高速デバイスの信号評価とは？課題と対策・製品を解説

医療機器業界では、製品の品質と信頼性が最重要視されます。特に、精密な電子部品を使用する医療機器においては、ICの正確なテストが不可欠です。テストの精度が低いと、機器の誤作動や性能低下につながり、患者さんの安全を脅かす可能性があります。株式会社NSテクノロジーズのICテストハンドラNS-8080SHは、高いスループットと温度管理機能を備え、医療機器製造におけるICテストの効率化と品質向上に貢献します。

【活用シーン】
・医療用電子機器のICテスト
・精密電子部品の選別
・品質管理部門での検査

【導入の効果】
・テスト時間の短縮
・不良品の早期発見
・製品の信頼性向上

『PCR』は、今後の5G、IoT時代に向けたハイスペックなパッケージに最適なテストソリューションです。低インダクタンス、低抵抗及び低接触特性を必要とする高周波検査に優れた性能を発揮します。また、シンプルな構造により、メンテナンスが容易で、ソケット交換時の生産ラインの停止時間が短縮でき生産性向上を可能とします。

【特長】
■測定基板などにダメージを与えない
■優れた価格優位性
■メンテナンスが用意
■生産性向上が可能

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

本製品は、超高解像度8K4K/60Hzに対応した、V-by-One(R) HS 32laneの
インターフェースを持つ、簡易型の信号発生基板です。

お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成や
タイミング設定が自由自在。

また、4K2K/120Hzのモジュールにも対応いたします。

【標準仕様】
■DC12V単一電源駆動
■データの書き換えはPCからのUSB接続で実施
■PCを用いた外部制御に対応
■オプションでスイッチ操作部を延長するRemote Boxに対応

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『EL-KFシリーズ』は、評価用テスト基板への取付けが簡単な同軸エンドランチコネクタです。

独自のロッドクランプ機構により、機械的に挟み込むだけでテスト基板を固定。
はんだ付けやネジ止め不要で、取り付け時間を短縮できます。

2.92mmタイプで最大40GHzの周波数に対応しており、
多くのアプリケーションに対応可能です。

※『EL-KFシリーズ』の詳細は英語版のPDF資料をご覧ください。
　お問い合わせもお気軽にどうぞ。

ディ・アイジャパン株式会社が取り扱う『Burn-In Board』をご紹介します。

精巧なドッキング及び高い信頼性を保証できる「HI-FIX BOARD」や、
ウェハテスト時にテスターのステーションとプローブカードを接続して
信号と電源等を中継する必須パーツ「Wafer Mother Board」などを
ラインアップしています。

【ラインアップ】
■MEMORY用 BIB
■LOGIC用 BIB
■Wafer Mother Board
■HI-FIX BOARD

※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

「大容量　半導体カーブトレーサ　CS-10000シリーズ」は、
超高電圧・大電流CS-3100の機能に下記HVとHCの機能を追加しました。
○HVモード：10kV（+DCのみ）
○HCモード：8,000A（CS-10800）、4,000A（CS-10400）、
　　　　　　　　パルス幅 / パルスインターバル /測定ポイント　可変可能
測定項目は、最大ピーク電圧:10kV（高電圧モード）、
最大ピーク電流:8000A（CS-10800大電流モード）です。
その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

PFDAはシンクランド製Two-Tone光源とRohde＆Schwarz製ベクトルネットワークアナライザを組み合わせたオリジナリティ溢れるシステムとして開発されました。

RFプローブに合わせて使用頂けるDCRF混在プローブ
（電源と高周波の混在プローブ）

特長
・完全国内生産
・DC−40GHz
・GSG, GSSG等のRFにDCを加えたプローブです。
・お客様のPADレイアウトに合わせて製作致します。
・ご指定箇所へキャパシターを実装可能。
・短納期
・ローコスト（イニシャルコスト不要）

