィールド・メンテナンスでの ファームウェアの更新にも威力を発揮。 【特長】 ■JTAG/SWDのデバッグインターフェースで接続 　UARTやLINなどのカスタム対応も可能 ■モバイルバッテリーで動作可能 ■約4000種のデバイスに対応 ■未対応のデバイスでもホームページから対応リクエストが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 また、技術サポート付きの無償貸出を行っているほか、無料ウェビナーも随時行っています。お気軽にお問い合わせください。
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セラミックLED用高速分類機　NCS-4100

セラミックLED用高速分類機　NCS-4100
ワイエイシイガーター株式会社
NCS-4100は、パーツフィーダより供給されるセラミックLEDの輝度、色調、電気的特性を積分球測定し、ランク別に各収納箱へ自動選別するマシンです。処理能力は最速0.25秒/個を実現しました。排出部の自由落下方式の採用等、セラミックワークへの衝撃緩和を考慮した装置です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』

フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』
株式会社テセック
『4170-IH』は、QFN、CSPなどのリードレスデバイスを ダイシング後、そのままウェハリング上でテストするフィルムフレーム テストハンドラです。 測定前にビジュアルによる位置補正（xyzθ）をすることにより、 デバイスの正確な位置情報とプローブピンの好適な測圧がストリップ上の 全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。 【特長】 ■ハイスループット ■高耐荷重、高推力テーブル ■ストリップ貼り付けエリアを拡大 ・縦260mm×横300mm以内（WLCSPはφ300mm以内） ■バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応 ■品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換 ※ダウンロード頂けるPDF資料は、英語版のカタログです。 　詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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＜Pickering社＞リードリレーファインダー

＜Pickering社＞リードリレーファインダー
株式会社コムクラフト
○Pickering社リードリレー製品 ■4mm^2 (フォーミリスクエアー) 超高密度実装リードリレー 3.9mm角の極小フットプリントで超高密度実装を実現！ 業界最小のパッケージサイズで自動計測装置に貢献！ ■SIL-SIP シングルインライン 高密度実装リードリレー SIL-SIPパッケージに用途に応じた様々なコンフィギュレーションをラインナップ ピカリング社リードリレーの主力製品 ■SIL-SIP シングルインライン ミューメタル外装リードリレー 高密度実装で問題となる磁気干渉を抑止する "ミューメタル"パッケージを用いたタイプ ■200シリーズ 表面実装リードリレー / 5GHz対応 表面実装タイプの超小型高速信号用リードリレー 水銀タイプ、同軸タイプなどのコンフィギュレーションも提供可能 ●上記以外のリードリレー各シリーズも、充実したラインナップを取り揃えております。
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リレー自動試験システム

リレー自動試験システム
株式会社中央電機計器製作所
リレーをソケットに挿入し、画面上のスタートボタンを押すだけで簡単に試験が出来ます。 同時に複数個リレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示します。 数十秒以下で全項目の測定を完了出来るので、業務の効率化に貢献します。
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株式会社エンプラス半導体機器　ICソケット 総合カタログ

株式会社エンプラス半導体機器　ICソケット 総合カタログ
株式会社エンプラス半導体機器
「ICテストソケット 総合カタログ」は、ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGYやENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTIONのTEST SOCKETやBURN-IN SOCKETなど多数掲載したカタログです。 株式会社エンプラス半導体機器の「ICテストソケット」は、ICの高集積化に伴う超多ピン化、ファインピッチ化などあらゆるニーズに対応しております。 【掲載製品】 ○ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGY ［ENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTION] ○TEST SOCKET ○BURN-IN SOCKET　他 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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SPIフラッシュプログラマ FP-30

