完成品の動作確認とは？課題と対策・製品を解説

電子部品業界では、品質を確保するために、気密性の検査が不可欠です。特に、電子機器の小型化・高密度化が進む中で、部品のわずかな漏れが製品の性能低下や故障につながるリスクが高まっています。水没検査ではワークを濡らしてしまうため、電子部品への影響を考慮する必要があります。NLT-330は、水没させることなく、高精度な気密検査を実現します。

【活用シーン】
・電子部品メーカーでの部品検査
・各種電子機器メーカーでの品質管理
・基板実装後の検査

【導入の効果】
・ワークを濡らすことなく検査が可能
・高精度な漏れ検出による品質向上
・検査工程の効率化
・不良品の早期発見によるコスト削減

航空宇宙業界では、製品の安全性と信頼性が最重要課題です。過酷な環境下で使用される電子機器の基板においては、微細な欠陥も見逃すことは許されません。導通不良や絶縁不良は、重大な事故につながる可能性があります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、これらのリスクを低減し、製品の信頼性向上に貢献します。

【活用シーン】
* 航空機、宇宙船、人工衛星などの電子基板検査
* 高信頼性が求められる電子機器の品質管理
* 製造工程における品質保証

【導入の効果】
* 検査時間の短縮
* 不良品の早期発見
* 製品の信頼性向上
* コスト削減

医療機器業界では、製品の品質と信頼性が最重要視されます。特に、精密な電子部品を使用する医療機器においては、ICの正確なテストが不可欠です。テストの精度が低いと、機器の誤作動や性能低下につながり、患者さんの安全を脅かす可能性があります。株式会社NSテクノロジーズのICテストハンドラNS-8080SHは、高いスループットと温度管理機能を備え、医療機器製造におけるICテストの効率化と品質向上に貢献します。

【活用シーン】
・医療用電子機器のICテスト
・精密電子部品の選別
・品質管理部門での検査

【導入の効果】
・テスト時間の短縮
・不良品の早期発見
・製品の信頼性向上

データセンターでは、機器の信頼性と効率的な運用が不可欠です。システムレベルテスト（SLT）は、これらの要求に応えるために重要ですが、正確な測定が求められます。PCRソケットは、短距離接続と面接触により、実装状態に近い状態で特性を検証できます。これにより、実際の機器に近い状態で安定した測定が可能となり、効率的なシステム運用に貢献します。

【活用シーン】
・サーバー、ネットワーク機器の特性評価
・高密度実装基板のテスト

【導入の効果】
・精度の高い測定による信頼性向上
・効率的なシステム運用

本製品は、スマートフォンやタブレット端末に使われている
有機ELやLTPS型液晶セルの点灯検査用信号発生器です。
検査レシピをプログラミングできるので、多様な検査に対応できます。

同パターンの信号を2CH同時出力。
各出力信号は駆動特性を有しており、レシピは駆動パラメータの入力のみ
の簡単設定が可能です。

【特長】
■良好な操作性
■良好なメンテナンス性
■高度な拡張性

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『ODC-489』は、スピーカの半導通状態（半断線状態）をチェックする機器です。

ボイスコイル内のワイヤー折れ曲がりやよじれによる半断線状態や、
ターミナル部の半田付け不良やからげ不良を検出します。

始めに、微小電流にて直流抵抗測定、次にパルス信号により負荷動作状態に
おける負荷電流測定、もう一度、微小電流にて直流抵抗測定を行い、良品と
比較し判定。

判定基準は、良品との値差が設定値を超えたとき、不良（半導通・半断線）と
判定します。

【性能】
＜直流抵抗測定＞
■測定範囲：2Ω～200Ω（測定電流＝1mA）
■表示分解能：0.1Ω
■測定時間：0.2S

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

◆JTAGポートが装備されたボードであれば、本モジュールを挿すだけでmicroSDCardからコンフィグが可能となります。
◆出来合いのEvaluation Kitや、製品ボードの評価やデバッグにご利用いただけます。
◆煩わしいJTAGケーブルの接続から開放されます。
◆指定するバイナリデータによって、FPGAのコンフィグRAMに毎回コンフィグする【シンプルモード】と、FPGAに接続されているSPIやBPIを書き換える【プロフェッショナルモード】の２つのモードがあります。
◆これら２つのモードは、使用するファイルで自動的に選択され、実行されます。

