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オン抵抗バラツキの精密測定とは？課題と対策・製品を解説
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評価・分析・検査におけるオン抵抗バラツキの精密測定とは？
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『MCP1501』は、20mAの電流をシンク/ソースできるバッファ付き
参照電圧生成器です。
参照電圧は、低ドリフトのバンドギャップ回路により生成され、
チョッパー型増幅器はドリフトを低減し、性能を低下させずに
大電流を出力します。
パッケージは、6ピンSOT-23/8ピンSOIC/8ピン2mmx2mm WDFN
パッケージで提供。
下記関連動画は、BMS(バッテリーマネジメントシステム)に関する、
Microchip社のソリューションの紹介動画です。
その中の1つとして"MCP1501"の紹介がされております。是非、ご覧ください。
【特長】
■温度誤差：50 ppm/ ℃以下(-40 ～ +125℃)
■低消費電流：140 μA(typ.)
■AEC-Q100 Grade1認定
■8種類の電圧に対応する製品を提供
・1,024V・1.250V・1.800V・2.048V・2.500V・3.000V・3.300V・4.096V
※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Microchipバッファ付き高精度参照電圧生成器MCP1501
『TT-1000』は、ディスクリート半導体の静特性の自動測定を行う
パワーデバイス/モジュール用テスターです。
高電圧ユニットの「HV-1000」や大電流ユニット「HC-1000」を取扱って
おり、お客様のニーズに合わせてお選びいただけます。
ご要望の際は、お気軽に当社までお問合せください。
【特長】
■～50kv・～1200Aまで対応可能
■3種 類の基本仕様のご用意
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パワーデバイス/モジュール用テスター『TT-1000』
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評価・分析・検査におけるオン抵抗バラツキの精密測定
評価・分析・検査におけるオン抵抗バラツキの精密測定とは？
パワーデバイスおよびパワーモジュールにおいて、オン抵抗のバラツキを精密に測定することは、製品の性能、信頼性、および歩留まりを最適化するために不可欠です。この測定は、デバイスの電気的特性を正確に把握し、設計や製造プロセスにおける潜在的な問題を早期に発見することを目的としています。
課題
微小なオン抵抗値の検出限界
近年のパワーデバイスは低オン抵抗化が進んでおり、従来の測定器では検出できないほど微小なオン抵抗値のバラツキが存在する。
温度・電流依存性の影響
オン抵抗は温度や電流値によって大きく変動するため、これらの条件を正確に制御し、バラツキを評価することが困難である。
測定ノイズと再現性
微小な信号を測定する際にノイズの影響を受けやすく、安定した再現性の高い測定結果を得ることが難しい。
多品種少量生産への対応
多様なパワーデバイスやモジュールが存在し、それぞれに最適な測定条件を設定・管理する必要があり、効率的な評価が求められる。
対策
高精度測定器の導入
低オン抵抗値でも高精度に測定可能な、高分解能・広帯域対応の測定器を導入する。
環境制御と条件設定の最適化
温度チャンバーや精密電流源を用いて、実使用環境に近い条件での測定を実施し、バラツキ要因を特定する。
ノイズ対策と信号処理技術の活用
シールド対策や高度な信号処理アルゴリズムを用いて、測定ノイズを低減し、信頼性の高いデータを取得する。
自動化・データ管理システムの構築
測定プロセスの自動化と、収集したデータの統合管理システムを構築し、効率的かつ網羅的な評価を実現する。
対策に役立つ製品例
高精度オン抵抗測定システム
微小なオン抵抗値を高精度かつ再現性良く測定できる専用の測定システム。温度・電流制御機能も統合されている。
半導体特性評価ソフトウェア
測定データを解析し、オン抵抗のバラツキ要因を特定・可視化する高度な解析ソフトウェア。
精密電源・温度制御装置
オン抵抗測定に必要な、安定した電流供給と厳密な温度制御を実現する周辺機器。
自動化テストシステム
多品種のデバイスに対応し、測定条件の設定からデータ収集までを自動化する統合プラットフォーム。
