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動作不良原因の特定とは?課題と対策・製品を解説

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品質管理・検査工程における動作不良原因の特定とは?
計測・検査・センシング業界において、製品やプロセスの品質を保証する上で、検査工程で発生する動作不良の原因を正確かつ迅速に特定することは極めて重要です。これにより、不良品の流出を防ぎ、生産効率の向上、コスト削減、そして顧客満足度の向上に繋がります。
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【家電向け】モータ試験装置
【電動工具向け】モータ試験装置
【半導体向け】MXO3オシロスコープ
インパルス巻線試験機『DWX-LIシリーズ』
『DWX-LIシリーズ』は、超低インダクタンス・コイルの高速試験を実現する、
チップパワーインダクタのコイル内絶縁試験に特化した製品シリーズです。
4端子試験回路により、最小1μHのコイルに対し、最大1000Vの印加が可能。
従来試験機の2倍の波形サンプリング分解能により、詳細な応答波形を表示します。
また、コイル内絶縁試験に最適な3つのモードを1台に搭載するほか、
巻き数の少ないコイルにも対応可能です。
【特長】
■チップパワーインダクタのコイル内絶縁試験に特化
■最小1μHのコイル、最大1000Vの印加が可能
■従来試験機の2倍の波形サンプリング分解能により、詳細な応答波形を表示
■「ハイスピード/テスト/ブレークダウンテスト」3つのモードを1台に搭載
■最短試験時間10msecと高速な動作、量産ラインでの使用が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
LabVIEW対応超音波探傷器 TPAC社【Explorer】
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ハンディーN/Sチェッカー『NSC-01』
センサシステムの受託開発サービス







