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故障発生時の原因特定とは?課題と対策・製品を解説

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非破壊検査における故障発生時の原因特定とは?
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電子機器業界において、製品の品質管理と信頼性向上は不可欠です。特に、電子部品の内部構造や接合部の状態を非破壊で検査することは、製品の性能を左右する重要な要素となります。従来の検査方法では見つけにくい内部の欠陥や異物を、迅速かつ正確に検出する必要があります。当社の連装X線CTシステムは、大型アルミ鋳物や金属造形品、樹脂製品の内部構造を詳細に可視化し、品質管理を強力にサポートします。
【活用シーン】
・電子機器の内部構造検査
・電子部品の品質管理
・試作品の評価
【導入の効果】
・非破壊検査による品質保証
・不良品の早期発見によるコスト削減
・製品開発期間の短縮
交換が難しい、BGAなどのリードレス部品のリワーク受託サービスです。
今まで交換できなかった部品のリワークをすることで、基板廃棄のコストを削減します。
また、廃棄する基板から取り外した部品を再利用すれば、コスト削減やEOLの対策にも役立ちます。
リワーク実施後は、必要に応じてエックス線検査装置による確認を実施し、位置ズレの有無やはんだの接合状態などを検査します。
【事例】
■基板に実装したBGA等、リードレス部品の交換
■取り外したBGAの再利用(リボール)
■高額部品の再利用によるコスト削減
■入手困難部品の再利用によるEOL対策
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社では『HDD/SSD故障解析サービス』を行っており、
障害事象の確認に留まらず、真の原因究明に全力を尽くします。
HDD分解調査と内部に入り込んだ汚染ガスの分析調査や、
メーカの故障解析結果の妥当性の検証など、様々な故障解析が可能です。
ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。
【解析内容】
■HDD分解調査と内部に入り込んだ汚染ガスの分析調査
■SSD汚染成分の分析(端子腐蝕、接触不良の原因調査)
■梱包材(緩衝材、スポンジ、段ボール)から腐蝕性ガスの発生の調査
■メーカの故障解析結果の妥当性の検証
■海外調達材料のアウトガス成分調査と使用可否判定
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
家電・産業機器・車載などさまざまな商品開発で培った経験と解析評価技術で、
回路・基板のリバースエンジニアリング(ティアダウン)サービスを提供しております。
プロダクト解析センターのリバースエンジニアリングは他社品調査だけでなく、
性能面・品質面・コスト面でより優れた商品の開発や、
ODM商品の故障原因の特定と解決に活用して頂けます。
これまで100件以上の実績があります。
【特徴】
・独自観点の特徴から正確な部品特定
・プリント基板パターンから見えない情報を読み解き
機能が分かりやすい回路図への復元
【応用例】
・他社ベンチマーク、コスト分析
・新商品開発のためのアイデア抽出
・ODM商品の故障原因の究明
・EOL(製造中止)への対応
※お困りごとをお伺いしながら解析内容の打ち合わせ可能です。お気軽にお問合せ下さい。
K7000は、トランクケースに収納された持運び可能な産業用ディスプレイ(モニタ)です。半導体製造装置,液晶製造装置,その他制御装置などで使用されている生産・製造終了で入手困難になったディスプレイ(モニタ)、保守部品が無く、修理不可になったディスプレイ(モニタ)が故障した場合に、緊急用として最適です。水平周波数は11kHz〜50kHz、垂直同期周波数は40Hz〜120Hzまでの入力信号を映出すことが可能です。また、信号方式は、セパレート方式,コンポジット方式、信号レベルは、アナログ/TTL(デジタル)レベルに対応可能です。パソコン用ディスプレイ(モニタ)で画像を表示できない特殊な映像にも対応可能です。なお、X7000互換モニタに設定値を移管する事で、装置などの内部に組込み可能です。





