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エレクトロニクス検査・試験

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完成品の動作確認とは?課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおける完成品の動作確認とは?

エレクトロニクス製品が設計通りに機能するか、電気的な仕様を満たしているかを確認する工程です。テスタと呼ばれる測定器を使用し、製品の各電気的特性を評価することで、品質と信頼性を保証します。

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【電子部品向け】差圧式リークテスタ NLT-330

【電子部品向け】差圧式リークテスタ NLT-330
電子部品業界では、品質を確保するために、気密性の検査が不可欠です。特に、電子機器の小型化・高密度化が進む中で、部品のわずかな漏れが製品の性能低下や故障につながるリスクが高まっています。水没検査ではワークを濡らしてしまうため、電子部品への影響を考慮する必要があります。NLT-330は、水没させることなく、高精度な気密検査を実現します。 【活用シーン】 ・電子部品メーカーでの部品検査 ・各種電子機器メーカーでの品質管理 ・基板実装後の検査 【導入の効果】 ・ワークを濡らすことなく検査が可能 ・高精度な漏れ検出による品質向上 ・検査工程の効率化 ・不良品の早期発見によるコスト削減

【医療機器向け】ICテストハンドラNS-8080SH

【医療機器向け】ICテストハンドラNS-8080SH
医療機器業界では、製品の品質と信頼性が最重要視されます。特に、精密な電子部品を使用する医療機器においては、ICの正確なテストが不可欠です。テストの精度が低いと、機器の誤作動や性能低下につながり、患者さんの安全を脅かす可能性があります。株式会社NSテクノロジーズのICテストハンドラNS-8080SHは、高いスループットと温度管理機能を備え、医療機器製造におけるICテストの効率化と品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・医療用電子機器のICテスト ・精密電子部品の選別 ・品質管理部門での検査 【導入の効果】 ・テスト時間の短縮 ・不良品の早期発見 ・製品の信頼性向上

【データセンター向け】SLTソケット

【データセンター向け】SLTソケット
データセンターでは、機器の信頼性と効率的な運用が不可欠です。システムレベルテスト(SLT)は、これらの要求に応えるために重要ですが、正確な測定が求められます。PCRソケットは、短距離接続と面接触により、実装状態に近い状態で特性を検証できます。これにより、実際の機器に近い状態で安定した測定が可能となり、効率的なシステム運用に貢献します。 【活用シーン】 ・サーバー、ネットワーク機器の特性評価 ・高密度実装基板のテスト 【導入の効果】 ・精度の高い測定による信頼性向上 ・効率的なシステム運用

【自動車業界向け】APT-2600FDによる品質保証

【自動車業界向け】APT-2600FDによる品質保証
自動車業界では、電子制御ユニット(ECU)の高度化に伴い、基板の品質が製品の安全性と信頼性を左右する重要な要素となっています。特に、振動や温度変化にさらされる車載電子部品においては、高い検査精度と効率的な検査体制が求められます。APT-2600FDは、これらの課題に対し、高いテストカバレッジと検査時間の短縮を実現し、自動車メーカーの品質保証体制を強化します。 【活用シーン】 ・車載ECU基板の検査 ・ADAS(先進運転支援システム)関連基板の検査 ・車載用電子部品メーカーでの品質管理 【導入の効果】 ・製品の信頼性向上 ・不良品の早期発見によるコスト削減 ・検査時間の短縮による生産効率向上

【航空宇宙向け】TY-CHECKER Type E テスター

【航空宇宙向け】TY-CHECKER Type E テスター
航空宇宙業界では、製品の安全性と信頼性が最重要課題です。過酷な環境下で使用される電子機器の基板においては、微細な欠陥も見逃すことは許されません。導通不良や絶縁不良は、重大な事故につながる可能性があります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、これらのリスクを低減し、製品の信頼性向上に貢献します。 【活用シーン】 * 航空機、宇宙船、人工衛星などの電子基板検査 * 高信頼性が求められる電子機器の品質管理 * 製造工程における品質保証 【導入の効果】 * 検査時間の短縮 * 不良品の早期発見 * 製品の信頼性向上 * コスト削減

ANDON Electronics社製 PLCCソケット

ANDON Electronics社製 PLCCソケット
半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、 交換を可能とするPLCCソケット 【特徴】 ○各種のスルーホールやSMD PLCCソケットをご用意 ○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能 ○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等ご用意 ○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、   ターミナル等もラインアップ ●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。   日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

