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高速デバイスの信号評価とは？課題と対策・製品を解説

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電気的検査・テスタにおける高速デバイスの信号評価とは？

近年、エレクトロニクスデバイスの高速化・高集積化が進むにつれて、その性能を正確に評価するための電気的検査・テスタにおける信号評価の重要性が増しています。これは、デバイス内部の微細な信号が、ノイズや歪み、タイミングのずれなどによって本来の性能を発揮できなくなるリスクを低減し、製品の信頼性を確保するために不可欠なプロセスです。

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【医療機器向け】ICテストハンドラNS-8080SH

兼松ＰＷＳ株式会社

医療機器業界では、製品の品質と信頼性が最重要視されます。特に、精密な電子部品を使用する医療機器においては、ICの正確なテストが不可欠です。テストの精度が低いと、機器の誤作動や性能低下につながり、患者さんの安全を脅かす可能性があります。株式会社NSテクノロジーズのICテストハンドラNS-8080SHは、高いスループットと温度管理機能を備え、医療機器製造におけるICテストの効率化と品質向上に貢献します。【活用シーン】・医療用電子機器のICテスト・精密電子部品の選別・品質管理部門での検査【導入の効果】・テスト時間の短縮・不良品の早期発見・製品の信頼性向上

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テストツール『ITS-8001』

株式会社インターエナジー

『ITS-8001』は、125M～2.7Gbpsのビットレートに対応し、簡単にビットエラーを測定できるテストツールです。各種設定や制御をする機能を外付けPC（オプション）とし、本体の機能を限定することで廉価な構成を実現しました。主に通信用光モジュール試験や通信用デバイス試験に使用されます。【特長】 ■125M～2.7Gbpsの各ビットレートに対応 ■出力振幅が800mVpp ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TITAN T26Dデュアル型プローブヘッド (~26GHz)

MPI Corporation

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。日本における代理店: ベクターセミコン株式会社東京都荒川区西日暮里2-43-2 TEL 03-5604-1701 FAX 03-5604-1707

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半導体テスタレーザクリーニングシステム

サマック株式会社

ロジック用　レーザクリーニングシステムＩＭＴ８００ＭＶ＜＜＜＜　特徴　＞＞＞＞ □ ブラッシング、ケミカルクリーニング不要　 ■ クリーニングプロセスへの移行が短時間で可能 □ クリーニング後の廃棄物・臭気がありません ■ ソケットピン表面のダメージ、　　不完全クリーニング排除による能力向上ロジック用ならでは。 ●　マニュアルクリーニングプロセス ○　高速クリーニング（約10秒＠ソケット） ● プローブカードクリーニングも可能

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簡易型信号発生基板『CV200』

アイ・エス・エックス株式会社

本製品は、超高解像度8K4K/60Hzに対応した、V-by-One(R) HS 32laneのインターフェースを持つ、簡易型の信号発生基板です。お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が自由自在。また、4K2K/120Hzのモジュールにも対応いたします。【標準仕様】 ■DC12V単一電源駆動 ■データの書き換えはPCからのUSB接続で実施 ■PCを用いた外部制御に対応 ■オプションでスイッチ操作部を延長するRemote Boxに対応 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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コーヨーテクノス製　特殊検査用ソケット

株式会社コーヨーテクノス

扱いやすいミニプレス仕様から省スペース設計まで、お客様のご要望にお応えします。

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TLP試験器「HED-T5000 series」

阪和電子工業株式会社

保護回路の動作特性をシミュレーションする装置です。集積回路に組み込まれた保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。 VFTLP試験も可能です。【ラインナップ】 ○HED-T5000/T5000VF ○Wafer Type ○Package Type 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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長波長用O/Eコンバーター　LPDシリーズ

株式会社グラビトン

■受光素子：InGaAs PIN PD ■受光波長範囲： 900[nm] ～ 1650[nm](LPD-1) 950[nm] ～ 1650[nm](LPD-2) ■適合ファイバー径 80[um]以下（LPD-1) 500[um]以下(LPD-2) ■受光NA範囲最大0.2まで（LPD-1) 最大0.25まで（LPD-2) ■受光感度： 500[mV/mW] @1310[nm](LPD-1) 1000[mV/mW] @1310[nm](LPD-2) ■周波数帯域： DC ～ 1.5[GHz](LPD-1、LPD-2)

