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エレクトロニクス検査・試験

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完成品の動作確認とは?課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおける完成品の動作確認とは?

エレクトロニクス製品が設計通りに機能するか、電気的な仕様を満たしているかを確認する工程です。テスタと呼ばれる測定器を使用し、製品の各電気的特性を評価することで、品質と信頼性を保証します。

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【電子部品向け】差圧式リークテスタ NLT-330

【電子部品向け】差圧式リークテスタ NLT-330
電子部品業界では、品質を確保するために、気密性の検査が不可欠です。特に、電子機器の小型化・高密度化が進む中で、部品のわずかな漏れが製品の性能低下や故障につながるリスクが高まっています。水没検査ではワークを濡らしてしまうため、電子部品への影響を考慮する必要があります。NLT-330は、水没させることなく、高精度な気密検査を実現します。 【活用シーン】 ・電子部品メーカーでの部品検査 ・各種電子機器メーカーでの品質管理 ・基板実装後の検査 【導入の効果】 ・ワークを濡らすことなく検査が可能 ・高精度な漏れ検出による品質向上 ・検査工程の効率化 ・不良品の早期発見によるコスト削減

【医療機器向け】ICテストハンドラNS-8080SH

【医療機器向け】ICテストハンドラNS-8080SH
医療機器業界では、製品の品質と信頼性が最重要視されます。特に、精密な電子部品を使用する医療機器においては、ICの正確なテストが不可欠です。テストの精度が低いと、機器の誤作動や性能低下につながり、患者さんの安全を脅かす可能性があります。株式会社NSテクノロジーズのICテストハンドラNS-8080SHは、高いスループットと温度管理機能を備え、医療機器製造におけるICテストの効率化と品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・医療用電子機器のICテスト ・精密電子部品の選別 ・品質管理部門での検査 【導入の効果】 ・テスト時間の短縮 ・不良品の早期発見 ・製品の信頼性向上

【データセンター向け】SLTソケット

【データセンター向け】SLTソケット
データセンターでは、機器の信頼性と効率的な運用が不可欠です。システムレベルテスト(SLT)は、これらの要求に応えるために重要ですが、正確な測定が求められます。PCRソケットは、短距離接続と面接触により、実装状態に近い状態で特性を検証できます。これにより、実際の機器に近い状態で安定した測定が可能となり、効率的なシステム運用に貢献します。 【活用シーン】 ・サーバー、ネットワーク機器の特性評価 ・高密度実装基板のテスト 【導入の効果】 ・精度の高い測定による信頼性向上 ・効率的なシステム運用

【自動車業界向け】APT-2600FDによる品質保証

【自動車業界向け】APT-2600FDによる品質保証
自動車業界では、電子制御ユニット(ECU)の高度化に伴い、基板の品質が製品の安全性と信頼性を左右する重要な要素となっています。特に、振動や温度変化にさらされる車載電子部品においては、高い検査精度と効率的な検査体制が求められます。APT-2600FDは、これらの課題に対し、高いテストカバレッジと検査時間の短縮を実現し、自動車メーカーの品質保証体制を強化します。 【活用シーン】 ・車載ECU基板の検査 ・ADAS(先進運転支援システム)関連基板の検査 ・車載用電子部品メーカーでの品質管理 【導入の効果】 ・製品の信頼性向上 ・不良品の早期発見によるコスト削減 ・検査時間の短縮による生産効率向上

【航空宇宙向け】TY-CHECKER Type E テスター

【航空宇宙向け】TY-CHECKER Type E テスター
航空宇宙業界では、製品の安全性と信頼性が最重要課題です。過酷な環境下で使用される電子機器の基板においては、微細な欠陥も見逃すことは許されません。導通不良や絶縁不良は、重大な事故につながる可能性があります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、これらのリスクを低減し、製品の信頼性向上に貢献します。 【活用シーン】 * 航空機、宇宙船、人工衛星などの電子基板検査 * 高信頼性が求められる電子機器の品質管理 * 製造工程における品質保証 【導入の効果】 * 検査時間の短縮 * 不良品の早期発見 * 製品の信頼性向上 * コスト削減

