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温度変化への耐性とは？課題と対策・製品を解説

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物理・環境試験・分析における温度変化への耐性とは？

エレクトロニクス製品が、様々な温度環境下でその性能や機能を維持できる能力のことです。製品の信頼性、耐久性、そして安全性を保証するために不可欠な要素であり、特に過酷な環境下での使用が想定される製品においては、その重要性が高まります。

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【精密機器向け】結露リスク監視システム

グリッドリンク株式会社

精密機器業界では、製品の品質維持と長期的な稼働が求められます。特に、温度変化や湿度の影響を受けやすい精密機器においては、結露の発生が故障や性能劣化につながる大きなリスクとなります。当社の結露リスク監視システムは、周囲環境の気温・湿度から露点温度を算出し、監視対象物の表面温度との差をモニタリングすることで結露リスクを判定します。これにより、換気や保管場所の変更など、迅速な対応を促し、精密機器の故障リスクを低減します。【活用シーン】・精密機器製造工場・精密機器保管倉庫・研究開発施設・品質管理部門【導入の効果】・結露による故障リスクの低減・製品の品質維持・稼働率の向上・コスト削減

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バッテリー消火対応型環境試験室

株式会社大西熱学

当社は、バッテリー試験時の異常発生を想定し、消火対応を考慮した環境試験室を取り扱っております。リチウムイオン電池をはじめとするバッテリー試験では、熱暴走や発煙・発火といったリスクへの備えが重要視されています。本試験室は、異常時の安全確保を目的として、消火設備との連携や消火機構に配慮した構造設計を相談の上採用しています。これにより、試験中のリスク低減を図りつつ、評価試験の継続を支援します。車載用バッテリー、エネルギー貯蔵用バッテリーの研究開発・安全評価において、安全性に配慮した試験環境を構築するための設備として、ご検討いただいております。

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CO₂冷媒（R744）対応型恒温恒湿槽

株式会社大西熱学

当社で取り扱う「CO₂冷媒（R744）対応型恒温恒湿槽」は、高圧となるCO₂冷媒試験を想定した設計を採用しています。温度・湿度制御に加え、試験時の安全性や装置耐久性にも配慮しており、 CO₂冷媒関連機器や部品の評価試験にご使用いただけます。

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低温加湿対応型恒温恒湿槽

株式会社大西熱学

当社では、低温域での加湿運転に対応した恒温恒湿槽を取り扱っております。従来再現が難しかった低温環境下での湿度制御に対応し、結露・着霜・凍結挙動などの評価試験が可能です。寒冷地仕様機器や電子部品評価などにご利用いただいております。

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サーマルマネジメント用温調ベンチ（評価環境構築対応）

株式会社大西熱学

電子機器業界では、製品の信頼性確保のため、様々な環境下での耐久試験が不可欠です。温度変化、湿度、振動といった外的要因が、製品の性能や寿命に大きく影響します。本設備は、サーマルマネジメント評価に必要な温度制御環境を構築するための温調ベンチです。製品の高性能化・高密度化に伴い、熱マネジメントの重要性が高まる一方で、評価手法や解析については、専門的な知見を有する評価機関やパートナー企業との連携が求められるケースも増えています。熱マネジメントに関する評価方法の立案や評価実施については、外部の専門企業にてご対応いただく形となります。

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【電子機器部品評価向け】T12 サーモメーター

株式会社テクネ計測

電子機器業界における部品評価では、温度変化に対する部品の性能評価が重要です。温度管理が不十分な場合、正確なデータが得られず、製品の信頼性や品質に影響を及ぼす可能性があります。T12 サーモメーターは、高速・高精度な温度計測により、部品評価における温度管理の課題を解決します。MBW473と組み合わせることで、温度と湿度の測定の不確かさを低減し、より正確な評価を可能にします。【活用シーン】 * 電子部品の温度特性評価 * 電子機器の動作温度試験 * 温度サイクル試験【導入の効果】 * 正確な温度データの取得による評価精度の向上 * 製品の信頼性向上に貢献 * 試験時間の短縮