本製品は、超高解像度8K4K/60Hzに対応した、V-by-One(R) HS 32laneの
インターフェースを持つ、簡易型の信号発生基板です。

お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成や
タイミング設定が自由自在。

また、4K2K/120Hzのモジュールにも対応いたします。

【標準仕様】
■DC12V単一電源駆動
■データの書き換えはPCからのUSB接続で実施
■PCを用いた外部制御に対応
■オプションでスイッチ操作部を延長するRemote Boxに対応

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

Genesisは電子基板機能検査を目的とした汎用機能検査ユニットです。
治具及び検査関連装置を一貫して製造サポートすることでお客様のあらゆるニーズに対応いたします。

・アナログ部品テスト
・デジタル部品テスト
・バウンダリスキャンテスト
・ピン浮きテスト（FrameScanFx）
・ファンクションテスト
その他、多彩なテスト方法をご提供致します。

半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、
交換を可能とするPLCCソケット

【特徴】
○各種のスルーホールやSMD PLCCソケットをご用意
○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能
○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等ご用意
○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、
　 ターミナル等もラインアップ

●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。
　 日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

Blu-ray/DVD/CD　光ピックアップの性能検査装置のご紹介です。

【搭載機能】
・Blu-ray/DVD/CDのマルチに対応（最大60ピン）
・レーザーダイオード発光機能
・I-Lカーブ測定機能
・オープン、ショートチェック機能
・測定結果ロギング機能
・機能拡張用マルチポート

※詳細はお問合せ、又はカタログをダウンロード下さい。

「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。
水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。
汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。

【特徴】
○水銀レス
○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測
○高信頼性実現
○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続
○軽量・コンパクト

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

パソコンまたはマイコンを使用して、顧客仕様のファンクションテスタを開発・製造いたします。システムは、制御（電源供給制御、ワーク状態制御）、計測（電圧、電流、周波数等の測定および判定）、通信（コマンド送信、応答チェック）の３つの機能から成り立ちます。また、編集機能により仕様変更・設計変更にも素早く対応します。標準ソフトによって、デバッグも容易になっています。

ディ・アイジャパン株式会社が取り扱う『Burn-In Board』をご紹介します。

精巧なドッキング及び高い信頼性を保証できる「HI-FIX BOARD」や、
ウェハテスト時にテスターのステーションとプローブカードを接続して
信号と電源等を中継する必須パーツ「Wafer Mother Board」などを
ラインアップしています。

【ラインアップ】
■MEMORY用 BIB
■LOGIC用 BIB
■Wafer Mother Board
■HI-FIX BOARD

※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社では、各種ソケットの開発・製造・販売を行っております。

自動化対応に適した機構で量産に好適な「オープントップ型」や
蓋式構造で評価・試験に適した「クラムシェル型」、
自動化対応に好適な構造で量産に用いられる「バタフライ型」などを
ご用意しております。

【特長】
■デバイスに当たるコンタクトの順序を決めるシーケンス機構
■デバイスをソケットにセットしたとき、デバイスが常に
　センターリングできるセルフアライメント機構
■200℃耐熱

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

UPM – USB Programmerは研究開発エンジニア用のMMC / eMMCプログラマです。特別なアダプター不要で代表的な4つのeMMCパッケージがプログラムできる画期的なハンディーツールです。

※詳しくはカタログをダウンロードしてご確認ください。

EP-ROMライター＆EP-ROMイレーサー『Palette family＆Eraser party』は、電子部品・電子機器の開発、製造、販売を行っている株式会社ロジパックの製品カタログです。

