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エレクトロニクス検査・試験

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故障発生時の原因特定とは?課題と対策・製品を解説

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非破壊検査における故障発生時の原因特定とは?

非破壊検査は、製品や構造物を破壊せずに内部の欠陥や異常を検出する重要な技術です。しかし、検査プロセス自体や検査機器に故障が発生した場合、その原因を迅速かつ正確に特定することは、信頼性の維持とダウンタイムの最小化のために不可欠です。

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こんなお悩みございませんか?
・外観検査やX線検査では判定できない基本的な動作を非破壊で確認したい
・メーカー規定のスペックを満たす製品か選別したい

コアスタッフの解析センターでは
半導体・電子部品の『真贋判定』や『故障解析』など、お客様に最適なサービスを提案いたします!!

コアスタッフの 半導体・電子部品 解析センター

当社では『HDD/SSD故障解析サービス』を行っており、
障害事象の確認に留まらず、真の原因究明に全力を尽くします。

HDD分解調査と内部に入り込んだ汚染ガスの分析調査や、
メーカの故障解析結果の妥当性の検証など、様々な故障解析が可能です。
ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【解析内容】
■HDD分解調査と内部に入り込んだ汚染ガスの分析調査
■SSD汚染成分の分析(端子腐蝕、接触不良の原因調査)
■梱包材(緩衝材、スポンジ、段ボール)から腐蝕性ガスの発生の調査
■メーカの故障解析結果の妥当性の検証
■海外調達材料のアウトガス成分調査と使用可否判定

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

様々な手法で原因究明します!HDD/SSD故障解析サービス

K7000は、トランクケースに収納された持運び可能な産業用ディスプレイ(モニタ)です。半導体製造装置,液晶製造装置,その他制御装置などで使用されている生産・製造終了で入手困難になったディスプレイ(モニタ)、保守部品が無く、修理不可になったディスプレイ(モニタ)が故障した場合に、緊急用として最適です。水平周波数は11kHz〜50kHz、垂直同期周波数は40Hz〜120Hzまでの入力信号を映出すことが可能です。また、信号方式は、セパレート方式,コンポジット方式、信号レベルは、アナログ/TTL(デジタル)レベルに対応可能です。パソコン用ディスプレイ(モニタ)で画像を表示できない特殊な映像にも対応可能です。なお、X7000互換モニタに設定値を移管する事で、装置などの内部に組込み可能です。

モニタ調整ツール

BGA(Ball Grid Array)部品は電子機器の発展に伴い普及しておりますが、
BGAボールとソルダーペーストが接合されない「オープン」と呼ばれる導通不良が報告されております。

本資料はBGAにおける不良発生個所の特定方法や発生原因、メカニズムに加え、基板や部品の反り状態の
確認方法についても紹介します。

事例公開中!!『BGAのオープン不良』とは?

ケイ・オールでは、自社ライン以外で実装された基板であってもBGAリワークをお受けします。
工程の早い段階であればリワークも容易に行える場合もあります。
同業の実装会社様より、作業困難なBGAリワークやリボールの依頼が多々あります。
高額で入手困難なデバイスなど『失敗できないBGAリワーク・リボールの作業』をサポートします。

【特徴】
○デバイスのリワーク作業をサポート
○BGAリワーク対応

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

BGAリワーク・リボール対応【事例紹介】

大量のBGAを短納期でリボールするサービスを開始しました。もちろん1pcsからでも対応可能です。ぜひお問合せください。(写真は1pcs用冶具)

BGAリボール(大量対応可能)

当社は、独自の修理技術・ノウハウと、高いスキルを持ったスタッフにより、故障した装置を修理します。

・基板は、解析して故障部位を特定して修理します。
・仕様書がなくても、技術スタッフが基板パターンを読み取り
 修理します。

お見積り無料なのでお気軽にご連絡ください。

詳細は、ウェブサイトをご覧ください。
https://www.johnan.com/repairs/no-specification-circuit-diagram/

