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科学・分析機器総合

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金属材料の表面不動態層とは？課題と対策・製品を解説

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前処理・調製

固体試料の多機能粉砕・均質化
混合・乳化の均一化
粘性液体の撹拌・処理
高圧ホモジナイザーによる均質化
液体試料の高効率ろ過・分離
ゲルろ過によるサイズ分画
高純度な蒸留・精製
超音波洗浄と分散
微量成分の固相抽出
有機溶媒の濃縮・回収
生体試料の抽出・精製
汚染物質の除去・精製
高速乾燥と熱分解
試料の凍結乾燥
低温での試料保存・管理
微生物試料の滅菌・殺菌
高圧での合成・反応
電気化学的な前処理
自動でのサンプル前処理
自動pH調整と滴定
放射性物質の安全管理
高純度ガスの供給
固体試料の多機能粉砕・均質化
混合・乳化の均一化
粘性液体の撹拌・処理

食品・農業・環境

残留農薬のスクリーニング
風味・香気成分の数値化
異物の化学組成特定
栄養成分表示のための定量
食用油の酸化度・鮮度
産地偽装の化学的判別
水・大気中の有害物質
粉体・粒子の分散性評価
食品添加物の適正使用
食品の劣化原因の解明
作物の栄養価成分分析
香料・着色料の品質
農産物の生育環境
動物飼料の栄養成分
天然物由来成分の機能性
賞味期限の科学的根拠
海洋プラの化学組成
土壌中の重金属汚染レベル
水道水の成分分析
酒類の成分分析・偽造防止
肥料の有効成分
食肉の品質評価
ハーブの機能性成分
包装材からの溶出物質
土壌中の有用微生物
環境ホルモンの超微量検出
地下水汚染の範囲特定
VOC排出量の把握
食品素材の安全性評価
残留農薬のスクリーニング
風味・香気成分の数値化
異物の化学組成特定

医薬品・臨床・バイオ

治験薬の有効成分量保証
ロットごとの品質均一性
医薬品の分解生成物特定
長期保存安定性
投与後の薬物代謝経路
細胞培養液の成分
高分子医薬の分子量分布
副作用の予測・低減
GMP要件への適合性
DDSキャリアの評価
アミノ酸の網羅的解析
薬物動態の評価
タンパク質分解
マトリックス効果排除
ドーピング検査の信頼性
血中薬物濃度
医療機器の残留物分析
バイオマーカー探索
DNA/RNAの微量定性・定量
ウイルス抗原の同定
ペプチドの配列
未承認の微量不純物
抗体医薬の品質・構造確認
臨床検査データの信頼性
微生物の汚染管理
タンパク質の抽出・分離
バイオ燃料の品質保証
治験薬の有効成分量保証
ロットごとの品質均一性
医薬品の分解生成物特定

化学・材料・製造

異物の特定と解析
高分子材料の分子量分布
石油製品の品質規格適合
原料・中間体の純度
半導体用薬液の超高純度
製品の劣化原因
燃料電池材料の性能
超微細な結晶構造
表面処理・コーティング層
樹脂・ゴムの添加剤組成
工業用水の不純物
潤滑油の劣化状態
高圧ガス中の不純物
材料の化学組成分析
ポリマーの熱分解挙動
有機EL材料の純度・安定性
接着剤の硬化反応
半導体洗浄液中の不純物
金属材料の表面不動態層
インク・塗料の色材成分
排ガス中の微量成分
ゴム製品の添加剤組成
ナノ材料の化学修飾状態
電子部品の有害物質
樹脂の配合比率
LIBの電解液成分
爆発物残渣の化学分析
塗膜の厚さ測定
化粧品原料の機能性成分
考古学的試料の年代推定
表面・界面の評価
粒子径と分布の測定
異物の特定と解析
高分子材料の分子量分布
石油製品の品質規格適合

