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はんだ接合部のボイドとは?課題と対策・製品を解説

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非破壊検査におけるはんだ接合部のボイドとは?
電子機器の信頼性を左右するはんだ接合部において、内部に発生する空隙(ボイド)は、電気的・機械的な性能低下を引き起こす潜在的な欠陥です。非破壊検査は、製品を破壊せずにこれらのボイドを検出し、品質保証に不可欠な技術です。
各社の製品
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【電子機器向け】フクダ ピンホール(擬似欠陥/参照試験片)
インライン3DX線自動検査装置for PCBA-3Xi-M110
『3Xi-M110』は、この新しいソフトウェアにより、業界最高速のスピードで高精度体積検査を実現します。
サキの3Xi-M110は、新ソフトウェアのX線撮像モードと、制御やモーター速度の最適化により、サイクルタイムを半減しました。このソフトウェアバージョンアップにより、従来から定評のある業界トップクラスの検査精度を維持しながら、高速3D体積検査を実現し、基板全体のインラインX線自動検査を必要とする最先端の ニーズにお応えします。
【特長】
■独自のプラナーCT技術にる、「真の3D情報」を利用した立体形状検査
■高速化と高い検査精度
■軽量・小型化を実現した高剛性ハードウェア
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。
マイクロフォーカスX線検査システム TXR-H1R50PS-01
那須工場
高品質・高機能な電子回路基板を提供する当社の那須工場について
ご紹介いたします。
SMTラインは、Lサイズ・Mサイズの2ライン体制により変種変量生産に
対応でき、品質管理の徹底化を可能にする5つの検査工程が特長的。
また、IMTラインは、ポイントフローはんだに対応可能で、基板実装後の
リワーク作業(検査時不良の部品交換)を支える手付け実装技術を保有・
継承しております。
【検査工程】
■はんだ印刷検査
■リフロー前実装検査(AOI:自動実装検査)
■リフロー前後透視検査(X線透視装置)
■外観検査(AOI:自動外観検査)
■合否検査(目視支援検査)
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
BGA/SMT リワークシステム「RD-500V」
「RD-500V」は、多機能そして⾃由⾃在に扱えるプロファイリング、産業⽤⼤型
基板から⼩基板、0402部品まで幅広く対応するリワークシステムです。
温度管理は基本の5ゾーンから最⼤30ゾーンまで任意に増減ができます。
また、オプションのヘッドで熱⾵を熱伝導に変換する⽅式により、部品に 直接コ
ンタクトすることで、周辺部品のはんだを溶かさずに対象部品のみをリワークす
る最も効率的に作業が⾏えます。
【特⻑】
○イー ジ ーセレクトモード(POP, QFN, CHIPモードを簡単操作で実現)
○コンタクトレスクリーニング
○Z軸の⾃動制御
○3点ヒーターによ る最適な加熱システム
○⼤型から⼩型までマルチに使⽤できる基 板ホルダー
【用途】
・タブレット
・パソコン基板
・携帯電話
・スマートフォン
・ウェアラブル
・BGA,CSP,POP,QFN,
などにお使いいただけます。
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
BGA、CSP実装、リワーク





