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キズの検出とは?課題と対策・製品を解説

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外観・画像検査におけるキズの検出とは?
各社の製品
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当社では半導体組立・検査の技術を生かし、微細な組立、検査を行います。
もちろんクリーンルーム内での作業です。
これまでに、ミクロンオーダーの部品接合、接着組立。微細半田付け。
部再部品、ICチップの外観検査など実績があります。
■特徴
Sony社のCMOSセンサーIMX487を搭載した8.1MPカメラのUV対応モデル。
グローバルシャッターかつ最大133.2fps出力に対応する高速性を兼ね備えており、ノイズを大幅に抑えた高画質な撮像が可能です。
UV(紫外線)波長に対応する高速・高画素カメラ。接着剤や油の塗布検査など「見えない対象物」の高速検査に好適で
UVカメラが用いられてきた半導体などの検査をはじめ、高速性が求められる新たな領域にもご検討いただけます。
当社では、プリント基板の検査及び加工を行っております。
顕微鏡/拡大鏡を用い車載用/産業用/半導体部品用PWB(プリント基板)の
外見検査をお客様のスペックに基づき良否判定を実施。
自動外観検査装置(AVI)も導入しております。
検査環境は、清浄度10,000程度、エアクリーナー、エアーシャワーを
完備しております。
【特長】
■基板以外でも顕微鏡や拡大鏡が必要な細かい部品の検査、選別なら対応
■検査以外の業務に関しては、国内外に協力会社がございますので、
プリント基板の設計(国内)製造(国内外)実装(国内)等を
提案しトータルサポート
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
『CCVIS-A5V』は、最大8,000個/分の処理能力を有した
チップ部品外観検査システムです。
個別判定処理及び総合判定処理や設定感度入力検査条件設定、
検査シミュレーション機能などの検査機能をはじめ、検査状態監視や
ハード機器監視、などの診断機能を搭載。
超高速で取り込み可能な3CCDカメラと、高輝度のRGB LED照明により、
高精度かつ高速な検査を可能にしました。
【特長】
■3CCDカラーカメラと独自の撮像方式
■高速搬送技術
■容易な条件設定
■容易な品種切替
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社で取り扱っている『レコード針』は、およそ2,000種類(約30メーカーに
対応)のモデルがあり、その全てを1本単位で一貫生産しております。
1本のレコード針には最小で2個、最大で45個のパーツが必要であり、それらは
職人と呼べる熟練した社員が、ひとつずつ手仕事で組み上げを実施。
その製造工程に必要な工具や治具、検査機器は全て自社で設計、製造し、
多品種の品質維持には不可欠なものとなっています。
【特長】
■およそ2,000種類(約30メーカーに対応)のモデルあり
■全てを1本単位で一貫生産
■職人と呼べる熟練した社員が、ひとつずつ手仕事で組み上げ
■製造工程に必要な工具や治具、検査機器は全て自社で設計、製造
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社では、プリント基板検査装置を提供しております。
特に、2Dだけでなく3D検査も可能なプリント基板検査装置『ATHENA』は、
表面の打痕やキズだけでなく、凹凸の検査まで可能な装置で、
某大手半導体メーカー様にも採用されています。
今回、弊社製品『ATHENA』と、他社製品をわかりやすくまとめた比較資料を作成いたしました。
プリント基板の検査に携わる方必見の資料となっています。
是非ご一読ください。
【比較資料項目(一部)】
・カメラ画素
・ワークサイズ
・特長
・検査可能項目
・検査対象
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。