サポート

ラボレイアウトの設計
設置と初期設定
オペレーターの操作指導
定期的なメンテナンス
定期的な校正
緊急時の修理対応
専門家への技術相談
分析のアウトソーシング
データ解析の代行
研究開発の代行
試薬・消耗品の定期供給
中古機器の売買・レンタル
法規・規格への適合支援
SOP作成の支援
ラボレイアウトの設計
設置と初期設定
オペレーターの操作指導

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科学・分析システム
その他科学・分析機器総合
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化学・材料・製造における金属材料の表面不動態層とは？

金属材料の表面に自然に、あるいは意図的に形成される、腐食や化学反応から金属本体を保護する緻密な酸化物や化合物の層のこと。この層の存在と特性は、金属材料の耐久性、機能性、そして最終製品の性能に大きく影響します。

各社の製品

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【半導体向け】断面試料作製装置『IB-19510CP』

【半導体向け】断面試料作製装置『IB-19510CP』
株式会社クオルテック
半導体業界では、デバイスの高性能化に伴い、微細構造の正確な観察が不可欠です。SEMやFE-SEMを用いた観察において、高品質な断面試料作製は、正確な解析の基盤となります。イオンビーム加工による試料作製は、加工によるダメージを最小限に抑え、高精度な観察を可能にします。当社『IB-19510CP』は、高速加工と仕上げ加工を組み合わせることで、高スループットと高品質な断面を実現し、半導体デバイスの微細構造観察を強力にサポートします。 【活用シーン】 ・半導体デバイスの断面観察 ・微細構造の解析 ・品質管理 【導入の効果】 ・高スループット化による分析時間の短縮 ・高品質な断面試料の作製による正確な解析 ・試料ダメージの軽減
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【研究機関向け】小型高電圧電源『GTシリーズ』

【研究機関向け】小型高電圧電源『GTシリーズ』
株式会社グリーンテクノ
研究機関における実験では、精密な電圧制御が求められます。特に、材料科学、物理学、化学などの分野では、高精度な電圧印加が実験結果に大きく影響します。GTシリーズは、出力電圧を可変できるため、実験目的に合わせた最適な電圧設定が可能です。 【活用シーン】 ・材料の帯電・放電実験 ・絶縁破壊試験 ・プラズマ生成実験 ・各種センサーの動作確認 【導入の効果】 ・実験の再現性の向上 ・実験データの信頼性向上 ・多様な実験への対応 ・安全な実験環境の実現
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【半導体向け】レーザ加工装置『LASER BLENDER』

【半導体向け】レーザ加工装置『LASER BLENDER』
西進商事株式会社
半導体業界では、製品の高性能化に伴い、材料の微細な組成分析が不可欠です。特に、ウェーハや薄膜の品質管理においては、局所的な成分分析や深さ方向の分析が求められます。従来の分析手法では、サンプルの準備に時間がかかったり、分析精度に限界がありました。レーザアブレーション装置『LASER BLENDER』は、LA-ICP分析の高速・高精度化を実現し、半導体製造における分析の課題を解決します。 【活用シーン】 ・ウェーハの異物分析 ・薄膜の深さ方向分析 ・微細構造の局所分析 【導入の効果】 ・分析時間の短縮 ・高精度な分析結果の実現 ・分析手法の多様化
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【研究機関向け】タンタル(Ta)ターゲット

【研究機関向け】タンタル(Ta)ターゲット
株式会社スパッタコア
研究機関における実験では、信頼性の高い結果を得るために、高品質な材料が不可欠です。特に、薄膜形成実験においては、ターゲット材の品質が実験結果を大きく左右します。タンタル(Ta)ターゲットは、高耐熱性、優れた耐蝕性、良好な導電性を持ち、実験の効率化と精度の向上に貢献します。当社のタンタル(Ta)ターゲットは、高品質な材料と高度な製造技術により、研究開発を強力にサポートします。 【活用シーン】 ・PVD/CVDプロセスを用いた薄膜形成実験 ・高エネルギー・スパッタリング実験 ・半導体デバイスの研究開発 ・耐食性材料の研究 【導入の効果】 ・高品質な薄膜の形成 ・実験結果の信頼性向上 ・実験効率の向上 ・研究開発の加速
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研究開発向けメタル炉｜真空・還元雰囲気・高温熱処理対応

