温度変化への耐性とは？課題と対策・製品を解説

精密機器業界では、製品の品質維持と長期的な稼働が求められます。特に、温度変化や湿度の影響を受けやすい精密機器においては、結露の発生が故障や性能劣化につながる大きなリスクとなります。当社の結露リスク監視システムは、周囲環境の気温・湿度から露点温度を算出し、監視対象物の表面温度との差をモニタリングすることで結露リスクを判定します。これにより、換気や保管場所の変更など、迅速な対応を促し、精密機器の故障リスクを低減します。

【活用シーン】
・精密機器製造工場
・精密機器保管倉庫
・研究開発施設
・品質管理部門

【導入の効果】
・結露による故障リスクの低減
・製品の品質維持
・稼働率の向上
・コスト削減

家電業界では、製品の品質と安全性を確保するために、様々な環境下での耐久試験が不可欠です。特に、電圧変動や周波数変動に対する製品の耐性は、消費者の安全と製品寿命に大きく影響します。AFV+ シリーズは、これらの試験に必要な多様な電圧と周波数を再現し、家電製品の信頼性評価を支援します。

【活用シーン】
・家電製品の耐久試験
・製品の品質評価
・開発段階での性能評価

【導入の効果】
・多様な試験条件を再現可能
・製品の信頼性向上
・試験時間の短縮

電子機器業界では、製品の信頼性を確保するために、様々な環境下での動作確認が不可欠です。特に、温度変化や振動にさらされる電子機器においては、これらの複合的な環境ストレスに対する耐久性が重要となります。不適切な試験は、製品の早期故障や性能劣化につながる可能性があります。本試験装置は、「温度」「湿度」「振動（衝撃）」の3つの試験条件を同時に制御できるため、実際の環境に近い試験を実施し、試験時間の短縮に貢献します。

【活用シーン】
・電子機器の動作確認試験
・製品の信頼性評価試験
・温度変化と振動が同時に発生する環境下での耐久性試験

【導入の効果】
・実際の使用環境に近い試験が可能
・試験時間の短縮
・製品の信頼性向上

『BTCシリーズ』は、安全機能を標準装備している
二次電池充放電専用恒温槽です。

爆発実験の結果を元に、補強を行いました。当社汎用品と比較して
約2倍の強度を持ち、爆発時の衝撃で扉が開くことを防ぎます。

また、ハザードレベル7を想定し、万が一の爆発時、天井部分から
槽内の圧力を逃がす機構を設けることで安全性を向上しています。

【特長】
■万が一の爆発に対して安全に使用できる
■放圧能力の高い大型放圧ベントを標準装備
■扉ロックには操作が容易で高強度なトグルクランプ式を採用
■恒温槽の運転操作・温度設定を充放電装置から行うことができる
■恒温槽の異常状態を充放電装置へ出力できる

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

iso-BTCはセルまたはバッテリーパックの試験用に設計された等温熱量計です。

これらのユニットの一つを充放電ユニットに接続し、あるバッテリーの
幅広い作動条件における特性を評価しました。

その結果、このバッテリーの正確な特性が確認され、特長をさらに
理解することができました。

詳しくは、PDF資料をご覧ください。

【掲載内容（抜粋）】
■要旨
■序論
■機器および方法
■バッテリーAの充放電サイクルの温度依存性
■バッテリーAの充放電プロファイルの詳細

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当製品は、様々な測定ニーズに対応するセミオートプローバーです。

「TS2000-SE」は、高性能、超低ノイズ、高精度でありながら
テストコスト削減のもとに設計されました。

微小電流測定、高い信頼性のDC/IV測定、1/f測定、RF測定、パワーデバイス
測定など、すべてにおいて最高クラスのパフォーマンスを発揮します。

【特長】
＜TS2000-SE＞
■最大8インチウェハに対応
■EMI対策、RFI対策、遮光に優れた設計
■ウェハのロード・アンロードを自動で行う
■最大-60℃～300℃の温調が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

低圧化での圧力分解能に優れ、防水ＰＣ、フォトアルバム、テレビ、電子書籍などの気密性防水試験に最適！

当社では、恒温槽、恒温室など、検査機器を備え、さまざまな環境で
電子機器他のテストを行い、評価・報告いたします。

また、ソフトウエアに欠陥が無いか、効率良く機能を発揮するか、
シュミレーションを行い評価いたします。

ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【環境試験　詳細】
■環境試験室(全4機)では-30℃～80℃での室内温度試験ができ、
　10℃から湿度コントロールも可能
■製品の使用場所や環境変化まで考慮した評価テストを行える
■1日から貸出可能
■環境試験室を使用した受託試験もお引き受け可能
■24時間365日対応

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『EHSシリーズ』は、Webブラウザーから装置を遠隔操作でき、
集中管理システムにも対応する高度加速寿命試験装置(HAST CHAMBER)です。

性能・機能・使いやすさはもちろん、国際規格IEC60068-2-66への対応、
バイアステストを行う視点から数々の利便性・安全性も備えています。

圧力容器は圧力を均等に分散し、優れた強度を持つ丸型を採用。
プリント基板をはじめとする試料を収納しやすいよう、テストエリアを
最大限まで拡張しています。

【特長】
■耐湿性試験、寿命試験、加速試験に
■テストエリアを最大限に拡張
■試料の結露・漏れを防ぐ
■攪拌ファンで高精度な試験を実現

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『iT-430』は、空冷式ペルチェ冷熱プレートで高性能ヒートシンクと
強力DCファンの組み合わせで-30℃～+120℃までの温度試験が可能な
ペルチェヒータクーラ温調ヘッドです。

当社独自のペルチェ素子構造により素早い温度変化と高信頼性が得られ、
専用温度制御装置と組合せ、簡単に任意の温度試験が可能。

半導体デバイスや電子部品の温特試験・医薬品の温度試験に手軽に
使用出来ます。

【特長】
■-30℃～+120℃までの温度試験が可能
■当社独自のペルチェ素子構造
■素早い温度変化と高信頼性が得られる
■簡単に任意の温度試験が可能
■手軽に使用出来る

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

「モジュラータイプリフローチェッカー　RCX-1」は、コアユニットの温度測定6ｃｈに必要な測定ユニットを追加できる新しいコンセプトの測定システムです。リフロー工程管理に必要な12ch温度測定・酸素濃度・風速ユニットを用意しました。専用システムプログラムにて、酸素濃度、風速を同一画面上に表示できます。電源は単4電池・リチウムイオン充電池のいずれかを選択可能です。BLUETOOTHを新たに採用しワイヤレスでのデータ転送が可能です。
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

当製品は、バッテリの評価だけでなく、
BMU（バッテリマネジメントユニット）の評価も行うことができる
評価装置です。

コンピュータによる充放電試験パターンの作成，制御，管理を行うことが
可能です。

【仕様】
■電圧：0～750V
■電流：±1,000A
■電力：±500kw

※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『BE-803』は、フレキシブルプリント配線板(FCL/FPC)等の耐屈曲性を
評価する装置です。

「BE-802」を恒温槽に組込み、実使用を想定した条件下で試験を行い、
基板の屈曲半径・屈曲速度・ストロークをパラメータとして評価します。

【特長】
■フレキシブルプリント配線板(FCL/FPC)等の耐屈曲性を評価
■「BE-802」を恒温槽に組込む
■実使用を想定した条件下で試験を行う
■基板の屈曲半径・屈曲速度・ストロークをパラメータとして評価する

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

試験槽内の水蒸気圧力を試料内部の水蒸気分圧よりも極端に高めることにより、試料内部への水分の侵入を早めることができ、結果、耐湿性をより短期間で評価をすることが可能です。
プレッシャークッカー試験では、100℃以上の領域、しかも高密度な水蒸気雰囲気の中で試験を実施します。

