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高周波回路の検査とは?課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおける高周波回路の検査とは?
高周波回路の検査は、電子機器の性能を左右する重要な工程です。この検査では、信号の伝達特性、ノイズレベル、インピーダンス整合などを、専用のテスタを用いて測定・評価します。特に、無線通信機器や高速データ伝送を行うデバイスでは、高周波回路の品質が製品全体の信頼性に直結するため、精密な検査が不可欠となります。
各社の製品
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MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に
他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。
日本における代理店:
ベクターセミコン株式会社
東京都荒川区西日暮里2-43-2
TEL 03-5604-1701
FAX 03-5604-1707
当社は、広い周波数帯域、ピッチ、優れた耐久性、すべてバランスよく備えたRFプローブ・校正基板を低価格で販売しております。独自の先端形状により、コンタクト時少ないスケーティング量で安定したコンタクトが可能となっており、デバイスへのダメージ軽減や高い再現性を図ります。校正アシストソフトウェアは「Allstron TITAN Probeシリーズ」の製品データが既に登録されており、プローブを選択するだけですぐにご使用頂けます。
【製品一覧】
■Allstron RF Probe「TITAN」
■Allstron RF Probe「TITAN-RC」
■RF Calibration Substrates「AC」
■Calibration software「QAlibria」
※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい