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テスト基板評価用同軸エンドランチコネクタ『EL-KFシリーズ』

ホンリャン・ジャパン株式会社

『EL-KFシリーズ』は、評価用テスト基板への取付けが簡単な同軸エンドランチコネクタです。独自のロッドクランプ機構により、機械的に挟み込むだけでテスト基板を固定。はんだ付けやネジ止め不要で、取り付け時間を短縮できます。 2.92mmタイプで最大40GHzの周波数に対応しており、多くのアプリケーションに対応可能です。 ※『EL-KFシリーズ』の詳細は英語版のPDF資料をご覧ください。　お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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CAN_LD 320CH温度/DC特性自動評価装置

システム技研株式会社

'-40～90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います

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解説資料『オシロスコープ・ユーザーのためのプローブの使いこなし』

横河レンタ・リース株式会社

本資料では、オシロスコープ初心者向けにプローブの基礎知識を図やイラスト付きでわかりやすく紹介しています。「同軸ケーブルを接続する際の注意点」「プローブ性能で重要なポイント」「10:1パッシブ・プローブの扱い方」など正しい測定に必要な情報が満載です。【目次（抜粋）】 ◎やってはいけない信号の取り出し方 ◎信号を伝えるということ ◎基本の10:1パッシブ・プローブを理解する ◎要注意！1:1／10:1感度切替えプローブ ◎そもそも周波数帯域はどこまで必要か ◎ちょっと待った！その接続 ◎アクティブ・プローブは理想に近づいたプローブ ◎最近多くなった差動信号 ※本資料は「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。

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デュアルRFプローブ　　（高周波プローブ）

株式会社テクノプローブ

デュアルRFプローブ（高周波プローブ）特徴・完全国内生産・針先端：GSSG、GSGSG ・周波数：DC-40GHz ・インサションロス：2dB以下・リターンロス：12dB以上・ピッチ：75-600μm ・コネクタ：Kコネクタ・高耐久・ローコスト・修理、リフレッシュ可能・特殊使用承ります。

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ディスプレイポート（DisplayPort）解析プローブ

アンドールシステムサポート株式会社

ロジックアナライザ用　DisplayPort解析プローブ ■ DisplayPortのパケット・データ測定可能！！ ■ X1, X2, X4 DisplayPort対応 ■ Data測定　最大2.7 GT/s対応 ■ ロジックアナライザ用ソフトウェア付属 ■ ディスプレイポートの状態を表示 ■ ディスプレイデータとAUXチャネルを両対応

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半導体テスター

北斗電子工業株式会社

当社では、半導体テスターを取り扱っております。半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■半導体後工程でのAC特性検査用テスター ■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ ■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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Burn-In Board

ディ・アイジャパン株式会社

ディ・アイジャパン株式会社が取り扱う『Burn-In Board』をご紹介します。精巧なドッキング及び高い信頼性を保証できる「HI-FIX BOARD」や、ウェハテスト時にテスターのステーションとプローブカードを接続して信号と電源等を中継する必須パーツ「Wafer Mother Board」などをラインアップしています。【ラインアップ】 ■MEMORY用 BIB ■LOGIC用 BIB ■Wafer Mother Board ■HI-FIX BOARD ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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機器組込用　微少電流計測ユニット

バンデバイス株式会社

フェムト〜ピコアンペアオーダーの電流を測定 ■測定範囲は-250pA〜+250pA　ノイズレベルは5fAp-p ■最大8点の電流を同時測定 ■専用パソコンによりデータ収集 ※詳細はカタログをご覧下さい。

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スプリングコンタクトプローブの総合カタログ

テスプロ株式会社

スプリングコンタクトプローブのカタログを無料進呈中！！ ★ご希望の方は、お問い合わせ下さい★ ★一部のカタログはダウンロードからご覧いただけます★ 【概要】世界最大のワイヤーハーネス検査用プローブメーカーFEINMETALL社(独)の日本総代理店。幅広い製品ラインアップによりワンストップソリューションを実現。特注仕様も承ります。大電流・高周波・回転・スイッチ・非磁性・耐熱...プローブのことなら何でもご相談下さい。【製品例】 ◆外径1.0mmのスイッチプローブ ◆600Aまで対応する大電流プローブ ◆20GHzまで対応する高周波プローブ ◆直径0.20mm・全長3.3mm・バネ圧60g・寿命100万回以上の半導体プローブ