研究開発向けメタル炉｜真空・還元雰囲気・高温熱処理対応
株式会社サーモニックENG
研究開発や試作評価では、材料ごとに温度・雰囲気・処理時間を細かく検討できる高温炉が必要です。 特に、セラミックスと金属の接合、ろう付け、アニール、焼成、還元雰囲気処理では、炉内の清浄性や雰囲気制御が品質に影響します。 弊社のメタル炉は、Mo・Wなどの金属ヒーターを用いた高温雰囲気炉で、真空・N2・Ar・H2などの雰囲気に対応可能です。 大学・研究機関・企業研究所での材料評価、試作、量産前検討まで、処理物の材質・サイズ・温度・雰囲気に応じてカスタム設計します。 ■ 研究開発用の高温炉を探している ■ セラミックスと金属の接合・封着を検討したい ■ ろう付け、アニール、焼成条件を評価したい ■ 真空・N2・Ar・H2雰囲気で処理したい ■ 既製炉では温度、炉内寸法、雰囲気条件が合わない
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【半導体向け】単結晶の回折シミュ『SingleCrystal』

【半導体向け】単結晶の回折シミュ『SingleCrystal』
株式会社ヒューリンクス
半導体業界では、現実世界の結晶構造とシミュレーション結果の比較が不可欠です。SingleCrystalでは理論回折パターンと実験データを比較することで、積層欠陥や転位などの欠陥を間接的に示唆する異常（スポットのずれ・拡散散乱）を特定できます。 【活用シーン】 * X線、中性子、TEMを用いた欠陥解析 * 回折パターンのシミュレーションと実験結果の比較 * 結晶構造の可視化と理解 【導入の効果】 * 欠陥の特定と原因究明の迅速化 * 製品の品質向上と歩留まり改善 * 研究開発の効率化
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ポータブル蛍光エックス線分析計『Innov-X』

ポータブル蛍光エックス線分析計『Innov-X』
日本非破壊検査株式会社
『Innov-X』は、材料を痛めることなく現地で分析を行い、非破壊かつ スピーディに材料の含有元素を知ることが可能なエネルギー分散型 ポータブル蛍光エックス線分析計です。 測定時間は1測定あたり5～20秒程度であり、数秒後には分析結果が得られ、 測定データはポケットPCに保存可能。 分析にはファンダメンタル・パラメーター(FP)法を採用しており、 標準サンプルを必要としません。 【特長】 ■非破壊にて迅速かつ信頼性の高い分析が可能 ■小型軽量・バッテリー電源なので、現地での分析作業が可能 ■分析にはファンダメンタル・パラメーター(FP)法を採用 ■標準サンプルを必要としない ■測定時間は1測定あたり5～20秒程度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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調査分析

調査分析
浜松熱処理工業株式会社
当社で行っている「調査分析」についてご紹介いたします。 熱処理・FPP等の品質管理/保証として、分析機器を保有。 有償でも承ります。 X線回折分析装置を用いて、残留応力測定や残留オーステナイト ％量測定を実施。また、走査型電子顕微鏡にて表面観察(SEM) や簡易元素分析(EDS)も行っております。 【X線回折による各測定の特長】 ■非破壊分析 ■深さ数十ミクロンまでの試料採取データ ■試料の微小部分の局所的残留応力分析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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セミオートプローバー『AP-150／AP-200』