【電子機器向け】快削リン青銅棒・一般リン青銅棒

【電子機器向け】快削リン青銅棒・一般リン青銅棒
電子機器業界において、コネクタは製品の信頼性を左右する重要な部品です。特に、電気信号の確実な伝達と、長期的な耐久性が求められます。コネクタの材料には、高い強度、ばね性、耐食性、耐疲労性、耐摩耗性が不可欠であり、これらの特性を満たす材料としてリン青銅が選ばれています。当社の快削リン青銅棒・一般リン青銅棒は、これらの要求に応える製品です。 【活用シーン】 ・電子機器のコネクタ製造 ・電子部品の接続部分 ・精密機器の部品 【導入の効果】 ・コネクタの耐久性向上 ・製品の信頼性向上 ・長期的なコスト削減

半導体テスト開発/半導体テスト受託サービス

半導体テスト開発/半導体テスト受託サービス
当社では、半導体テスト開発(テスト設計、テストプログラムコーディング、 治具設計製作、デバッグ、立上げ)から量産テスト受託まで一貫した サービスを提供しております。 量産テストではテスター選定、テストの効率化、歩留まり改善を施し 好適なテストを実現するとともにお客様のニーズに合わせ、少量多品種、 試作評価にも対応。 その他、装置及び電子機器の設計製作・販売(装置ターンキー)や、 外観検査装置の販売・サポートも行っております。 【事業内容】 ■テストターンキー  ・半導体テスト開発/半導体テスト受託 ■装置ターンキー  ・装置及び電子機器の設計製作・販売  ・外観検査装置の販売・サポート ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

Eureka DDR4 2933, DIMMテスター

Eureka DDR4 2933, DIMMテスター
Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。

TG45AX専用LVDS出力ユニット

TG45AX専用LVDS出力ユニット
TG45AX002は、TG45AXテスト信号発生器専用のLVDS出力オプションです。高精細度および高色域化が進む表示パネル向けに、最大12ビットのLVDSを出力します。 ドットクロック周波数により、1相モード(20〜135MHz)、2相モード(40〜270MHz)、4相モード(80〜400MHz)での切替え出力が可能で、またRGB各チャンネルの諧調を8、10、12ビットの切替えも可能です(ドットクロック周波数200MHz以上は8ビット階調)。 TG45AX本体のテスト信号はもちろん自然画信号を出力し、更に信号レベル可変・周波数可変・位相可変などの可変機能に連動して出力が可能です。

オプティマイズドDCテストシステム

オプティマイズドDCテストシステム
シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。 2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。

検査用ソケット『W-CSP』

検査用ソケット『W-CSP』
『W-CSP』は、ウエハよりチップをダイシング後、同軸型4端子コンタク トプローブ(PATENT)を利用して手動測定が可能な検査用ソケットです。 チップの開発や抜取り検査・不良解析などに使用可能。 ソケットの蓋は、着脱可能で、自動機(ハンドラ式)検査にも使用できます。 【特長】 ■BGA、LGA、ベアチップなどの動作確認検査が可能 ■MOS-FETのオン抵抗値測定が可能 ■端子間の電圧測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

セル電圧発生装置

セル電圧発生装置
セル電圧発生装置は1台で16chの絶縁された電圧を発生します。 セル電圧発生装置を最大6台直列に接続することで、96chの絶縁された電圧を発生することが出来ます。 各chの最大電圧は5Vで、各セル毎に電圧を設定することが可能です。 リチウムイオンバッテリーのセルコントローラ基板の評価・検査にご使用いただけます。 また、セル電圧発生装置を使用して、セルコントローラ基板の自動試験装置の製作も承っております。

「インサーキットテスター」フラグシップモデル

「インサーキットテスター」フラグシップモデル
・アナログ部品テスト ・デジタル部品テスト ・バウンダリスキャンテスト ・ピン浮きテスト(FrameScanFx) ・ファンクションテスト その他、多彩なテスト方法をご提供致します。