また、上記サービス以外にも、多発する故障製品の改善提案等、様々な修理サービスを展開しております。お気軽にご相談下さい。

詳しくは、当社までご連絡下さい。

【お問い合わせ先】
TEL:0120-368-258
メール:repair@johnan.com
お問い合わせフォーム:
https://www.johnan.com/contact/form-repair/#repair-navi-top

仕様書・回路図のない製品の基板修理

交換が難しい、BGAなどのリードレス部品のリワーク受託サービスです。

今まで交換できなかった部品のリワークをすることで、基板廃棄のコストを削減します。
また、廃棄する基板から取り外した部品を再利用すれば、コスト削減やEOLの対策にも役立ちます。

リワーク実施後は、必要に応じてエックス線検査装置による確認を実施し、位置ズレの有無やはんだの接合状態などを検査します。

【事例】
■基板に実装したBGA等、リードレス部品の交換
■取り外したBGAの再利用(リボール)
■高額部品の再利用によるコスト削減
■入手困難部品の再利用によるEOL対策

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

リードレス部品の交換、再利用に『BGAリワークサービス』

プラスチックモールドされたICのプラスチック部分を
ICチップ表面から100ミクロン以下まで
樹脂を残しチップに損傷を与えず除去できる、レーザーIC開封装置

【特徴】
○薬液による開封前処理として、Cu配線されたIC等の開封に
 薬液の影響を極力少なくすることができる
○チップの表面に薬液を滴下するだけで開封でる
 開封装置を使用しても勿論開封可能であり、薬液使用量は極めてわずか
○ドライ開封の前処理としても開封時間の短縮に有効
○短時間で除去処理
 10mm×10mmの面積の処理時間は、約2分
○パソコン画面から処理範囲を設定でき
 あとはスイッチをONにするだけの簡単操作
○机の上に設置可能なコンパクト設計

●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。

レーザーIC開封装置 PL101

電気製品で断線による故障が発生する場合があります。

配線の周囲が不透明な樹脂などで覆われていると、どこで断線が
発生しているか、外観検査だけで探すことは困難です。

そのような場合、X線透過観察により、断線箇所を見つけることが可能です。
ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。

【概要】
■X線透過観察による断線箇所特定

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

オープン・断線箇所特定

『DAC-VD-1』は、小形モーター用ステータコイル等の線材キズや
ピンホールを目視で確認できる試験装置です。

通常行われる耐圧試験、インパルス試験だけでは不良箇所の特定が
困難でありましたが、この真空放電試験装置をご使用頂くことにより、
特に製造時の線材キズなどの位置が容易に発見することが可能。

用途にあわせて部分放電測定器との組合せもご提案できますので、
製品開発から出荷試験まで幅広くご利用頂けます。

【構成】
■真空槽(アクリル製)及びコントローラー
■真空ポンプ
■AC耐圧試験器

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

真空放電試験装置『DAC-VD-1』

『PElR2000HR 20X・50X』は、2000nmで80%以上の透過率を維持した対物レンズです。

半導体デバイスの故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に
威力を発揮いたします。

高集積、多層配線化された半導体デバイスを、チップの裏面からシリコンを
透過してくる赤外光で観察が可能です。
※シリコン補正対応いたしますので、ご相談ください。

【特長】
■2000nmで80%以上の透過率を維持
■極微弱な発光の検出に威力を発揮
■シリコン補正対応可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』

当社は、レーザー事業の拡大に伴い、半導体業界に数多く使用されている
レーザー関連の修理・再生・開発をワールドワイドに行っている
TSL社と業務提携しております。

非常に高価なLithography(スキャナー、ステッパー)に使われる
レーザーパーツなどをリーズナブルな価格で提供可能。

取り扱いメーカーも多岐にわたり、お客様からご好評を頂いております。

【主な取り扱いメーカー】
■ASML
■CANON
■NIKON
■ULTRATECH
■HITACHI
■ZYGO
■JDS Uniphase
■HP(Keysight) etc.