セミオートプローバー『AP-150／AP-200』
株式会社アポロウエーブ　
『AP-150／AP-200』は、それぞれ6、8インチまでのウエハサイズに対応した セミオートプローバーです。 コンパクトなシールドの効果により、安定した微小電流測定が可能。 ドライエアを置換できるコンパクトシールド機構により、マイナス温度時も 結露しません。 また、画像認識を活かした自動ウエハアライメントや自動個別チップ アライメント等を搭載できます。 【特長】 ■20kV以上、200A以上のパワーデバイス測定対応 ■それぞれ6、8インチまでのウエハサイズに対応 ■コンパクトなシールドの効果により、安定した微小電流測定が可能 ■オペレーターに分かり易く操作性に優れた制御ソフト ■自動ウエハアライメントや自動個別チップアライメント等を搭載できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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SIMS分析｜PCOR-SIMS（高精度・二次イオン質量分析法）

SIMS分析｜PCOR-SIMS（高精度・二次イオン質量分析法）
受託分析｜ユーロフィンEAG株式会社
PCOR-SIMS（Point by point Corrected SIMS）はSIMSをベースに、EAG Laboratoriesが長年の経験とノウハウから独自開発した分析手法です。試料のマトリクスの変化に対して感度係数とスパッタリングレートを深さ方向全てのポイントに対して補正し、精度の高い深さ方向プロファイルを得ることが可能な高度なEnhanced SIMS技術です。PCOR-SIMSは化合物半導体の微量元素・組成評価、Shallow B、As、P等の極浅イオン注入（ULE）分布評価などに有効です。
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パルス磁界発生装置『PMGシリーズ』

パルス磁界発生装置『PMGシリーズ』
有限会社ハヤマ
パルス磁界発生装置『PMGシリーズ』は、コンデンサーに充電した電荷を 空芯コイルに放電することにより、パルス磁界を発生させる装置です。 充電および放電（パルス磁界発生）のタイミングは、手動スイッチもしくは 外部信号(PC or TTL 信号)にて制御が可能です。 ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
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超高温観察レーザー顕微鏡システムVL3000DX-SVF18SP

超高温観察レーザー顕微鏡システムVL3000DX-SVF18SP
株式会社米倉製作所
米倉製作所を代表する加熱観察IRイメージ炉に、デジタルバイオレットレーザー顕微鏡を搭載。 最高1800℃の超高温環境下の鮮明なミクロ観察を可能にしました。 従来機と比べ、解像度・明るさが約２倍に向上*し、高倍率、高コントラストでの観察像が得られます。 鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における 微細構造挙動の研究、材料開発にご活用ください。 ＊当社従来型の「VL2000DX-SVF17SP」と比較 ◆ ポイント◆ ・ 高解像度in-situ（その場）観察 　　超高温下の高分解能画像を取得 ・多様な観測条件を実現 　　最高1800℃の急速昇温・急速冷却 ・優れた操作性・制御性 　　温度と正確にリンクした高速画像取得 オプションの負荷機構モジュール「SVF12FTC」を利用することで、 高温下で応力負荷中（最大5kN）の観察が行えます。 詳細はお問い合わせください。
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【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価

【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価
一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμｍの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。
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電気化学装置『ECstat-302』

電気化学装置『ECstat-302』
株式会社イーシーフロンティア
『ECstat-302』は、当社P/GスタットECstat-301および充放電装置ECAD-1000の後継機として開発した電気化学装置です。 本装置は、コンパクトでありながら多機能であり幅広い電気化学測定や充放電測定にも対応可能です。 【特長】 ■優れたコストパフォーマンス ■コンパクトデザイン ■高感度、最小電流分解能　100pA ■広い電流レンジと制御電圧　3μA～30mA（5レンジ）、±6.4V ■多彩な測定項目(13項目)　など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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プローバー　真空＜低温＞プローバーシステム