【適用範囲】
　小型電子部品、主としてハーメチックシールされていない部品が対象
　ただし、腐食又は変形といった試料の表面で起きる影響への評価を目的としていません

【試験概要】
　- 試料には、通常電気的バイアスが印加される
　- 試験条件は、供試品に発生する故障モードに重大な影響を及ぼすことがあるので、十分配慮して選択する
　- 相対湿度85 %で3種類の温度水準で行う。試験の厳しさは、各試験における試験時間で定義される

ラベルタイプの示温材『サーモラベル スーパーミニ 3R』シリーズは、温度による変色後に色が戻らない不可逆仕様。
小サイズなのに複数温度を測定できる、小型部品や狭い場所にも適した丸型3点表示タイプです。

小型かつ安価なため、「大量製造時の熱処理温度を部品ごとに測りたい」
「出荷梱包ごとの流通温度を管理したい」などの場面に最適です。

トランジスタ・抵抗・コンデンサなどの小型電子部品や、小型モータなど、
有線センサでの管理が難しい場所の異常発熱監視、保守管理にも活躍します。

【特長】
■特定温度でシャープに変色。一度変色すると、元の色に戻らない不可逆仕様。
■貼るスペースを選ばない極小サイズ。
■裏面に耐熱性粘着剤付き。温度を測りたい場所に貼るだけで使用可能。
■温度域：40～150℃

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

お客様の測定情況に合わせたコンタクトプローブを設計・製造します。電気製品の進化に伴い、電子部品の測定に求められる内容も厳しくなっています。大電流通電用、高温・低温域での使用、特残素材の測定等、様々な使用情況でお使い頂けるプローブを選定・設計します。

詳しくはHPからお問い合わせください。
http://www.sankei-engineering.com/

半導体技術の進歩に伴うデバイスの発熱量の増加により、デバイス温度の制御が、バーンイン工程の歩留まりやスループット、ひいてはデバイスの生産性を左右する大きな要因になっています。アイソケットは、バーンイン時のデバイスの発熱量のバラツキを制御する為に、サイト毎に個別にデバイス温度を制御するソリューションを提供します。このソリューションにより、バーンイン工程における歩留まりの大幅な改善と生産性の向上が、考えられる最も小さな費用負担で実現可能となりました。つまり通常のバーンイン装置が、アクティブな温度制御システムを備えたハイエンドのバーンイン装置と同等の効率を実現するのを可能にしたのです。

『BEL-Z』はリチウムイオン電池製造後の“充放電試験”において
セルの形状変化を監視・測定できる製品評価用のテスト装置。

デジタル制御化とロギングソフトを採用し、
長期連続試験での高精度な測定が可能になりました。

また検査に伴う膨張の初動を圧力と変位で測定でき、
グラフや表にして一目で確認できます。

【特長】
■デジタル制御化により高精度な測定が可能
■ロギングソフトの採用で1週間以上の連続試験が可能
■環境試験にも対応でき、恒温槽の中でも試験が可能

※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。

「ELS-100」は、有機EL素子を長時間点灯して、
電圧・輝度・スペクトルを取り込み、経時変化を検出する評価システムです。

有機ELの発光効率、スペクトル、色度などを的確に把握でき、
付属のソフトウェアで、カンタンに操作・管理が行えます。

【特長】
■ディスプレイメーカー、材料メーカーなど実績多数！
■現場に合わせてカスタマイズが可能
■手厚いメンテナンスやアフターフォロー体制

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『PC-304R9』は、試験槽と蒸気発生槽が完全に分離独立した高加速寿命試験装置(HAST装置)です。

高精度温湿度プログラムコントローラーを搭載し、HAST装置としてより高精度な加速評価を実現。また、外部端末と連携した遠隔操作も実現し、簡単に監視・操作ができます。