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

修理、再生(オーバーホール)

当社では、産業用大型基板から小基板、0402/0603部品まで
幅広く対応するリワークシステムを取り扱っています。

ただいま、技術資料『極小部品(0402/0603)リワークへの課題』を進呈中。
0402/0603部品のリワークでよくあるトラブルと、当社で取り扱う
リワーク機『RD-500V/SV』によるソリューションを紹介しています。

QFN・CSP・BGA・SMT・0402に対応!

【掲載内容】
■0402部品について
■加熱方式による隣接部品への有効性評価
■周辺部品への温度を抑えた接触加熱方式

詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『極小部品(0402)リワークへの課題』技術資料進呈!

アンダーフィル付BGAリワーク技術を駆使して協力できます。
アンダーフィル、コーティング済み部品(BGA、CSPなど)の外しのみから、リボール、交換・再実装まで対応できます。

硬化したアンダーフィル剤はBGAを封止しているため、強度は通常のBGAに比べ格段に向上しており、
その効果は絶大ですが、その分、取り外したり、部品を交換するなどのリワーク作業は通常のリワーク工程以上に
困難なものとなっております。
ケイ・オールでは、作業方法や技術研究を重ね、様々なアンダーフィル剤が塗布されたデバイスでも
リワーク作業が行えるよう努めて参りました。

部品外しのみから、リボール、交換再実装まで対応。
アンダーフィル、コーティング処理を施したBGA、CSPに対してもリワーク・リボール可能。
BGA、CSPのはんだボールを鉛フリーから共晶へ交換できます。
リワーク用部分マスクは5、000種以上を保持しています。

●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

技術資料「アンダーフィル付BGAリワーク技術」

エポキシ樹脂用溶解剤・剥離剤『eソルブ21HEK』は、
硬化(固化)したエポキシ樹脂を浸漬することで膨潤・崩壊・剥離します。

また、引火点がなく低毒性のため、取り扱いがしやすく、環境負荷の低減にも寄与します。他社製品によくある塩素系溶剤も含みません!

過去の実績としては、
・基板上のエポキシ樹脂の溶解・剥離
・基板封止剤の開封(良品解析と不良解析)
・SEM観察用のエポキシ樹脂の除去
・パワーカードの開封
・2液性エポキシ系接着剤が付着したディスペンサーノズル洗浄
エポキシの洗浄・溶解でお困りの方、どうぞお問い合わせください。

【特長】
■有機則・特化則・消防法に非該当
■環境負荷が少なく、安全に作業ができる
■不燃性・非水溶性
■溶解時間を大幅に削減
■塩素系溶剤不使用!

※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせ、ご相談もお気軽にどうぞ!

エポキシ樹脂溶解剤『eソルブ21HEK』

『 MSX-0101 series 』はMEMS、水晶デバイス、SMD等の電子部品の気密検査に最適な小型電子部品専用気密検査装置です。

ヘリウム充填、グロスリークテスト、ファインリークテストを1台のシステムに完全装備。

充填時間、放置時間を管理することで、適正なグロス、ファインリークを実施することができます。

【特長】
■MEMS、SMD等の電子部品の漏れ検査に好適
■充填時間、放置時間を管理しながらグロス、ファインリーク量を数値化
■グロスリークテスト、ファインリークテストを1台で対応できる
■ボンビング条件とグロスリーク条件を適切に設定することにより、高い精度のファインリーク測定が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ボンビンググロスファインリークテストシステム|MSX-0101

当社では、パソコン基板・民生機器(コンポ・車載用カメラ他)、
各種計測器(オシロスコープ・オーディオ発信機他)その他、
回路基板の解析修理を承っております。

回路図、部品、良品不良品の判定のできる冶具、もしくは製品があれば
大抵の回路基板の解析修理は可能です。

ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【経験のある仕事】
■パソコン基板修理
■パソコン周辺機器修理
■民生機器修理
■計測器修理

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

回路基板 解析修理サービス

当社では、電子基板のはんだ付け箇所の断面観察試料を作製・断面観察により
はんだの接地状況の確認、はんだ付け箇所内部の元素分布を面分析による
はんだ構成元素の偏析確認により、正しくはんだ付けされているか視覚的に
確認し、貴社が評価するためのデータを提供することが出来ます。