テレダイン・レクロイのQualiPHY-DDR2、DDR2試験パッケージは、最高のDDR2メモリ・インタフェース試験ツールです。400MHz、533MHz、667MHz、800MHz、1066MHzと任意の速度に対応しています。QualiPHY-DDR2は、クロック（JEDECの仕様とインテルの仕様：JEDEC仕様の付録によって規定される電気およびタイミング・テスト）に完全に準拠したテストを行うことができます。テレダイン・レクロイのQualiPHYフレームワークは、シンプルなユーザ・インタフェースを持つので操作が簡単で、かつのカスタマイズや判定条件の変更に柔軟性に対応できます。また、グラフィカルな結線図を示すことにより確実な装置の接続を支持し、各項目でワーストケースの不良測定結果の画面を含む全ての計測結果をレポートにまとめることができます。そのうえ、QualiPHY-DDR2によってされる全ての波形データは、後から再試験ができるように保存することができます。
詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

『iM1283』は、コストを抑えてスピーディーに導入できる
eDP(embedded Display Port/5.4G)出力の簡易信号発生装置です。

編集ソフトを同梱しており、お客様が実施する試験環境に合わせて、
パターン作成やタイミング設定が自由自在です。

また、簡単な操作とコンパクトデザインは、省スペースで
すぐにご利用できます。

【製品仕様(一部抜粋)】
■8bit 出力(4lane Display Port 5.4Gbps相当)
■eDP設定(RGB, 1.62Gbps, 2.7Gbps, 5.4Gbps, 2.16Gbps, 2.43Gbps, 3.24Gbps, 4.32Gbps)
■補助電源出力機能(DC12V)
■パターン/タイミングの編集に対応
■DisplayPortのAUX通信プログラム可能

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

定電流電源・検査装置は、数10μAの超微電流定電流電流駆動によるLED静電破壊評価ができます。LED直列多灯点灯回路の駆動、各チャンネル毎に定電流値設定も可能です。微電流・定常電流（10～30mA）の切り替え動作ができます。表示器の有無や自動制御等ご要望によりカスタマイズ承ります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

当製品は、高温、高周波、大電流等の様々な条件に対応した半導体検査用
コンタクトプローブピンです。

「2.54ピッチ用」をはじめ、「1.27ピッチ用」や「KHP-700シリーズ」など
幅広いラインアップをご用意しております。

その他にも多数取り揃えておりますので、お気軽にお問い合わせください。

【特長】
■幅広いラインアップ
■サイズ、先端形状、材質、荷重等のオリジナル製作に対応
■高温、高周波、大電流等の様々な条件に対応
■ICソケットのカスタム製作が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

スプリングコンタクトプローブのカタログを無料進呈中！！
★ご希望の方は、お問い合わせ下さい★
★一部のカタログはダウンロードからご覧いただけます★

【概要】
世界最大のワイヤーハーネス検査用プローブメーカーFEINMETALL社(独)の日本総代理店。
幅広い製品ラインアップによりワンストップソリューションを実現。特注仕様も承ります。大電流・高周波・回転・スイッチ・非磁性・耐熱...プローブのことなら何でもご相談下さい。

【製品例】
◆外径1.0mmのスイッチプローブ
◆600Aまで対応する大電流プローブ
◆20GHzまで対応する高周波プローブ
◆直径0.20mm・全長3.3mm・バネ圧60g・寿命100万回以上の半導体プローブ

「半導体カーブトレーサ　CS-5000シリーズ」は、IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど
各種半導体の特性測定に最適です。
V-Iカーブ観測及び、電圧、電流の印加波形も観測することができます。
測定項目は、最大ピーク電圧:5000V（高電圧モード）、
最大ピーク電流:1500A（CS-5400大電流モード）です。
その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

最新のIGBTや、パワーMOSFETなど高電圧、大電流のパワーデバイス特性測定だけでなく、トランジスタやダイオード、LEDなど各種半導体の特性測定にお役立ていただけます。

