経年劣化の予測とは？課題と対策・製品を解説

当社では、チップの温度を上下させた際の自己発熱に対する 熱疲労の寿命を推測するパワーサイクル試験を承ります。 水冷式コールドプレートを採用しており、安定した放熱特性のもと試験実施が可能。 お客様ご指定のコールドプレート手配、持ち込み品の設置など、 仕様により柔軟に対応させて頂きます。 【特長】 ■当社オリジナルTEGチップを使用した周辺材料評価も可能 ■ご来社頂き、サンプルの設置、条件出し等を立会のもと 　実施させて頂く事も可能 ■非破壊による試験前後のSAT観察、X線観察（非破壊検査）、 　電気特性の確認を行う事が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

ブロードコム（アバゴ・テクノロジー株式会社）のフォトカプラは、 クリティカルなシステムの信頼性要件を満たすため、高信頼性LEDを使用しています。 LED技術は40年以上の実績を経て成熟し、性能向上および改善のため、一貫して 製造プロセスの改良を続けてきました。 当資料では、Broadcomがブラック・モデルに基づく加速寿命環境で得られた LED信頼性ストレス・データをどのように用いて寿命性能を予測しているか についてご紹介しています。 この解析は、設計者に確証と設計の柔軟性を与え、用途に適した順方向の LED入力電流を選択することができるようになります。 【掲載内容】 ■はじめに ■LED信頼性ストレス試験 ■加速係数 ■まとめ ■参考資料 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『高輝度LEDパルスエージング装置』は、スレイブユニットの 増設によりCH拡張が容易なエージング電源ユニットです。 駆動電流1～1000mAまでのダイナミックレンジを実現。 フルスケールを2段階に任意設定可能。 また、時間、電流値、パルス幅、周期等の駆動条件を 手動で簡単に設定が可能です。 【特長】 ■デバイス実装トレーが一体型で省スペース ■IF_SH回路の採用により、高精度な定電流パルス駆動を実現 ■着脱容易なデバイストレーの変更により様々な形状のデバイスに対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。