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【電子機器向け】超小型4chマルチ熱電対温度ロガー

有限会社シスコム（SysCom）

電子機器業界における基板検査では、製品の品質と信頼性を確保するために、正確な温度測定が不可欠です。特に、高温環境下や動作中の温度変化を把握することは、製品の性能評価や故障原因の特定に重要です。不適切な温度管理は、基板の損傷や性能低下につながる可能性があります。SCM-TC4は、最大4カ所の温度を同時に測定し、狭いスペースへの設置も容易なため、基板検査における温度測定の課題を解決します。【活用シーン】・基板実装後の温度プロファイル測定・電子部品の動作温度監視・製品開発における温度特性評価【導入の効果】・複数箇所の温度を同時に測定し、検査工数の削減・小型設計により、検査場所を選ばず、検査精度の向上・CSVデータ出力により、データ分析を効率化

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【電子機器向け】万能試験機の選び方ガイド

アイ・ティー・エス・ジャパン株式会社

電子機器業界において、製品の信頼性は最重要課題の一つです。製品の長期的な性能を保証するためには、様々な環境下での耐久性試験が不可欠です。万能試験機は、引っ張り、圧縮、曲げなど、多様な試験に対応し、製品の品質評価に貢献します。当社の万能試験機の選び方ガイドは、お客様のニーズに最適な試験機を選定するためのお手伝いをします。【活用シーン】・電子部品の耐久性試験・製品の品質評価・材料の特性評価【導入の効果】・製品の信頼性向上・品質管理の効率化・市場競争力の強化

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パワートランジスタ用ソケット

日本コネクト工業株式会社

サイリスタ、トライアック、MOSFET、IGBTなどのパワー半導体のテスト用ソケットです。

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ストレス試験

オーイーエス株式会社

オーイーエス株式会社では「ストレス試験装置」を揃えており、断面観察前に『ストレス試験』を実施することができます。低温、高温を繰り返すことにより試料の耐性を評価する「熱サイクル試験」をはじめ、プリント基板のビアやスルーホール等の内層接続部や導体密着性を評価する「熱衝撃試験(ホットオイル試験)」などが可能。その他詳細は、お問い合わせください。【試験概要】 ■熱サイクル試験 ■恒温恒湿試験 ■熱衝撃試験(ホットオイル試験) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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有機EL用経時変化評価システム「ELS-100」

株式会社イーエッチシー

「ELS-100」は、有機EL素子を長時間点灯して、電圧・輝度・スペクトルを取り込み、経時変化を検出する評価システムです。有機ELの発光効率、スペクトル、色度などを的確に把握でき、付属のソフトウェアで、カンタンに操作・管理が行えます。【特長】 ■ディスプレイメーカー、材料メーカーなど実績多数！ ■現場に合わせてカスタマイズが可能 ■手厚いメンテナンスやアフターフォロー体制 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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マガジン昇降型小型温度試験装置

株式会社マックシステムズ

マガジン昇降型小型温度試験装置は、セル生産現場の実装基板を特定温度環境下で、短時間・省スペースで全数検査できるマガジン昇降型温度試験装置です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

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『バーンイン装置』（デバイス、チップ、素子向け）

Semi Next株式会社

弊社の『バーンイン装置』は、チャンバー式ではなく、治具ごとに温度や電源条件を制御でき、使い勝手のいい設備です。【特長】 ■最大1システム4224pcsのデバイスを同時バーンイン ■治具ごとに温度や電源条件を制御できる ■専用治具はwireボンディング、ローダ、バーンイン、　アンローダー、検査まで対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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電子デバイス用防水試験器　WPC6315P002/S/WO