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DDR3 1867 DIMM解析プローブ

アンドールシステムサポート株式会社

ロジックアナライザ用　DDR3解析プローブ ■ 最速DDR3 1867 DIMMモジュールまで測定可能！！ ■ 全ての240ピン DDR3 SDRAM DIMM対応 ■ インターポーザのため、解析用のスロット不要 ■ 全ての信号を測定可能 ■ ロジックアナライザ専用ソフトウェア付属　・タイミング測定　・プロトコル測定　・コンプライアンス測定

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CW/Pulse I-Lテスター　SEC-7000

システム技研株式会社

LDをCW～Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です

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半導体カーブトレーサ　CS-5000シリーズ

岩崎通信機株式会社

「半導体カーブトレーサ　CS-5000シリーズ」は、IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど各種半導体の特性測定に最適です。 V-Iカーブ観測及び、電圧、電流の印加波形も観測することができます。測定項目は、最大ピーク電圧:5000V（高電圧モード）、最大ピーク電流:1500A（CS-5400大電流モード）です。その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

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【無料ダウンロード実施中】ジッタ入門・ラムバス編（技術資料）

テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社

高速メモリ転送の主流となりつつあるラムバスに焦点をあて、ラムバスの原理から、測定におけるポイントなどをイラストによってわかりやすく解説した入門書シリーズです。（全7冊）この機会に是非ご覧いただき、ご自身の知識の向上や技術者教育にお役立て下さい。 ◆冊子プレゼント◆ 今なら入門シリーズ（全7シリーズ）を一冊にまとめた冊子を無料で差し上げています。ご希望の方は下記のお問合せフォームよりお申込みください。

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『コンタクトプローブ』

株式会社モリモト

当社では、高周波対応プローブや耐熱プローブ、同軸プローブ、超極細プローブ(φ0.2～)など、多種多様な『コンタクトプローブ』を取り扱っております。また、デバイスの形状に最適なオーダーメイドプローブの製作も可能ですので、ご要望の際はお気軽にご相談ください。【ラインアップ】 ■KHP-001～30シリーズ ■KHS-シリーズ ■KH-007シリーズ ■KH-700シリーズ ■KH-2000シリーズ　など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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PFDA

シンクランド株式会社

PFDAはシンクランド製Two-Tone光源とRohde＆Schwarz製ベクトルネットワークアナライザを組み合わせたオリジナリティ溢れるシステムとして開発されました。

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DCRF混在プローブ　　（電源と高周波の混在プローブ）

株式会社テクノプローブ

RFプローブに合わせて使用頂けるDCRF混在プローブ（電源と高周波の混在プローブ）特長・完全国内生産・DC−40GHz ・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。・短納期・ローコスト（イニシャルコスト不要）

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TFE電子銃用-10kV高圧電源・CD-SEM,レビューSEM用

フューテックス株式会社

本製品は、CD-SEM,レビューSEM用の高圧電源装置です。加速電源、フィラメント電源、サプレッサ電源、エキストラクタ電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。

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PacketMicro製品のご紹介

シーエスアイグローバルアライアンス株式会社

シーエスアイグローバルアライアンスの取り扱う『PacketMicro製品』についてご紹介しています。頑丈な40 GHzプローブ(最大)、組み合わせ自在のプローブステーション、 Dino-Liteマイクロスコープ、フレキシブルRFケーブル、および USBタイプ-Cのテストフィクスチャを提供。エンジニアの頭を悩ませる高速伝送路における設計課題を解決します。【特長】 ■安価で頑丈 ■SI解析のための高度な伝送路テストツール ■Fortune 100 企業を含む、多数の導入企業と実績 ■業界15年以上の経験と実績 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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半導体検査用コンタクトプローブピン

株式会社モリモト

当製品は、高温、高周波、大電流等の様々な条件に対応した半導体検査用コンタクトプローブピンです。「2.54ピッチ用」をはじめ、「1.27ピッチ用」や「KHP-700シリーズ」など幅広いラインアップをご用意しております。その他にも多数取り揃えておりますので、お気軽にお問い合わせください。【特長】 ■幅広いラインアップ ■サイズ、先端形状、材質、荷重等のオリジナル製作に対応 ■高温、高周波、大電流等の様々な条件に対応 ■ICソケットのカスタム製作が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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テストツール『ITS-8101』