多機能ライターとイレーサーが一体化したパーソナルROMライター「Palette-11」をはじめ、A5サイズコンパクト設計の「スタンダードPalette-22」や、EP-ROMの内容を消去するイレーサー「EP-ROM Eraser E-01-50/E01-60」などを掲載しています。

【ラインアップ(一部)】
〔Palette family〕
■Palette-11
■Palette-11 BATTERY
■Palette-11 HANDY
〔Eraser party〕
■EP-ROM Eraser E-01-50/E01-60
■MOBILE EP-ROM Eraser E-07

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

従来、電源基板の製作を委託していたメーカーが廃業するにあたり、
当社に基板製作依頼をいただきました。

これまでは外観検査のみを委託先にて行っており、電気的な動作試験は
行っていませんでした。

基板製作のご依頼でしたが、自動試験装置の開発・製造、そして当社内での
電気的動作試験の代行まで提案。

一貫対応により、お客様の手間を軽減することが可能となりました。

【事例概要】
■悩み：従来委託していたメーカーが廃業してしまった
■提案：自動試験装置の開発・製造、当社内での電気的動作試験の代行
■結果：一貫対応により、お客様の手間を軽減した

※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ALL-100AXはEPROM,EEPROM,シリアルPROM,Flash,PLD,CPLD,FPGA,MPU
,MCUなどあらゆるタイプのICに対応した万能デバイスプログラマです。さまざまなパッケージにも対応しています。最新のICが追加されたソフトが順次弊社のホームページからダウンロード可能で、購入後も新規IC用のアルゴリズムの追加が容易に行えます。高速多ピンドラバーで高速、低電圧デバイスを含め、あらゆるメモリで高速書き込み、信頼性の高い書き込みを実現しています。

Corelis JTAGエミュレータ・デバッガには、Eclipse(Java）ベースのIDE（統合開発環境）とJTAG対応CPUのデバッガソフトウエアの2種類があります。CPU開発・製造各社のCPUに対応しており、特定（ターゲット）のCPUプログラム開発・デバッグ用ソフトです。使用に際しては、PCI、USB等のインターフェース（コントローラ）の指定が必要です。

Eureka DDR3 1866 DIMM/SODIMMテスターは、モジュールメーカー及びモジュールディストリビュータ向けにデザインされたメモリーモジュールのファンクションテスターで、様々なDDR3 RDIMM, UDIMM, SODIMM, Mini-DIMM, VLP-RDIMM, LRDIMM等のテストが可能です。

先進の製造設備の導入だけでなく、スキル管理の徹底と、７項目に及ぶ工程内検査を組み合わせて品質の確保に努めています。

【サービス内容・特長】
■年間4,000品種に及ぶ製品の検査・試験データを活用
■万全の検査環境
各種検査装置の導入と、徹底したスキル管理により確かな品質を提供
■通電検査装置の設計・製作
自社技術部門にて各種通電検査装置の設計・製作が可能
■不良調査・故障解析
不良調査に加え、信頼性評価のための故障解析も実施
■品質情報トレーサビリティシステム
調達・製造・検査・出荷まで完全な履歴状況を提供

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

セル電圧発生装置は1台で16chの絶縁された電圧を発生します。
セル電圧発生装置を最大6台直列に接続することで、96chの絶縁された電圧を発生することが出来ます。
各chの最大電圧は5Vで、各セル毎に電圧を設定することが可能です。
リチウムイオンバッテリーのセルコントローラ基板の評価・検査にご使用いただけます。
また、セル電圧発生装置を使用して、セルコントローラ基板の自動試験装置の製作も承っております。

大手化学薬品工場からの基板修理依頼に対応した事例をご紹介します！

【依頼時の状況】
工場の基板が不動の為ラインが停止

【お問い合わせ内容】
お客様にて不具合の発生している箇所を特定されており、基板修理のご依頼がありました

【対応】
故障した基板は予めわかっていたため、基板をお送りいただき社内にて解析
故障診断を施し基板を修理、郵送にて基板をお送りしお客様にて動作を確認


※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『Test Burn-In Tester』は、安藤電気のバーンインテストを承継し、顧客の
新ニーズに応じたアップグレードで多様なテスト条件と機能を実現する
パッケージバーンインテストシステムです。

