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テストカバレッジの向上とは？課題と対策・製品を解説
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検査（試験工程）におけるテストカバレッジの向上とは？
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株式会社エイ・ゼットでは、丸形コネクタのハーネス加工、細物から太物までの同軸コネクタ加工、コルゲートケーブルの加工を中心とした業務を行っております。
部材については、当社で購入する、あるいはご支給頂くなど柔軟に対応可能です。
納品についても、郵送・宅配はもちろんのこと、当社(栃木県鹿沼市)近隣であれば直接納入することも可能です。
個人のお客様も大歓迎です。お気軽にお問合せ下さい。
【事業内容】
○丸形コネクタのハーネス加工
○細物から太物までの同軸コネクタ加工
○コルゲートケーブルの加工
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
株式会社エイ・ゼット 事業紹介
APT-2400F は、高密度実装基板の検査に対応できる業界最高クラスのプロービング精度を誇りつつ、
独自の制御機構・ センシング技術により、あらゆる環境下で信頼性の高い電気検査を実現する、
次世代のフライングプローブテスタです。
岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。
※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
フライングプローブテスタ APT-2400F
APT-2600FD-SL は、APT-2600FD の基本性能をそのままに、対応基板サイズを W635×D610mmまで拡大した大型モデルです。
さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。
搭載部品高さ60mm、基板重量15kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器/電源基板/プローブカードなど、
サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。
岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。
2025年7月31日（木）、東京都千代田区大手町の経団連会館にて開催された
「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」贈賞式において本製品が「日刊工業新聞創刊110周年記念賞」を受賞しました。
審査委員より「検査効率と信頼性を両立した設計思想が素晴らしい」との講評をいただき、
当社の技術力と製品デザイン力が広く認められる機会となりました。
※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-2600FD-SL
タカヤ株式会社は、実装基板の様々な不良を確実に検出する超高速検査を可能にする新モデル「APT-T400Jシリーズ」を発表しました。本モデルは、これまでの高精度なプロービング技術と安定した測定性能を継承しながら、より導入しやすい価格帯を実現したスタンダードモデルです。多様化する製造現場のニーズに応えるべく、検査の信頼性と効率を高める各種技術を搭載しています。
電子機器の高密度化・多機能化が進む中、実装基板の検査には従来以上の精度と信頼性が求められています。一方で、製造現場では人手不足やコスト削減といった課題が顕在化し、高性能でありながら導入しやすい検査装置へのニーズが急速に高まっています。こうした状況を踏まえ、タカヤは長年培ってきたフライングプローブテスト技術をベースに、より幅広い現場で活用できるスタンダードモデルとして 「APT-T400Jシリーズ」 を開発しました。検査品質を妥協することなく、導入のハードルを下げることで、より幅広い製造現場の課題解決に貢献します。
【新モデル】フライングプローブテスタ APT-T400J
APT-2600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査が行える
次世代のデュアルサイドフライングプローブテスタです。
テストカバレッジ向上と共に、基板反転動作による製品破損リスクを軽減し、検査時間も大幅に短縮します。
高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献します。
岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。
2025年7月31日（木）、東京都千代田区大手町の経団連会館にて開催された
「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」贈賞式において、
本製品が「日刊工業新聞創刊110周年記念賞」を受賞いたしました。
審査委員より「検査効率と信頼性を両立した設計思想が素晴らしい」との講評をいただき、
当社の技術力と製品デザイン力が広く認められる機会となりました。
※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD
APT-2400F-SL は、APT-2400F の基本性能をそのままに、対応基板サイズを W635×D610mmまで拡大した大型モデルです。
さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。
搭載部品高さ 上面60mm/下面120mm、基板重量15kgまで対応できますので、
車載/航空機/医療機器/電源 基板/プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。
岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。
※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
フライングプローブテスタ APT-2400F-SL
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検査（試験工程）におけるテストカバレッジの向上
検査（試験工程）におけるテストカバレッジの向上とは？
エレクトロニクス製造・実装業界における検査（試験工程）のテストカバレッジ向上とは、製品の品質を保証するために、潜在的な欠陥や不具合を可能な限り網羅的に検出できる検査体制を構築することを指します。これにより、不良品の流出を防ぎ、顧客満足度を高め、製造コストの削減に繋げることが目的です。
課題
検査項目の網羅性不足
限られた検査時間やリソースの中で、全ての潜在的な欠陥をカバーする検査項目を設定することが困難な場合がある。
複雑化する製品構造への対応
電子部品の小型化・高密度実装化により、目視や従来の検査方法では検出が難しい微細な欠陥が増加している。
検査データの活用不足
検査で得られたデータが十分に分析・活用されず、不良発生の原因究明や再発防止に繋がっていない。
検査員のスキル依存と属人化
検査員の経験やスキルに依存する部分が大きく、検査品質のばらつきや、担当者不在時の対応が課題となる。
対策
検査自動化の推進
画像認識やAIを活用した自動検査システムを導入し、人手に頼らない高精度かつ網羅的な検査を実現する。
検査アルゴリズムの最適化
製品の特性や過去の不良データを分析し、検出精度の高い検査アルゴリズムを開発・適用する。
データ駆動型検査プロセスの構築
検査データを一元管理・分析し、不良傾向の早期発見、原因特定、フィードバックループの構築を支援する。
検査標準化と教育強化
検査基準を明確化し、検査員のスキル平準化を図るための教育プログラムを導入・実施する。
対策に役立つ製品例
自動光学検査装置
高解像度カメラと高度な画像処理技術により、微細な欠陥や実装不良を自動で検出する。検査項目の網羅性を飛躍的に向上させる。
AI駆動型検査ソフトウェア
学習データに基づき、複雑なパターンや未知の欠陥も高精度に識別する。検査アルゴリズムの最適化と検出漏れ削減に貢献する。
製造実行システム（MES）連携検査データ管理
検査データをリアルタイムで収集・分析し、不良発生状況の可視化や原因究明を支援する。データ駆動型検査プロセスの構築を可能にする。
検査支援・教育用シミュレーションツール
仮想環境で様々な検査シナリオを体験させ、検査員のスキル向上と検査基準の標準化を促進する。属人化の解消に寄与する。