株式会社インターエナジー

『ITS-8101』は、9.95Gbps～11.3Gbpsのビットレートに対応し、簡単にビットエラーを測定できるテストツールです。主に、高速通信デバイス評価や光モジュール評価のアプリケーションとして用いられています。各種設定や制御を行う機能を外付けPC（オプション）とし、本体の機能を限定することで廉価や構成を実現しました。【特長】 ■9.95Gbps～11.3Gbpsの各ビットレートに対応 ■出力振幅 400mVpp AC結合 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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超ファインピッチに対応する検査用プローブ！『MEMSプローブ』

ニデックアドバンステクノロジー株式会社

『MEMSプローブ』は、マイクロプロセッサや、アプリケーションプロセッサ等の、半導体ウエハ検査に最適なMEMSプローブです。本製品は、独自構造により低抵抗・低インダクタンスを実現します。また、当社では高精度で安定した品質のプローブを製造し、微細なMEMS スプリングプローブの加工から検査まで行っていますので、お気軽にお問い合わせ下さい。【特長】 ■独自構造 ■半導体ウエハ検査に最適 ■超ファインピッチに対応 ■低抵抗・低インダクタンスを実現 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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スプリングプローブ（Spring Probe)

株式会社AMT

清田製作所（Kiyota)から、パワー半導体測定用　Φ4.0　スプリングプローブ（Spring Probe)が新製品として開発・製造されました。　特長　電流：25A　最大：2.0ｍΩ

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半導体検査用プローブ先端材質・先端形状…各種選定可能

株式会社精研

半導体検査用プローブは測定環境に合わせて選定が可能です。・弊社独自の合金材料を用い、PBフリーへのコンタクト性を高めたプローブ・熱の影響による荷重低下を避ける特殊バネを採用した耐熱プローブ・磁気センサー部品の検査にも使用可能なハイレベルな非磁性材料プローブ・信号伝送特性を最大限向上した短尺高周波プローブユーザ様の様々なご要望にお応えします。【特長】 ■長年の実績に裏付けられた優れた品質 ■豊富なラインナップ ■測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等、各種選定可能 ■標準仕様以外にも全長・先端径・バネ圧の任意設定が可能な、特殊仕様品にも対応 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧ください

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オシロプローブ用　チェック端子　HOT26080

株式会社廣杉計器

小型タイプであらゆる方向から使用可能な RoHS対応のオシロプローブ用、チェック端子【特徴】 ○2.54ピッチ又はハーフピッチなため　使用場所を選ばない ○10色のカラーで回路分けが可能 ○ハイポジションタイプもあり　プローブの引っ掛けが容易にきる ○ピン　材質：リン青銅(C5191) 　処理：金メッキ0.1μ(下地ニッケル2μ) ○台　材質：PBT(ガラス繊維30％入）　色：10色　熱変形温度：1.82Mpa…200℃(耐ハンダ性) 　UL規格：UL94V-0(材料) 　RoHS対応製品 ●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。

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DCプローブ　　（電源用プローブ）

株式会社テクノプローブ

RFプローブ(高周波プローブ）と組合わせて使用頂けるDCプローブ（電源プローブ）特長・完全国内生産・DC−40GHz ・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。・短納期・ローコスト（イニシャルコスト不要）・高耐久

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株式会社エンプラス半導体機器　ICソケット総合カタログ

株式会社エンプラス半導体機器

「ICテストソケット総合カタログ」は、ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGYやENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTIONのTEST SOCKETやBURN-IN SOCKETなど多数掲載したカタログです。株式会社エンプラス半導体機器の「ICテストソケット」は、ICの高集積化に伴う超多ピン化、ファインピッチ化などあらゆるニーズに対応しております。【掲載製品】 ○ENPLAS SIMULATION TECHNOLOGY ［ENPLAS LONG LIFE CONTACT SOLUTION] ○TEST SOCKET ○BURN-IN SOCKET　他詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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RFプローブ・校正基板【広い周波数帯域、ピッチ、優れた耐久性！】

ベクターセミコン株式会社

当社は、広い周波数帯域、ピッチ、優れた耐久性、すべてバランスよく備えたRFプローブ・校正基板を低価格で販売しております。独自の先端形状により、コンタクト時少ないスケーティング量で安定したコンタクトが可能となっており、デバイスへのダメージ軽減や高い再現性を図ります。校正アシストソフトウェアは「Allstron TITAN Probeシリーズ」の製品データが既に登録されており、プローブを選択するだけですぐにご使用頂けます。【製品一覧】 ■Allstron RF Probe「TITAN」 ■Allstron RF Probe「TITAN-RC」 ■RF Calibration Substrates「AC」 ■Calibration software「QAlibria」 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