SPIフラッシュプログラマ FP-30
株式会社コンピューテックス　　
FP-30 は、1個書きの超高速SPIフラッシュ(Serial NOR Flash Memory)専用プログラマです。 これ1台で「オンボード」と「オフボード」両方の書込み方式に対応。 オンボード・モデルでは、ボードに接続するための専用ケーブル型アダプタを、オフボード・モデルでは各種パッケージに対応した専用ソケット型アダプタをご用意しています。 書込み速度はデバイスの実力値を実現。さらに高速に書込める「高電圧書込み機能」もサポートしています。 当社製FP-10と同様にLEDおよびブザーによる結果のお知らせ機能はもちろん、各プロセスや経過時間が有機ELディスプレイに表示され、進行状況と残り時間を一目で確認できます。
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HDD/SSD Tester D011G-3S1EX16

HDD/SSD Tester D011G-3S1EX16
株式会社ダイチューテクノロジーズ
『HDD/SSD Tester D011G-3S1EX16』は、本体と拡張ボックスラックで 構成されています。 当社従来製品「D010」の測定セル数を増やしHDD/SSD量産試験用に適した 仕様となっており、セル当たりのコストがリーズナブル。 品質トレーサビリティを高めるためのレポーティング機能付き。 当社従来製品「D010」と同じで個別に異なった試験も可能となっています。 【特長】 ■1vs16セルの大量のデュプリケーション対応 ■大量のスクリーニング対応 ■品質トレーサビリティ・レポーティング機能 ■サマリーデータ・レポーティング機能 ■技術者に納得いただける様なコマンド・編集機能を用意 ■各セル毎による単独動作も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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フラッシュプログラミングシステム

フラッシュプログラミングシステム
ウェーブテクノロジー株式会社
□■書き込み時のオーバーヘッドを最適化 　　　　　　デバイスの実力値に接近した処理速度を実現！■□ 【特長】 ●WindowsベースのGUIによる簡単・快適な操作性 ●量産性が大幅にUP！試作研究開発にも威力発揮！ ●各種パッケージに迅速に対応！ 【主な仕様】 ・ＰＣベースのプログラミングシステム(Wndows2000/WndowsXPのみ対応) ・USB1.1 インターフェイス搭載 ・TSOP,PLCC,FBGA,uBGA,QFPなどの各種パッケージに迅速に対応 ・標準メモリー　4Gビット ・サイズ・重量　330Wx310Dx95H　4.5Kg（付属品を除く）
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大電流プローブ(High Current Probes)

大電流プローブ(High Current Probes)
テスプロ株式会社
最大６００Aまで対応；ファインピッチ対応（ピッチ0.5mmから）。プラグインタイプとねじ式、内バネ式と外バネ式がございます。
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スプリングコンタクトプローブの総合カタログ

スプリングコンタクトプローブの総合カタログ
テスプロ株式会社
スプリングコンタクトプローブのカタログを無料進呈中！！ ★ご希望の方は、お問い合わせ下さい★ ★一部のカタログはダウンロードからご覧いただけます★ 【概要】 世界最大のワイヤーハーネス検査用プローブメーカーFEINMETALL社(独)の日本総代理店。 幅広い製品ラインアップによりワンストップソリューションを実現。特注仕様も承ります。大電流・高周波・回転・スイッチ・非磁性・耐熱...プローブのことなら何でもご相談下さい。 【製品例】 ◆外径1.0mmのスイッチプローブ ◆600Aまで対応する大電流プローブ ◆20GHzまで対応する高周波プローブ ◆直径0.20mm・全長3.3mm・バネ圧60g・寿命100万回以上の半導体プローブ
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【デモ機貸出可】高速GANGプログラマ『AF9751』

【デモ機貸出可】高速GANGプログラマ『AF9751』
東亜エレクトロニクス株式会社
『AF9751』は、開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応した UFSメモリ専用の高速GANGプログラマです。 「Universal Flash Storage Association」規格の Ver.3.1のUFSメモリに対して高速データ書込みを実現。 専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに UFSデバイスに対し書込みが可能です。 【特長】 ■UFSメモリ高速書込み ■開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応 ■専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに 　UFSデバイスに対し書込み可能 ■デバイス品種追加についてはWEB公開の専用アプリケーションを 　ダウンロードいただくことで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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フラッシュメモリプログラマ『FL-PR6』

