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粉体の粒度分布とは？課題と対策・製品を解説
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研究開発・試作における粉体の粒度分布とは？
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電荷量測定装置は、粉体などの電荷量を測る小型の測定装置です。
気中測定プローブにより液滴の測定にも対応致します。
簡単な操作で直接粉体を取り込み、高精度で安定した電荷量の測定が可能です。
コンパクトで軽量のため持ち運びも自由で、あらゆる分野の研究や工場、生産現場でご活用いただけます。
また、オプションの測定ソフトにより測定作業をシステム化し、測定結果の管理が可能です。
【特徴】
■フィルターのカプセル化により操作性を向上、高い作業性を発揮
■より小さい面積や吸引時間で精度よく測定時間の短縮を実現
■最大10ｐCの表示が可能。0.3％の制度を実現！
■小型化をすることで、より現場に近い状態で測定可能
※詳細はカタログをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
電荷量測定装置
微小間隙における剪断振動流動を利用した新開発排出機構で、円筒と底板だけの簡単構造のためメンテナンスが容易 です。振動発生に圧電素子を使用しているため磁力の発生がありません。
装置 粉粒体超精密分散定量供給装置
『粉体物性測定器セット』は、粉体ハンドリングに必須な3大物性
〈かさ密度・安息角・粒子径〉がきわめて簡単に測定できる測定器の
セットです。
たまにしか使わない高価な測定器を購入したり、多大なコストをかけて
専門会社に計測依頼していたものが、社内で簡単に測定できます。
また、軽量・コンパクトで持ち運びも楽々なので、現場をはじめ、工場・
研究・開発部署などの、多彩なシーンで役立ちます。
さらに、「マノメータ」や「マスノタゲージ」も掲載しておりますので、
合わせてご覧下さい。
【特長】
■軽量小型・ポータブル
■操作も簡単
■超低価格
※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
測定器『粉体物性測定器セット』
航空標準HB1862-1999 及び国家標準GB5330-2003、国際標準ISO9044-1999 に準処した製造品です。編み法により、平織と綾織に二つに分けています（図1、図2）。工業用金網はQ/9D183-2002 規格に準処し、真鍮、錫青銅、ステンレス、ニッケルを使って作たものです。金網はR10、R20、R40/3 シリ- ズがあり、目開き寸法は8.00~0.015mm（1~800 目/ インチ）です。中国国家標準GB/T6003.1-1997 により生産し、篩の目開き寸法は2.36mm-0.038mm で、2360μm-5μm の精度です。お客様のニーズに応じた特注加工品もあります。中国国際標準ISO3310-1 によりR20/3、R20、R40/3 シリ- ズに分けています（表１、表２）。材質は真鍮、錫青銅、ステンレスがあります。試験用篩は材料により金網試験用篩、板篩、木枠金網試験用篩、枠、蓋など。
精密篩 （100ミクロン以下）
待望のDIT ( Direct Image Technique )法による粒子計測システムです。背景照明と直接撮影を利用した粒子計測システムの基本システムです。他のレーザ利用の手法とは異なり、球形/非球形、透明/不透明、液体/粉体/気泡など多様な粒子を測定できることを特徴とします。
フローテック・リサーチ FtrPIA-Shadow
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研究開発・試作における粉体の粒度分布
研究開発・試作における粉体の粒度分布とは？
粉体の粒度分布は、その物理的・化学的特性に大きく影響を与えるため、計測・検査・センシング業界の研究開発や試作段階において極めて重要な評価項目です。粒子の大きさやそのばらつきを正確に把握することで、製品の性能、加工性、安定性などを最適化し、開発の効率化と品質向上に貢献します。
課題
粒度分布のばらつきによる再現性の低下
試作段階で得られる粉体の粒度分布にばらつきが生じると、実験結果の再現性が低下し、開発の遅延や誤った判断につながる可能性があります。
微細粉体の正確な測定困難
ナノメートルオーダーの微細粉体は、従来の測定手法では正確な粒度分布を捉えることが難しく、特性評価に限界が生じます。
測定時間とコストの増大
高精度な粒度分布測定には時間を要し、専門的な機器やオペレーションが必要となるため、研究開発におけるコスト増の要因となります。
多様な粉体への対応不足
有機物、無機物、複合材料など、様々な種類の粉体に対して、汎用的に対応できる測定手法や機器が限られている場合があります。
対策
高精度粒度分布測定装置の導入
レーザー回折散乱法や動的光散乱法などの原理に基づいた高精度な測定装置を導入し、粒度分布の正確な把握と再現性の向上を図ります。
微細粉体対応測定技術の活用
走査型電子顕微鏡（SEM）を用いた画像解析や、質量分析法など、微細粉体の特性評価に適した測定技術を組み合わせます。
自動化・ハイスループット測定
自動サンプル供給機能や高速測定モードを備えた装置を活用し、測定時間とコストを削減しながら、多くのサンプルを効率的に評価します。
複数測定原理の併用
異なる測定原理を持つ複数の装置を組み合わせることで、多様な粉体特性に対応し、より網羅的な粒度分布情報を取得します。
対策に役立つ製品例
レーザー回折式粒度分布測定装置
レーザー光の散乱角度から粒度分布を迅速かつ高精度に測定でき、幅広い粒径範囲に対応するため、研究開発の初期段階から量産まで活用できます。
動的光散乱式粒度分布測定装置
ナノメートルオーダーの微細粒子を高感度に測定でき、コロイドや高分子などの微粒子分散系の評価に最適です。
画像解析式粒度分布測定システム
顕微鏡画像から粒子の形状やサイズを直接測定するため、不規則な形状の粉体や、特定の粒子のみを評価したい場合に有効です。
粉体特性評価統合ソフトウェア
複数の測定データを統合し、詳細な解析やレポート作成を支援することで、研究開発の効率化とデータ管理の容易化を実現します。