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半導体製造装置　水平搬送式テストハンドラー

エム・イーシステム株式会社

エム・イーシステム株式会社は、精密機器の製造工程で使用する治工具の設計・製作、また半導体後工程で使用する精密製造装置の設計・製作を主に精密機械・精密板金の加工を行っています。水平搬送式テストハンドラーは、ICのパッケージ後の検査工程で、テスターと接続して使用し、テスターからのテスト結果信号に基づきICを良品と不良品に自動選別する装置です。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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半導体カーブトレーサ CS-3000シリーズ

岩崎通信機株式会社

最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。

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大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ

岩崎通信機株式会社

「大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ」は、超高電圧・大電流CS-3100の機能に下記HVとHCの機能を追加しました。 ○HVモード：10kV（+DCのみ） ○HCモード：8,000A（CS-10800）、4,000A（CS-10400）、　　　　　　　　パルス幅 / パルスインターバル /測定ポイント　可変可能測定項目は、最大ピーク電圧:10kV（高電圧モード）、最大ピーク電流:8000A（CS-10800大電流モード）です。その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

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RFプロービング用高性能マイクロウェーブプローブ

阪和トレーディング株式会社

当社はプローブシステムに用いる様々なRFポジショナーを揃えております。一例：SP-67A 柔軟なチップを備え、低損失の同軸技術を用いて1.1db未満の挿入損失と、67GHzで14dbを超えるリターンロスを実現。プロービング表面への確実な接触を保証する独立したバネ式チップを有しており、チップには柔軟性があるため、回路損傷を最小限に抑え、プローブ寿命を延ばします。また、標準のマイクロ波プローブステーションで用いるべく様々なアダプタに取り付けることが可能。搭載はカスタマイズできます。【特長】 ■耐久性のあるRFプローブ ■独立したバネ式コンタクト ■豊富なフットプリント ■同軸設計 ■13種のアダプタ様式で利用可能　など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

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コンタクト＆ICテストソケット

サンユー工業株式会社

当カタログは、特徴あるコンタクトラインナップで多様なデバイスに対応します。まずはご要求仕様をお聞かせください。 ■パワーデバイス向け：板ばね式ケルビンソケット ■狭ピッチデバイス向け：Iコンタクト/Lコンタクトソケット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TITAN T26 RFプローブ・ヘッド (DC~26GHz)

MPI Corporation

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eDP簡易信号発生装置『iM1283』

アイ・エス・エックス株式会社

『iM1283』は、コストを抑えてスピーディーに導入できる eDP(embedded Display Port/5.4G)出力の簡易信号発生装置です。編集ソフトを同梱しており、お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が自由自在です。また、簡単な操作とコンパクトデザインは、省スペースですぐにご利用できます。【製品仕様(一部抜粋)】 ■8bit 出力(4lane Display Port 5.4Gbps相当) ■eDP設定(RGB, 1.62Gbps, 2.7Gbps, 5.4Gbps, 2.16Gbps, 2.43Gbps, 3.24Gbps, 4.32Gbps) ■補助電源出力機能(DC12V) ■パターン/タイミングの編集に対応 ■DisplayPortのAUX通信プログラム可能 ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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DDR2コンプライアンス・テスト・オプションQPHY-DDR2

テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社

テレダイン・レクロイのQualiPHY-DDR2、DDR2試験パッケージは、最高のDDR2メモリ・インタフェース試験ツールです。400MHz、533MHz、667MHz、800MHz、1066MHzと任意の速度に対応しています。QualiPHY-DDR2は、クロック（JEDECの仕様とインテルの仕様：JEDEC仕様の付録によって規定される電気およびタイミング・テスト）に完全に準拠したテストを行うことができます。テレダイン・レクロイのQualiPHYフレームワークは、シンプルなユーザ・インタフェースを持つので操作が簡単で、かつのカスタマイズや判定条件の変更に柔軟性に対応できます。また、グラフィカルな結線図を示すことにより確実な装置の接続を支持し、各項目でワーストケースの不良測定結果の画面を含む全ての計測結果をレポートにまとめることができます。そのうえ、QualiPHY-DDR2によってされる全ての波形データは、後から再試験ができるように保存することができます。詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

