パワーサイクル寿命評価とは？課題と対策・製品を解説

『超低温冷却装置』は、液体窒素を使用せずに最大-65℃まで空気を 冷却することが可能な超低温冷凍機です。 主に車載用電子機器の低高温試験ラインや、医療器具の製造ライン で活躍しており、従来の液体窒素冷却方式と比較して大幅なラン ニングコストパフォーマンスと安全性を実現しております。 長時間の連続運転も可能で、ライン変更や設置計画時にフレキシブル に対応できるのも大きな魅力で、常温域や高温帯までもカバーします。 【特長】 ■ワイドな制御温度幅 ■高精度な温度制御 ■優れた冷凍サイクル ■多彩なラインアップ ■外部制御が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社では、パワーデバイスの試作から評価試験まで一貫して対応出来る 体制を構築しております。 またお客様の様々なご要望にお応えすべく、各工程において カスタム対応が可能です。 試作だけ、または評価だけなど一部でも対応をいたしますので、 まずはお気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ】 ■パワーデバイス試作（パッケージ/モジュール） ■パワーサイクル試験受託サービス ■静特性測定 ■熱抵抗測定 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

当資料は、パルメトリクスが発行する技術資料です。 長期間使用の劣化電池について、吸発熱曲線から判断しようとする 測定データなどを掲載しております。 【掲載内容】 ■日産リーフ・EVモジュールまるごと 充放電プロセスの熱量測定 ■日産リーフ・EVモジュールをまるごと比熱測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社では、チップの温度を上下させた際の自己発熱に対する 熱疲労の寿命を推測するパワーサイクル試験を承ります。 水冷式コールドプレートを採用しており、安定した放熱特性のもと試験実施が可能。 お客様ご指定のコールドプレート手配、持ち込み品の設置など、 仕様により柔軟に対応させて頂きます。 【特長】 ■当社オリジナルTEGチップを使用した周辺材料評価も可能 ■ご来社頂き、サンプルの設置、条件出し等を立会のもと 　実施させて頂く事も可能 ■非破壊による試験前後のSAT観察、X線観察（非破壊検査）、 　電気特性の確認を行う事が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

ASU/PM-Lifetimeは、パワーモジュール実装信頼性評価を効率的に行うためのシステムであり、材料開発やモジュール設計を強力に支援します。 本システムでは、温度サイクル/パワーサイクル試験時の接合材やワイヤボンディングの寿命評価や、実装信頼性に対するモジュール寸法や材料物性などの因子の影響度を評価することができます。パワーモジュール評価専用にユーザーインターフェースが整えられているため扱いやすく、シミュレーションに関する専門知識が無くてもパワーモジュールの評価が可能となります。 【特徴】 ■パワーモジュールの寿命評価 　実装材料の単体特性を入力すると、パワーモジュールへの実装状態での寿命が予測できます ■実装材料設計における目標設定 　多数の材料パラメータ因子を統計的に評価し、材料設計の目標設定を支援します ■産学連携プロジェクトで活用 　産学連携の実装材料開発プロジェクト（KAMOME A-PJ）の成果をソフトウェアにノウハウとして組込んでいます

株式会社エルテックは『短絡耐量評価・解析レポート』を販売しています。 短絡故障の瞬間に爆発する他のSiC MOSFETと比較して、 INFINEON CoolSiC MOSFETは爆発することなくソフトに故障します。 このレポートでは、短絡耐量性を測定し、故障メカニズムを明らかにしています。 【特長】 ■試験測定データの結果と先端SiCトランジスタの短絡耐量を制限する 　物理的メカニズムを特定するための解析評価 ■破壊までの臨界温度および破壊エネルギーが抽出される ■破壊モードとの物解析を行う ■INFINEONと他社の1200Vトランジスタの短絡耐量を比較する ■短絡耐性を高めるためのトランジスタ構造とプロセスの変化を明らかにする ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『高輝度LEDパルスエージング装置』は、スレイブユニットの 増設によりCH拡張が容易なエージング電源ユニットです。 駆動電流1～1000mAまでのダイナミックレンジを実現。 フルスケールを2段階に任意設定可能。 また、時間、電流値、パルス幅、周期等の駆動条件を 手動で簡単に設定が可能です。 【特長】 ■デバイス実装トレーが一体型で省スペース ■IF_SH回路の採用により、高精度な定電流パルス駆動を実現 ■着脱容易なデバイストレーの変更により様々な形状のデバイスに対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『wafer level burn-in』は、GaN、SiCデバイスをウェーハでバーンインでき、パワーモジュールの検査ロースを大幅にカットできる設備です。 最大6枚のウエハーの同時バーンインに対応できます。 また、治具ごとに独立でburn-in条件設定が可能。完全なハードウェアで 各回路を保護します。 【特長】 ■GaN、SiCウェーハのバーンインに好適 ■治具ごとに独立でburn-in条件設定が可能 ■ウェハー上のすべてのチップを同時に電源投入してバーンイン可能 ■HTGB電圧±75V、HTRB電圧2000V（アップグレード可） ■Igss、Idss、Vth、Idson検査に対応 ■温度範囲 RT-200C ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当カタログは、地球村の一員として革新的なテスト技術の開発と 情報テクノロジーの統合に力をいれている承徳科技の製品を掲載した 充放電評価システムの総合カタログです。 軽量型多レンジバッテリーテスト設備「BT 2000」や 高度なタッチ鉛蓄電池の統合特性試験装置「MCI 200F」など、 需要に対応する製品をご提供いたします。 【掲載内容】 ■CTE ■ハイエンド研究 ■基礎研究 ■精密生産 ■経済的生産 ■アクセサリ ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

パワー半導体やパワーモジュールなど、電源ON/OFFを繰り返すと、部品・モジュールの自己発熱と冷却の繰り返しにより接合材料の膨張差から歪が発生し接合信頼性の劣化を招きます。自己発熱と冷却の繰り返しサイクルにより発熱動作を考慮したパワーサイクル試験を受託します。 ■パワー半導体・パワーモジュールの採用が進んでいる部品・ユニット・装置 ・電気自動車（EV）、ハイブリッド車（HEV）のトラクションインバーター ・車載充電器、DC-DCコンバーター ・モーター制御、ロボット、工作機械、エレベーター ・産業用インバーターや無停電電源装置（UPS） ・太陽光発電システムや風力発電システム