株式会社ハムロン・テック

低圧化での圧力分解能に優れ、防水ＰＣ、フォトアルバム、テレビ、電子書籍などの気密性防水試験に最適！

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CAN_LD 320CH温度/DC特性自動評価装置

システム技研株式会社

'-40～90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います

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温度管理用示温材『サーモラベルスーパーミニ 3R』

日油技研工業株式会社

ラベルタイプの示温材『サーモラベルスーパーミニ 3R』シリーズは、温度による変色後に色が戻らない不可逆仕様。小サイズなのに複数温度を測定できる、小型部品や狭い場所にも適した丸型3点表示タイプです。小型かつ安価なため、「大量製造時の熱処理温度を部品ごとに測りたい」「出荷梱包ごとの流通温度を管理したい」などの場面に最適です。トランジスタ・抵抗・コンデンサなどの小型電子部品や、小型モータなど、有線センサでの管理が難しい場所の異常発熱監視、保守管理にも活躍します。【特長】 ■特定温度でシャープに変色。一度変色すると、元の色に戻らない不可逆仕様。 ■貼るスペースを選ばない極小サイズ。 ■裏面に耐熱性粘着剤付き。温度を測りたい場所に貼るだけで使用可能。 ■温度域：40～150℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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加熱冷却サイクルテスト装置

株式会社九州日昌

当製品は、電子基板等への温度ストレス試験に適した装置です。基盤の適した部分を押すことにより、均一かつ急速な昇温・降温を実現。急昇温・急冷却なため、サイクル試験の時間短縮が可能です。また、万が一のトラブルにも故障BOXを使用せず、他のBOXのみで処理ができます。さらに処理が不要な時は、入口コンベアから出口コンベアにパス搬送が可能です。【特長】 ■急昇温・急冷却に対応 ■高温Max140℃、低温-40℃まで対応できる ■多種多様な処理に対応 ■処理BOXを6個搭載することにより異なる温度・処理時間を同時に実現 ■履歴の管理が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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高加速寿命試験装置(HAST装置)『PC-304R9』

株式会社平山製作所

『PC-304R9』は、試験槽と蒸気発生槽が完全に分離独立した高加速寿命試験装置(HAST装置)です。高精度温湿度プログラムコントローラーを搭載し、HAST装置としてより高精度な加速評価を実現。また、外部端末と連携した遠隔操作も実現し、簡単に監視・操作ができます。【特長】 ■新型温湿度プログラムコントローラーで、高精度な加速評価を実現。 ■対話式カラータッチパネルで、より操作性と視認性を大幅に向上 ■外部端末との連携で遠隔操作、離れた場所でも監視・調整を実現 ■試験槽と蒸気発生槽が完全に分離独立、当社独自の二槽式構造 ■試験槽と蒸気発生槽との間で及ぼし合う温度影響が少なく、広い有効寸法と幅広い使用湿度範囲を実現 ■扉の開閉がボタン操作ひとつでできる電動クランプ方式 ■試料の出し入れが安全・簡単にできるスライド式トレー装備 ■汚れ付着防止、洗浄性に優れた電解研磨処理を施したチャンバーを採用 ■槽内の洗浄に有効なクリーニングモード搭載 ■同シリーズの「PC-422R9」タイプもご用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【資料】iso-BTCを使用したゲルバッテリー

株式会社アイビック・リサーチ

iso-BTCはセルまたはバッテリーパックの試験用に設計された等温熱量計です。これらのユニットの一つを充放電ユニットに接続し、あるバッテリーの幅広い作動条件における特性を評価しました。その結果、このバッテリーの正確な特性が確認され、特長をさらに理解することができました。詳しくは、PDF資料をご覧ください。【掲載内容（抜粋）】 ■要旨 ■序論 ■機器および方法 ■バッテリーAの充放電サイクルの温度依存性 ■バッテリーAの充放電プロファイルの詳細 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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開発評価試験

瑞菱電機株式会社

瑞菱電機株式会社が行っている『開発評価試験』についてご紹介します。試作開発品など、評価試験項目・判定基準などをご提示いただき、信頼性評価試験を行います。当社では、主要取引先への品質保証部門、設計開発部門への人材派遣、および本社工場による受託サービスを行っています。本社工場では、熟練者による高度な技術・技能により、FA機器の故障解析・改造業務など、幅広いニーズに対応いたします。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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超低高温　トライテンプハンドラ

株式会社上野精機長野

『NDM0102』は、段積みされたチューブに収納されたデバイスを自動供給し、低温部・高温部の各測定において電気特性検査を行い、測定結果によりデバイスをチューブに分類収納するトライテンプハンドラです。装置本体内部に各温度精製機器を装備することで、装置サイズの極小化を実現。３温度の一貫検査を可能とし、各温度の検査結果により、分類収納を可能としました。【特長】 ■極高低温 ■外付けの温度供給器等を必要としない ■装置本体内部に各温度精製機器を装備 ■装置サイズの極小化を実現 ■3温度の一貫検査が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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リチウムイオン電池セル変位測定装置『BEL-Z』