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DDR3コンプライアンス・テスト・オプションQPHY-DDR3

テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社

DDR3信号の試験では非常に多様な計測を行わなければならないだけでなく、非常に多数のサイクルに渡る信号を対象にしなければなりません。こうした大量のデータ処理を短時間で行うことができると、捕らえられた測定値のワーストケースの信頼性が高くなります。多くの場合、QualiPHY-DDR3は、他の計測ソリューションが100個の計測を行う間に数千の計測を処理することができます。このことは、時間をかけて何度も繰り返し計測を行うのと同じ信頼性を1回の計測で済んでしまうことを意味し、大きな省力化につながります。詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

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アバランシェ耐量試験装置『ST-1322』

嶺光音電機株式会社

『ST-1322』は、POWER MOS FET Nch/PchのL負荷アバランシェ測定し、 GO/NG判定を行う装置です。全ての試験項目は、ハードウェアにて処理解析していますので、従来のディジタルオシロスコープを使用した装置に比べ高速に試験が可能。上位コンピュータとオンラインで接続しデータの管理やテスト条件の管理ができます。また、セルフテスト機能を有しております。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■スピードを飛躍的に向上 ■低電圧にて、大電流試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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ANDON社　製品カタログ

クロニクス株式会社

『ANDON社　製品カタログ』は、インターコネクションのスペシャリストとして高い評価のあるアンドン社の開発したイメージセンサー・ソケットを掲載したカタログです。同社ではアトメル、ダルサ、E2V、フェアーチャイルド、浜松フォトニクス、コダック、マルコーニ、ミクロン、モトローラ、ナショナル、NEC、ペリフェラル・イメージング、フィリップス、サイト、ソニー、TI、東芝、各社様のCCDに対応するソケットを取り揃えています。【掲載内容（抜粋）】 ■アプリケーションガイド ■メーカー対照表 ■ピッチDIPソケット ■ピッチSIPソケット ■ピッチPGAソケット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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＜Pickering社＞リードリレーファインダー

株式会社コムクラフト

○Pickering社リードリレー製品 ■4mm^2 (フォーミリスクエアー) 超高密度実装リードリレー 3.9mm角の極小フットプリントで超高密度実装を実現！業界最小のパッケージサイズで自動計測装置に貢献！ ■SIL-SIP シングルインライン高密度実装リードリレー SIL-SIPパッケージに用途に応じた様々なコンフィギュレーションをラインナップピカリング社リードリレーの主力製品 ■SIL-SIP シングルインラインミューメタル外装リードリレー高密度実装で問題となる磁気干渉を抑止する "ミューメタル"パッケージを用いたタイプ ■200シリーズ表面実装リードリレー / 5GHz対応表面実装タイプの超小型高速信号用リードリレー水銀タイプ、同軸タイプなどのコンフィギュレーションも提供可能 ●上記以外のリードリレー各シリーズも、充実したラインナップを取り揃えております。

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高速インサーキットテスター『ESI-2020』

オカノ電機株式会社

『ESI-2020』は、OSにMicrosoft Windows7,10を採用した高速インサーキットテスターです。従来の当社ICT「ESI-2002」に比べ、約25%の検査時間の短縮を実現。通信方式にEthernetを採用し、4端子低抵抗測定機能を標準装備しました。立ち作業向けタテ型機「ESI-2020ST」やインライン機「ESI-2020STB」など、ご使用の条件に合わせて4つのモデルから選択可能です。【特長】 ■Windows 7,10にて動作 ■超高速検査を実現 ■通信方式にEthernetを採用 ■4端子低抵抗測定機能を標準装備 ■ESI-2002のデーターの共有化と多彩な編集機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TITAN RC(微小パッド用)RFプローブ・ヘッド

MPI Corporation

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ICソケット

理化電子株式会社

日に日に進化を続けるハイエンドデバイスの高速化と微細化。一方それに対応すべくテスティング技術もまた、進化をしています。理化電子社は、ハイエンドデバイス・テスティングのイノベーターとして、先端の技術と熱い心をもって、お手伝いをさせていただきます。 IC ソケット及び各種プローブは、九州事業所・熊本工場にて、基礎研究から設計、製作、検査にいたるまで、すべてを一貫したラインにて行っております。一元化することにより、短納期・低価格はもちろん、お客様のニーズやテーマに即したトータルソリューションを実現しました。 IC ソケット周辺の各種ボードの設計・製作も承ります。詳細は、お問い合わせ下さい。