当社では、半導体テスターを取り扱っております。

半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、
負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。

製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。
ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■半導体後工程でのAC特性検査用テスター
■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ
■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ロジック用　レーザクリーニングシステムＩＭＴ８００ＭＶ


＜＜＜＜　特徴　＞＞＞＞

□ ブラッシング、ケミカルクリーニング不要　
■ クリーニングプロセスへの移行が短時間で可能
□ クリーニング後の廃棄物・臭気がありません
■ ソケットピン表面のダメージ、
　　不完全クリーニング排除による能力向上

ロジック用ならでは。
●　マニュアルクリーニングプロセス
○　高速クリーニング（約10秒＠ソケット）
● プローブカードクリーニングも可能

『SV100』は、Ultra book/Tablet/TV向けLCDモジュールに対応した、
V-By-One(R) HS 16laneインターフェースを持つパターン編集ソフトを
同梱したV-By-One(R) HS信号発生装置(16Lane出力)です。

お客様が実施する試験環境に合わせて、パターン作成やタイミング設定が
自由自在に行えます。

【特長】
■ネットワーク対応
■パターン／タイミング編集に対応

※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

エム・イーシステム株式会社は、精密機器の製造工程で使用する治工具の設計・製作、また半導体後工程で使用する精密製造装置の設計・製作を主に精密機械・精密板金の加工を行っています。
水平搬送式テストハンドラーは、ICのパッケージ後の検査工程で、テスターと接続して使用し、テスターからのテスト結果信号に基づきICを良品と不良品に自動選別する装置です。
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

半導体検査用プローブは測定環境に合わせて選定が可能です。

・弊社独自の合金材料を用い、PBフリーへのコンタクト性を高めたプローブ
・熱の影響による荷重低下を避ける特殊バネを採用した耐熱プローブ
・磁気センサー部品の検査にも使用可能なハイレベルな非磁性材料プローブ
・信号伝送特性を最大限向上した短尺高周波プローブ

ユーザ様の様々なご要望にお応えします。

【特長】
■長年の実績に裏付けられた優れた品質
■豊富なラインナップ
■測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等、各種選定可能
■標準仕様以外にも全長・先端径・バネ圧の任意設定が可能な、特殊仕様品にも対応

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧ください

デュアルRFプローブ
（高周波プローブ）

特徴
・完全国内生産
・針先端：GSSG、GSGSG
・周波数：DC-40GHz
・インサションロス：2dB以下
・リターンロス：12dB以上
・ピッチ：75-600μm
・コネクタ：Kコネクタ
・高耐久
・ローコスト
・修理、リフレッシュ可能
・特殊使用承ります。

DDR3信号の試験では非常に多様な計測を行わなければならないだけでなく、非常に多数のサイクルに渡る信号を対象にしなければなりません。こうした大量のデータ処理を短時間で行うことができると、捕らえられた測定値のワーストケースの信頼性が高くなります。多くの場合、QualiPHY-DDR3は、他の計測ソリューションが100個の計測を行う間に数千の計測を処理することができます。このことは、時間をかけて何度も繰り返し計測を行うのと同じ信頼性を1回の計測で済んでしまうことを意味し、大きな省力化につながります。
詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

フェムト〜ピコアンペアオーダーの電流を測定

■測定範囲は-250pA〜+250pA　ノイズレベルは5fAp-p

■最大8点の電流を同時測定

■専用パソコンによりデータ収集

※詳細はカタログをご覧下さい。

当カタログは、特徴あるコンタクトラインナップで多様なデバイスに対応します。
まずはご要求仕様をお聞かせください。

■パワーデバイス向け：板ばね式ケルビンソケット
■狭ピッチデバイス向け：Iコンタクト/Lコンタクトソケット

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『ITS-8101』は、9.95Gbps～11.3Gbpsのビットレートに対応し、簡単に
ビットエラーを測定できるテストツールです。