プロー��バー　真空＜低温＞プローバーシステム
株式会社システムブレイン
真空＜低温＞プローバーシステムSB-MCPSシリーズは、多種の低温・高温オプションをご用意し、様々な温度領域に対応するプローバーです。 プローバーシステムは標準システムの他に低温・RF・磁場を合わせたスピントロニクス向けのプローバーや、測定スペースに合わせた省スペース・ミニ型のプローバー、電磁石や赤外線カメラを搭載したプローバーなど製作実績もございます。 ご希望される測定に必要な機能・性能にあわせカスタマイズし、ご提案することも可能です。
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赤外線導入加熱装置（GVL298)

赤外線導入加熱装置（GVL298)
株式会社サーモ理工
・超高速昇温型GVL298は1500℃まで１分で昇温可能。 ・真空システムＩＣＦ７０フランジから、真空チャンバー内部へ赤外線を導入し、試料のみを昇温。
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卓上精密研磨装置『ALP-250型』

卓上精密研磨装置『ALP-250型』
株式会社イマハシ製作所
『ALP-250型』は、半導体デバイス、MEMSデバイス・自動車部品、金属、 塗装、樹脂、セラミックス等、様々な分析・解析等で観察面を作成する為に 設計・作成された研磨装置です。 卓上機で高精度、高い剛性のフレーム構造により、高精密研磨試料の 作成を実現。200rpmの安全で高回転域が可能な為、短時間で自由な研磨が 行えます。 【特長】 ■様々な分析・解析等で観察面を作成する為に設計・作成 ■ローラーアーム3ステーション可能なため、ある程度の量産もできる ■治具を使用せずハンディーラップでも使用可能 ■200rpmの安全で高回転域が可能な為、短時間で自由な研磨が行える ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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BHループトレーサー『HBH-20』

BHループトレーサー『HBH-20』
有限会社ハヤマ
『HBH-20』は、バルク材試料に直流磁界を印加し、BHループをはじめ、 様々な測定・解析を行う装置です。 当社の高性能電磁石を使用し、コンパクトな設計になっています。 また、PC制御によりすべての測定を自動的に行うことが可能です。 【特長】 ■BHループなど様々な測定・解析 ■高性能電磁石を使用 ■コンパクト設計 ■PC制御による自動測定 ※詳しくはカタログをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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高温・交流ホール効果測定装置『HALS-H II』

高温・交流ホール効果測定装置『HALS-H II』
株式会社新興精機
当社では、どこでも・誰でも・簡単に高温環境下の交流ホール効果測定が できる『HALS-H II』を取り扱っております。 本製品は、パワー半導体材料や、太陽電池材料、ガスセンサー材料など、 半導体材料の基礎特性評価にご利用いただけます。 ご要望の際はお気軽にお問合せください。 【特長】 ■低価格 ■高性能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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パルス磁界発生装置『PMG-5T』

パルス磁界発生装置『PMG-5T』
有限会社ハヤマ
『PMG-5T』はコンデンサーからの放電によりパルス磁界を発生させる装置です。 MHループ測定への応用などに使用されます。PC制御により全て自動で測定できます。 ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
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真空蒸着、フィラメント、ボート、ハースラーナー

真空蒸着、フィラメント、ボート、ハースラーナー
有限会社ビット･テック
真空関連の消耗部品から構成部品、半導体製造装置の部品 グラファイト、セラミックス、タングステン、モリブデン、タンタル、ニオブ、ニッケル、アルミ、ステンレスなど幅広く対応します。
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テラヘルツ分光装置『Tera Evaluator』

