メモリICの検査とは？課題と対策・製品を解説

エレクトロニクスの分野では、高い温度変化に耐え、精密な制御が可能な部品が求められます。 エレクトロニクス環境下での温度変化は大きく、エアシリンダの耐久性と正確な動作が不可欠です。 不適切なエアシリンダは、製品の故障や性能低下につながる可能性があります。 当社高低温エアシリンダは、-60℃～200℃の温度範囲で使用できる配合を保有しており、エンジンの厳しい環境下でも精密な駆動を実現します。 【活用シーン】 ・高低温環境下での基盤実装 ・高低温環境下での検査 【導入の効果】 ・高い耐久性による製品寿命の向上 ・温度変化に強い安定した動作

Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。

この書込みシステムは、お客様の検査部門で有効なNANDデバイスの 品質確認のための不良ブロックの確認システムです。 対象デバイスに対して、ERASE-PROGRAM-VERIFY(データは任意に設定可能)を 繰り返し、途中で発生する後天的バッドブロックの監視などを行います。 試験内容の変更(例：ERASEのみを繰り返す)、バッドブロックの発生位置・ 回数のカウントや、動作時の電源電圧を変えての試験など、お客様のご要求に あわせたアルゴリズム開発が可能です。 【特長・目的】 ■品質管理 ■カスタム対応 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※下記より、会社案内資料をダウンロードいただけます。

Eureka DDR3 1866 DIMM/SODIMMテスターは、モジュールメーカー及びモジュールディストリビュータ向けにデザインされたメモリーモジュールのファンクションテスターで、様々なDDR3 RDIMM, UDIMM, SODIMM, Mini-DIMM, VLP-RDIMM, LRDIMM等のテストが可能です。

SP3000はDDR等DIMM及びBGA等メモリーチップのテストが可能な高性能メモリーテスターで、テストアダプター交換により様々なメモリーをリアルバススピード、リアルサイクルタイムでテストすることができます。 SP3000は豊富なアダプターオプションによりDRAM, SDRAM, SGRAM, DDR SDRAM等様々なメモリーテストが可能な他、DDR3, DDR4等、将来に渡り陳腐化することなくご使用頂ける柔軟性に富むアーキテクチャー、RoboFlexハンドラーによるボリュームテスティングにも対応可能など、その優れたデザインと信頼性の高さにより多数のメモリーモジュール製造メーカー、ディストリビューター、ディーラー及びサービス部門に於いてご使用頂いております。