半導体テスタ「オートマティックDCテスター ATS-3201」

半導体テスタ「オートマティックDCテスター ATS-3201」
「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。 水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。 汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。 【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

『テスタプラットホーム』のご提案

『テスタプラットホーム』のご提案
KYECジャパン株式会社は、1,900台以上の各種LSIテスタを保有しており、 お客様のご要求に応える好適なプラットフォームをご提案いたします。 各種装置も多数取り揃えております。 【試験装置ラインナップ】 ■プローバー ■ハンドラー ■レーザーリペア ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

検査機器【ケーブルチェッカー2018】作業効率を格段にアップ!

検査機器【ケーブルチェッカー2018】作業効率を格段にアップ!
『新型ケーブルチェッカー』は、マイコンとフォトMOSリレーを内蔵し、 自動で接点のメイク・ブレイクが可能な接点チェッカーです。 手動でスイッチをオン・オフする手間がなく、メイク間隔の選択も可能。 また、4種類のブザー音を搭載し、接点ごとの鳴り分けが可能です。 【特長】 ■自動で接点のメイク・ブレイク ■USBタイプACアダプタ採用 ■4種類のブザー音内蔵 ■小型・軽量化 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。

【対応事例】大手化学薬品工場からの基板修理依頼

【対応事例】大手化学薬品工場からの基板修理依頼
大手化学薬品工場からの基板修理依頼に対応した事例をご紹介します! 【依頼時の状況】 工場の基板が不動の為ラインが停止 【お問い合わせ内容】 お客様にて不具合の発生している箇所を特定されており、基板修理のご依頼がありました 【対応】 故障した基板は予めわかっていたため、基板をお送りいただき社内にて解析 故障診断を施し基板を修理、郵送にて基板をお送りしお客様にて動作を確認 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ANDON Electronics社製 キャリアーソケット

ANDON Electronics社製 キャリアーソケット
半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、 交換を可能とするキャリアーソケット 【特徴】 ○PCB上でデバイスの抜き差しができるようデザインしましたソケット ○半導体素子の保護、アッセンブル、テスト、交換が可能 ○ICソケット、マイクロプレシジョンソケット等をご用意 ○アダプターやボード間の接続に使用する接点や、   ターミナル等もラインアップ ●この製品のカタログは、海外の仕様で記載されております。   日本仕様については別途お問い合わせ下さい。

半導体テスト開発/半導体テスト受託サービス

半導体テスト開発/半導体テスト受託サービス
当社では、半導体テスト開発(テスト設計、テストプログラムコーディング、 治具設計製作、デバッグ、立上げ)から量産テスト受託まで一貫した サービスを提供しております。 量産テストではテスター選定、テストの効率化、歩留まり改善を施し 好適なテストを実現するとともにお客様のニーズに合わせ、少量多品種、 試作評価にも対応。 その他、装置及び電子機器の設計製作・販売(装置ターンキー)や、 外観検査装置の販売・サポートも行っております。 【事業内容】 ■テストターンキー  ・半導体テスト開発/半導体テスト受託 ■装置ターンキー  ・装置及び電子機器の設計製作・販売  ・外観検査装置の販売・サポート ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

ブルートゥース・オーディオテスター『MTP120A』

ブルートゥース・オーディオテスター『MTP120A』
『MTP120A』は、内蔵ブルートゥースドングルを使用してDUTとの ブルートゥース接続を確立した後のオーディオ性能をテストするために 開発された製品です。 20Hz~20kHzのトーン信号を0.1Hz単位で生成可能。シグナルアナライザ、 周波数応答、トーンレベル、歪み(SNR、SINAD、THD)を一度に測定可能。 同時に2台のブルートゥースDUTを接続することができ、また入力ポートと 出力ポートが4個ずつ付いているので、開発段階から生産ラインのテストまで 必要な要件を満たせる様に設計されています。 【ストロングポイント(一部)】 ■ブルートゥース 2チャンネルの同時測定 ■Bluetooth A2DP,HFP,HFS,SPP,AVRCPプロトコルをサポート ■シグナルジェネレータとシグナルアナライザの機能を統合 ■オーディオ性能テスト(周波数・トーンレベル・SNR・THD・SINAD)の同時測定 ■Bluetooth機能付の音響機器生産ラインに好適な入力4ポート・出力4ポートの搭載 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