三井電気精機株式会社

※製品の問い合わせは弊社HPからお問い合わせください。https://www.mitsuiec.co.jp/ 『BEL-Z』はリチウムイオン電池製造後の“充放電試験”においてセルの形状変化を監視・測定できる製品評価用のテスト装置。デジタル制御化とロギングソフトを採用し、長期連続試験での高精度な測定が可能になりました。また検査に伴う膨張の初動を圧力と変位で測定でき、グラフや表にして一目で確認できます。【特長】 ■デジタル制御化により高精度な測定が可能 ■ロギングソフトの採用で1週間以上の連続試験が可能 ■環境試験にも対応でき、恒温槽の中でも試験が可能 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。

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trinamiX　PbS赤外線センサ　シングル　TOパッケージ

株式会社アイ・アール・システム

薄膜とTOパッケージによる二重封止技術により、室温で長寿命と最高の検出性を実現します。安全性、堅牢性、および既存製品との互換性を高めるTOパッケージタイプです。

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小型テストハンドラー『TH281』

綜和機電株式会社

『TH281』は、SOP、SSOP、TSSOPなどのデバイスに対応した常温/高温測定用の小型テストハンドラーです。大型テストヘッドドッキング可能な構造で、標準ソケット、高周波用ソケット、フラットコンタクト等各種ソケットに対応可能。また、各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成しました。【特長】 ■高スループット・低ジャム率・省スペース ■大量生産に適した大容量のローダー、アンローダー ■大型テストヘッドドッキング可能な構造 ■各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成 ■各種ソケットに対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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高・低温試験機／熱衝撃試験システム

株式会社ヒーバックシステム

高・低温試験機は、電子部品から完成品までの自動エージング機能試験が可能な当社オリジナルのシステムです。低温(－40℃)から高温(＋125℃)までのインライン化を実現。デバイス(BGA、HIC等)から実装基板の様々な用途におけるインライン高低温エージング機能試験を実現しました。【特長】 ■槽内ワーク個数180個で25秒タクトで搬送できる ■低温槽は内部にWコイルを組み込んである ■低温槽は除霜のタイムロスが無く、連続運転が可能 ■省スペースでの設置が可能 ■低温側から高温側への高速移動により、ヒートショック試験が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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高機能フッ素系溶剤『HANARL（ハナール）』

カントーカセイ株式会社

『HANARL』は、不燃性、高い化学的安定性、低粘度、低蒸発潜熱、絶縁性、低腐食性など、優れた物理化学的性質を有している高機能フッ素系溶剤です。絶縁性を持ち電子部品の信頼性試験に適切な溶剤として幅広い温度域で使用可能。密封された試験対象物をフッ素系液体中に浸漬することで、リークの有無により密閉性を確認できます。試験後の電子部品への影響や残渣は無く、洗浄は不要、速乾性から工程の短縮につながります。【特長】 ■不燃性、高い化学的安定性、低粘度、低蒸発潜熱、絶縁性、低腐食性など、　優れた物理化学的性質を有している ■低い表面張力、低粘度から低沸点、安定性、作業の簡易性 ■様々な箇所で使用されている ■工程の短縮につながる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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MEMSテストハンドラ『ULTRA P』

株式会社テセック

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスのファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部ユニットも準備しております。【特長】 ■多数個同時測定（～96DUT） ■高精度温度制御（±1℃以内） ■60OFでの測定が可能 ■UPH20,000個以上を実現 ■磁気テスト（オプション）が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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モジュラータイプリフローチェッカー　RCX-1

株式会社マルコム

「モジュラータイプリフローチェッカー　RCX-1」は、コアユニットの温度測定6ｃｈに必要な測定ユニットを追加できる新しいコンセプトの測定システムです。リフロー工程管理に必要な12ch温度測定・酸素濃度・風速ユニットを用意しました。専用システムプログラムにて、酸素濃度、風速を同一画面上に表示できます。電源は単4電池・リチウムイオン充電池のいずれかを選択可能です。BLUETOOTHを新たに採用しワイヤレスでのデータ転送が可能です。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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高温のその先へ、新技術を掲載、高温加熱システム総合カタログ