不具合調査の一環として断面からはんだの接着状況やボイドの確認、
はんだ内の成分の偏りが確認可能。

ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■不具合調査の一環として断面からはんだの接着状況やボイドの確認が可能
■はんだ内の成分の偏りが確認可能

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

電子基板の断面分析

家電・産業機器・車載などさまざまな商品開発で培った経験と解析評価技術で、
回路・基板のリバースエンジニアリング(ティアダウン)サービスを提供しております。
プロダクト解析センターのリバースエンジニアリングは他社品調査だけでなく、
性能面・品質面・コスト面でより優れた商品の開発や、
ODM商品の故障原因の特定と解決に活用して頂けます。
これまで100件以上の実績があります。

【特徴】
・独自観点の特徴から正確な部品特定
・プリント基板パターンから見えない情報を読み解き
 機能が分かりやすい回路図への復元

【応用例】
・他社ベンチマーク、コスト分析
・新商品開発のためのアイデア抽出
・ODM商品の故障原因の究明
・EOL(製造中止)への対応

※お困りごとをお伺いしながら解析内容の打ち合わせ可能です。お気軽にお問合せ下さい。

商品開発のアイデアを生み出すリバースエンジニアリングサービス

『BGAリワーク』は、高精度設備と高度な技術が必要であり
当社はその環境を整えております

★1枚、1点から対応させて頂きます
★あきらめてしまう前にご相談下さい
★貴社の問題解決にご協力させて頂きます

※X線検査を全数対応しておりますのでご安心下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

BGAリワーク[プリント基板]

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非破壊検査における故障発生時の原因特定

非破壊検査における故障発生時の原因特定とは?

非破壊検査は、製品や構造物を破壊せずに内部の欠陥や異常を検出する重要な技術です。しかし、検査プロセス自体や検査機器に故障が発生した場合、その原因を迅速かつ正確に特定することは、信頼性の維持とダウンタイムの最小化のために不可欠です。

課題

原因究明の複雑化

非破壊検査機器は高度な技術が集約されており、故障原因の特定には専門知識と経験が必要となるため、迅速な対応が困難な場合があります。

データ解析の限界

検査データが膨大で、異常箇所と故障原因の相関関係を人間が手動で特定するには限界があり、見落としのリスクも存在します。

迅速な復旧の遅延

原因特定に時間を要すると、検査ラインの停止時間が長引き、生産計画に影響を与え、経済的損失を招く可能性があります。

再発防止策の不備

根本的な原因が特定されないまま復旧した場合、同様の故障が再発するリスクが高まり、検査の信頼性が低下します。

​対策

診断支援システムの導入

故障発生時に、過去のデータやログを基に原因候補を提示し、診断プロセスを効率化するシステムを導入します。

高度なデータ分析ツールの活用

機械学習などを活用し、検査データや機器の稼働ログから異常パターンを検出し、故障の予兆や原因を自動的に分析します。

リモートサポート体制の構築

専門家が遠隔から機器の状態を監視・診断し、迅速な原因特定と復旧支援を行う体制を整備します。

予防保全プログラムの実施

定期的な点検やメンテナンスに加え、機器の稼働状況を分析し、故障が発生する前に部品交換や調整を行うことで、故障を未然に防ぎます。

​対策に役立つ製品例

インテリジェント診断ソフトウェア

機器の稼働データや過去の故障履歴を分析し、故障原因の可能性を提示するソフトウェアです。迅速な原因特定を支援します。

リアルタイム監視システム

検査機器の状態をリアルタイムで収集・分析し、異常を検知した際にアラートを発するプラットフォームです。早期発見と原因特定に繋がります。

AI駆動型故障予測システム

機械学習を用いて機器の劣化状況を予測し、故障の予兆を捉えるシステムです。予防保全と原因特定に貢献します。

専門家向けリモートアクセスツール

遠隔地の専門家が検査機器に安全にアクセスし、診断や設定変更を行えるツールです。迅速な原因特定と復旧を可能にします。

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