フラッシュメモリプログラマ『FL-PR6』
株式会社内藤電誠町田製作所
『FL-PR6』は、量産ライン書込みのほか、オンサイトメンテナンスにも 適したフラッシュメモリプログラマです。 Renesas製RL78ファミリからRXファミリやRH850ファミリ、さらに 新ファミリのRAファミリやREファミリにも対応。 従来品の主要な機能はそのまま継承し、互換性を重視しました。 【特長】 ■Renesas製フラッシュメモリ内蔵マイコン対応 ■量産ライン書込みのほか、オンサイトメンテナンスにも好適 ■従来品の主要な機能はそのまま継承し、互換性を重視 ■書き込み時間を短縮 ■量産コスト削減に寄与(最大40%短縮) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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次世代小型高性能SFPインサーキット・テスタ 「i1000D」

次世代小型高性能SFPインサーキット・テスタ 「i1000D」
協立テストシステム株式会社
「Agilent Medalist i1000D」は、次世代に対応した業界最小クラスの高性能PCB製造ライン向けインサーキット・テスタです。 さらに、バウンダリ・スキャン・テスト、オンボード・プログラミング、ライブラリ・ベースのデジタル・テスト、パーピン・プログラマブル・デジタル・ドライバ／レシーバなど、真のデジタル・テスト・カバレージを提供します。 【特徴】 ○業界最高水準のテストカバレッジを実現可能 ○低コスト治具で柔軟なデジタルテスト ○アジレントの最新技術を搭載 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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実装基板チェッカー

実装基板チェッカー
株式会社タツミ
当社では、ワンタッチ操作で生産性向上を実現する 『実装基板チェッカー』を取り扱っております。 信頼のある製品作りの手助けに貢献いたします。 また各メーカー様仕様のオーダーも承っておりますので、 お気軽にご相談ください。 【ラインアップ】 ■NUタイプ ■TBタイプ ■TBWEBタイプ/TBWEタイプ ■TBWBTタイプ ■YKTタイプ　など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。 ※受注生産のため「価格表」はございません。
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テストハンドラー『TH285』

テストハンドラー『TH285』
綜和機電株式会社
『TH285』は、最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに 接続可能なSOP、SSOP、DIP用テストハンドラーです。 アルミあるいはプラスチックのマガジンにより供給されたICを、個別に 取り出し、1個あるいは2個同時に測定ソケットに装着して、測定結果に 基づき指定のスティックに分類収納します。 小型化、品種交換簡素化、メンテナンス簡素化、付加オプションの充実を 考慮してあります。 【特長】 ■大型テストボックスが接続できる大量生産タイプ ■最大4カ所の測定部を持ち、各種テストボックスに接続可能 ■品種交換が簡単 ■タッチパネルによる簡単な操作性 ■リード検査機構がオプションで搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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ミックスドシグナルテストシステム　SX-3000シリーズ

ミックスドシグナルテストシステム　SX-3000シリーズ
株式会社スパンドニクス
テストコスト削減の要求に応えるべく、多数個同時測定ハイスループットを実現した、最新型テスタです。 測定精度向上のため、細部にわたり、最新の技術を導入しています。用途に合わせた、3種の汎用パーピンのほか、各種パワー電源、デジタルオプション、ACオプションなどもご用意し、広範なデバイスに対応します。 また、数多くのお客様に採用されているSX-2100シリーズとはアプリケーション互換ですので、テスト資産の共有化が図れます。
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＜Pickering社＞　4mm2超高密度実装リードリレー