株式会社米倉製作所

当カタログは、米倉製作所の高温加熱炉技術を活用した実験・解析装置の総合カタログです。精密加熱可能なデスクトップ型IRイメージ炉に加え、高温下リアルタイム観察を可能にするIn-situ高温観察装置、高温下の物性変化を多角的に数値化するシステム製品などを幅広く掲載。金属材料、セラミックス、半導体分野における素材開発と検証を、より高精度かつ効率的に支援します。また、新たな開発機能も多数掲載しております。【掲載内容(一部)】 ■IRイメージ炉 ■加熱観察装置 ■超高温レーザー顕微鏡 ■高温試験装置 ■システム製品 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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設計・施工実例　インライン型　高・低温試験機

株式会社ヒーバックシステム

電子部品から完成品までの自動エージング機能試験が可能なシステムです。低温(－４０℃)から高温(＋１２５℃)までのインライン化を実現。デバイス(ＢＧＡ、ＨＩＣ等)から実装基板の様々な用途におけるインライン高低温エージング機能試験を実現しました。【システムの導入効果】 ○急冷・急加熱 ○多様なプロダクトラインに対応詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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耐トラッキング性試験

株式会社ＤＪＫ

白金製電極間に電圧を印加し、トラッキング破壊が生じるまで電解液を滴下する。規定の滴下数で破壊しない電圧で評価する。・IEC60112 CTI(Comparative Tracking Index 50滴耐える電圧を求める) PTI(Proof Tracking Index 指定電圧で50滴耐えることを証明

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超安定標準抵抗器【HRUシリーズ】（特許取得済）

アルファ・エレクトロニクス株式会社

アルファ・エレクトロニクスは長年に渡り安定した性能を提供し続けています。 HRUシリーズは新世代ストレスフリーBulk Metal（R）（バルクメタル）フォイルテクノロジーと独自のニッケルクロム合金を採用した超安定抵抗素子を特長としています。抵抗素子は湿度・酸化から保護するために特別に設計されたセラミックケースに封止されております。これらの特長から0.2ppm/年（0.05ppm/年実力値）という卓越した安定性とα23̟±0.05ppm/℃、β±0.005ppm/℃2という極めて小さい温度特性を実現しました。【特長】 ■卓越した長期安定性:≦0.2ppm/年（実力値：≦0.05ppm/年）を実現 ■卓越した温度特性：≦α23±0.05ppm/℃、β±0.05ppm/℃2を実現 ■卓越した湿度特性：≦0.1ppm/%RHを実現 ■卓越した気圧特性：≦0.001ppm/hPαを実現 ■抵抗値範囲：10Ω、100Ω（1Ω、1kΩは2019年リリース予定） ■高価でメンテナンスの煩雑なオイルバスを必要とせず気中での使用が可能　約240ｇ(0.52lbs)

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OLED恒温恒湿環境評価装置　ELS-100A

株式会社イーエッチシー

ELS-100Aは有機ELデバイスの耐環境試験評価を効率的に行う装置です。恒温恒湿装置内部にOLEDデバイスの発光ユニットを設置して、環境制御部天面の高透過ガラスを通して自動測定します。標準仕様は４CHでボトムエミッション／トップエミッション兼用治具にOLEDデバイスを装着します。多数の納入実績と確かな評価のある定電流制御システムと信頼性のある輝度計により温度と湿度の加速試験及び発光状態の記録を行いCSVファイル出力を行います。

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メモリーカード『High Edurance』

株式会社TEAMジャパン

『High Edurance』は、V30という高速性能で、4K Ultra-HDビデオおよびフルHDビデオを録画可能なメモリーカードです。速度の低下やコマ落ちの心配がなく、極端な温度に対する耐性、耐衝撃性、耐水性、耐静電気性、耐X線性を有しています。【特長】 ■監視システム専用 ■確実に録画ができる安定性と耐久性 ■過酷な条件下でも安定動作 ■4K&フルHDビデオ録画に対応 ■パワフルなストレージ容量&長寿命 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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電子デバイス用防水試験器　WPC6300P002/M/WO