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電気的検査・テスタにおける高速デバイスの信号評価

電気的検査・テスタにおける高速デバイスの信号評価とは？

課題

高速信号の忠実な再現性不足

デバイスの動作速度が向上するにつれて、テスタ側でその高速な信号を正確に生成・測定することが困難になり、本来の性能評価ができない場合があります。

ノイズ・クロストークの影響増大

高速信号はノイズや隣接信号とのクロストークの影響を受けやすく、正確な信号波形を捉えることが難しくなり、誤った評価につながる可能性があります。

測定環境の複雑化とコスト増

高速デバイスの評価には、特殊なプローブやケーブル、高度な測定器が必要となり、設備投資や運用コストが増大する傾向があります。

評価時間の長期化とスループット低下

複雑な信号解析や多数のテスト項目が必要となり、評価に時間がかかることで、製品の市場投入までのリードタイムが長くなる可能性があります。

対策

高帯域幅・低ノイズ測定器の活用

広帯域幅を持ち、ノイズ特性に優れた最新の測定器を使用することで、高速信号の微細な変化も正確に捉えることができます。

高度な信号処理・解析技術の導入

デジタル信号処理（DSP）や機械学習などの技術を用いて、ノイズ除去や波形補正、異常検知を行うことで、より信頼性の高い評価を実現します。

自動化・最適化されたテストシーケンス

テスト項目や手順を自動化・最適化することで、評価時間を短縮し、スループットを向上させます。また、AIによるテスト条件の最適化も有効です。

シミュレーションと実機評価の連携強化

設計段階でのシミュレーションと、実機での評価結果を連携させることで、早期に問題を発見し、効率的なデバッグと評価を実現します。

対策に役立つ製品例

広帯域オシロスコープ

非常に高いサンプリングレートと帯域幅を持ち、高速で複雑な信号の波形を忠実に捉え、詳細な解析を可能にします。

信号発生器（任意波形発生器）

多様な信号パターンを生成できるため、様々な動作条件下でのデバイスの応答を正確にシミュレーションし、評価できます。

自動テストシステム

複数の測定器やデバイス制御機能を統合し、テストプロセス全体を自動化することで、評価時間の短縮と人的ミスの削減に貢献します。

信号解析ソフトウェア

取得した信号データを高度に解析し、ノイズ除去、パラメータ抽出、異常検知などを効率的に行うことで、評価の精度と速度を向上させます。

⭐今週のピックアップ

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高速デバイスの信号評価とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

電気的検査・テスタにおける高速デバイスの信号評価とは？

各社の製品

電気的検査・テスタにおける高速デバイスの信号評価

電気的検査・テスタにおける高速デバイスの信号評価とは？

課題

高速信号の忠実な再現性不足

ノイズ・クロストークの影響増大

測定環境の複雑化とコスト増

評価時間の長期化とスループット低下

対策

高帯域幅・低ノイズ測定器の活用

高度な信号処理・解析技術の導入

自動化・最適化されたテストシーケンス

シミュレーションと実機評価の連携強化

対策に役立つ製品例

広帯域オシロスコープ

信号発生器（任意波形発生器）

自動テストシステム

信号解析ソフトウェア

高速デバイスの信号評価とは？課題と対策・製品を解説

外観・画像検査

電気的検査・テスタ

非破壊検査

物理・環境試験・分析

電気的検査・テスタにおける高速デバイスの信号評価とは？

各社の製品

電気的検査・テスタにおける高速デバイスの信号評価

電気的検査・テスタにおける高速デバイスの信号評価とは？

​課題

高速信号の忠実な再現性不足

ノイズ・クロストークの影響増大

測定環境の複雑化とコスト増

評価時間の長期化とスループット低下

​対策

高帯域幅・低ノイズ測定器の活用

高度な信号処理・解析技術の導入

自動化・最適化されたテストシーケンス

シミュレーションと実機評価の連携強化

​対策に役立つ製品例

広帯域オシロスコープ

信号発生器（任意波形発生器）

自動テストシステム

信号解析ソフトウェア

課題

対策

対策に役立つ製品例