【特長】
■新型温湿度プログラムコントローラーで、高精度な加速評価を実現。
■対話式カラータッチパネルで、より操作性と視認性を大幅に向上
■外部端末との連携で遠隔操作、離れた場所でも監視・調整を実現
■試験槽と蒸気発生槽が完全に分離独立、当社独自の二槽式構造
■試験槽と蒸気発生槽との間で及ぼし合う温度影響が少なく、広い有効寸法と幅広い使用湿度範囲を実現
■扉の開閉がボタン操作ひとつでできる電動クランプ方式
■試料の出し入れが安全・簡単にできるスライド式トレー装備
■汚れ付着防止、洗浄性に優れた電解研磨処理を施したチャンバーを採用
■槽内の洗浄に有効なクリーニングモード搭載
■同シリーズの「PC-422R9」タイプもご用意

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『MODEL 63200Eシリーズ』は、電力容量2kW～24kW、電圧150V、600V、
1200Vの計36モデルをラインアップしているプログラマブル直流電子負荷です。

1ユニットの最大電流が24kW/150Vモデルで2000Aとなり、バッテリー、EV充電
ケーブル・ステーションなどの大型パワーエレクトロニクス製品試験に好適。

試験プログラム設定保存機能を持ち、いつでも保存された設定を呼び出すことで、
入力作業が簡略化され自動検査の工数削減に寄与します。

【特長】
■経済性と性能を両立させた電子負荷
■大容量出力
■試験プログラム保存機能
■高精度出力＆測定
■ユーザーフレンドリーな操作パネル
■安全に配慮した設計

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『多機能試験装置』は、JESD A104B温度サイクル試験、MIL STD熱衝撃試験
および低温、高温試験など1台で4役をこなすマルチチャンバーです。

同一筐体でいろいろなテストができるので、機差はゼロ。
互換性が高く試験品質を高めます。

【特長】
■タッチパネルで簡単にモード（機能）の切替が可能
■5℃/分のAGREE試験、10～15/分のJEDEC試験をリニア制御で実現
■新設計の特殊ルーバーの採用により温度分布を大幅に改善

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

瑞菱電機株式会社が行っている『開発評価試験』についてご紹介します。

試作開発品など、評価試験項目・判定基準などをご提示いただき、
信頼性評価試験を行います。

当社では、主要取引先への品質保証部門、設計開発部門への人材派遣、
および本社工場による受託サービスを行っています。

本社工場では、熟練者による高度な技術・技能により、FA機器の故障解析・
改造業務など、幅広いニーズに対応いたします。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

JEDEC規格からスクリーニングまで、試料への急速温度変化への対応にジャストフィットした急速温度変化チャンバーです。

【特長】

●再現性の高いランプ制御
TCCの試料温度ランプ運転では、温度上昇、下降時のランプレートを制御し、ひずみ波形を対称的にすることができます。試料の量が変わっても、毎回同じランプレートで試験を行え、ひずみ速度を一定に保ちます。非常に再現性の高い試験を行うことができます。

●JESD22-A104Fの規格試験に対応

●試料温度制御と空気温度制御に対応

当社は、電子部品の不良解析、規格試験、劣化加速試験の中で
欠かすことの出来ない『ガス腐食試験機』を取り扱っております。

実際に試験を行いながら開発をしてきた結果、低価格・使い易さ・
低ランニングコスト・安全性ほか、数々の特長を備えています。

現在行われている電子部品関連のガス腐食試験方法の殆どを実施可能です。

【仕様】
■安全性：槽内負圧設計/漏洩元栓遮断装置（オプション）
■温湿度：25℃65%～98%まで簡単設計（オプション85℃90%）
■ガス濃度：設定濃度はダイヤル1つの簡単設定
■規格適合：IEC準拠・ISO10062対応
■経済性：目的に合わせオプション追加が可能　など