MITOUJTAG(みとうジェイタグ)BASICフルセット

MITOUJTAG(みとうジェイタグ)BASICフルセット
MITOUJTAG(みとうジェイタグ)は、世界で初めてJTAGバウンダリスキャンをFPGAやCPUのデバッグに効果的に活用できるようにしたツールで、組み込み電子回路をより効率的に開発することができるようにするものです。 昨今の電子回路は高密度化のため、信号を観察することが困難になりましたが、MITOUJTAGを使えばI/O端子の状態をパソコンの画面で見ることができます。 また、FPGAの論理合成やCPUのプログラムをコンパイルすることなくICの端子を自由自在に操作することもでき、回路設計者がデスクトップ上でプリント基板の実装検査を行うことも可能になります。 お客様のパソコンとデバッグ対象のターゲットボードを接続するためのUSB-JTAGケーブル (Pocket JTAG Cable)と、専用のソフトウェア(MITOUJTAG BASIC)をセットにした商品です。 ※ソフトウェア単体での販売も行っております。

半導通チェッカ『ODC-489』

半導通チェッカ『ODC-489』
『ODC-489』は、スピーカの半導通状態(半断線状態)をチェックする機器です。 ボイスコイル内のワイヤー折れ曲がりやよじれによる半断線状態や、 ターミナル部の半田付け不良やからげ不良を検出します。 始めに、微小電流にて直流抵抗測定、次にパルス信号により負荷動作状態に おける負荷電流測定、もう一度、微小電流にて直流抵抗測定を行い、良品と 比較し判定。 判定基準は、良品との値差が設定値を超えたとき、不良(半導通・半断線)と 判定します。 【性能】 <直流抵抗測定> ■測定範囲:2Ω~200Ω(測定電流=1mA) ■表示分解能:0.1Ω ■測定時間:0.2S ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

電子製品自動検査装置の設計・製作サービス

電子製品自動検査装置の設計・製作サービス
家電製品や車載用電子機器に対して、パソコン等の制御装置により 外部から疑似的に電気信号を与え、製品の動作を確認して合否判定する 装置を製作します。 また、ご要望に応じて自動搬送の機構部と合わせての製作も可能です。 装置の詳細な仕様が決まっていない場合でも、弊社の製作実績に基づき 様々な形にてご提案いたしますので、お気軽にご相談ください。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

無料モニタ貸出 JTAGポートに挿すだけで簡単FPGAコンフィグ

無料モニタ貸出 JTAGポートに挿すだけで簡単FPGAコンフィグ
【モニタ条件】 ◆下記3点がご了解いただければ、最長3週間、お貸し出し致します。 (1)JTAGポートが装備された評価可能なFPGAボードを準備できること。 (2)後日、ご利用いただいたご感想にご協力いただけること。 (3)モニタ終了後、お客様ご負担で、弊社にモニタ品を返送していただけること。(ご購入の場合はそのままご利用いただくことも可能です。)発送時は弊社が負担します。 【製品説明】 ◆JTAGポートが装備されたボードであれば、本モジュールを挿すだけでmicroSDCardからコンフィグが可能となります。 ◆出来合いのEvaluation Kitや、製品ボードの評価やデバッグにご利用いただけます。 ◆煩わしいJTAGケーブルの接続から開放されます。 ◆指定するバイナリデータによって、FPGAのコンフィグRAMに毎回コンフィグする【シンプルモード】と、FPGAに接続されているSPIやBPIを書き換える【プロフェッショナルモード】の2つのモードがあります。 ◆これら2つのモードは、使用するファイルで自動的に選択され、実行されます。

『KYECビジネス』のご提案

『KYECビジネス』のご提案
KYECジャパン株式会社は、テストハウスとして1,900セットを超える テスターを保有し、365日24時間量産体制のもと、お客様の量産ニーズに 柔軟に対応しております。 そこで、日本国内のお客様の量産テスト立ち上げ、量産工程サポートを 強力にバックアップする『KYECビジネス』をご提案しております。 【特長】 ■量産移管サポート ■テスト開発(テストプログラム開発、ボード開発) ■量産工程サポート ■ローコストソリューション ■強力にバックアップ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

