高電圧・高電流の検査とは？課題と対策・製品を解説

「大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ」は、
超高電圧・大電流CS-3100の機能に下記HVとHCの機能を追加しました。
○HVモード：10kV（+DCのみ）
○HCモード：8,000A（CS-10800）、4,000A（CS-10400）、
　　　　　　　　パルス幅 / パルスインターバル /測定ポイント　可変可能
測定項目は、最大ピーク電圧:10kV（高電圧モード）、
最大ピーク電流:8000A（CS-10800大電流モード）です。
その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

「半導体カーブトレーサ　CS-5000シリーズ」は、IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど
各種半導体の特性測定に最適です。
V-Iカーブ観測及び、電圧、電流の印加波形も観測することができます。
測定項目は、最大ピーク電圧:5000V（高電圧モード）、
最大ピーク電流:1500A（CS-5400大電流モード）です。
その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。

当社では、半導体テスターを取り扱っております。

半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、
負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。

製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。
ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■半導体後工程でのAC特性検査用テスター
■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ
■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

近年、製品が小型化するに伴い、使用される部品も年々小型化されております。
しかし、小型化した部品の測定や分析は、既存のプローブでは難しくなっていませんか？
『積層プローブ』は従来のプローブでは対応出来なかった最小ピッチ0.05ｍｍに対応可能で、かつ大電流を印加するパワー半導体のプローブとしても性能を発揮するため、今まで測定できなかった小型の半導体も測定可能です。

【特長】
■接触抵抗値の安定により精密な測定を実現
■大電流、高電圧に対応可能
■最大0.05ピッチの狭ピッチに対応可能　など

※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。

清田製作所（Kiyota)から、パワー半導体測定用　Φ4.0　スプリングプローブ（Spring Probe)が新製品として開発・製造されました。　特長　電流：25A　最大：2.0ｍΩ

当社では、1液程度の少量サンプルで電気化学測定が行える
くし形の『スクリーンプリント電極』を取り扱っています。

使い切りタイプのため電極の前処理やメンテナンスが不要。
幅広い材質、サイズを取り揃えており、
用途に合った設計・構成の電極を提供可能です。

【特長】
■電極素材はカーボン、金、白金、銀、銀／塩化銀など多数用意
■基板の材料はガラス、アルミナ、プラスチックを使用

★2009年に専門誌「Electroanalysis」に、当製品を使用した
　SARSウイルス遺伝子センサーの開発に関する論文が掲載されました。
　論文の概要を紹介した資料を「PDFダウンロード」からご覧いただけます。

※電気化学測定向け製品をまとめた資料も進呈中。
　お問い合わせもお気軽にどうぞ。

本製品は、CD-SEM,レビューSEM用の高圧電源装置です。加速電源、フィラメント電源、サプレッサ電源、エキストラクタ電源で構成されております。

●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。

最大６００Aまで対応；ファインピッチ対応（ピッチ0.5mmから）。プラグインタイプとねじ式、内バネ式と外バネ式がございます。

RFプローブ(高周波プローブ）と組合わせて使用頂けるDCプローブ（電源プローブ）

特長
・完全国内生産
・DC−40GHz
・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。
・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。
・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。
・短納期
・ローコスト（イニシャルコスト不要）
・高耐久