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エレクトロニクス検査・試験

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高周波回路の検査とは?課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおける高周波回路の検査とは?

高周波回路の検査は、電子機器の性能を左右する重要な工程です。この検査では、信号の伝達特性、ノイズレベル、インピーダンス整合などを、専用のテスタを用いて測定・評価します。特に、無線通信機器や高速データ伝送を行うデバイスでは、高周波回路の品質が製品全体の信頼性に直結するため、精密な検査が不可欠となります。

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シーエスアイグローバルアライアンスの取り扱う『PacketMicro製品』に
ついてご紹介しています。

頑丈な40 GHzプローブ(最大)、組み合わせ自在のプローブステーション、
Dino-Liteマイクロスコープ、フレキシブルRFケーブル、および
USBタイプ-Cのテストフィクスチャを提供。

エンジニアの頭を悩ませる高速伝送路における設計課題を解決します。

【特長】
■安価で頑丈
■SI解析のための高度な伝送路テストツール
■Fortune 100 企業を含む、多数の導入企業と実績
■業界15年以上の経験と実績

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

PacketMicro製品のご紹介

『EL-KFシリーズ』は、評価用テスト基板への取付けが簡単な同軸エンドランチコネクタです。

独自のロッドクランプ機構により、機械的に挟み込むだけでテスト基板を固定。
はんだ付けやネジ止め不要で、取り付け時間を短縮できます。

2.92mmタイプで最大40GHzの周波数に対応しており、
多くのアプリケーションに対応可能です。

※『EL-KFシリーズ』の詳細は英語版のPDF資料をご覧ください。
 お問い合わせもお気軽にどうぞ。

テスト基板評価用 同軸エンドランチコネクタ『EL-KFシリーズ』

■受光素子:InGaAs PIN PD

■受光波長範囲:
900[nm] ~ 1650[nm](LPD-1)
950[nm] ~ 1650[nm](LPD-2)

■適合ファイバー径
80[um]以下(LPD-1)
500[um]以下(LPD-2)

■受光NA範囲
最大0.2まで(LPD-1)
最大0.25まで(LPD-2)

■受光感度:
500[mV/mW] @1310[nm](LPD-1)
1000[mV/mW] @1310[nm](LPD-2)

■周波数帯域:
DC ~ 1.5[GHz](LPD-1、LPD-2)

長波長用O/Eコンバーター LPDシリーズ

デュアルRFプローブ
(高周波プローブ)

特徴
・完全国内生産
・針先端:GSSG、GSGSG
・周波数:DC-40GHz
・インサションロス:2dB以下
・リターンロス:12dB以上
・ピッチ:75-600μm
・コネクタ:Kコネクタ
・高耐久
・ローコスト
・修理、リフレッシュ可能
・特殊使用承ります。

デュアルRFプローブ  (高周波プローブ)

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に
他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。

日本における代理店:
ベクターセミコン株式会社
東京都荒川区西日暮里2-43-2
TEL 03-5604-1701
FAX 03-5604-1707

TITAN RC(微小パッド用)RFプローブ・ヘッド

高速メモリ転送の主流となりつつあるラムバスに焦点をあて、ラムバスの原理から、測定におけるポイントなどをイラストによってわかりやすく解説した入門書シリーズです。(全7冊)

この機会に是非ご覧いただき、ご自身の知識の向上や技術者教育にお役立て下さい。

◆冊子プレゼント◆
今なら入門シリーズ(全7シリーズ)を一冊にまとめた冊子を無料で差し上げています。
ご希望の方は下記のお問合せフォームよりお申込みください。

【無料ダウンロード実施中】ジッタ入門・ラムバス編(技術資料)

RFプローブに合わせて使用頂けるDCRF混在プローブ
(電源と高周波の混在プローブ)

特長
・完全国内生産
・DC−40GHz
・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。
・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。
・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。
・短納期
・ローコスト(イニシャルコスト不要)

DCRF混在プローブ  (電源と高周波の混在プローブ)

『BA-4000』は、NRZおよびPAM4コーディングをサポートし、高度な
FECツールを備え800Gまでのテスト能力を持つ電気BERテスターです。

800GbE/400GbE等のPAM4変調方式を用いた高速伝送規格の対応デバイス
(光トランシーバ・OSA・FPGA等)の試験・評価に好適。

ユーザーインターフェースは、各チャンネルのテスト結果をシンプルかつ
リアルタイムに表示します。

【特長】
■800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート
 (~56GBd, NRZ/PAM4, ~8チャネル)
■バーストエラー分析に必須のFECシミュレーション機能
■生成信号の高品質なアイパターン
■RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用
■PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQをサポート

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ビットエラーレートテスター『BA-4000』

本資料では、オシロスコープ初心者向けにプローブの基礎知識を
図やイラスト付きでわかりやすく紹介しています。

「同軸ケーブルを接続する際の注意点」「プローブ性能で重要なポイント」
「10:1パッシブ・プローブの扱い方」など正しい測定に必要な情報が満載です。

【目次(抜粋)】
◎やってはいけない信号の取り出し方
◎信号を伝えるということ
◎基本の10:1パッシブ・プローブを理解する
◎要注意!1:1/10:1感度切替えプローブ
◎そもそも周波数帯域はどこまで必要か
◎ちょっと待った!その接続
◎アクティブ・プローブは理想に近づいたプローブ
◎最近多くなった差動信号

※本資料は「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。

解説資料『オシロスコープ・ユーザーのためのプローブの使いこなし』

PFDAはシンクランド製Two-Tone光源とRohde&Schwarz製ベクトルネットワークアナライザを組み合わせたオリジナリティ溢れるシステムとして開発されました。