スピーカーFo&Ze測定器『OST-828』

スピーカーFo&Ze測定器『OST-828』
『OST-828』は、スピーカーの最低共振周波数FoとインピーダンスZeを 定電圧法で測定し、複数の測定値を用いて統計計算し規格判定する 自動測定器です。 測定データを全て保存出来ます。 また、Q(Qes, Qms, Qts)の値も計算します。 スピーカーの直流抵抗は、別途抵抗計で測定しキー入力します。 【システム構成】 ■測定ユニット ■OST-828専用ノートパソコン(OS:Windows10 64bit版) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

簡易型信号発生基板『CV200』

簡易型��信号発生基板『CV200』
本製品は、超高解像度8K4K/60Hzに対応した、V-by-One(R) HS 32laneの インターフェースを持つ、簡易型の信号発生基板です。 お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成や タイミング設定が自由自在。 また、4K2K/120Hzのモジュールにも対応いたします。 【標準仕様】 ■DC12V単一電源駆動 ■データの書き換えはPCからのUSB接続で実施 ■PCを用いた外部制御に対応 ■オプションでスイッチ操作部を延長するRemote Boxに対応 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

レーザーダイオードテスター『AT-143』

レーザーダイオードテスター『AT-143』
『AT-143』は、レーザーダイオード(LD)の特性評価に必要な 5つの機能を有するレーザーダイオードテスターです。 マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能。 また、標準測定機構部(別売)に接続すればフィールドパターン測定が できます。 さらに、標準測定ソフトウェア(別売)を使用すれば簡単に 温度特性評価ができます。 【特長】 ■マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能 ■標準測定ソフトウェアを使用すれば簡単に温度特性評価ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

『ローコストソリューション』のご提案

『ローコストソリューション』のご提案
『ローコストソリューション』として、内製のLSIテスタ「E320シリーズ」 を用いた量産テストサービスをご提案しております。 コストパフォーマンスを追求した内製テスタを開発し、テストコストの 大幅削減を実現し、テストボードやアクセサリキットなども標準化しており、 テスト開発に伴う初期投資も抑えることができます。 また、テスタ・コンバージョンのための各種ツールをご用意。 他のテスタから「E320シリーズ」への移行もスムーズにおこなえます。 【特長】 ■高いコストパフォーマンス ■フレキシブルな技術サポート ■テストプログラム開発環境 ■テスタ・コンバージョン環境 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

Eureka DDR4 2933, DIMMテスター

Eureka DDR4 2933, DIMMテスター
Eureka DDR4 2933はメモリーディストリビュータ及びモジュールメーカー向けのDDR4 DIMM/SODIMMファンクションテスターで、DDR4 RDIMM(x4, x8), UDIMM(ECC/Non-ECC), SODIMM(ECC/Non-ECC), VLP-RDIMM, LRDIMM, BGA Chipのテストが可能です。

オンボード・フラッシュメモリ・プログラマFP-40

オンボード・フラッシュメモリ・プログラマFP-40
FP-40は、Cortex-Mコア内蔵フラッシュメモリをはじめ、様々なフラッシュメモリへ書き込むためのフラッシュ・プログラマです。 鮮明で見やすい有機ELディスプレイを搭載。 書込み結果・進行状況・残り時間・チェックサム等が一目で分かる。 給電機能で作業の効率をアップ。 外部の機器から当製品を制御する事で生産システムとして構築可能。 書き込み後の内蔵フラッシュ・メモリのプロテクト/セキュリティ 処理も可能。 パソコンがなくても書き込みができ、フィールド・メンテナンスでの ファームウェアの更新にも威力を発揮。 【特長】 ■JTAG/SWDのデバッグインターフェースで接続  UARTやLINなどのカスタム対応も可能 ■モバイルバッテリーで動作可能 ■約4000種のデバイスに対応 ■未対応のデバイスでもホームページから対応リクエストが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 また、技術サポート付きの無償貸出を行っているほか、無料ウェビナーも随時行っています。お気軽にお問い合わせください。

基板検査・品質保証

基板検査・品質保証
先進の製造設備の導入だけでなく、スキル管理の徹底と、7項目に及ぶ工程内検査を組み合わせて品質の確保に努めています。 【サービス内容・特長】 ■年間4,000品種に及ぶ製品の検査・試験データを活用 ■万全の検査環境 各種検査装置の導入と、徹底したスキル管理により確かな品質を提供 ■通電検査装置の設計・製作 自社技術部門にて各種通電検査装置の設計・製作が可能 ■不良調査・故障解析 不良調査に加え、信頼性評価のための故障解析も実施 ■品質情報トレーサビリティシステム 調達・製造・検査・出荷まで完全な履歴状況を提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

