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IC接触不良とは?課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおけるIC接触不良とは?
電子部品の電気的検査において、テスト対象のIC(集積回路)とテスタのプローブ(接触子)との間で、意図した電気的接続が確立されない、あるいは不安定になる現象を指します。これにより、本来正常なICを不良と判定したり、逆に不良なICを見逃したりする可能性があります。
