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パワーサイクル寿命評価とは?課題と対策・製品を解説
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評価・分析・検査におけるパワーサイクル寿命評価とは?
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当カタログは、地球村の一員として革新的なテスト技術の開発と
情報テクノロジーの統合に力をいれている承徳科技の製品を掲載した
充放電評価システムの総合カタログです。
軽量型多レンジバッテリーテスト設備「BT 2000」や
高度なタッチ鉛蓄電池の統合特性試験装置「MCI 200F」など、
需要に対応する製品をご提供いたします。
【掲載内容】
■CTE
■ハイエンド研究
■基礎研究
■精密生産
■経済的生産
■アクセサリ
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
[CHEN TECH ELECTRIC] 充放電評価設備カタログ
パワー半導体やパワーモジュールなど、電源ON/OFFを繰り返すと、部品・モジュールの自己発熱と冷却の繰り返しにより接合材料の膨張差から歪が発生し接合信頼性の劣化を招きます。自己発熱と冷却の繰り返しサイクルにより発熱動作を考慮したパワーサイクル試験を受託します。
■パワー半導体・パワーモジュールの採用が進んでいる部品・ユニット・装置
・電気自動車(EV)、ハイブリッド車(HEV)のトラクションインバーター
・車載充電器、DC-DCコンバーター
・モーター制御、ロボット、工作機械、エレベーター
・産業用インバーターや無停電電源装置(UPS)
・太陽光発電システムや風力発電システム
パワーサイクル試験|パワーモジュール・パワーデバイスの信頼性評価
ASU/PM-Lifetimeは、パワーモジュール実装信頼性評価を効率的に行うためのシステムであり、材料開発やモジュール設計を強力に支援します。
本システムでは、温度サイクル/パワーサイクル試験時の接合材やワイヤボンディングの寿命評価や、実装信頼性に対するモジュール寸法や材料物性などの因子の影響度を評価することができます。パワーモジュール評価専用にユーザーインターフェースが整えられているため扱いやすく、シミュレーションに関する専門知識が無くてもパワーモジュールの評価が可能となります。
【特徴】
■パワーモジュールの寿命評価
実装材料の単体特性を入力すると、パワーモジュールへの実装状態での寿命が予測できます
■実装材料設計における目標設定
多数の材料パラメータ因子を統計的に評価し、材料設計の目標設定を支援します
■産学連携プロジェクトで活用
産学連携の実装材料開発プロジェクト(KAMOME A-PJ)の成果をソフトウェアにノウハウとして組込んでいます
パワーモジュール材料評価システム ASU/PM-Lifetime
【Agilentパワーデバイス向けカーブトレーサB1505A導入キャンペーン】を実施中!キャンペーン期間中にB1505Aを使用する実験・測定サービスをご利用の場合、先着5社に限り、測定料が【無料】です。お早めにホームページからお問合せください。
○http://www.sankei-engineering.com/○
パワーモジュール向けアジレント・カーブトレーサー先着5社対象!
当社では、チップの温度を上下させた際の自己発熱に対する
熱疲労の寿命を推測するパワーサイクル試験を承ります。
水冷式コールドプレートを採用しており、安定した放熱特性のもと試験実施が可能。
お客様ご指定のコールドプレート手配、持ち込み品の設置など、
仕様により柔軟に対応させて頂きます。
【特長】
■当社オリジナルTEGチップを使用した周辺材料評価も可能
■ご来社頂き、サンプルの設置、条件出し等を立会のもと
実施させて頂く事も可能
■非破壊による試験前後のSAT観察、X線観察(非破壊検査)、
電気特性の確認を行う事が可能
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。
パワーサイクル試験受託サービス
株式会社エルテックは『短絡耐量評価・解析レポート』を販売しています。
短絡故障の瞬間に爆発する他のSiC MOSFETと比較して、
INFINEON CoolSiC MOSFETは爆発することなくソフトに故障します。
このレポートでは、短絡耐量性を測定し、故障メカニズムを明らかにしています。
【特長】
■試験測定データの結果と先端SiCトランジスタの短絡耐量を制限する
物理的メカニズムを特定するための解析評価
■破壊までの臨界温度および破壊エネルギーが抽出される
■破壊モードとの物解析を行う
■INFINEONと他社の1200Vトランジスタの短絡耐量を比較する
■短絡耐性を高めるためのトランジスタ構造とプロセスの変化を明らかにする
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
短絡耐量評価・解析レポート
『高輝度LEDパルスエージング装置』は、スレイブユニットの
増設によりCH拡張が容易なエージング電源ユニットです。
駆動電流1~1000mAまでのダイナミックレンジを実現。
フルスケールを2段階に任意設定可能。
また、時間、電流値、パルス幅、周期等の駆動条件を
手動で簡単に設定が可能です。
【特長】
■デバイス 実装トレーが一体型で省スペース
■IF_SH回路の採用により、高精度な定電流パルス駆動を実現
■着脱容易なデバイストレーの変更により様々な形状のデバイスに対応可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
エージング電源ユニット『高輝度LEDパルスエージング装置』
当資料は、パルメトリクスが発行する技術資料です。
長期間使用の劣化電池について、吸発熱曲線から判断しようとする