＜Pickering社＞　4mm2超高密度実装リードリレー
株式会社コムクラフト
ピカリング社製120, 122, 124の各シリーズは、4mm角 垂直実装タイプの画期的な信号用リードリレーです。 その業界最小のフットプリントで驚異的な超高密度実装を実現、ATE装置の小型化に絶大な威力を発揮します。 業界での最高密度実装を実現する4mm角パッケージ パワーに応じた3種類のラインナップ（5Ｗ, 10Ｗ, 20Ｗ） Ａ接点タイプ／ノーマリーオープンタイプ（1 Form A NO） 高速スイッチング時間を実現、高速テストシステムに対応 絶縁抵抗10^12Ωオーダーの高アイソレーション
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デュアルRFプローブ　　（高周波プローブ）

デュアルRFプローブ　　（高周波プローブ）
株式会社テクノプローブ
デュアルRFプローブ （高周波プローブ） 特徴 ・完全国内生産 ・針先端：GSSG、GSGSG ・周波数：DC-40GHz ・インサションロス：2dB以下 ・リターンロス：12dB以上 ・ピッチ：75-600μm ・コネクタ：Kコネクタ ・高耐久 ・ローコスト ・修理、リフレッシュ可能 ・特殊使用承ります。
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ロードロック式周波数調整装置 「SFE-B03-II」

ロードロック式周波数調整装置 「SFE-B03-II」
株式会社昭和真空
ロードロック式周波数調整装置 「SFE-B03-II」は、省スペース・高精度・低価格、タクトタイム0.4 s/pcs以下を実現しました。（※SMD3.2 × 2.5, 24 MHz, H1000 ppm/s, L50 ppm/s の場合） 新型イオンガン (ビーム幅: 100 mm) 搭載で、標準24～32個同時処理が可能となりました。 高精度・高安定・高再現性の搬送機構により、2.0 × 1.6以下の微小ワークも安定して生産できます。 FLモード (負荷容量自動演算モード) を搭載しています。 イオンガン本体、コンタクト機構のメンテナンス性が大幅向上しました。 ２室ロードロック方式を採用することで、処理室は常時真空に保持されているので、タクトタイムが真空排気及び大気開放の時間に依存しません。 オプションユニットとしてオーバードライブ機構付ローダー・アンローダー装置装着により、連続運転が可能となりました。 【特徴】 ○コンパクト設計 ○高精度 ○低価格 ○高安定性 ○高再現性 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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フラッシュ書込ツール - Flasher ARM

フラッシュ書込ツール - Flasher ARM
株式会社エンビテック
フラッシュ書き込みツール「Flasher」シリーズでは、生産ラインでのスタンドアローンモード（パソコン側のプログラム起動は不要）で、数多くのマイコンデバイスの内蔵フラッシュはもちろん、外付けのNOR/SPIフラッシュメモリへの書き込み可能です。
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MEMSマイクロフォン用ソケット/圧力センサ用ソケット

MEMSマイクロフォン用ソケット/圧力センサ用ソケット
エム・アイ・エス テクノロジー株式会社
『MEMSマイクロフォン用ソケット/圧力センサ用ソケット』は、 センサ用ソケットの開発で蓄積されたノウハウから誕生したソケットです。 業界最多レベルの豊富な品揃え。 また、試作から量産まで用途に合わせて成形、切削、3Dプリンター品を ご用意しており、数量1個から製作可能です。 【特長】 ■センサ用ソケットの開発で蓄積されたノウハウから誕生 ■業界最多レベルの豊富な品揃え ■試作から量産まで用途に合わせて成形、切削、3Dプリンター品をご用意 ■数量1個から製作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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半導体テスタ「オートマティックDCテスター ATS-3201」

半導体テスタ「オートマティックDCテスター ATS-3201」
株式会社イーアールディー
「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。 水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。 汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。 【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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『テスタプラットホーム』のご提案

『テスタプラットホーム』のご提案
KYECジャパン株式会社
KYECジャパン株式会社は、1,900台以上の各種LSIテスタを保有しており、 お客様のご要求に応える好適なプラットフォームをご提案いたします。 各種装置も多数取り揃えております。 【試験装置ラインナップ】 ■プローバー ■ハンドラー ■レーザーリペア ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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半導体製造装置　水平搬送式テストハンドラー