Mask-ROMテスト機能を追加したバーインテストでハイパワーを提供可能な
「AF8652D6」をはじめ、10MHz、60Slot仕様の「AF8862C7」や4Zone
個別での制御運転ができる「DM8827」などをラインアップしています。

【ラインアップ】
■AF8652D6
■AF8862C7
■DM8827/DM8857
■AF8651A5/AF8651A7/AF8655C7
■AF8610E6

※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

計測機器　電解コンデンサ用LC測定器1011Aは電解コンデンサの漏れ電流を高い精度と安定度で、しかも高速に測定します。デジタルコンパレータを内蔵し、良否の選別を行ったうえで判定結果を出力。プリンター出力を標準装備していますので測定ごとにすべての判定データを印字することができます。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。
2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。

TG45AX002は、TG45AXテスト信号発生器専用のLVDS出力オプションです。高精細度および高色域化が進む表示パネル向けに、最大12ビットのLVDSを出力します。
ドットクロック周波数により、1相モード（20〜135MHz）、2相モード（40〜270MHz）、4相モード（80〜400MHz）での切替え出力が可能で、またRGB各チャンネルの諧調を8、10、12ビットの切替えも可能です（ドットクロック周波数200MHz以上は8ビット階調）。
TG45AX本体のテスト信号はもちろん自然画信号を出力し、更に信号レベル可変・周波数可変・位相可変などの可変機能に連動して出力が可能です。

『iM1283』は、コストを抑えてスピーディーに導入できる
eDP(embedded Display Port/5.4G)出力の簡易信号発生装置です。

編集ソフトを同梱しており、お客様が実施する試験環境に合わせて、
パターン作成やタイミング設定が自由自在です。

また、簡単な操作とコンパクトデザインは、省スペースで
すぐにご利用できます。

【製品仕様(一部抜粋)】
■8bit 出力(4lane Display Port 5.4Gbps相当)
■eDP設定(RGB, 1.62Gbps, 2.7Gbps, 5.4Gbps, 2.16Gbps, 2.43Gbps, 3.24Gbps, 4.32Gbps)
■補助電源出力機能(DC12V)
■パターン/タイミングの編集に対応
■DisplayPortのAUX通信プログラム可能

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

テストコスト削減の要求に応えるべく、多数個同時測定ハイスループットを実現した、最新型テスタです。
測定精度向上のため、細部にわたり、最新の技術を導入しています。用途に合わせた、3種の汎用パーピンのほか、各種パワー電源、デジタルオプション、ACオプションなどもご用意し、広範なデバイスに対応します。
また、数多くのお客様に採用されているSX-2100シリーズとはアプリケーション互換ですので、テスト資産の共有化が図れます。

『ME-8』は、0～25Vのオルタネータ発生電圧や、5～20Vの
レギュレータ調整電圧の測定が可能なICレギュレータテスタです。

サイズは221×142×46ｍｍ、重量は約0.5Kgとコンパクトです。

【特長】
■大型メータで読み取り易い
■単体及び装着状態での測定が可能
■適正ゾーンの表示で良否判定が簡単
■乾電池式で軽量コンパクトボディ
■吊り下げフック付で作業性向上

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

定電流電源・検査装置は、数10μAの超微電流定電流電流駆動によるLED静電破壊評価ができます。LED直列多灯点灯回路の駆動、各チャンネル毎に定電流値設定も可能です。微電流・定常電流（10～30mA）の切り替え動作ができます。表示器の有無や自動制御等ご要望によりカスタマイズ承ります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