JTAGポートからFPGAコンフィグ 59JTagStick

JTAGポートからFPGAコンフィグ 59JTagStick
◆JTAGポートが装備されたボードであれば、本モジュールを挿すだけでmicroSDCardからコンフィグが可能となります。 ◆出来合いのEvaluation Kitや、製品ボードの評価やデバッグにご利用いただけます。 ◆煩わしいJTAGケーブルの接続から開放されます。 ◆指定するバイナリデータによって、FPGAのコンフィグRAMに毎回コンフィグする【シンプルモード】と、FPGAに接続されているSPIやBPIを書き換える【プロフェッショナルモード】の2つのモードがあります。 ◆これら2つのモードは、使用するファイルで自動的に選択され、実行されます。

EP-ROMライター&EP-ROMイレーサー カタログ

EP-ROMライター&EP-ROMイレーサー カタログ
EP-ROMライター&EP-ROMイレーサー『Palette family&Eraser party』は、電子部品・電子機器の開発、製造、販売を行っている株式会社ロジパックの製品カタログです。 多機能ライターとイレーサーが一体化したパーソナルROMライター「Palette-11」をはじめ、A5サイズコンパクト設計の「スタンダードPalette-22」や、EP-ROMの内容を消去するイレーサー「EP-ROM Eraser E-01-50/E01-60」などを掲載しています。 【ラインアップ(一部)】 〔Palette family〕 ■Palette-11 ■Palette-11 BATTERY ■Palette-11 HANDY 〔Eraser party〕 ■EP-ROM Eraser E-01-50/E01-60 ■MOBILE EP-ROM Eraser E-07 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

JTAG エミュレータ、デバッガ

JTAG エミュレータ、デバッガ
Corelis JTAGエミュレータ・デバッガには、Eclipse(Java)ベースのIDE(統合開発環境)とJTAG対応CPUのデバッガソフトウエアの2種類があります。CPU開発・製造各社のCPUに対応しており、特定(ターゲット)のCPUプログラム開発・デバッグ用ソフトです。使用に際しては、PCI、USB等のインターフェース(コントローラ)の指定が必要です。

レーザーダイオードテストシステム【LD2920TB】

レーザーダイオードテストシステム【LD2920TB】
長波長レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するLDテストシステムです。 <特長> ■ 供給から測定・分類などを全自動搬送できます ■ 最大13台のカメラにより運転状況の把握が容易です ■ +20℃~-100℃まで任意の温度で測定可能です ■FRONT光、BACK光のIL測定を同時に行います。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

測定ハンドラー テーピング装置『TH288LD』

測定ハンドラー テーピング装置『TH288LD』
『TH288LD』は、プラステイックチューブに収められた ガルウイングリード形状のパワートランジスターを高温状態および 常温状態で接続されたテスターで電気的特性を測定し、その後 外観検査を行い、チューブ収納または、テーピング収納する装置です。 各構成は必要に応じて変更可能。また、デバイスのリード形状について ストレートリードL曲げ品など対応も可能です。 【装置仕様(一部抜粋)】 ■処理能力:0.55sec/1デバイス テストタイム250m sec含む ■供給:プラステイックチューブ 80本 空チューブはストッカーに収納 ■測定  ・高温測定:1又は2か所 3端子 リーフコンタクト        高温仕様 100℃~120℃±3℃  ・常温仕様:6ヶ所 3端子 リーフコンタクト ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

DTC2U3 USB挿抜試験装置《外部PC制御機能付》

DTC2U3 USB挿抜試験装置《外部PC制御機能付》
本外部PC制御機能付USB挿抜試験装置(DTC2U3)は、USB2.0/USB3.0 のホスト-デバイス間に設置し、 USBケーブルの接続、切断の電気的なエミュレーション、ならびにCRCエラーの誘発を行う装置です。 USBケーブル挿抜時、またはCRCエラー発生時の不具合摘出、再現を可能としますので、 USB機器の開発や生産工程の効率化にご利用いただけます。 【活用用途】 外部PC制御機能 USB挿抜試験装置 CRCエラー発生 USBケーブル挿抜エミュレーション CRCエラーの誘発 CRCエラー発生時の不具合摘出 USBケーブル挿抜時の不具合摘出 USB製品開発評価の効率化 USB製品生産工程の効率化 ※取扱説明書進呈中!カタログダウンロードよりご覧ください。