株式会社ハムロン・テック

2つの歪みセンサーは各々任意に位置調整可。様々なモデル形状に対応可能。液晶表示で対話形式による簡単操作の防水型携帯電話・電子デバイス用防水試験器

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低高温　トライテンプハンドラ

株式会社上野精機長野

『NDM0101』は、各温度測定ユニットプール部にセットされたデバイスを個別にピックアップし、測定部において電気特性検査を行い、測定結果に応じて次工程の測定ユニットにデバイスを供給する半自動検査装置です。トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能に。検査に必要な温度ユニットのみを搭載するなど必要最低限の装置構築ができます。【特長】 ■トレイ、チューブなど供給・収納ユニットのドッキングが可能 ■必要最低限の装置構築ができる ■本機のみで温度精製を行う ■省スペース化を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【事例】抵抗変化型センサ耐久試験セット

株式会社オーギャ

当社が開発した「抵抗変化型センサ耐久試験セット」の事例をご紹介します。当製品は、1Hzで伸縮する可変抵抗センサの抵抗値と伸縮カウント値をテキストデータとしてPCに保存するセットです。アナログ値をUART出力に変更し、PCにデータ送信するボードも併せて作製しております。【事例概要】 ■1Hzで伸縮する可変抵抗センサの抵抗値と　伸縮カウント値をテキストデータとしてPCに保存 ■アナログ値をUART出力に変更 ■PCにデータ送信するボードも併せて作製 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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熱衝撃試験（ヒートショック試験）（冷熱衝撃試験）

アストム株式会社

電子部品の製造工程において重要となる、温度・湿度などによる”環境変化”への耐性。その検査工程においてこんなお悩みはございませんか。・設備がなく対応できない・製品・部品の要求事項で評価試験を実施しなければいけない・設備は保有しているが時間がなく外部委託をしたいアストムでは、高温と低温の温度差を繰り返し与えることにより、温度変化に対する耐性を短時間で評価することができます。異なる素材からなる部品は、互いの膨張係数の違いから、温度変化により応力がかかり、クラック（ヒビ）や破損してしまう可能性があります。熱衝撃試験はこの温度変化を繰り返すことにより、室内⇒屋外の移動など急激な温度差にさらされる製品の評価を行い、品質の高い供給を行っています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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モジュール事業組立部門

株式会社エーシーオー NAGANO事業所

当社で行っている「モジュール事業」の組立部門についてご紹介いたします。「ファンクションジェネレータ AFG-2112」や「熱衝撃試験機 TSV-40」「恒温恒湿試験機 EY-101」など、主要設備を多数保有。当部門では、制御ボックス・振動計器機・セキュリティー制御ユニットにて生産実績がございます。【主要設備(抜粋)】 ■マルチメータGDM-8261A 4台 ■ファンクションジェネレータ AFG-2112 2台 ■オシロスコープ150MHz TBS-1152 1台 ■組立自動機(エーシーオー) 1台 ■溶着機 2000X(BRANSON) 1台 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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多機能試験装置

株式会社ヒューテック

『多機能試験装置』は、JESD A104B温度サイクル試験、MIL STD熱衝撃試験および低温、高温試験など1台で4役をこなすマルチチャンバーです。同一筐体でいろいろなテストができるので、機差はゼロ。互換性が高く試験品質を高めます。【特長】 ■タッチパネルで簡単にモード（機能）の切替が可能 ■5℃/分のAGREE試験、10～15/分のJEDEC試験をリニア制御で実現 ■新設計の特殊ルーバーの採用により温度分布を大幅に改善 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【施工実績】インライン型高・低温試験機／熱衝撃試験

株式会社ヒーバックシステム

お客様のワークに合わせた、当社オリジナル製品「インライン型高・低温試験機」を納入させていただきました。低温炉の試験温度条件は-30℃～-35℃の可変、高温炉は＋75℃～＋80℃の可変で設定温度に対する炉内温度精度は±1℃です。炉内ワーク個数180個で25秒タクト搬送できます。低温炉は内部にWコイルを組み込んである為、除霜の為のタイムロスは無く連続自動運転を可能にしてあります。【導入効果】 ■タクト搬送 ■タイムロスが無い ■省スペースで設置 ■ヒートショック試験 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【評価装置の提案例】OCV測定ユニット