半導体製造装置　水平搬送式テストハンドラー
エム・イーシステム株式会社
エム・イーシステム株式会社は、精密機器の製造工程で使用する治工具の設計・製作、また半導体後工程で使用する精密製造装置の設計・製作を主に精密機械・精密板金の加工を行っています。 水平搬送式テストハンドラーは、ICのパッケージ後の検査工程で、テスターと接続して使用し、テスターからのテスト結果信号に基づきICを良品と不良品に自動選別する装置です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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『KYECビジネス』のご提案

『KYECビジネス』のご提案
KYECジャパン株式会社
KYECジャパン株式会社は、テストハウスとして1,900セットを超える テスターを保有し、365日24時間量産体制のもと、お客様の量産ニーズに 柔軟に対応しております。 そこで、日本国内のお客様の量産テスト立ち上げ、量産工程サポートを 強力にバックアップする『KYECビジネス』をご提案しております。 【特長】 ■量産移管サポート ■テスト開発(テストプログラム開発、ボード開発) ■量産工程サポート ■ローコストソリューション ■強力にバックアップ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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ATE基板

ATE基板
株式会社シグナス
海外の超一流メーカーでATE基板の製造を行います。 プローブカード、パフォーマンスボード、バーンインボードなど実績多数です。 AW設計対応（国内）も可能です。
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ブルートゥース・オーディオテスター『MTP120A』

ブルートゥース・オーディオテスター『MTP120A』
株式会社テイエスエスジャパン
『MTP120A』は、内蔵ブルートゥースドングルを使用してDUTとの ブルートゥース接続を確立した後のオーディオ性能をテストするために 開発された製品です。 20Hz～20kHzのトーン信号を0.1Hz単位で生成可能。シグナルアナライザ、 周波数応答、トーンレベル、歪み(SNR、SINAD、THD)を一度に測定可能。 同時に2台のブルートゥースDUTを接続することができ、また入力ポートと 出力ポートが4個ずつ付いているので、開発段階から生産ラインのテストまで 必要な要件を満たせる様に設計されています。 【ストロングポイント(一部)】 ■ブルートゥース 2チャンネルの同時測定 ■Bluetooth A2DP,HFP,HFS,SPP,AVRCPプロトコルをサポート ■シグナルジェネレータとシグナルアナライザの機能を統合 ■オーディオ性能テスト(周波数・トーンレベル・SNR・THD・SINAD)の同時測定 ■Bluetooth機能付の音響機器生産ラインに好適な入力4ポート・出力4ポートの搭載 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011A

計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011A
アール・エス・ティ・エンジニアリング株式会社
計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011Aは電解コンデンサの漏れ電流を高い精度と安定度で、しかも高速に測定します。デジタルコンパレータを内蔵し、良否の選別を行ったうえで判定結果を出力。プリンター出力を標準装備していますので測定ごとにすべての判定データを印字することができます。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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回路素子測定器『LCRメータ』

回路素子測定器『LCRメータ』
株式会社エヌエフ回路設計ブロック
高速・高精度で安定した測定を実現したLCRメータシリーズのご紹介です。 1mHzの低周波領域から最高5.5MHzまで、広い周波数範囲をカバーする LCRメータ ZMシリーズ。高速かつバラツキの少ない安定した測定で、 材料の研究から部品の生産ラインまで、幅広い用途に対応。 「ZM2371」「ZM2372」「ZM2376」の3種類をラインアップしました。 【機能（抜粋）】 ■広い測定周波数範囲と高分解能設定 ■広い測定レベルとALC機能 ■高速測定 ■高精度 ■DCバイアス電圧 ■直流抵抗（DCR）測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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MEMSテストハンドラ『ULTRA P』

