曲げ疲労寿命の予測とは？課題と対策・製品を解説

ICカードのモジュール部に特化した曲げ特性に関するストレス耐久試験をおこなう装置です。 設定回数に達すると自動停止する機能を有します。 セキュリティカードとして利用されるICカードでICモジュールの接合強度や カードアンテナとの断線不良にも耐えうるカードで安心を提供。 安全機構として、非常停止スイッチとインターロック式カバーを採用。 試験機のカスタマイズ対応も可能です。 【特長】 ・ICカードの曲げ特性に関するストレス耐久試験が可能 ・セキュリティカードとして利用するICカードをより安心へ ・試験機のカスタマイズ対応 ※詳細はお問い合わせもしくはPDFをダウンロードしてください。

『CBT-500型』は、接続された線材の抵抗値を高精度ではかるための 測定装置です。 被測定線材に低電圧大電流をパルス状に印可し、これによって被測定電線の 抵抗値を高精度で計測。 また電流を継続的に流さないため、被測定電線へのダメージはありません。 単体で被測定電線に対する抵抗値測定器として、また経時変化測定用の テスターとしてGO/NG判定ができます。 【特長】 ■被測定線材に低電圧大電流をパルス状に印可 ■被測定電線の抵抗値を高精度で計測 ■電流を継続的に流さないため、被測定電線へのダメージはない ■単体で被測定電線に対する抵抗値測定器として、また経時変化測定用の 　テスターとしてGO/NG判定ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

●卓上コンパクトの設計です。 ●厳しい耐屈曲性、耐熱性要求に対する評価に最適です。 ●試料サイズ・試験法に合わせた治具製作が可能です。

『KLES』は、お客様が諦めかけた大切な電子機器の装置延命の一環として 修理・予防保全・再設計を行っているサービスです。 Equipment Doctor’s(機器の専門ドクター)のプロフェッショナル集団として 様々なお客様のニーズに答えるために始めた当社だからこそ可能。 メーカーの修理サポートが終了した電子計測器・産業用電子機器の修理はメーカーを問わずお任せください。 【特長】 ■豊富な修理実績と高い完遂率 ■国内外のメーカー問わず、全てのメーカーサポートが終了した電子機器の診断が可能 ■電子計測器は修理後に校正を行い成績書をご案内 ■故障を防ぐ予防保全や劣化診断、予備基板の再設計もご提案 ■PLC、サーボアンプなど汎用機器の修理後動作試験も可能 【こんな点にお困りの方】 ■システムに組み込まれていて20～30年使用する必要がある ■年数が経っていてどこも面倒を見てくれない ■代替機がない ■使用機器登録の関係でこの測定器でしか測定できない　　等 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『BE-803』は、フレキシブルプリント配線板(FCL/FPC)等の耐屈曲性を 評価する装置です。 「BE-802」を恒温槽に組込み、実使用を想定した条件下で試験を行い、 基板の屈曲半径・屈曲速度・ストロークをパラメータとして評価します。 【特長】 ■フレキシブルプリント配線板(FCL/FPC)等の耐屈曲性を評価 ■「BE-802」を恒温槽に組込む ■実使用を想定した条件下で試験を行う ■基板の屈曲半径・屈曲速度・ストロークをパラメータとして評価する ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

＜ヘリカルコイル巻き戻り角度法＞ ・規定の回転速度でマンドレルに5回巻き付けて、印を付けてからおもりを取り外します。 ・張力をゆっくりと開放し、5回転目の端の戻り角の目盛を読み取って軟らかさを評価します。 ＜参考規格＞C3216-3、IEC-60851-3 ＜スプリングバック法＞ ・マンドレルに巻かれるように試験片の一端を止め穴に差し込み、他端におもりを吊るします。 ・試験片を毎分5～10回の回転速度でマンドレルに3回巻き付けて、印を付けてからおもりを取り外します。 ・マンドレルに巻いた試験片をゆっくり戻し、印の止まった位置の目盛を読み取って軟らかさを評価します。 ＜参考規格＞JIS-(C3003)、C3216-3(附属書JA 代替試験方法)、IEC-60851-3 【カタログダウンロードについて】 下記関連リンクまたはお問い合わせからカタログ請求をお願いいたします。 ※単品カタログがない製品については総合カタログを請求ください。

菱進テックでは、寿命試験をはじめとする信頼性試験を行っています。 シグナルジェネレータや、ハイパワー高温高湿炉・液層熱衝撃炉、 静荷重試験機などの設備を用いて試験を行います。 【試験一覧】 ■寿命試験 ■強度試験 ■静電気 ■はんだ耐熱 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社の「電子機器・電子部品の試験」についてご紹介いたします。 長年にわたって、家電業界屈指の開発者たちと提携し、長寿命の急速充電 バッテリー、折り曲げが可能な革新的なディスプレイ、タッチ機能が向上した デバイス、携帯性を向上させる高密度パッケージなど、新しい技術がもたらす 試験の課題に取り組んできました。 この協業の一環として、柔軟性を考慮し試験システムを設計し、将来にわたって 先端の技術を試験するために、当社のシステムを容易に適合させることが可能になります。 【推奨アクセサリー】 ■グリップと治具 ■特注治具 ■自動化 ■広い環境下での試験 ■Bluehill Universalで試験室間でメソッドの共有可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『YC2000 シリーズ』は、ACC、APC駆動のみではなく、LIV測定も 行うことが可能な高出力LDエージング装置です。 各素子への温度制御はペルチェ制御方式とし、素子毎に対する 温度制御安定性を確保。試験条件はユニットごとに設定が可能なため、 複数水準での試験を並行して行うことができます。 長期高温動作寿命、温度サイクル動作、温度特性（ステップ、勾配）等、 一連の特性試験を高分解能にて計測いたします。 【特長】 ■赤色、青色の高出力レーザダイオード用の信頼性評価装置 ■複数水準での試験を並行して行うことが可能 ■ACC、APC駆動のみではなく、LIV測定も行うことが可能 ■素子形状に合わせ、テスト治具の設計対応 ■長期高温動作寿命、温度サイクル動作、温度特性（ステップ、勾配）等、 　一連の特性試験を高分解能にて計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。