株式会社エヌエスティー

当製品は、バッテリのOCV（開回路電圧，開放電圧）と IR（絶縁抵抗）を測定し、合否判定するユニットです。 ※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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プログラマブル直流電子負荷『MODEL 63200Eシリーズ』

クロマジャパン株式会社

『MODEL 63200Eシリーズ』は、電力容量2kW～24kW、電圧150V、600V、 1200Vの計36モデルをラインアップしているプログラマブル直流電子負荷です。 1ユニットの最大電流が24kW/150Vモデルで2000Aとなり、バッテリー、EV充電ケーブル・ステーションなどの大型パワーエレクトロニクス製品試験に好適。試験プログラム設定保存機能を持ち、いつでも保存された設定を呼び出すことで、入力作業が簡略化され自動検査の工数削減に寄与します。【特長】 ■経済性と性能を両立させた電子負荷 ■大容量出力 ■試験プログラム保存機能 ■高精度出力＆測定 ■ユーザーフレンドリーな操作パネル ■安全に配慮した設計 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ペルチェ温調ヘッド『iT520/iT525』

センサーコントロールズ株式会社

当製品は、実装基板上のICの温度試験ができるペルチェ温調ヘッドです。－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能。 Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用しています。ラボでの手軽な卓上実験用にはハンディー型の『iT520』、工場での評価用にはソケット装着型の『iT525』がお勧めです。【特長】 ■－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能 ■－40℃から＋125℃まで、わずか数分で昇温(Rtから－40℃までの降温も数分) ■Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用 ■±0.1℃の精度で温度制御可能 ■接触アタッチメントの凸部の形状及び寸法は、お客様の仕様にあわせ変更可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ガス腐食試験機

ファクトケイ株式会社

当社は、電子部品の不良解析、規格試験、劣化加速試験の中で欠かすことの出来ない『ガス腐食試験機』を取り扱っております。実際に試験を行いながら開発をしてきた結果、低価格・使い易さ・低ランニングコスト・安全性ほか、数々の特長を備えています。現在行われている電子部品関連のガス腐食試験方法の殆どを実施可能です。【仕様】 ■安全性：槽内負圧設計/漏洩元栓遮断装置（オプション） ■温湿度：25℃65%～98%まで簡単設計（オプション85℃90%） ■ガス濃度：設定濃度はダイヤル1つの簡単設定 ■規格適合：IEC準拠・ISO10062対応 ■経済性：目的に合わせオプション追加が可能　など ※詳しくはお気軽にお問い合わせください。

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リフロースコープ・マイクロビュー　core9070a

株式会社コアーズ

加熱ユニットを工業用顕微鏡に設置できます。

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IC個別温度制御システム/アイソケット

Boyd Technologies Japan合同会社

半導体技術の進歩に伴うデバイスの発熱量の増加により、デバイス温度の制御が、バーンイン工程の歩留まりやスループット、ひいてはデバイスの生産性を左右する大きな要因になっています。アイソケットは、バーンイン時のデバイスの発熱量のバラツキを制御する為に、サイト毎に個別にデバイス温度を制御するソリューションを提供します。このソリューションにより、バーンイン工程における歩留まりの大幅な改善と生産性の向上が、考えられる最も小さな費用負担で実現可能となりました。つまり通常のバーンイン装置が、アクティブな温度制御システムを備えたハイエンドのバーンイン装置と同等の効率を実現するのを可能にしたのです。

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40KHz超音波ウエルダー

コスモシステム株式会社

精密な超音波振動と微細な加圧機構で、小物製品を高速で精密に溶着【特長】 ■精密な超音波振動と微細な加圧機構で、小物製品を高速で精密に溶着 ■超音波溶着時の際、振動エネルギーに弱い電子基板・電気部品・　半導体・液晶関係の内蔵された製品の溶着にダメージを与えず　レスポンスよく超音波溶着できる ■詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。