JTAGインシステム・プログラミング

JTAGインシステム・プログラミング
一般的なフラッシュメモリのライブラリが準備されており、製造メーカー、デバイス名、パッケージタイプを指定するだけで、ピン番号を入力することなくプログラム書き込みが可能です。また、デバッグ機能により、アドレスをデータパターンをマニュアルで入力でき、入力したデータによってハードウエアの不良を検出します。

【対応事例】大手化学薬品工場からの基板修理依頼

【対応事例】大手化学薬品工場からの基板修理依頼
大手化学薬品工場からの基板修理依頼に対応した事例をご紹介します! 【依頼時の状況】 工場の基板が不動の為ラインが停止 【お問い合わせ内容】 お客様にて不具合の発生している箇所を特定されており、基板修理のご依頼がありました 【対応】 故障した基板は予めわかっていたため、基板をお送りいただき社内にて解析 故障診断を施し基板を修理、郵送にて基板をお送りしお客様にて動作を確認 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

システムデバッグ支援周辺モデル「SyDAP model」

システムデバッグ支援周辺モデル「SyDAP model」
システムデバッグ支援周辺モデル「SyDAP model」は、仮想検証向けのマイコン周辺モジュールのSystemCモデル群です。 既存の仮想検証環境にも容易に組み込むことができ、かつ機能部はC言語で実装することで高速に動作させることができます。 レジスタ設定値のエラーチェックと警告表示機能も備わっているので、実機では発見が困難な設定ミスも容易に発見することができます。 【特徴】 ○標準仕様SystemC / TLM2.0準拠 ○実行速度重視LT (Loosely Timed) ○接続が簡単で早期着手・工期短縮 ○擬似的な故障を注入することも容易 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

フラッシュプログラミングシステム

フラッシュプログラミングシステム
□■書き込み時のオーバーヘッドを最適化       デバイスの実力値に接近した処理速度を実現!■□ 【特長】 ●WindowsベースのGUIによる簡単・快適な操作性 ●量産性が大幅にUP!試作研究開発にも威力発揮! ●各種パッケージに迅速に対応! 【主な仕様】 ・PCベースのプログラミングシステム(Wndows2000/WndowsXPのみ対応) ・USB1.1 インターフェイス搭載 ・TSOP,PLCC,FBGA,uBGA,QFPなどの各種パッケージに迅速に対応 ・標準メモリー 4Gビット ・サイズ・重量 330Wx310Dx95H 4.5Kg(付属品を除く)

HDD/SSD Tester D010

HDD/SSD Tester D010
弊社は10数年来、ハードディスクドライブの製造向け試験装置の開発、製造を行ってきました。この経験を生かし、多様なインターフェースのHDD/SSD の評価試験のできるオリジナル試験装置(HDD/SSD Tester)を開発致しました。

TFT中小型用検査機

TFT中小型用検査機
当社の『TFT中小型用検査機』をご紹介いたします。 液晶モジュール4台同時に書込み、表示検査、消費電流を検査機本体で 測定できるため便利。 4台同時に電流管理ができるのでシステムが簡単です。 【特長】 ■液晶モジュール4台同時に書込み、表示検査、  消費電流を検査機本体で測定できる ■4台同時に電流管理ができるのでシステムが簡単 ■生産実績のある検査機 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ロジックテスタ『GRIFFIN-III』

ロジックテスタ『GRIFFIN-III』
『GRIFFIN-III』は、同等機能のATEに比べ、低価格ながら ACキャリブレーション、SCAN機能、64MW ベクタメモリ、高精度DC-PMUなどの 機能・特長を有し、小型軽量、低消費電力を実現したロジックテスタです。 付属ソフトウェアは、WINDOWSベースユーザフレンドリGUIを有し、特別な 経験知識を必要とせずテストプログラムを容易に作成できます。 また、テストプログラムコンバージョンソフトウェア、各種ベクトルデータから HILEVELフォーマットへの変換ソフトウェアが標準装備されます。 【特長】 ■ローコスト ■軽量コンパクト ■エコ設計 ■ハイパフォーマンス ■低消費電力を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

