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半導体・センサ・パッケージングに関連する気になるカタログにチェックを入れると、まとめてダウンロードいただけます。
切削速度の最適化とは?課題と対策・製品を解説
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ウェーハのダイシング
チッピング・クラックの防止
カーフ幅の微細化
サブサーフェスダメージの軽減
広帯域半導体への対応
超薄型ウェーハのハンドリング
ブレードの摩耗と寿命
切削速度の最適化
ダイシングテープの剥離対策
異物混入・汚染の防止
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チッピング・クラックの防止
カーフ幅の微細化
サブサーフェスダメージの軽減
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チップマウント
接合強度の安定化
熱放散(熱抵抗)の低減
反り・クラックの低減
位置決め精度の向上
超薄型チップのハンドリング
フリップチップの安定化
高速化とスループットの向上
ダイボンド材の多様化と最適化
多層積層の複雑化
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接合強度の安定化
熱放散(熱抵抗)の低減
反り・クラックの低減
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ワイヤーボンディング
ボンディング強度の安定化
ワイヤーの断線防止
狭ピッチパッドへの対応
位置決め精度向上
銅ワイヤーの安定利用
微小ワイヤーのループ形状制御
スループットの向上
キャピラリーの摩耗
欠陥検出の効率化
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ボンディング強度の安定化
ワイヤーの断線防止
狭ピッチパッドへの対応
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モールディング
ワイヤースイープの防止
デラミネーションの防止
ボイドの低減
パッケージクラックの防止
超薄型・大型パッケージへの対応
モールディングサイクルの短縮
ダウンタイムの削減
ハロゲンフリー対応
封止樹脂の品質バラつき削減
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ワイヤースイープの防止
デラミネーションの防止
ボイドの低減
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バーンイン
高電力・高熱環境下での安定動作
バーンインソケットの短寿命化
高温による接触不良
発熱の増大
放熱対策の複雑 化
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高電力・高熱環境下での安定動作
バーンインソケットの短寿命化
高温による接触不良
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トリム&フォーム
リードのコプラナリティの維持
リードピッチの精度改善
リードの曲げ・ねじれ防止
バリ・異物の発生抑制
めっき層へのダメージ防止
金型の長寿命化
多品種少量生産対応
鉛フリー材の加工
QFN・DFNへの技術転用
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リードのコプラナリティの維持
リードピッチの精度改善
リードの曲げ・ねじれ防止
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マーキング
印字の視認性向上
印字の耐久性・耐薬品性
印字ムラ・かすれの抑制
微小領域への印字
高スループット化の実現
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印字の視認性向上
印字の耐久性・耐薬品性
印字ムラ・かすれの抑制
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製品検査
テストカバレッジ不足
微細欠陥・間欠不良の検出
高精度・高周波信号の測定ノイズ
データの解析と原因の特定
パッケージ別外部ピンの損傷防止