MEMSテストハンドラ『ULTRA P』
株式会社テセック
『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスの ファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・ 独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・ 高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。 また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部 ユニットも準備しております。 【特長】 ■多数個同時測定（～96DUT） ■高精度温度制御（±1℃以内） ■60OFでの測定が可能 ■UPH20,000個以上を実現 ■磁気テスト（オプション）が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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Multifunction Analyzer

Multifunction Analyzer
株式会社Sohwa & Sophia Technologies
電子機器の開発に必要な機器が詰まった、開発者に開発効率の向上と開発のスピードアップを低コストで提供する製品をご提案します。 エンジニアの夢であった1人に1台の環境も可能になります。
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ソケット　開発サービス

ソケット　開発サービス
エム・アイ・エス テクノロジー株式会社
当社では、各種ソケットの開発・製造・販売を行っております。 自動化対応に適した機構で量産に好適な「オープントップ型」や 蓋式構造で評価・試験に適した「クラムシェル型」、 自動化対応に好適な構造で量産に用いられる「バタフライ型」などを ご用意しております。 【特長】 ■デバイスに当たるコンタクトの順序を決めるシーケンス機構 ■デバイスをソケットにセットしたとき、デバイスが常に 　センターリングできるセルフアライメント機構 ■200℃耐熱 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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ウエハテストの技術

ウエハテストの技術
株式会社菱進テック
当社は、お客様仕様に合わせたテスト開発・生産能力改善をご提案致します。 製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法の構築・テストプログラム開発製作・ テストボード／プローブカードの開発製作を行っています。 「OST（Outliers Screening Test）」では、 自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、 ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化。 テストの個別項目の測定値について、分布を算出、主分布より外れた データのチップを不良化する「PAT」や、テスト結果のマップデータにて ウエハ上の位置的な分布より、良品分布から外れたチップを検出、不良化する 「GAT」テストなどがございます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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デバイスプログラマ（1-64個書き）

デバイスプログラマ（1-64個書き）
ファルコン電子株式会社
ALL-100AXはEPROM,EEPROM,シリアルPROM,Flash,PLD,CPLD,FPGA,MPU ,MCUなどあらゆるタイプのICに対応した万能デバイスプログラマです。さまざまなパッケージにも対応しています。最新のICが追加されたソフトが順次弊社のホームページからダウンロード可能で、購入後も新規IC用のアルゴリズムの追加が容易に行えます。高速多ピンドラバーで高速、低電圧デバイスを含め、あらゆるメモリで高速書き込み、信頼性の高い書き込みを実現しています。
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「インサーキットテスター」フラグシップモデル

「インサーキットテスター」フラグシップモデル
イーグローバレッジ株式会社
・アナログ部品テスト ・デジタル部品テスト ・バウンダリスキャンテスト ・ピン浮きテスト（FrameScanFx） ・ファンクションテスト その他、多彩なテスト方法をご提供致します。
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DCテスタ『471-TT』

DCテスタ『471-TT』
株式会社テセック
『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を 実現したDCテスタです。 長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における 複数チップ同時測定を実現。 当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理 することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。 【特長】 ■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの 　向上 ■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現 ■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現 ■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現 　（Max 2kV/20A） ■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能 ■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値） 　以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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【生産ライン用】HIROSEの高速度リレー自動検査装置

【生産ライン用】HIROSEの高速度リレー自動検査装置
株式会社廣瀬技術研究所
『MRT-4010型』は、複数リレーを同時に検査できる生産ライン用の 試験システム。 同時に5個のリレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示、 不良をアラーム。10秒以下で全項目測定を完了します。 リレー性能の正確なデータが得られるほか、受入検査に導入すれば、 入荷リレーの良否を自動的に判断し、トラブルを事前に防ぎます。 【使用効果】 ■正確なデータ管理 ■受入検査に活躍 ■エージング効果 ■スクリーニングテストが可能 ■メンテナンス効果を評価 ■故障診断器として利用 ■データの自動記録 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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ICソケット