主に、高速通信デバイス評価や光モジュール評価のアプリケーションとして
用いられています。

各種設定や制御を行う機能を外付けPC（オプション）とし、本体の機能を
限定することで廉価や構成を実現しました。

【特長】
■9.95Gbps～11.3Gbpsの各ビットレートに対応
■出力振幅 400mVpp AC結合

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

■受光素子：InGaAs PIN PD

■受光波長範囲：
900[nm] ～ 1650[nm](LPD-1)
950[nm] ～ 1650[nm](LPD-2)

■適合ファイバー径
80[um]以下（LPD-1)
500[um]以下(LPD-2)

■受光NA範囲
最大0.2まで（LPD-1)
最大0.25まで（LPD-2)

■受光感度：
500[mV/mW] @1310[nm](LPD-1)
1000[mV/mW] @1310[nm](LPD-2)

■周波数帯域：
DC ～ 1.5[GHz](LPD-1、LPD-2)

近年、製品が小型化するに伴い、使用される部品も年々小型化されております。
しかし、小型化した部品の測定や分析は、既存のプローブでは難しくなっていませんか？
『積層プローブ』は従来のプローブでは対応出来なかった最小ピッチ0.05ｍｍに対応可能で、かつ大電流を印加するパワー半導体のプローブとしても性能を発揮するため、今まで測定できなかった小型の半導体も測定可能です。

【特長】
■接触抵抗値の安定により精密な測定を実現
■大電流、高電圧に対応可能
■最大0.05ピッチの狭ピッチに対応可能　など

※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。

日に日に進化を続けるハイエンドデバイスの高速化と微細化。
一方それに対応すべくテスティング技術もまた、進化をしています。

理化電子社は、ハイエンドデバイス・テスティングのイノベーターとして、先端の技術と熱い心をもって、お手伝いをさせていただきます。

IC ソケット及び各種プローブは、九州事業所・熊本工場にて、基礎研究から設計、製作、検査にいたるまで、すべてを一貫したラインにて行っております。一元化することにより、短納期・低価格はもちろん、お客様のニーズやテーマに即したトータルソリューションを実現しました。

IC ソケット周辺の各種ボードの設計・製作も承ります。
詳細は、お問い合わせ下さい。

当社はプローブシステムに用いる様々なRFポジショナーを揃えております。

一例：SP-67A
柔軟なチップを備え、低損失の同軸技術を用いて1.1db未満の挿入損失と、67GHzで14dbを超えるリターンロスを実現。
プロービング表面への確実な接触を保証する独立したバネ式チップを有しており、チップには柔軟性があるため、回路損傷を最小限に抑え、プローブ寿命を延ばします。

また、標準のマイクロ波プローブステーションで用いるべく様々な
アダプタに取り付けることが可能。搭載はカスタマイズできます。

【特長】
■耐久性のあるRFプローブ
■独立したバネ式コンタクト
■豊富なフットプリント
■同軸設計
■13種のアダプタ様式で利用可能　など

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

当社で取り扱う『BA-4000 Bit Analyzer』をご紹介いたします。

Baud-Rateは28G–56G、Channel数が4ch/8chでそれぞれ
アップグレードもでき、また変調方式はNRZ/PAM、NRZは
PAM4へアップグレード可能。

オプションにて、FECシミュレータやFECジェネレータも
承っております。

【製品ラインアップ】
■4×28GBd BERT
■8×28GBd BERT
■4×56GBd PAM4 BERT
■8×56GBd PAM4 BERT

※英語版カタログをダウンロードいただけます。
　詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

高速メモリ転送の主流となりつつあるラムバスに焦点をあて、ラムバスの原理から、測定におけるポイントなどをイラストによってわかりやすく解説した入門書シリーズです。（全7冊）