計測機器 電解コンデンサ用LC測定器1011A

計測機器 電解コンデンサ用LC測定器1011A
計測機器 電解コンデンサ用LC測定器1011Aは電解コンデンサの漏れ電流を高い精度と安定度で、しかも高速に測定します。デジタルコンパレータを内蔵し、良否の選別を行ったうえで判定結果を出力。プリンター出力を標準装備していますので測定ごとにすべての判定データを印字することができます。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

半導体テスタ「オートマティックDCテスター ATS-3201」

半導体テスタ「オートマティックDCテスター ATS-3201」
「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。 水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。 汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。 【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

LD・ICピックアップ検査装置 LDマルチテスター LDMT-2100

LD・ICピックアップ検査装置 LDマルチテスター LDMT-2100
Blu-ray/DVD/CD 光ピックアップの性能検査装置のご紹介です。 【搭載機能】 ・Blu-ray/DVD/CDのマルチに対応(最大60ピン) ・レーザーダイオード発光機能 ・I-Lカーブ測定機能 ・オープン、ショートチェック機能 ・測定結果ロギング機能 ・機能拡張用マルチポート ※詳細はお問合せ、又はカタログをダウンロード下さい。

Multifunction Analyzer

Multifunction Analyzer
電子機器の開発に必要な機器が詰まった、開発者に開発効率の向上と開発のスピードアップを低コストで提供する製品をご提案します。 エンジニアの夢であった1人に1台の環境も可能になります。

株式会社ハートエレクトロニクス 会社案内

株式会社ハートエレクトロニクス 会社案内
ハートエレクトロニクスは1984年に設⽴し、世の中の役に⽴つ⾞を作るため、 ⾞載電⼦機器メーカーとともに、安⼼して使用できるIC作りに関わり続けて参りました。 メイン事業をICの設計からICテスターのプログラム、専用ボードの製作に転換した現在も、その姿勢は変わりません。 ユーザーの皆さまや社会へ誠実に奉仕し、安心で快適なIT社会の創成を企業理念として、社員全員が胸に刻んでいます。 これからの社会でAI、ロボット、IOTが設計や製造のプロセスに多用されるとも、 必ず起きる不具合を未然に防ぎ、安⼼してご利用いただけるICの製作に携わることが、私たちの使命と考えています。 【主要事業】 ■半導体検査(装置・評価・設計) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【生産ライン用】HIROSEの高速度リレー自動検査装置

【生産ライン用】HIROSEの高速度リレー自動検査装置
『MRT-4010型』は、複数リレーを同時に検査できる生産ライン用の 試験システム。 同時に5個のリレーを試験し、リレー毎に測定項目の良否を表示、 不良をアラーム。10秒以下で全項目測定を完了します。 リレー性能の正確なデータが得られるほか、受入検査に導入すれば、 入荷リレーの良否を自動的に判断し、トラブルを事前に防ぎます。 【使用効果】 ■正確なデータ管理 ■受入検査に活躍 ■エージング効果 ■スクリーニングテストが可能 ■メンテナンス効果を評価 ■故障診断器として利用 ■データの自動記録 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ケーブルテスター 『NCT-100の特長』

ケーブルテスター 『NCT-100の特長』
『NCT-100』は簡単操作でケーブル・ハーネスの検査をサポートし、 最大128ポイントの導通、瞬断検査が可能なケーブルテスターです。 重量は約1000gと小型で、持ち運びに便利。 またPCと連動しているので、配線情報の内容や検査結果の合否判定など、 詳細の確認も可能です。 USBメモリに対応のため、ケーブル情報や検査結果履歴の出力も可能です。 【特長】 ■簡単操作 ■小型 ■履歴管理 ■検査結果・詳細表示 ■バーコードリーダ対応(オプション) ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

JTAGポートからFPGAコンフィグ 59JTagStick

JTAGポートからFPGAコンフィグ 59JTagStick
◆JTAGポートが装備されたボードであれば、本モジュールを挿すだけでmicroSDCardからコンフィグが可能となります。 ◆出来合いのEvaluation Kitや、製品ボードの評価やデバッグにご利用いただけます。 ◆煩わしいJTAGケーブルの接続から開放されます。 ◆指定するバイナリデータによって、FPGAのコンフィグRAMに毎回コンフィグする【シンプルモード】と、FPGAに接続されているSPIやBPIを書き換える【プロフェッショナルモード】の2つのモードがあります。 ◆これら2つのモードは、使用するファイルで自動的に選択され、実行されます。

