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エレクトロニクス検査・試験

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めっき層の厚さとは?課題と対策・製品を解説

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非破壊検査におけるめっき層の厚さとは?

エレクトロニクス製品の信頼性向上には、めっき層の厚さ管理が不可欠です。非破壊検査は、製品を破壊せずにめっき層の厚さを正確に測定し、品質基準への適合性を迅速に確認するための重要な技術です。

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【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレイを搭載した頑丈な筐体を採用。また、光・音・振動による上下限値設定時のフィードバック通知機能、交換可能なリチウムイオンバッテリー、USBまたはBluetoothによるPC通信を可能としてデータ転送や測定値評価など、数多くの機能を搭載。

※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。

SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

蒸着装置やスパッタリング装置などの真空成膜プロセスにおいて、膜厚モニターとして広く使われているQCM方式の膜厚計用の水晶振動子です。周波数は5MHzと6MHz、電極膜材料は金(Au)と銀(Ag)を揃えております。
弊社販売品については再生もお受けいたします。

膜厚モニター用水晶振動子

ピエゾパーツの『膜厚モニタークリスタル』は、真空成膜時に使用され
物理膜厚を検知するセンサーです。

専門メーカーによる発振のばらつきを抑えたセンサーを提供しており、
5MHzと6MHzの2タイプが用意されています。

特殊品として、結晶の軸方向を特定することで水晶の温度特性や副振動を
改善し精度を向上させることが出来る「両面オリフラ加工品」や、
鏡面研磨をすることによって発振強度を高めることが出来る
「ポリッシュ加工品」があります。

【特長】
■5MHzと6MHzの2タイプ
■両面オリフラ加工品やポリッシュ加工品あり
■より発振のバラつきを抑えたセンサー

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

膜厚モニタークリスタル 【6MHz】

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非破壊検査におけるめっき層の厚さ

非破壊検査におけるめっき層の厚さとは?

エレクトロニクス製品の信頼性向上には、めっき層の厚さ管理が不可欠です。非破壊検査は、製品を破壊せずにめっき層の厚さを正確に測定し、品質基準への適合性を迅速に確認するための重要な技術です。

課題

測定精度のばらつき

めっき層の微細な厚さ変化や表面状態の違いにより、測定値にばらつきが生じ、品質管理の精度が低下する可能性があります。

検査時間の長期化

手作業による測定や、複数の測定ポイントを設定する必要がある場合、検査に時間がかかり、生産ラインのボトルネックとなることがあります。

特殊めっきへの対応困難

複雑な形状や異種金属の組み合わせなど、特殊なめっき層の厚さ測定には、従来の測定方法では対応が難しい場合があります。

データ管理とトレーサビリティ

測定データの記録や管理が煩雑になり、製品のトレーサビリティ確保や品質改善への活用が困難になることがあります。

​対策

高精度測定技術の導入

最新の非破壊測定技術を採用し、微細な厚さ変化も高精度に捉えることで、測定精度のばらつきを抑制します。

自動化・高速化システムの活用

自動測定装置や高速スキャン技術を導入し、検査時間を大幅に短縮することで、生産効率を向上させます。

多機能測定装置の選定

様々なめっき材料や形状に対応できる、多機能な非破壊測定装置を選択することで、幅広い検査ニーズに対応します。

データ統合管理システムの導入

測定データを一元管理し、自動でレポート作成や履歴管理を行うシステムを導入することで、トレーサビリティを強化します。

​対策に役立つ製品例

電磁誘導式厚さ計

非磁性めっき層を磁性体基板上に測定する際に、電磁誘導の原理を利用して非接触で高精度な厚さ測定を実現します。

蛍光X線分析装置

めっき層に含まれる元素の種類と量を分析し、その情報から厚さを推定することで、多層めっきや合金めっきの測定にも対応します。

超音波厚さ測定システム

超音波パルスをめっき層に照射し、反射波の到達時間から厚さを測定することで、金属以外のめっき層や非接触測定が可能です。

光学式測定顕微鏡

高解像度の顕微鏡と画像解析ソフトウェアを組み合わせ、めっき層の断面や表面形状を詳細に観察し、厚さを精密に測定します。

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