
半導体・センサ・パッケージングに関連する気になるカタログにチェックを入れると、まとめてダウンロードいただけます。
高電力・高熱環境下での安定動作とは?課題と対策・製品を解説

目的・課題で絞り込む
カテゴリで絞り込む
パッケージング材料・部品 |
パッケージ解析/シミュレーションソフト |
めっき・エッチング |
設計・試作・製造受託 |
半導体組立装置 |
その他半導体・センサ・パッケージング |

バーンインにおける高電力・高熱環境下での安定動作とは?
各社の製品
絞り込み条件:
▼チェックした製品のカタロ グをダウンロード
一度にダウンロードできるカタログは20件までです。
拡張ボード AMC-S602
実装ソリューションサービス
高輝度大電流LED向け放熱基板『エムメムス基板』
MEMSマイクロホン
A+SLC技術(疑似SLC)につい て(技術資料)
MEMS気圧センサ(防水タイプ)『HSPPAD143C』
メッキオプションSURECOATT
CubeSat等超小型衛星用太陽センサ
小型衛星用太陽センサ、ACSS
SPI F-RAM
【課題事例】パワー半導体の故障部位が深い / 分析・故障解析

お探しの製品は見つかりませんでした。
1 / 1
バーンインにおける高電力・高熱環境下での安定動作
バーンインにおける高電力・高熱環境下での安定動作とは?
半導体やセンサー、パッケージング製品は、出荷前に高電力・高熱環境下で長時間動作させる「バーンイン試験」を受けます。これは、製品の初期不良を検出し、信頼性を確保するための重要な工程です。この工程で、製品が設計通りの性能を維持し、故障なく安定して動作することが求められます。
課題
熱暴走による性能劣化
高電力動作により発生する熱が適切に放熱されないと、チップ内部の温度が急上昇し、性能が低下したり、誤動作を引き起こしたりする可能性があります。
熱応力による物理的損傷
温度変化による材料の膨張・収縮の繰り返しが、チップや配線に物理的なストレスを与え、亀裂や断線などの損傷を引き起こすリスクがあります。
電源供給の不安定化
高電力負荷がかかることで、電源ラインに電圧降下やノイズが発生し、デバイスの動作が不安定になることがあります。
冷却能力の限界
試験装置の冷却能力が、バーンイン中に発生する総熱量に対して不足している場合、環境温度が上昇し、製品の信頼性評価に影響を与えます。
対策
高効率な熱放散設計
ヒートシンク、熱伝導材料、冷却ファンな どを最適に組み合わせ、発生した熱を迅速かつ効率的に外部へ逃がす設計を行います。
耐熱性・耐熱衝撃性材料の採用
高温環境下でも特性変化が少なく、温度変化によるストレスに強い材料を、チップ、基板、封止材などに選定・使用します。
安定した電源供給システムの構築
低インピーダンス化、ノイズフィルタリング、十分な電流供給能力を持つ電源ユニットを採用し 、安定した電力供給を実現します。
精密な温度・電力制御
試験環境の温度を厳密に管理し、製品への電力供給を段階的に調整することで、急激な温度上昇や過負荷を防ぎます。
対策に役立つ製品例
高性能熱伝導シート
チップとヒートシンク間の熱抵抗を低減し、効率的な熱伝達を促進することで、熱暴走を防ぎます。
高信頼性封止材
高温・高湿環境下でも優れた耐久性を持ち、熱応力によるパッケージの損傷を抑制します。
低ノイズ電源モジュール
バーンイン試験に必要な大電流を安定して供給しつつ、ノイズを最小限に抑えることで、デバイスの誤動作を防ぎます。
先進的な冷却システム
液冷やペルチェ素子などを活用し、試験環境の温 度を一定に保ち、高電力負荷による過熱を効果的に抑制します。
⭐今週のピックアップ

読み込み中












