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半導体・センサ・パッケージング

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発熱の増大とは?課題と対策・製品を解説

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バーンインにおける発熱の増大とは?

バーンインは、半導体デバイスやセンサの初期不良を検出するために、高温・高電圧下で一定時間駆動させる信頼性試験です。近年、デバイスの高集積化・高性能化に伴い、バーンイン時の発熱量が著しく増大しており、製造プロセスにおける新たな課題となっています。

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1991年に設立されたSUNRISEは、JEDECトレイの世界的なリーディングメーカーです。
台湾に本社を構え、世界中の主要なOSAT(半導体後工程受託製造)、ファウンドリー、
ODM(相手先ブランドによる設計・製造)、ファブレス企業にサービスを提供しています。

当社は、半導体業界の厳しい要求に応えるため、高品質で革新的かつカスタマイズされたソリューションの提供に尽力しています。

当社は、ISO 9001、ISO 14001、ISO 14064、ISO 14067の認証を取得しております。

SUNRISEは、優れた製品と高品質なサービスにより、世界の半導体製造分野で高い評価を得ています。

ICトレー SUNRISE PLASTICS INDUSTRY

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バーンインにおける発熱の増大

バーンインにおける発熱の増大とは?

バーンインは、半導体デバイスやセンサの初期不良を検出するために、高温・高電圧下で一定時間駆動させる信頼性試験です。近年、デバイスの高集積化・高性能化に伴い、バーンイン時の発熱量が著しく増大しており、製造プロセスにおける新たな課題となっています。

課題

熱暴走によるデバイス損傷リスクの増大

バーンイン中の発熱が設計限界を超えると、デバイス内部で熱暴走が発生し、性能低下や永久的な損傷を引き起こす可能性があります。

冷却コストの増加と設備投資の負担

増大する発熱に対応するため、より高性能な冷却システムが必要となり、運用コストの増加や初期設備投資の負担が増加します。

試験時間の長期化と生産性の低下

発熱を抑えつつ安全にバーンインを行うために、試験温度や時間を調整する必要が生じ、結果として全体の生産性が低下する懸念があります。

環境負荷の増大と省エネルギー化の遅れ

冷却に必要なエネルギー消費量の増加は、製造プロセス全体の環境負荷を増大させ、省エネルギー化の目標達成を困難にします。

​対策

高効率冷却技術の導入

先進的な液体冷却システムや、熱伝導率の高い素材を用いたヒートシンクなどを導入し、発熱を効果的に除去します。

熱設計の最適化とシミュレーション活用

デバイスの熱特性を詳細に解析し、発熱源を特定・低減する設計変更や、高度な熱シミュレーションによる事前検証を行います。

低消費電力化設計の推進

バーンイン試験中に消費される電力を削減するような、デバイス自体の低消費電力化設計を開発段階から取り入れます。

インテリジェントな試験プロトコルの開発

デバイスの状態をリアルタイムで監視し、必要最小限の温度・時間で試験を完了させる、動的な試験プロトコルを構築します。

​対策に役立つ製品例

高性能熱管理モジュール

デバイスから発生する熱を効率的に吸収・放散し、安定した温度環境を維持することで、バーンイン時の発熱問題を根本から解決します。

先進的熱シミュレーションソフトウェア

デバイスの熱挙動を正確に予測し、最適な冷却設計や試験条件を事前に検討することで、リスクを低減し、効率的なバーンインを実現します。

低発熱型半導体材料

材料レベルでの改良により、デバイス自体の発熱量を抑制し、バーンイン時の熱負荷を軽減する次世代材料です。

スマート試験制御システム

AIを活用して試験条件をリアルタイムで最適化し、無駄な発熱を抑えつつ、必要な信頼性試験を効率的に完了させます。

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