この機会に是非ご覧いただき、ご自身の知識の向上や技術者教育にお役立て下さい。

◆冊子プレゼント◆
今なら入門シリーズ（全7シリーズ）を一冊にまとめた冊子を無料で差し上げています。
ご希望の方は下記のお問合せフォームよりお申込みください。

'-40～90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います

LDをCW～Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です

『AT-143』は、レーザーダイオード(LD)の特性評価に必要な
5つの機能を有するレーザーダイオードテスターです。

マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能。
また、標準測定機構部(別売)に接続すればフィールドパターン測定が
できます。

さらに、標準測定ソフトウェア(別売)を使用すれば簡単に
温度特性評価ができます。

【特長】
■マニュアル操作によりI-L/I-V 測定が可能
■標準測定ソフトウェアを使用すれば簡単に温度特性評価ができる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

ロジックアナライザ用　DisplayPort解析プローブ

■ DisplayPortのパケット・データ測定可能！！
■ X1, X2, X4 DisplayPort対応
■ Data測定　最大2.7 GT/s対応
■ ロジックアナライザ用ソフトウェア付属
■ ディスプレイポートの状態を表示
■ ディスプレイデータとAUXチャネルを両対応

保護回路の動作特性をシミュレーションする装置です。
集積回路に組み込まれた保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。
VFTLP試験も可能です。

【ラインナップ】
○HED-T5000/T5000VF
○Wafer Type
○Package Type

詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

本資料では、オシロスコープ初心者向けにプローブの基礎知識を
図やイラスト付きでわかりやすく紹介しています。

「同軸ケーブルを接続する際の注意点」「プローブ性能で重要なポイント」
「10:1パッシブ・プローブの扱い方」など正しい測定に必要な情報が満載です。

【目次（抜粋）】
◎やってはいけない信号の取り出し方
◎信号を伝えるということ
◎基本の10:1パッシブ・プローブを理解する
◎要注意！1:1／10:1感度切替えプローブ
◎そもそも周波数帯域はどこまで必要か
◎ちょっと待った！その接続
◎アクティブ・プローブは理想に近づいたプローブ
◎最近多くなった差動信号

※本資料は「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。

清田製作所（Kiyota)から、パワー半導体測定用　Φ4.0　スプリングプローブ（Spring Probe)が新製品として開発・製造されました。　特長　電流：25A　最大：2.0ｍΩ

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に
他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。

日本における代理店:
ベクターセミコン株式会社
東京都荒川区西日暮里2-43-2
TEL 03-5604-1701
FAX 03-5604-1707

ロジックアナライザ用　DDR3解析プローブ

■ 最速DDR3 1867 DIMMモジュールまで測定可能！！
■ 全ての240ピン DDR3 SDRAM DIMM対応
■ インターポーザのため、解析用のスロット不要
■ 全ての信号を測定可能
■ ロジックアナライザ専用ソフトウェア付属
　・タイミング測定
　・プロトコル測定
　・コンプライアンス測定

『ESI-2020』は、OSにMicrosoft Windows7,10を採用した
高速インサーキットテスターです。

従来の当社ICT「ESI-2002」に比べ、約25%の検査時間の短縮を実現。
通信方式にEthernetを採用し、4端子低抵抗測定機能を標準装備しました。

立ち作業向けタテ型機「ESI-2020ST」やインライン機「ESI-2020STB」など、
ご使用の条件に合わせて4つのモデルから選択可能です。

【特長】
■Windows 7,10にて動作
■超高速検査を実現
■通信方式にEthernetを採用
■4端子低抵抗測定機能を標準装備
■ESI-2002のデーターの共有化と多彩な編集機能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『MEMSプローブ』は、マイクロプロセッサや、アプリケーションプロ
セッサ等の、半導体ウエハ検査に最適なMEMSプローブです。
本製品は、独自構造により低抵抗・低インダクタンスを実現します。

