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はんだ接合部のボイドとは?課題と対策・製品を解説

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非破壊検査におけるはんだ接合部のボイドとは?
電子機器の信頼性を左右するはんだ接合部において、内部に発生する空隙(ボイド)は、電気的・機械的な性能低下を引き起こす潜在的な欠陥です。非破壊検査は、製品を破壊せずにこれらのボイドを検出し、品質保証に不可欠な技術です。
各社の製品
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【電子機器向け】フクダ ピンホール(擬似欠陥/参照試験片)
基板検査
『銅-セラミック基板自動超音波探傷装置』



