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サブサーフェスダメージの軽減とは?課題と対策・製品を解説

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ウェーハのダイシングにおけるサブサーフェスダメージの軽減とは?
半導体製造プロセスにおいて、ウェーハを個々のチップに分割するダイシング工程は不可欠です。しかし、この工程で発生するウェーハ裏面(サブサーフェス)へのダメージは、チップの性能低下や歩留まり悪化の主要因となります。サブサーフェスダメージを軽減することは、高信頼性・高性能な半導体デバイスの実現に直結します。
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