また、当社では高精度で安定した品質のプローブを製造し、微細なMEMS
スプリングプローブの加工から検査まで行っていますので、
お気軽にお問い合わせ下さい。

【特長】
■独自構造
■半導体ウエハ検査に最適
■超ファインピッチに対応
■低抵抗・低インダクタンスを実現

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社は、広い周波数帯域、ピッチ、優れた耐久性、すべてバランスよく備えたRFプローブ・校正基板を低価格で販売しております。独自の先端形状により、コンタクト時少ないスケーティング量で安定したコンタクトが可能となっており、デバイスへのダメージ軽減や高い再現性を図ります。校正アシストソフトウェアは「Allstron TITAN Probeシリーズ」の製品データが既に登録されており、プローブを選択するだけですぐにご使用頂けます。

【製品一覧】
■Allstron RF Probe「TITAN」
■Allstron RF Probe「TITAN-RC」
■RF Calibration Substrates「AC」
■Calibration software「QAlibria」

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

当社では、高周波対応プローブや耐熱プローブ、同軸プローブ、
超極細プローブ(φ0.2～)など、多種多様な『コンタクトプローブ』を
取り扱っております。

また、デバイスの形状に最適なオーダーメイドプローブの製作も可能
ですので、ご要望の際はお気軽にご相談ください。

【ラインアップ】
■KHP-001～30シリーズ
■KHS-シリーズ
■KH-007シリーズ
■KH-700シリーズ
■KH-2000シリーズ　など

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

小型タイプであらゆる方向から使用可能な
RoHS対応のオシロプローブ用、チェック端子

【特徴】
○2.54ピッチ又はハーフピッチなため
　使用場所を選ばない
○10色のカラーで回路分けが可能
○ハイポジションタイプもあり
　プローブの引っ掛けが容易にきる
○ピン
　材質：リン青銅(C5191)
　処理：金メッキ0.1μ(下地ニッケル2μ)
○台
　材質：PBT(ガラス繊維30％入）
　色：10色
　熱変形温度：1.82Mpa…200℃(耐ハンダ性)
　UL規格：UL94V-0(材料)
　RoHS対応製品

●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。

『BA-4000』は、NRZおよびPAM4コーディングをサポートし、高度な
FECツールを備え800Gまでのテスト能力を持つ電気BERテスターです。

800GbE/400GbE等のPAM4変調方式を用いた高速伝送規格の対応デバイス
(光トランシーバ・OSA・FPGA等)の試験・評価に好適。

ユーザーインターフェースは、各チャンネルのテスト結果をシンプルかつ
リアルタイムに表示します。

【特長】
■800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート
　(～56GBd, NRZ/PAM4, ～8チャネル)
■バーストエラー分析に必須のFECシミュレーション機能
■生成信号の高品質なアイパターン
■RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用
■PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQをサポート

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

MPI独自のMEMS技術によりプローブ・チップは視認性が非常に高く、誰でも簡単にプロービングが可能に
他社に引けをとらない高精度で堅牢なチップは長寿命で安価な価格設定のため、高い費用対効果が得られます。

日本における代理店:
ベクターセミコン株式会社
東京都荒川区西日暮里2-43-2
TEL 03-5604-1701
FAX 03-5604-1707

『ITS-8001』は、125M～2.7Gbpsのビットレートに対応し、簡単にビット
エラーを測定できるテストツールです。

各種設定や制御をする機能を外付けPC（オプション）とし、本体の機能を
限定することで廉価な構成を実現しました。

主に通信用光モジュール試験や通信用デバイス試験に使用されます。

【特長】
■125M～2.7Gbpsの各ビットレートに対応
■出力振幅が800mVpp

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

扱いやすいミニプレス仕様から省スペース設計まで、お客様のご要望にお応えします。

本製品は、CD-SEM,レビューSEM用の高圧電源装置です。加速電源、フィラメント電源、サプレッサ電源、エキストラクタ電源で構成されております。

●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。