ファンクション治具シリーズ

ファンクション治具シリーズ
当社では、基板の入出力の電気的動作を確認するための機能検査に使用する ファンクション治具の製造・販売を行っております。 メカ設計をはじめ、配線、組立、材料加工など社内で一貫製造しており、 当社標準プレス機からフルカスタムまで治具製作が可能。 お客様のニーズにあった治具をご提案します。 お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■社内で一貫製造 (メカ設計、電気設計、配線、組立、材料加工、ソフト設計) ■当社標準プレス機からフルカスタムまで治具製作が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

トキワ計測器 BtoBアシスタ  

トキワ計測器 BtoBアシスタ  
検査時の着脱が簡単です。対象のコネクタと基板やFPCを元にひとつずつ製造致します。

エスジーテック 汎用検査システムGenesisシリーズ

エスジーテック 汎用検査システムGenesisシリーズ
Genesisは電子基板機能検査を目的とした汎用機能検査ユニットです。 治具及び検査関連装置を一貫して製造サポートすることでお客様のあらゆるニーズに対応いたします。

JTAGインシステム・プログラミング

JTAGインシステム・プログラミング
一般的なフラッシュメモリのライブラリが準備されており、製造メーカー、デバイス名、パッケージタイプを指定するだけで、ピン番号を入力することなくプログラム書き込みが可能です。また、デバッグ機能により、アドレスをデータパターンをマニュアルで入力でき、入力したデータによってハードウエアの不良を検出します。

【デモ機貸出可】高速GANGプログラマ『AF9751』

【デモ機貸出可】高速GANGプログラマ『AF9751』
『AF9751』は、開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応した UFSメモリ専用の高速GANGプログラマです。 「Universal Flash Storage Association」規格の Ver.3.1のUFSメモリに対して高速データ書込みを実現。 専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに UFSデバイスに対し書込みが可能です。 【特長】 ■UFSメモリ高速書込み ■開発部門/量産部門/検証部門のニーズに対応 ■専用アプリケーションにて作成したプロジェクトファイルをもとに  UFSデバイスに対し書込み可能 ■デバイス品種追加についてはWEB公開の専用アプリケーションを  ダウンロードいただくことで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

定電流電源・検査装置

定電流電源・検査装置
定電流電源・検査装置は、数10μAの超微電流定電流電流駆動によるLED静電破壊評価ができます。LED直列多灯点灯回路の駆動、各チャンネル毎に定電流値設定も可能です。微電流・定常電流(10~30mA)の切り替え動作ができます。表示器の有無や自動制御等ご要望によりカスタマイズ承ります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

ハンディタイプ USB-eMMCプログラマ

ハンディタイプ USB-eMMCプログラマ
UPM – USB Programmerは研究開発エンジニア用のMMC / eMMCプログラマです。特別なアダプター不要で代表的な4つのeMMCパッケージがプログラムできる画期的なハンディーツールです。 ※詳しくはカタログをダウンロードしてご確認ください。

有機EL/LTPS型液晶セル用信号発生器『OGI-007MK2』

有機EL/LTPS型液晶セル用信号発生器『OGI-007MK2』
本製品は、スマートフォンやタブレット端末に使われている 有機ELやLTPS型液晶セルの点灯検査用信号発生器です。 検査レシピをプログラミングできるので、多様な検査に対応できます。 同パターンの信号を2CH同時出力。 各出力信号は駆動特性を有しており、レシピは駆動パラメータの入力のみ の簡単設定が可能です。 【特長】 ■良好な操作性 ■良好なメンテナンス性 ■高度な拡張性 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SP3000, DIMMテスター

SP3000, DIMMテスター
SP3000はDDR等DIMM及びBGA等メモリーチップのテストが可能な高性能メモリーテスターで、テストアダプター交換により様々なメモリーをリアルバススピード、リアルサイクルタイムでテストすることができます。 SP3000は豊富なアダプターオプションによりDRAM, SDRAM, SGRAM, DDR SDRAM等様々なメモリーテストが可能な他、DDR3, DDR4等、将来に渡り陳腐化することなくご使用頂ける柔軟性に富むアーキテクチャー、RoboFlexハンドラーによるボリュームテスティングにも対応可能など、その優れたデザインと信頼性の高さにより多数のメモリーモジュール製造メーカー、ディストリビューター、ディーラー及びサービス部門に於いてご使用頂いております。