『W-CSP』は、ウエハよりチップをダイシング後、同軸型4端子コンタク
トプローブ(PATENT)を利用して手動測定が可能な検査用ソケットです。

チップの開発や抜取り検査・不良解析などに使用可能。
ソケットの蓋は、着脱可能で、自動機(ハンドラ式)検査にも使用できます。

【特長】
■BGA、LGA、ベアチップなどの動作確認検査が可能
■MOS-FETのオン抵抗値測定が可能
■端子間の電圧測定が可能

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、
交換を可能とするキャリアーソケット

【特徴】
○PCB上でデバイスの抜き差しができるようデザインしましたソケット
○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能
○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等をご用意
○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、
　 ターミナル等もラインアップ

●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。
　 日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

FP-40は、Cortex-Mコア内蔵フラッシュメモリをはじめ、様々なフラッシュメモリへ書き込むためのフラッシュ・プログラマです。

鮮明で見やすい有機ELディスプレイを搭載。
書込み結果・進行状況・残り時間・チェックサム等が一目で分かる。

給電機能で作業の効率をアップ。
外部の機器から当製品を制御する事で生産システムとして構築可能。

書き込み後の内蔵フラッシュ・メモリのプロテクト/セキュリティ
処理も可能。

パソコンがなくても書き込みができ、フィールド・メンテナンスでの
ファームウェアの更新にも威力を発揮。

【特長】
■JTAG/SWDのデバッグインターフェースで接続
　UARTやLINなどのカスタム対応も可能
■モバイルバッテリーで動作可能
■約4000種のデバイスに対応
■未対応のデバイスでもホームページから対応リクエストが可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
また、技術サポート付きの無償貸出を行っているほか、無料ウェビナーも随時行っています。お気軽にお問い合わせください。

『SECS Tester/HSMS Tester』は、SECE通信規格(SECS-I、HSMS)の
通信テストが容易にできるソフトウェアです。

半導体、液晶製造ラインで使用されるSECS通信規格に準拠した通信テスター。
「SECS/HSMS Tester」を疑似ホスト、疑似装置として使用すると、ホストや
装置のテストを効率よく行う事が出来ます。

Select.req、Separate.reqのコントロールコマンドを手動で送信出来るので、
HSMSの通信確立テストも可能です。

【特長】
■装置／ホストのテスト用として
■メッセージフォーマットはテキストファイルで作成
■通信状況をリアルタイムで表示
■HSMSコントロールコマンドを手動で送信可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『SV100』は、Ultra book/Tablet/TV向けLCDモジュールに対応した、
V-By-One(R) HS 16laneインターフェースを持つパターン編集ソフトを
同梱したV-By-One(R) HS信号発生装置(16Lane出力)です。

お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が
自由自在に行えます。

【特長】
■ネットワーク対応
■パターン／タイミング編集に対応

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

エム・イーシステム株式会社は、精密機器の製造工程で使用する治工具の設計・製作、また半導体後工程で使用する精密製造装置の設計・製作を主に精密機械・精密板金の加工を行っています。
水平搬送式テストハンドラーは、ICのパッケージ後の検査工程で、テスターと接続して使用し、テスターからのテスト結果信号に基づきICを良品と不良品に自動選別する装置です。
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

FP-30 は、1個書きの超高速SPIフラッシュ(Serial NOR Flash Memory)専用プログラマです。

これ1台で「オンボード」と「オフボード」両方の書込み方式に対応。
オンボード・モデルでは、ボードに接続するための専用ケーブル型アダプタを、オフボード・モデルでは各種パッケージに対応した専用ソケット型アダプタをご用意しています。
書込み速度はデバイスの実力値を実現。さらに高速に書込める「高電圧書込み機能」もサポートしています。
当社製FP-10と同様にLEDおよびブザーによる結果のお知らせ機能はもちろん、各プロセスや経過時間が有機ELディスプレイに表示され、進行状況と残り時間を一目で確認できます。