エスジーテック 汎用検査システムGenesisシリーズ

エスジーテック 汎用検査システムGenesisシリーズ
Genesisは電子基板機能検査を目的とした汎用機能検査ユニットです。 治具及び検査関連装置を一貫して製造サポートすることでお客様のあらゆるニーズに対応いたします。

リワークシステム<モノづくり事業>

リワークシステム<モノづくり事業>
当社の『リワークシステム』をご紹介します。 強力なボトムヒーターの採用により、リペアが困難とされてきた4mm厚の 多層板などにも対応可能。データロガーを使用した温度プロファイル 測定により、確実で信頼性の高いリペアを実現します。 高密度実装からの豊富な経験より、お客様のニーズに合った、再生を 可能にします。 【特長】 ■大型基板対応 最大:458mm x 560mm ■リペアが困難とされてきた4mm厚の多層板などにも対応可能 ■デバイスに合わせた専用ノズルを複数保有しており、製作も可能 ■データロガーを使用した温度プロファイル測定により、  確実で信頼性の高いリペアを実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ANDON Electronics社製 BGAソケット/アダプター

ANDON Electronics社製 BGAソケット/アダプター
半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、 交換を可能とするBGAソケット/アダプター 【特徴】 ○BGAデバイスをPCBに実装する為のソケット ○各種BGAデバイス用のソケットとアダプターをご用意 ○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能 ○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等をご用意 ○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、   ターミナル等もラインアップ ●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。   日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

光パワーメータ『205A』

光パワーメータ『205A』
『205A』は、自動オフセット補正(ZERO SET)機能が搭載された 短波長光リンクの光パワーメータです。 オプションの光源ユニットを内蔵して、ロステストセットとしても 使用可能です。 【特長】 ■相対値測定(REL)機能 ■アナログ出力、オート/マニュアルレンジ、データホールド機能 ■スミリンク、トスリンクなど各種短波長光リンクに対応 ■自動オフセット補正(ZERO SET)機能 ■光源ユニット(別売)を内蔵してロステストセットとして使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

eDP簡易信号発生装置『iM1283』

eDP簡易信号発生装置『iM1283』
『iM1283』は、コストを抑えてスピーディーに導入できる eDP(embedded Display Port/5.4G)出力の簡易信号発生装置です。 編集ソフトを同梱しており、お客様が実施する試験環境に合わせて、 パターン作成やタイミング設定が自由自在です。 また、簡単な操作とコンパクトデザインは、省スペースで すぐにご利用できます。 【製品仕様(一部抜粋)】 ■8bit 出力(4lane Display Port 5.4Gbps相当) ■eDP設定(RGB, 1.62Gbps, 2.7Gbps, 5.4Gbps, 2.16Gbps, 2.43Gbps, 3.24Gbps, 4.32Gbps) ■補助電源出力機能(DC12V) ■パターン/タイミングの編集に対応 ■DisplayPortのAUX通信プログラム可能 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

基板の修理・延命サービス

基板の修理・延命サービス
津田製作所は、新しい設備と長年培ってきた技術力で、設計・試作・部品実装から ユニット組立・調整・出荷まで、お客様のものづくりにお応えしています。 これまで「ものづくり」の経験で培ったノウハウをもとに、産業用機器、 業務用機器の基板の修理、延命サービスを提供します。 大規模な設備更新の前に、使い慣れた機器の修理・延命化なら、 当社にお任せください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基板検査・品質保証

基板検査・品質保証
先進の製造設備の導入だけでなく、スキル管理の徹底と、7項目に及ぶ工程内検査を組み合わせて品質の確保に努めています。 【サービス内容・特長】 ■年間4,000品種に及ぶ製品の検査・試験データを活用 ■万全の検査環境 各種検査装置の導入と、徹底したスキル管理により確かな品質を提供 ■通電検査装置の設計・製作 自社技術部門にて各種通電検査装置の設計・製作が可能 ■不良調査・故障解析 不良調査に加え、信頼性評価のための故障解析も実施 ■品質情報トレーサビリティシステム 調達・製造・検査・出荷まで完全な履歴状況を提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