※詳しくはお気軽にお問い合わせください。

サイリスタ、トライアック、MOSFET、IGBTなどのパワー半導体のテスト用ソケットです。

■冷熱衝撃試験装置　TSCシリーズ
近年､エレクトロニクス分野をはじめとする様々な先端技術分野の信頼性試験において､通常の温度試験よりもっと過酷な冷熱ショックを与える冷熱衝撃試験の重要性が増しております。
カトーのサーマルショックチャンバーは各分野の信頼性試験の動向を的確にとらえ、熱衝撃試験の標準規格はもちろんのこと、各企業独自の試験スペックにも対応できる拡張性と基本性能を備えております。

※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

アルファ・エレクトロニクスは長年に渡り安定した性能を提供し続けています。
HRUシリーズは新世代ストレスフリーBulk Metal（R）（バルクメタル）フォイルテクノロジーと独自のニッケルクロム合金を採用した超安定抵抗素子を特長としています。

抵抗素子は湿度・酸化から保護するために特別に設計されたセラミックケースに封止されております。
これらの特長から0.2ppm/年（0.05ppm/年実力値）という卓越した安定性とα23̟±0.05ppm/℃、β±0.005ppm/℃2という極めて小さい温度特性を実現しました。

【特長】
■卓越した長期安定性:≦0.2ppm/年（実力値：≦0.05ppm/年）を実現
■卓越した温度特性：≦α23±0.05ppm/℃、β±0.05ppm/℃2を実現
■卓越した湿度特性：≦0.1ppm/%RHを実現
■卓越した気圧特性：≦0.001ppm/hPαを実現
■抵抗値範囲：10Ω、100Ω（1Ω、1kΩは2019年リリース予定）
■高価でメンテナンスの煩雑なオイルバスを必要とせず気中での使用が可能　約240ｇ(0.52lbs)

『HANARL』は、不燃性、高い化学的安定性、低粘度、低蒸発潜熱、絶縁性、
低腐食性など、優れた物理化学的性質を有している高機能フッ素系溶剤です。

絶縁性を持ち電子部品の信頼性試験に適切な溶剤として幅広い温度域で
使用可能。密封された試験対象物をフッ素系液体中に浸漬することで、
リークの有無により密閉性を確認できます。

試験後の電子部品への影響や残渣は無く、洗浄は不要、速乾性から
工程の短縮につながります。

【特長】
■不燃性、高い化学的安定性、低粘度、低蒸発潜熱、絶縁性、低腐食性など、
　優れた物理化学的性質を有している
■低い表面張力、低粘度から低沸点、安定性、作業の簡易性
■様々な箇所で使用されている
■工程の短縮につながる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

高・低温試験機は、電子部品から完成品までの自動エージング機能
試験が可能な当社オリジナルのシステムです。

低温(－40℃)から高温(＋125℃)までのインライン化を実現。

デバイス(BGA、HIC等)から実装基板の様々な用途における
インライン高低温エージング機能試験を実現しました。

【特長】
■槽内ワーク個数180個で25秒タクトで搬送できる
■低温槽は内部にWコイルを組み込んである
■低温槽は除霜のタイムロスが無く、連続運転が可能
■省スペースでの設置が可能
■低温側から高温側への高速移動により、ヒートショック試験が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『DM1400』は、フラッシュテストファンクションが強化された
高性能のパッケージバーンインテストとして、ハイスピード動作と
幅広いテスト条件を提供するシステムです。

ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【DM1400C　概要】
■対象製品：Flash(NAND、トグルNAND等)、eMCP、DDR、LPDDR等
■特長：100MHz(200Mbps)、144I/O、48Slot、DualDate Generator、
　　　　Flexible Zone機能(オプション)
■運転温度：RT～150℃

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当製品は、実装基板上のICの温度試験ができるペルチェ温調ヘッドです。

－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能。
Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用しています。