測定データなどを掲載しております。
【掲載内容】
■日産リーフ・EVモジュールまるごと 充放電プロセスの熱量測定
■日産リーフ・EVモジュールをまるごと比熱測定
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【技術資料】充放電プロセスの熱量測定
『wafer level burn-in』は、GaN、SiCデバイスをウェーハでバーンインでき、パワーモジュールの検査 ロースを大幅にカットできる設備です。
最大6枚のウエハーの同時バーンインに対応できます。
また、治具ごとに独立でburn-in条件設定が可能。完全なハードウェアで
各回路を保護します。
【特長】
■GaN、SiCウェーハのバーンインに好適
■治具ごとに独立でburn-in条件設定が可能
■ウェハー上のすべてのチップを同時に電源投入してバーンイン可能
■HTGB電圧±75V、HTRB電圧2000V(アップグレード可)
■Igss、Idss、Vth、Idson検査に対応
■温度範囲 RT-200C
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パワーデバイス『ウエハーレベル バーンイン』
当社では、パワーデバイスの試作から評価試験まで一貫して対応出来る
体制を構築しております。
またお客様の様々なご要望にお応えすべく、各工程において
カスタム対応が可能です。
試作だけ、または評価だけなど一部でも対応をいたしますので、
まずはお気軽にお問い合わせください。
【ラインアップ】
■パワーデバイス試作(パッケージ/モジュール)
■パワーサイクル試験受託サービス
■静特性測定
■熱抵抗測定
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
パワーデバイス試作・評価サービス
『超低温冷却装置』は、液体窒素を使用せずに最大-65℃まで空気を
冷却することが可能な超低温冷凍機です。
主に車載用電子機器の低高温試験ラインや、医療器具の製造ライン
で活躍しており、従来の液体窒素冷却方式と比較して大幅なラン
ニングコストパフォーマンスと安全性を実現しております。
長時間の連続運転も可能で、ライン変更や設置計画時にフレキシブル
に対応できるのも大きな魅力で、常温域や高温帯までもカバーします。
【特長】
■ワイドな制御温度幅
■高精度な温度制御
■優れた冷凍サイクル
■多彩なラインアップ
■外部制御が可能
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
冷却装置『超低温冷却装置』

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評価・分析・検査におけるパワーサイクル寿命評価
評価・分析・検査におけるパワーサイクル寿命評価とは?
パワーデバイスおよびパワーモジュールは、電気エネルギーの変換・制御において不可欠な部品です。これらのデバイスは、スイッチング動作に伴う温度サイクル(パワーサイクル)によって劣化し、最終的に故障に至ります。パワーサイクル寿命評価は、デバイスが過酷な使用条件下でどれだけのスイッチング回数に耐えられるかを予測・検証するプロセスです。これにより、製品の信頼性向上、設計最適化、および市場投入前のリスク低減を実現します。
課題
評価時間の長期化
実際の使用環境を模擬したパワーサイクル試験は、デバイスの寿命を正確に評価するために長時間を要し、開発期間の遅延を招く可能性があります。
試験条件の最適化の難しさ
デバイスの種類や用途によって最適な試験条件(温度変化幅、周波数、負荷など)が異なり、それらを網羅的に検討・設定することが困難です。
劣化メカニズムの特定と予測の不確実性
パワーサイクルによる劣化は複合的な要因で発生するため、個々の劣化メカニズムを正確に特定し、将来的な寿命を定量的に予測することが難しい場合があります。
試験設備のコストと設置スペース
多数のデバイスを同時に、かつ厳密な条件で評価するためには、高性能な試験設備が必要となり、その導入コストや設置スペースが課題となります。
対策
加速試験手法の導入
より過酷な条件(大きな温度変化、高いスイッチング周波数など)で試験を行うことで、短時間で寿命を評価し、開発期間を短縮します。
シミュレーション技術の活用
有限要素法(FEM)などの解析ツールを用いて、デバイス内部の温度分布や応力分布を予測し、劣化の進行をシミュレーションすることで、試験回数を削減します。
先進的なモニタリング技術の適用
試験中にデバイスの電気的特性や温度変化をリアルタイムで詳細にモニタリングし、劣化の兆候を早期に検知することで、劣化メカニズムの特定と寿命予測の精度を高めます。
モジュール化された試験システムの採用
必要に応じて拡張・縮小が可能なモジュール式の試験システムを導入することで、初期投資を抑えつつ、多様な評価ニーズに対応します。
対策に役立つ製品例
高精度温度制御試験装置
厳密な温度サイクルを高速かつ正確に再現し、デバイスの劣化を効率的に加速させることで、評価時間を大幅に短縮します。
電気特性解析ソフトウェア
試験中に取得した膨大な電気的データを解析し、劣化の進行度合いや故障モードを特定するのに役立ちます。
熱・構造連成解析シミュレータ
デバイス内部の熱応力や機械的応力を詳細に解析し、パワーサイクルによる物理的な劣化メカニズムを予測します。
自動化された多チャンネル試験システム
複数のデバイスを同時に、かつ異なる条件で評価できるため、試験効率を向上させ、リソースの最適化に貢献します。

![[CHEN TECH ELECTRIC] 充放電評価設備カタログ](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/14c/2000363657/IPROS7287399187533039.jpg)