有機EL/LTPS型液晶セル用信号発生器『OGI-007MK2』

有機EL/LTPS型液晶セル用信号発生器『OGI-007MK2』
本製品は、スマートフォンやタブレット端末に使われている 有機ELやLTPS型液晶セルの点灯検査用信号発生器です。 検査レシピをプログラミングできるので、多様な検査に対応できます。 同パターンの信号を2CH同時出力。 各出力信号は駆動特性を有しており、レシピは駆動パラメータの入力のみ の簡単設定が可能です。 【特長】 ■良好な操作性 ■良好なメンテナンス性 ■高度な拡張性 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

インターフェースユニット『EP-100』

インターフェースユニット『EP-100』
『EP-100』は、I.S.P-310に接続する事で、さらに多種の デバイスに書き込むことが可能になるインターフェースユニットです。 フラッシュプログラマ I.S.P-310にてプログラミングを行う時、 電圧供給が必要なデバイスに対し、必要な電圧を供給する機能を持ちます。 ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応。ご要望により 特殊対応可能な品種もあります。 【特長】 ■I.S.P-310に接続する事で、さらに多種のデバイスに書き込むことが可能 ■I.S.P-310にてプログラミングを行う時、必要な電圧を供給する機能を持つ ■ML610Qシリーズ、ML620Qシリーズにも対応 ■78K0ファミリ、78K0Rファミリにも対応 ■ご要望により特殊対応可能な品種もあり ※ダウンロード資料は取り扱い説明書となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

OTP不揮発メモリIPコア『PermSRAM』

OTP不揮発メモリIPコア『PermSRAM』
『PermSRAM』は、標準ロジックプロセスで製造可能な OTP不揮発メモリIPコアです。 0.18um世代から先端の28nm世代とその先まで、幅広いプロセスに対して 1回のみ書込が可能な不揮発メモリを提供。 64bラッチタイプから1MByteのコード格納用メモリまで、 様々な不揮発メモリコア用途に合わせたカスタマイズが可能です。 【特長】 ■世界最小クラス面積 ■リバース・エンジニア耐性 ■低電圧書込 ■テスト回路搭載 ■車載グレード(150℃保証可) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

レーザーダイオードテスター『AT-143』

レーザーダイオードテスター『AT-143』
『AT-143』は、レーザーダイオード(LD)の特性評価に必要な 5つの機能を有するレーザーダイオードテスターです。 マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能。 また、標準測定機構部(別売)に接続すればフィールドパターン測定が できます。 さらに、標準測定ソフトウェア(別売)を使用すれば簡単に 温度特性評価ができます。 【特長】 ■マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能 ■標準測定ソフトウェアを使用すれば簡単に温度特性評価ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

センサテスタ

センサテスタ
「簡単なセンサテスタが欲しい」というお客様の声から生まれたオリジナル製品です。電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェックでき、12V/5V電源電圧表示、2chを同時表示などが可能です。AC、乾電池、バッテリで駆動し、角度変換表示機能付きで、バックライトも付いています。 大手自動車メーカー様テスト用、他に採用実績があります。 ボディカラーは、ご希望に応じます。 【特徴】 ○電圧出力式センサの動作確認を手軽にチェック ○12V/5V電源電圧表示 ○2chを同時表示 ○DC9~18V(車載バッテリーに対応) ○AC、乾電池、バッテリで駆動 ○角度変換表示機能付き ○バックライト付き ○サイズ:約156×100×h50mm(コネクタの突起を除く) ○ボディカラー:ご希望に応じます ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