120W ACアダプター PSE J62368に適合した外部電源

120W ACアダプター PSE J62368に適合した外部電源
ACアダプターをお探しですか? 高品質なACアダプターをお探しならお任せください。 120WのPSEマークの表示ありのACアダプター(電気用品安全法)。 出力はDC12V10AやDC24V5Aなど。 国際的な安全認証であるIEC62368-1適合したACアダプターです。 日本の電気用品安全法に基づくPSEマーク付き120WのACアダプターを 短納期でご提供しています。 【特長】 ■ PSEマーク付き(電気用品安全法) ■ IEC62368-1適合(一部60950-1) ■ ご希望のDCプラグ接続可 ■ 長期安定供給 ■ 全数検査実施 ■ 長期保証1年 貴社で開発中の電子機器や、輸入予定の電気製品への接続にぜひご検討ください。 ACアダプターには、お客様指定のDCプラグ、二次側コネクタの接続もお気軽にご相談ください。 信頼性を重視しOVPやSCPなど各種保護回路を搭載しています。 長期安定供給、全数検査実施、スタッフ一貫対応、アフターサポート、長期保証しています。 ※ACアダプタ―のご用命はお気軽にお問い合わせください ※最新の適合状況はお問い合わせください。

【電源設計提案事例】電気的動作試験までの一貫対応

【電源設計提案事例】電気的動作試験までの一貫対応
従来、電源基板の製作を委託していたメーカーが廃業するにあたり、 当社に基板製作依頼をいただきました。 これまでは外観検査のみを委託先にて行っており、電気的な動作試験は 行っていませんでした。 基板製作のご依頼でしたが、自動試験装置の開発・製造、そして当社内での 電気的動作試験の代行まで提案。 一貫対応により、お客様の手間を軽減することが可能となりました。 【事例概要】 ■悩み:従来委託していたメーカーが廃業してしまった ■提案:自動試験装置の開発・製造、当社内での電気的動作試験の代行 ■結果:一貫対応により、お客様の手間を軽減した ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【検査装置】ECU中間検査装置

【検査装置】ECU中間検査装置
分割前の複数取り基板(最大8個)のROM書き込みとファンクション検査を実施。コンベア搬送にて基板を流し、各工程の検査を実施。様々な大きさの基板に対応可能。

ウエハテストの技術

ウエハテストの技術
当社は、お客様仕様に合わせたテスト開発・生産能力改善をご提案致します。 製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法の構築・テストプログラム開発製作・ テストボード/プローブカードの開発製作を行っています。 「OST(Outliers Screening Test)」では、 自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、 ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化。 テストの個別項目の測定値について、分布を算出、主分布より外れた データのチップを不良化する「PAT」や、テスト結果のマップデータにて ウエハ上の位置的な分布より、良品分布から外れたチップを検出、不良化する 「GAT」テストなどがございます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

DO-254 CTS

DO-254 CTS
DO-254/CTSはターゲットボードによってテストを補強し、検証カバレッジを高め、DO-254/ED-80の検証目標を達成できるようにカスタマイズされたハードウェアおよびソフトウェアプラットフォームです。ターゲットデザインはカスタムドーターカードのターゲットデバイス上で実速度で実行されます。シミュレーションテストベンチをテストベクタとして使い、FPGAピンレベルで100%コントロール・監視しながら要求ベース検証を行い、通常範囲と異常範囲でのテストを実行できます。FPGAテスト結果を実速度でキャプチャし、シミュレータの波形ビューアに表示して高度な解析や文書化などに進むことができます。

データ収集ボード用 テストボードTEST85

データ収集ボード用 テストボードTEST85
●MultifunctionI/Oテスト基板 ●ADX2-85-1M-PCIEX,ADX2-85-1M-PCI用に使用可能 ●スイッチ、LEDランプ、ボリュームでI/Oの動作を確認できます