ICソケット
株式会社モリモト
当社では、デバイスに好適なプローブを採用した『ICソケット』を 製作しています。 量産目的のハンドラー用ソケットから開発、評価目的のものまで、 幅広く対応可能。 さらに、お客さまの特殊な要求(高温、高周波、大電流)に応じた、 オンリーワンの製品にも対応いたします。 【特長】 ■プローブピン、ピンブロック、フタ等をカスタムメイド ■高周波対応設計可能 ■初期評価、ハンドラー等の仕様に幅広く対応 ■0.15mmピッチまで対応可能 ■デバイス種類はBGA、QFP、CSP、QFN等多種対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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検査機器【ケーブルチェッカー】作業効率UP【動画・デモ機貸出有】

検査機器【ケーブルチェッカー】作業効率UP【動画・デモ機貸出有】
有限会社エーテックス
弊社の主力商品となりますケーブルチェッカーは2018年に誕生した初号機より、年々機能追加などのバージョンアップを重ね、様々なお客様のニーズにお応えできる様に変化を続けております。 コネクタの形状は最大50PINまで設置可能、しかもフルオーダー可能です。 更にはオプション基板実装スロットの増設により、通話機能や、DC電源発生器の機能を併せ持ったりと、可能性はまだまだ無限に広がっております。 最新機種に至ってはLCDを搭載し、PCとの接続によるログデータのやり取りや、同一ケーブルの自動チェック等、成長は止まりません！ 是非御社が必要としている機能をご相談ください。 最新機種のデモ機貸し出しも実施しておりますので、どうぞお気軽にご連絡ください。 ※詳しくはPDF資料(ATECS1801,1901を併せてご参照ください)をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査

電気的検査・テスタにおける量産向けの高速検査とは？

エレクトロニクス製品の量産ラインにおいて、製造された部品や製品の電気的特性を迅速かつ正確に評価するプロセスです。不良品の流出を防ぎ、生産効率を最大化することを目的とします。

​課題

検査時間のボトルネック化

製品の複雑化に伴い、個々の検査項目が増加し、全体の検査時間が長くなることで生産ラインの速度が低下する。

多品種少量生産への対応困難

多種多様な製品が混在するラインでは、検査プログラムの切り替えや設定に時間がかかり、迅速な対応が難しい。

検査精度の維持と高速化の両立

検査速度を上げると、微細な異常を見逃すリスクが増加し、品質低下につながる可能性がある。

データ管理と解析の非効率性

大量の検査データをリアルタイムで収集・分析するシステムが未整備で、問題点の早期発見や改善に時間がかかる。

​対策

並列検査システムの導入

複数の検査項目を同時に実行できるテスタやシステムを導入し、検査時間を大幅に短縮する。

自動化・省力化された検査治具

製品の着脱や検査設定を自動化する治具を使用し、オペレーターの負担軽減と検査時間の短縮を図る。

AIを活用した異常検知

AIが過去の検査データを学習し、異常パターンを高速かつ高精度に検知することで、検査員の負担を減らし、見逃しを防ぐ。

統合型検査データ管理システム

検査データを一元管理し、リアルタイムで分析・可視化できるシステムを導入し、迅速な意思決定を支援する。

​対策に役立つ製品例

高速並列検査システム

複数の検査モジュールを搭載し、同時に異なる電気的特性を測定することで、検査時間を劇的に短縮する。

インテリジェント自動検査ステーション

製品の自動搬送、位置決め、検査プログラムの自動選択・実行機能を備え、多品種少量生産にも柔軟に対応する。

機械学習ベースの品質予測ツール

検査データから製品の潜在的な不良リスクを予測し、早期に改善策を講じることで、品質の安定化と検査効率向上に貢献する。

クラウド型検査データ分析サービス

膨大な検査データをクラウド上で集約・分析し、生産ライン全体のパフォーマンスを可視化することで、継続的な改善活動を支援する。

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