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高電圧・高電流の検査とは？課題と対策・製品を解説
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電気的検査・テスタにおける高電圧・高電流の検査とは？
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清田製作所（Kiyota)から、パワー半導体測定用 Φ4.0 スプリングプローブ（Spring Probe)が新製品として開発・製造されました。 特長 電流：25A 最大：2.0ｍΩ
スプリングプローブ（Spring Probe)
当社では、1液程度の少量サンプルで電気化学測定が行える
くし形の『スクリーンプリント電極』を取り扱っています。
使い切りタイプのため電極の前処理やメンテナンスが不要。
幅広い材質、サイズを取り揃えており、
用途に合った設計・構成の電極を提供可能です。
【特長】
■電極素材はカーボン、金、白金、銀、銀／塩化銀など多数用意
■基板の材料はガラス、アルミナ、プラスチックを使用
★2009年に専門誌「Electroanalysis」に、当製品を使用した
SARSウイルス遺伝子センサーの開発に関する論文が掲載されました。
論文の概要を紹介した資料を「PDFダウンロード」からご覧いただけます。
※電気化学測定向け製品をまとめた資料も進呈中。
お問い合わせもお気軽にどうぞ。
電気化学測定装置用『スクリーンプリント電極』
RFプローブ(高周波プローブ）と組合わせて使用頂けるDCプローブ（電源プローブ）
特長
・完全国内生産
・DC−40GHz
・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。
・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。
・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。
・短納期
・ローコスト（イニシャルコスト不要）
・高耐久
DCプローブ （電源用プローブ）
「大容量 半導体カーブトレーサ CS-10000シリーズ」は、
超高電圧・大電流CS-3100の機能に下記HVとHCの機能を追加しました。
○HVモード：10kV（+DCのみ）
○HCモード：8,000A（CS-10800）、4,000A（CS-10400）、
パルス幅 / パルスインターバル /測定ポイント 可変可能
測定項目は、最大ピーク電圧:10kV（高電圧モード）、
最大ピーク電流:8000A（CS-10800大電流モード）です。
その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
大容量 半導体カーブトレーサ CS-10000シリーズ
近年、製品が小型化するに伴い、使用される部品も年々小型化されております。
しかし、小型化した部品の測定や分析は、既存のプローブでは難しくなっていませんか？
『積層プローブ』は従来のプローブでは対応出来なかった最小ピッチ0.05ｍｍに対応可能で、かつ大電流を印加するパワー半導体のプローブとしても性能を発揮するため、今まで測定できなかった小型の半導体も測定可能です。
【特長】
■接触抵抗値の安定により精密な測定を実現
■大電流、高電圧に対応可能
■最大0.05ピッチの狭ピッチに対応可能 など
※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。
【特許取得プローブ】大電流、狭ピッチ対応プローブ『積層プローブ』
本製品は、CD-SEM,レビューSEM用の高圧電源装置です。加速電源、フィラメント電源、サプレッサ電源、エキストラクタ電源で構成されております。
●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。
TFE電子銃用-10kV高圧電源・CD-SEM,レビューSEM用
「半導体カーブトレーサ CS-5000シリーズ」は、IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど
各種半導体の特性測定に最適です。
V-Iカーブ観測及び、電圧、電流の印加波形も観測することができます。
測定項目は、最大ピーク電圧:5000V（高電圧モード）、
最大ピーク電流:1500A（CS-5400大電流モード）です。
その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
半導体カーブトレーサ CS-5000シリーズ
当社では、半導体テスターを取り扱っております。
半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、
負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。
製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。
ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。
【特長】
■半導体後工程でのAC特性検査用テスター
■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ
■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体テスター
最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。
半導体カーブトレーサ CS-3000シリーズ
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電気的検査・テスタにおける高電圧・高電流の検査
電気的検査・テスタにおける高電圧・高電流の検査とは？
電気的検査・テスタの高電圧・高電流の検査は、電子部品や製品が設計通りの電気的特性（絶縁耐圧、通電容量、耐サージ性など）を有しているかを確認する試験です。特に、高電圧や高電流が印加される環境下での信頼性や安全性を評価するために不可欠なプロセスです。
課題
高電圧・高電流印加時の安全性確保
試験中に発生する高電圧・高電流は、作業者への感電リスクや機器の破損、火災などの危険性を伴います。安全な試験環境の構築が最重要課題です。
精密な測定と安定性の維持
高電圧・高電流下では、微細な電気的特性の変動も製品の品質に大きく影響します。ノイズの影響を受けずに、高精度かつ安定した測定を行うことが困難です。
試験設備の大型化とコスト増
高電圧・高電流に対応する試験設備は、その構造上大型化しやすく、導入・維持コストが高額になる傾向があります。限られた予算内での設備投資が課題となります。
多様な規格への対応と試験時間の増大
製品ごとに要求される試験規格が多岐にわたり、それぞれに対応した試験条件を設定する必要があります。これにより、試験全体の時間が長くなり、生産効率の低下を招きます。
対策
安全保護機能の強化
試験装置に自動遮断機能、絶縁強化、アース接続の徹底、安全インターロック機構などを組み込み、作業者の安全を最優先する設計を行います。
ノイズ対策と高精度測定技術の導入
シールド構造の採用、差動増幅器、デジタル信号処理技術などを活用し、外部ノイズの影響を最小限に抑え、高精度な測定を実現します。
モジュール化・コンパクト化された試験システム
必要に応じて機能を選択・組み合わせ可能なモジュール式の試験システムや、省スペース設計の試験装置を導入し、設備投資と設置スペースの課題を解決します。
自動化と試験プロトコルの最適化
試験シーケンスの自動化、試験条件の最適化、複数規格を統合した試験プロトコルの開発により、試験時間を短縮し、生産性を向上させます。
対策に役立つ製品例
高電圧絶縁耐圧試験器
設定された電圧を印加し、絶縁破壊が発生しないかを確認することで、製品の絶縁性能を評価します。安全機能が充実しており、作業者の安全を確保します。
高電流通電容量試験装置
定格以上の電流を流し、発熱や性能低下がないかを確認することで、製品の通電能力を評価します。高精度な電流制御と温度監視機能を備えています。
サージ耐圧試験システム
雷サージなどの瞬間的な高電圧・高電流に対する製品の耐性を評価します。多様な波形生成機能と正確なパルス印加が可能です。
自動化された電気的特性評価システム
複数の試験項目を自動で実行し、測定データを統合管理するシステムです。試験時間の短縮とヒューマンエラーの削減に貢献します。