フラッシュプログラミングシステム

フラッシュプログラミングシステム
□■書き込み時のオーバーヘッドを最適化       デバイスの実力値に接近した処理速度を実現!■□ 【特長】 ●WindowsベースのGUIによる簡単・快適な操作性 ●量産性が大幅にUP!試作研究開発にも威力発揮! ●各種パッケージに迅速に対応! 【主な仕様】 ・PCベースのプログラミングシステム(Wndows2000/WndowsXPのみ対応) ・USB1.1 インターフェイス搭載 ・TSOP,PLCC,FBGA,uBGA,QFPなどの各種パッケージに迅速に対応 ・標準メモリー 4Gビット ・サイズ・重量 330Wx310Dx95H 4.5Kg(付属品を除く)

リワークシステム<モノづくり事業>

リワークシステム<モノづくり事業>
当社の『リワークシステム』をご紹介します。 強力なボトムヒーターの採用により、リペアが困難とされてきた4mm厚の 多層板などにも対応可能。データロガーを使用した温度プロファイル 測定により、確実で信頼性の高いリペアを実現します。 高密度実装からの豊富な経験より、お客様のニーズに合った、再生を 可能にします。 【特長】 ■大型基板対応 最大:458mm x 560mm ■リペアが困難とされてきた4mm厚の多層板などにも対応可能 ■デバイスに合わせた専用ノズルを複数保有しており、製作も可能 ■データロガーを使用した温度プロファイル測定により、  確実で信頼性の高いリペアを実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

フラッシュ書込ツール - Flasher ARM

フラッシュ書込ツール - Flasher ARM
フラッシュ書き込みツール「Flasher」シリーズでは、生産ラインでのスタンドアローンモード(パソコン側のプログラム起動は不要)で、数多くのマイコンデバイスの内蔵フラッシュはもちろん、外付けのNOR/SPIフラッシュメモリへの書き込み可能です。

DDR3 DIMM/SODIMM テスター

DDR3 DIMM/SODIMM テスター
Eureka DDR3 1866 DIMM/SODIMMテスターは、モジュールメーカー及びモジュールディストリビュータ向けにデザインされたメモリーモジュールのファンクションテスターで、様々なDDR3 RDIMM, UDIMM, SODIMM, Mini-DIMM, VLP-RDIMM, LRDIMM等のテストが可能です。
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電気的検査・テスタにおける完成品の動作確認

電気的検査・テスタにおける完成品の動作確認とは?

エレクトロニクス製品が設計通りに機能するか、電気的な仕様を満たしているかを確認する工程です。テスタと呼ばれる測定器を使用し、製品の各電気的特性を評価することで、品質と信頼性を保証します。

​課題

検査精度のばらつき

手作業による検査では、オペレーターの熟練度や疲労により、検査結果にばらつきが生じ、見逃しや誤検出のリスクがあります。

検査時間の長期化

複雑な回路を持つ製品や多品種少量生産の場合、個々の製品に対して詳細な検査を行うため、全体の生産リードタイムが長くなります。

データ管理の煩雑さ

検査結果の記録や分析が手作業で行われる場合、データの収集、整理、保管に手間がかかり、トレーサビリティの確保が困難になります。

最新規格への対応遅延

技術革新や市場の要求により、検査項目や基準が頻繁に変更されるため、既存の検査体制では迅速な対応が難しい場合があります。

​対策

自動化された検査システムの導入

プログラムされた手順に基づき、高速かつ高精度な検査を実行することで、人的ミスを排除し、検査品質を均一化します。

並列検査プロセスの最適化

複数の検査を同時に実施できるテスタや、検査ライン全体のフローを見直すことで、スループットを向上させ、検査時間を短縮します。

検査データの一元管理と分析

検査結果をデジタルデータとして自動収集し、クラウドなどで一元管理することで、迅速なデータ分析と品質改善に繋げます。

モジュール化された検査治具

製品仕様の変更や新規格に対応する際、検査治具の一部を交換・更新するだけで対応できる柔軟なシステムを構築します。

​対策に役立つ製品例

汎用型自動検査装置

様々な電子部品や回路基板の電気的特性を自動で測定・評価し、検査精度の向上と時間短縮を実現します。

高速データロガー

検査中の電気信号をリアルタイムで高精度に記録し、詳細な分析や異常検知を可能にします。

クラウドベースの検査管理システム

検査データの収集、保存、分析を自動化し、トレーサビリティの確保と品質管理の効率化を支援します。

カスタマイズ可能な検査システム

製品の多様な要求仕様に合わせて、検査モジュールを柔軟に組み合わせ、最新規格への迅速な対応を可能にします。

⭐今週のピックアップ

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