EP-ROMライター&EP-ROMイレーサー カタログ

EP-ROMライター&EP-ROMイレーサー カタログ
EP-ROMライター&EP-ROMイレーサー『Palette family&Eraser party』は、電子部品・電子機器の開発、製造、販売を行っている株式会社ロジパックの製品カタログです。 多機能ライターとイレーサーが一体化したパーソナルROMライター「Palette-11」をはじめ、A5サイズコンパクト設計の「スタンダードPalette-22」や、EP-ROMの内容を消去するイレーサー「EP-ROM Eraser E-01-50/E01-60」などを掲載しています。 【ラインアップ(一部)】 〔Palette family〕 ■Palette-11 ■Palette-11 BATTERY ■Palette-11 HANDY 〔Eraser party〕 ■EP-ROM Eraser E-01-50/E01-60 ■MOBILE EP-ROM Eraser E-07 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

NMAシリーズ|ハーネステスター(ケーブルテスター)

NMAシリーズ|ハーネステスター(ケーブルテスター)
高機能ハーネスチェッカーは、高効率で操作性に優れた最新の導通検査器です。 USBを使うことで約65000件の配線データの保存、検査履歴の自動保存、USBメモリーでダイレクトに検査が可能となります。 また検査ポイントは最大128/256/384ポイント(機種別)で、どのような配線でも検査可能で、導通検査、瞬間断線検査、サーチ検査、抵抗検査機能を搭載しています。 詳しくはカタログをダウンロードしてください。

ICレギュレータテスタ『ME-8』

ICレギュレータテスタ『ME-8』
『ME-8』は、0~25Vのオルタネータ発生電圧や、5~20Vの レギュレータ調整電圧の測定が可能なICレギュレータテスタです。 サイズは221×142×46mm、重量は約0.5Kgとコンパクトです。 【特長】 ■大型メータで読み取り易い ■単体及び装着状態での測定が可能 ■適正ゾーンの表示で良否判定が簡単 ■乾電池式で軽量コンパクトボディ ■吊り下げフック付で作業性向上 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

ANDON Electronics社製 キャリアーソケット

ANDON Electronics社製 キャリアーソケット
半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、 交換を可能とするキャリアーソケット 【特徴】 ○PCB上でデバイスの抜き差しができるようデザインしましたソケット ○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能 ○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等をご用意 ○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、   ターミナル等もラインアップ ●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。   日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

DTC2U3 USB挿抜試験装置《外部PC制御機能付》

DTC2U3 USB挿抜試験装置《外部PC制御機能付》
本外部PC制御機能付USB挿抜試験装置(DTC2U3)は、USB2.0/USB3.0 のホスト-デバイス間に設置し、 USBケーブルの接続、切断の電気的なエミュレーション、ならびにCRCエラーの誘発を行う装置です。 USBケーブル挿抜時、またはCRCエラー発生時の不具合摘出、再現を可能としますので、 USB機器の開発や生産工程の効率化にご利用いただけます。 【活用用途】 外部PC制御機能 USB挿抜試験装置 CRCエラー発生 USBケーブル挿抜エミュレーション CRCエラーの誘発 CRCエラー発生時の不具合摘出 USBケーブル挿抜時の不具合摘出 USB製品開発評価の効率化 USB製品生産工程の効率化 ※取扱説明書進呈中!カタログダウンロードよりご覧ください。

8インチウェハ セミオートシステム

8インチウェハ セミオートシステム
当製品は、様々な測定ニーズに対応するセミオートプローバーです。 「TS2000-SE」は、高性能、超低ノイズ、高精度でありながら テストコスト削減のもとに設計されました。 微小電流測定、高い信頼性のDC/IV測定、1/f測定、RF測定、パワーデバイス 測定など、すべてにおいて最高クラスのパフォーマンスを発揮します。 【特長】 <TS2000-SE> ■最大8インチウェハに対応 ■EMI対策、RFI対策、遮光に優れた設計 ■ウェハのロード・アンロードを自動で行う ■最大-60℃~300℃の温調が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

データ収集ボード用 テストボードTEST85

データ収集ボード用 テストボードTEST85
●MultifunctionI/Oテスト基板 ●ADX2-85-1M-PCIEX,ADX2-85-1M-PCI用に使用可能 ●スイッチ、LEDランプ、ボリュームでI/Oの動作を確認できます