ラボでの手軽な卓上実験用にはハンディー型の『iT520』、
工場での評価用にはソケット装着型の『iT525』がお勧めです。

【特長】
■－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能
■－40℃から＋125℃まで、わずか数分で昇温(Rtから－40℃までの降温も数分)
■Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用
■±0.1℃の精度で温度制御可能
■接触アタッチメントの凸部の形状及び寸法は、お客様の仕様にあわせ変更可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

2つの歪みセンサーは 各々任意に位置調整可。
様々なモデル形状に対応可能。
液晶表示で対話形式による簡単操作の防水型携帯電話・電子デバイス用防水試験器

薄膜とTOパッケージによる二重封止技術により、室温で長寿命と最高の検出性を実現します。 安全性、堅牢性、および既存製品との互換性を高めるTOパッケージタイプです。

精密な超音波振動と微細な加圧機構で、小物製品を高速で精密に溶着

【特長】
■精密な超音波振動と微細な加圧機構で、小物製品を高速で精密に溶着
■超音波溶着時の際、振動エネルギーに弱い電子基板・電気部品・
　 半導体・液晶関係の内蔵された製品の溶着にダメージを与えず
　レスポンスよく超音波溶着できる

■詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。

『NDM0102』は、段積みされたチューブに収納されたデバイスを
自動供給し、低温部・高温部の各測定において電気特性検査を行い、
測定結果によりデバイスをチューブに分類収納するトライテンプハンドラです。

装置本体内部に各温度精製機器を装備することで、装置サイズの極小化を実現。
３温度の一貫検査を可能とし、各温度の検査結果により、分類収納を可能としました。

【特長】
■極高低温
■外付けの温度供給器等を必要としない
■装置本体内部に各温度精製機器を装備
■装置サイズの極小化を実現
■3温度の一貫検査が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

加熱ユニットを工業用顕微鏡に設置できます。

CDM試験装置は、静電気が帯電している電子部品の金属電極部が外部の金属に触れたり、また、帯電した物体(例えば人体)に接触している金属が、電子部品の金属電極に接触したときに生じる極めて高速の電荷移動によって生じるストレスにより、電子部品が壊れる場合の、電子部品の信頼性を測定する試験装置です。

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

お客様のワークに合わせた、当社オリジナル製品「インライン型
高・低温試験機」を納入させていただきました。

低温炉の試験温度条件は-30℃～-35℃の可変、高温炉は＋75℃～＋80℃の
可変で設定温度に対する炉内温度精度は±1℃です。
炉内ワーク個数180個で25秒タクト搬送できます。

低温炉は内部にWコイルを組み込んである為、除霜の為のタイムロスは無く
連続自動運転を可能にしてあります。

【導入効果】
■タクト搬送
■タイムロスが無い
■省スペースで設置
■ヒートショック試験

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ELS-100Aは有機ELデバイスの耐環境試験評価を効率的に行う装置です。恒温恒湿装置内部にOLEDデバイスの発光ユニットを設置して、環境制御部天面の高透過ガラスを通して自動測定します。標準仕様は４CHでボトムエミッション／トップエミッション兼用治具にOLEDデバイスを装着します。多数の納入実績と確かな評価のある定電流制御システムと信頼性のある輝度計により温度と湿度の加速試験及び発光状態の記録を行いCSVファイル出力を行います。

『Test Burn-In Tester』は、安藤電気のバーンインテストを承継し、顧客の
新ニーズに応じたアップグレードで多様なテスト条件と機能を実現する
パッケージバーンインテストシステムです。

Mask-ROMテスト機能を追加したバーインテストでハイパワーを提供可能な
「AF8652D6」をはじめ、10MHz、60Slot仕様の「AF8862C7」や4Zone
個別での制御運転ができる「DM8827」などをラインアップしています。

【ラインアップ】
■AF8652D6
■AF8862C7
■DM8827/DM8857
■AF8651A5/AF8651A7/AF8655C7
■AF8610E6