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パッケージバーンインテスト『DM1400』

ディ・アイジャパン株式会社

『DM1400』は、フラッシュテストファンクションが強化された高性能のパッケージバーンインテストとして、ハイスピード動作と幅広いテスト条件を提供するシステムです。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【DM1400C　概要】 ■対象製品：Flash(NAND、トグルNAND等)、eMCP、DDR、LPDDR等 ■特長：100MHz(200Mbps)、144I/O、48Slot、DualDate Generator、　　　　Flexible Zone機能(オプション) ■運転温度：RT～150℃ ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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8インチウェハセミオートシステム

ベクターセミコン株式会社

当製品は、様々な測定ニーズに対応するセミオートプローバーです。「TS2000-SE」は、高性能、超低ノイズ、高精度でありながらテストコスト削減のもとに設計されました。微小電流測定、高い信頼性のDC/IV測定、1/f測定、RF測定、パワーデバイス測定など、すべてにおいて最高クラスのパフォーマンスを発揮します。【特長】＜TS2000-SE＞ ■最大8インチウェハに対応 ■EMI対策、RFI対策、遮光に優れた設計 ■ウェハのロード・アンロードを自動で行う ■最大-60℃～300℃の温調が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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物理・環境試験・分析における温度変化への耐性

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性とは？

課題

温度変動による性能劣化

急激な温度変化や極端な高温・低温環境下で、電子部品の特性が変化し、誤動作や性能低下を引き起こす可能性があります。

結露による故障リスク

温度変化に伴う結露は、基板上のショートや腐食の原因となり、製品の故障に繋がるリスクがあります。

材料の熱膨張・収縮

温度変化による材料の膨張・収縮の差が、部品間の応力や接合部の剥離を引き起こし、製品の寿命を縮めることがあります。

試験環境の再現性不足

実際の使用環境を正確に再現した温度試験が困難な場合、製品の潜在的な問題を早期に発見できないことがあります。

対策

温度サイクル試験の実施

製品を高温・低温の環境に繰り返し曝露させることで、温度変化に対する耐久性を評価し、潜在的な弱点を特定します。

温度・湿度制御試験

温度だけでなく湿度も同時に制御することで、結露や腐食といった複合的な環境要因に対する製品の耐性を評価します。

熱設計の最適化

放熱設計や断熱材の選定など、製品内部の温度上昇を抑制し、温度変化の影響を最小限に抑える設計を行います。

高精度温度管理装置の活用

試験環境の温度を精密に制御できる装置を使用し、再現性の高い試験を実施することで、より信頼性の高い評価を行います。

対策に役立つ製品例

環境試験チャンバー

設定した温度・湿度条件を精密に維持・変化させ、製品の環境耐性を評価するための試験装置です。

温度ロガー

製品が置かれる環境の温度変化を記録し、実際の使用環境における温度履歴を把握するための計測器です。

熱画像カメラ

製品表面の温度分布を可視化し、熱のこもりやすい箇所や温度ムラを特定することで、熱設計の改善に役立てます。

熱伝導性材料

電子部品と放熱器の間などに使用され、熱を効率的に伝達することで、製品内部の温度上昇を抑制する材料です。

⭐今週のピックアップ

読み込み中

温度変化への耐性とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性とは？

各社の製品

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性とは？

課題

温度変動による性能劣化

結露による故障リスク

材料の熱膨張・収縮

試験環境の再現性不足

対策

温度サイクル試験の実施

温度・湿度制御試験

熱設計の最適化

高精度温度管理装置の活用

対策に役立つ製品例

環境試験チャンバー

温度ロガー

熱画像カメラ

熱伝導性材料

温度変化への耐性とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性とは？

各社の製品

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性

物理・環境試験・分析における温度変化への耐性とは？

​課題

温度変動による性能劣化

結露による故障リスク

材料の熱膨張・収縮

試験環境の再現性不足

​対策

温度サイクル試験の実施

温度・湿度制御試験

熱設計の最適化

高精度温度管理装置の活用

​対策に役立つ製品例

環境試験チャンバー

温度ロガー

熱画像カメラ

熱伝導性材料

課題

対策

対策に役立つ製品例