PFDA

当社で取り扱う『BA-4000 Bit Analyzer』をご紹介いたします。

Baud-Rateは28G–56G、Channel数が4ch/8chでそれぞれ
アップグレードもでき、また変調方式はNRZ/PAM、NRZは
PAM4へアップグレード可能。

オプションにて、FECシミュレータやFECジェネレータも
承っております。

【製品ラインアップ】
■4×28GBd BERT
■8×28GBd BERT
■4×56GBd PAM4 BERT
■8×56GBd PAM4 BERT

※英語版カタログをダウンロードいただけます。
 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

BA-4000 Bit Analyzer

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に
他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。

日本における代理店:
ベクターセミコン株式会社
東京都荒川区西日暮里2-43-2
TEL 03-5604-1701
FAX 03-5604-1707

TITAN T26 RFプローブ・ヘッド (DC~26GHz)

当社は、広い周波数帯域、ピッチ、優れた耐久性、すべてバランスよく備えたRFプローブ・校正基板を低価格で販売しております。独自の先端形状により、コンタクト時少ないスケーティング量で安定したコンタクトが可能となっており、デバイスへのダメージ軽減や高い再現性を図ります。校正アシストソフトウェアは「Allstron TITAN Probeシリーズ」の製品データが既に登録されており、プローブを選択するだけですぐにご使用頂けます。

【製品一覧】
■Allstron RF Probe「TITAN」
■Allstron RF Probe「TITAN-RC」
■RF Calibration Substrates「AC」
■Calibration software「QAlibria」

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

RFプローブ・校正基板【広い周波数帯域、ピッチ、優れた耐久性!】

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に
他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。

日本における代理店:
ベクターセミコン株式会社
東京都荒川区西日暮里2-43-2
TEL 03-5604-1701
FAX 03-5604-1707

TITAN T26Dデュアル型プローブヘッド (~26GHz)

当社はプローブシステムに用いる様々なRFポジショナーを揃えております。

一例:SP-67A
柔軟なチップを備え、低損失の同軸技術を用いて1.1db未満の挿入損失と、67GHzで14dbを超えるリターンロスを実現。
プロービング表面への確実な接触を保証する独立したバネ式チップを有しており、チップには柔軟性があるため、回路損傷を最小限に抑え、プローブ寿命を延ばします。

また、標準のマイクロ波プローブステーションで用いるべく様々な
アダプタに取り付けることが可能。搭載はカスタマイズできます。

【特長】
■耐久性のあるRFプローブ
■独立したバネ式コンタクト
■豊富なフットプリント
■同軸設計
■13種のアダプタ様式で利用可能 など

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

RFプロービング用高性能 マイクロウェーブ プローブ

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電気的検査・テスタにおける高周波回路の検査

電気的検査・テスタにおける高周波回路の検査とは?

高周波回路の検査は、電子機器の性能を左右する重要な工程です。この検査では、信号の伝達特性、ノイズレベル、インピーダンス整合などを、専用のテスタを用いて測定・評価します。特に、無線通信機器や高速データ伝送を行うデバイスでは、高周波回路の品質が製品全体の信頼性に直結するため、精密な検査が不可欠となります。

課題

高周波信号の減衰と歪み

高周波信号は、伝送経路でのインピーダンスの不整合や損失により、減衰したり波形が歪んだりしやすい。これにより、本来の信号が正しく伝わらず、誤動作の原因となる。

ノイズの影響とシールドの課題

高周波回路は外部からのノイズの影響を受けやすく、また回路自身が発生するノイズが他の回路に干渉する可能性がある。適切なシールドやノイズ対策が不十分だと、信号品質が低下する。

測定器の校正と精度維持の難しさ

高周波領域での正確な測定には、高度な校正と精度維持が求められるテスタが必要。環境変化や経年劣化により、測定値の信頼性が低下するリスクがある。

複雑化する回路設計への対応

近年の高周波回路は、多層基板や微細な部品の使用により複雑化しており、従来の検査手法では見落としが発生する可能性がある。より高度な解析能力が求められる。

​対策

インピーダンス整合の最適化

伝送線路の特性インピーダンスを回路全体で一定に保つことで、信号の反射を抑制し、減衰や歪みを最小限に抑える。

高度なノイズ対策とシールド技術

適切なグランド設計、フィルタリング、電磁波シールド材の適用により、外部ノイズの侵入を防ぎ、回路内ノイズの輻射を抑制する。

定期的なテスタの校正と検証

高精度な測定器を定期的に校正し、信頼性の高い測定環境を維持することで、常に正確な検査結果を得られるようにする。

先進的な解析ソフトウェアの活用

回路シミュレーションや信号解析ソフトウェアを用いて、設計段階での問題点を予測・特定し、検査段階での効率的なデバッグを支援する。

​対策に役立つ製品例

高周波信号発生器

様々な周波数と波形の信号を生成し、高周波回路の応答特性を評価するために使用される。正確な信号源を提供することで、回路の性能を検証する。

スペクトラムアナライザ

信号の周波数成分を分析し、ノイズレベルや不要輻射を測定する。回路から発生するノイズや信号の純度を確認するのに役立つ。

ネットワークアナライザ

回路のSパラメータ(散乱パラメータ)を測定し、インピーダンス整合や伝達特性を詳細に評価する。高周波回路の性能を定量的に把握できる。

高周波プローブキット

微細な高周波回路上の信号を正確に取得するための測定プローブ。回路の特定ポイントでの信号品質を直接観測し、問題箇所を特定するのに不可欠。

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