スピーカーFo&Ze測定器『OST-828』

スピーカーFo&Ze測定器『OST-828』
『OST-828』は、スピーカーの最低共振周波数FoとインピーダンスZeを 定電圧法で測定し、複数の測定値を用いて統計計算し規格判定する 自動測定器です。 測定データを全て保存出来ます。 また、Q(Qes, Qms, Qts)の値も計算します。 スピーカーの直流抵抗は、別途抵抗計で測定しキー入力します。 【システム構成】 ■測定ユニット ■OST-828専用ノートパソコン(OS:Windows10 64bit版) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

測定ハンドラー テーピング装置『TH288LD』

測定ハンドラー テーピング装置『TH288LD』
『TH288LD』は、プラステイックチューブに収められた ガルウイングリード形状のパワートランジスターを高温状態および 常温状態で接続されたテスターで電気的特性を測定し、その後 外観検査を行い、チューブ収納または、テーピング収納する装置です。 各構成は必要に応じて変更可能。また、デバイスのリード形状について ストレートリードL曲げ品など対応も可能です。 【装置仕様(一部抜粋)】 ■処理能力:0.55sec/1デバイス テストタイム250m sec含む ■供給:プラステイックチューブ 80本 空チューブはストッカーに収納 ■測定  ・高温測定:1又は2か所 3端子 リーフコンタクト        高温仕様 100℃~120℃±3℃  ・常温仕様:6ヶ所 3端子 リーフコンタクト ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

コーヨーテクノス製 ICソケット

コーヨーテクノス製 ICソケット
VBPC(Vertical Bending Probe Card)を仕様したチップソケットは、BGA、CSPなどの標準ピッチをはじめ、FPCドライバーやICチップへのダイレクトコンタクトなどのファインピッチにも幅広く対応しております。また、試作、特殊設計などにも1セットから制作致します。
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電気的検査・テスタにおける完成品の動作確認

電気的検査・テスタにおける完成品の動作確認とは?

エレクトロニクス製品が設計通りに機能するか、電気的な仕様を満たしているかを確認する工程です。テスタと呼ばれる測定器を使用し、製品の各電気的特性を評価することで、品質と信頼性を保証します。

​課題

検査精度のばらつき

手作業による検査では、オペレーターの熟練度や疲労により、検査結果にばらつきが生じ、見逃しや誤検出のリスクがあります。

検査時間の長期化

複雑な回路を持つ製品や多品種少量生産の場合、個々の製品に対して詳細な検査を行うため、全体の生産リードタイムが長くなります。

データ管理の煩雑さ

検査結果の記録や分析が手作業で行われる場合、データの収集、整理、保管に手間がかかり、トレーサビリティの確保が困難になります。

最新規格への対応遅延

技術革新や市場の要求により、検査項目や基準が頻繁に変更されるため、既存の検査体制では迅速な対応が難しい場合があります。

​対策

自動化された検査システムの導入

プログラムされた手順に基づき、高速かつ高精度な検査を実行することで、人的ミスを排除し、検査品質を均一化します。

並列検査プロセスの最適化

複数の検査を同時に実施できるテスタや、検査ライン全体のフローを見直すことで、スループットを向上させ、検査時間を短縮します。

検査データの一元管理と分析

検査結果をデジタルデータとして自動収集し、クラウドなどで一元管理することで、迅速なデータ分析と品質改善に繋げます。

モジュール化された検査治具

製品仕様の変更や新規格に対応する際、検査治具の一部を交換・更新するだけで対応できる柔軟なシステムを構築します。

​対策に役立つ製品例

汎用型自動検査装置

様々な電子部品や回路基板の電気的特性を自動で測定・評価し、検査精度の向上と時間短縮を実現します。

高速データロガー

検査中の電気信号をリアルタイムで高精度に記録し、詳細な分析や異常検知を可能にします。

クラウドベースの検査管理システム

検査データの収集、保存、分析を自動化し、トレーサビリティの確保と品質管理の効率化を支援します。

カスタマイズ可能な検査システム

製品の多様な要求仕様に合わせて、検査モジュールを柔軟に組み合わせ、最新規格への迅速な対応を可能にします。

⭐今週のピックアップ

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