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狭小部の検査とは?課題と対策・製品を解説

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外観・画像検査における狭小部の検査とは?
エレクトロニクス製品において、微細な部品や配線、接合部などの狭い領域における外観上の欠陥(傷、異物、欠け、変形、異物混入など)を、画像処理技術を用いて自動的に検出・評価する検査手法です。高精度な品質管理を実現するために不可欠な技術となっています。
各社の製品
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【電子機器向け】クリオ/CLiO 産業用超小型側視USBカメラ
電子機器業界において、基板の品質管理は製品の信頼性を左右する重要な要素です。特に、小型化が進む電子機器では、基板上の微細なはんだ付け不良や部品の配置ミスを見つけることが課題となります。これらの不具合は、製品の動作不良や短寿命につながる可能性があります。クリオ/CLiO 産業用超小型側視USBカメラは、超小型設計と柔軟なケーブルにより、基板の狭い隙間や奥まった部分の検査を容易にし、品質管理の効率 化に貢献します。
【活用シーン】
・基板実装後の検査
・電子部品の配置確認
・はんだ付け箇所の検査
・狭いスペースでの異物混入チェック
【導入の効果】
・目視検査では見逃しがちな微細な欠陥を発見
・検査時間の短縮と効率化
・製品の品質向上と信頼性向上
・不良品の流出防止
【特長】
・超小型設計(カメラ部:1g以下)
・柔軟なケーブルで狭い隙間も対応
・高解像度720P対応
・固定焦点で調整が容易
・補助白色LED搭載
極小、高密度実装部品外観検査
最小カメラを接続できる小型USBカメラモジュール
【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較
端子間異物検査装置『SEL-V170BT』
『SEL-V170BT』は、端子と端子の間にある異物候補を取得する画像に
応じた好適な光学系、当社独自の照明を採用して高度な検査を可能とした
端子間異物検査装置です。
ICのIN/OUTの間に検査枠を設ける事で異物候補の検出ができ、異物候補の
大きさ、輝度/色相/彩度のヒストグラム、異物と気泡の面積差と面積比の比較、
異物平均輝度等の設定を段階的に切り分けて異物候補を検出します。
【特長】
■端子間異物を好適な光学系を用いて検査する
■端子と端子以外でも検査が可能
■詳細設定により異物候補と気泡の切り分けが可能
■「SEL-V170AL」と連結可能
■1枚搬送のみ
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
簡易型 外観検査装置『ACT-α1』