ハートエレクトロニクスは1984年に設⽴し、世の中の役に⽴つ⾞を作るため、
⾞載電⼦機器メーカーとともに、安⼼して使用できるIC作りに関わり続けて参りました。

メイン事業をICの設計からICテスターのプログラム、専用ボードの製作に転換した現在も、その姿勢は変わりません。
ユーザーの皆さまや社会へ誠実に奉仕し、安心で快適なIT社会の創成を企業理念として、社員全員が胸に刻んでいます。

これからの社会でAI、ロボット、IOTが設計や製造のプロセスに多用されるとも、
必ず起きる不具合を未然に防ぎ、安⼼してご利用いただけるICの製作に携わることが、私たちの使命と考えています。

【主要事業】
■半導体検査（装置・評価・設計）

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

家電製品や車載用電子機器に対して、パソコン等の制御装置により
外部から疑似的に電気信号を与え、製品の動作を確認して合否判定する
装置を製作します。

また、ご要望に応じて自動搬送の機構部と合わせての製作も可能です。

装置の詳細な仕様が決まっていない場合でも、弊社の製作実績に基づき
様々な形にてご提案いたしますので、お気軽にご相談ください。

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

旧LPBKボード(Rev.01)は2021年に製造、販売を終了しました。
新製品 Rev.03 は2023年7月31日から販売開始です。

検査時の着脱が簡単です。対象のコネクタと基板やFPCを元にひとつずつ製造致します。

『MRT-4010型』は、複数リレーを同時に検査できる生産ライン用の
試験システム。

同時に5個のリレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示、
不良をアラーム。10秒以下で全項目測定を完了します。

リレー性能の正確なデータが得られるほか、受入検査に導入すれば、
入荷リレーの良否を自動的に判断し、トラブルを事前に防ぎます。

【使用効果】
■正確なデータ管理
■受入検査に活躍
■エージング効果
■スクリーニングテストが可能
■メンテナンス効果を評価
■故障診断器として利用
■データの自動記録

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『新型ケーブルチェッカー』は、マイコンとフォトMOSリレーを内蔵し、
自動で接点のメイク・ブレイクが可能な接点チェッカーです。

手動でスイッチをオン・オフする手間がなく、メイク間隔の選択も可能。
また、4種類のブザー音を搭載し、接点ごとの鳴り分けが可能です。

【特長】
■自動で接点のメイク・ブレイク
■USBタイプACアダプタ採用
■4種類のブザー音内蔵
■小型・軽量化

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。

KYECジャパン株式会社は、1,900台以上の各種LSIテスタを保有しており、
お客様のご要求に応える好適なプラットフォームをご提案いたします。

各種装置も多数取り揃えております。

【試験装置ラインナップ】
■プローバー
■ハンドラー
■レーザーリペア

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

高機能ハーネスチェッカーは、高効率で操作性に優れた最新の導通検査器です。
USBを使うことで約65000件の配線データの保存、検査履歴の自動保存、USBメモリーでダイレクトに検査が可能となります。
また検査ポイントは最大128/256/384ポイント（機種別）で、どのような配線でも検査可能で、導通検査、瞬間断線検査、サーチ検査、抵抗検査機能を搭載しています。
詳しくはカタログをダウンロードしてください。

志摩電子工業はファンクションチェッカーを自社開発している「EMS」会社です。

SP3000はDDR等DIMM及びBGA等メモリーチップのテストが可能な高性能メモリーテスターで、テストアダプター交換により様々なメモリーをリアルバススピード、リアルサイクルタイムでテストすることができます。
SP3000は豊富なアダプターオプションによりDRAM, SDRAM, SGRAM, DDR SDRAM等様々なメモリーテストが可能な他、DDR3, DDR4等、将来に渡り陳腐化することなくご使用頂ける柔軟性に富むアーキテクチャー、RoboFlexハンドラーによるボリュームテスティングにも対応可能など、その優れたデザインと信頼性の高さにより多数のメモリーモジュール製造メーカー、ディストリビューター、ディーラー及びサービス部門に於いてご使用頂いております。