※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『NDM0101』は、各温度測定ユニットプール部にセットされたデバイスを
個別にピックアップし、測定部において電気特性検査を行い、測定結果に
応じて次工程の測定ユニットにデバイスを供給する半自動検査装置です。

トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能に。検査に
必要な温度ユニットのみを搭載するなど必要最低限の装置構築ができます。

【特長】
■トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能
■必要最低限の装置構築ができる
■本機のみで温度精製を行う
■省スペース化を実現

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当製品は、電子基板等への温度ストレス試験に適した装置です。

基盤の適した部分を押すことにより、均一かつ急速な昇温・降温を実現。
急昇温・急冷却なため、サイクル試験の時間短縮が可能です。

また、万が一のトラブルにも故障BOXを使用せず、他のBOXのみで処理が
できます。さらに処理が不要な時は、入口コンベアから出口コンベアに
パス搬送が可能です。

【特長】
■急昇温・急冷却に対応
■高温Max140℃、低温-40℃まで対応できる
■多種多様な処理に対応
■処理BOXを6個搭載することにより異なる温度・処理時間を同時に実現
■履歴の管理が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

オーイーエス株式会社では「ストレス試験装置」を揃えており、
断面観察前に『ストレス試験』を実施することができます。

低温、高温を繰り返すことにより試料の耐性を評価する「熱サイクル試験」を
はじめ、プリント基板のビアやスルーホール等の内層接続部や
導体密着性を評価する「熱衝撃試験(ホットオイル試験)」などが可能。

その他詳細は、お問い合わせください。

【試験概要】
■熱サイクル試験
■恒温恒湿試験
■熱衝撃試験(ホットオイル試験)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社が開発した「抵抗変化型センサ耐久試験セット」の事例をご紹介します。

当製品は、1Hzで伸縮する可変抵抗センサの抵抗値と伸縮カウント値を
テキストデータとしてPCに保存するセットです。

アナログ値をUART出力に変更し、PCにデータ送信するボードも併せて
作製しております。

【事例概要】
■1Hzで伸縮する可変抵抗センサの抵抗値と
　伸縮カウント値をテキストデータとしてPCに保存
■アナログ値をUART出力に変更
■PCにデータ送信するボードも併せて作製

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当製品は、バッテリのOCV（開回路電圧，開放電圧）と
IR（絶縁抵抗）を測定し、合否判定するユニットです。

※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスの
ファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・

独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・
高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。

また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部
ユニットも準備しております。

【特長】
■多数個同時測定（～96DUT）
■高精度温度制御（±1℃以内）
■60OFでの測定が可能
■UPH20,000個以上を実現
■磁気テスト（オプション）が可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『TH281』は、SOP、SSOP、TSSOPなどのデバイスに対応した
常温/高温測定用の小型テストハンドラーです。

大型テストヘッドドッキング可能な構造で、標準ソケット、
高周波用ソケット、フラットコンタクト等各種ソケットに対応可能。

また、各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成しました。

【特長】
■高スループット・低ジャム率・省スペース
■大量生産に適した大容量のローダー、アンローダー
■大型テストヘッドドッキング可能な構造
■各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成
■各種ソケットに対応可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社で行っている「モジュール事業」の組立部門についてご紹介いたします。

「ファンクションジェネレータ AFG-2112」や「熱衝撃試験機 TSV-40」
「恒温恒湿試験機 EY-101」など、主要設備を多数保有。

当部門では、制御ボックス・振動計器機・セキュリティー制御ユニットにて
生産実績がございます。

【主要設備(抜粋)】
■マルチメータGDM-8261A 4台
■ファンクションジェネレータ AFG-2112 2台
■オシロスコープ150MHz TBS-1152 1台
■組立自動機(エーシーオー) 1台
■溶着機 2000X(BRANSON) 1台

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

マガジン昇降型小型温度試験装置は、セル生産現場の実装基板を特定温度環境下で、短時間・省スペースで全数検査できるマガジン昇降型温度試験装置です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。