テラヘルツ分光装置『Tera Evaluator』
日邦プレシジョン株式会社
『Tera Evaluator』は、エリプソメトリの技術を導入した 新しいテラヘルツ分光装置です。反射光学系の採用により 不透明な材料の測定に適しています。 4インチ、6インチウェーハ測定用のマッピングステージを標準搭載し、 半導体ウェーハの非接触・非破壊検査を実現しました。 電磁波パルスの電場強度の時間波形を計測することで、電場強度と共に 位相情報も同時に計測。リファレンスとサンプルでの時間波形の違いを 解析することにより、サンプルの複素誘電率（複素屈折率）の 周波数依存性を得ることができます。 【特長】 ■キャリア濃度・移動度を非破壊・非接触で測定 ■テラヘルツ領域の複素誘電率を計測可能 ■液体試料も測定可能 ■解析用ソフトウェア：THz Analysisを標準搭載 ■レーザーの外部入力が可能なシステムを構築 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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蛍光X線分析装置『EDX800』

蛍光X線分析装置『EDX800』
株式会社T&S
当社では、地金の純度、プラチナを分析する小型で低価格の蛍光X線分析装置 『EDX800』を取り扱っています。 操作方法は簡単。 チャンバー内に、測定したい対象物を置いてPCで測定開始操作をすれば 60秒以内で地金の判定が可能です。 【仕様】 ■型式：EDX800 ■本体寸法：L416ｍｍ×W370ｍｍ×H360mm ■重量：約40Kg ■分析時間：約1分 ■測定元素：Au、Ag、Pt、Pd、Cu ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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振動試料型磁力計

振動試料型磁力計
株式会社玉川製作所
当社では、粉体・薄膜・バルクなど各種磁性材料の磁化曲線、透磁率を 高感度・高精度で測定できる『振動試料型磁力計』を取り扱っております。 磁化器により磁化された試料を一定振幅、一定周波数にて振動させ、 近傍の検出コイルの誘起起電力の大きさから、磁化の強さを求めることが可能。 また、取り扱いも簡単で、サンプルセット後測定条件を入力すれば、 すぐに測定を開始できます。 【主な特長】 ■コンピュータ集中制御・高速測定 ■簡単な測定・解析 ■好適なハードウェア ■サンプルホルダー ■広範囲な温度測定が可能（オプション） ■低磁界測定装置（オプション） ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お問い合わせください。
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レーザー誘起ブレークダウン分光分析計『LIBS』

レーザー誘起ブレークダウン分光分析計『LIBS』
日本非破壊検査株式会社
『LIBS』は、炭素の測定が可能なハンドヘルド型分析計です。 小型軽量、バッテリー駆動のため、現地での連続的な分析作業が可能。 放射線を使用せず測定が迅速で、分析結果がその場で確認できます。 また、分析痕はごく軽微なグラインダー仕上げで消失し、蛍光X線では 測定不可能な「C」「Be」なども測定できます。 【特長】 ■「C」「Be」なども測定可能 ■Al合金の分別（2000系、5000系など）が可能 ■小型軽量、バッテリー駆動のため、 　現地での連続的な分析作業が可能 ■測定が迅速で、分析結果がその場で確認可能 ■分析痕はごく軽微なグラインダー仕上げで消失（溶発深さ：～50μm程度） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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滴定装置による陽極酸化浴の測定（めっき浴の品質管理）【技術資料】

滴定装置による陽極酸化浴の測定（めっき浴の品質管理）【技術資料】
メトロームジャパン株式会社
この技術資料では、硫酸およびクロム酸陽極酸化浴の検査のための電位差滴定法について解説します。主成分であるアルミニウム、硫酸、クロム酸に加え、塩化物、シュウ酸、硫酸塩も測定します。
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真空薄膜形成装置や表面分析装置　長年培った真空技術がこの一冊に！

真空薄膜形成装置や表面分析装置　長年培った真空技術がこの一冊に！
株式会社パスカル
真空機器・装置、理化学機器・装置においてグローバルな視野を持ち、 常に時代の先端を見つめ、新しい技術と商品ニーズを先取りし、 ユーザー様の役に立つ製品を提供し続けている、株式会社パスカルの 総合カタログです。 従来のイオン散乱表面分析装置では不可能だった、絶縁体表面の極性判別や 構造解析、元素同定、さらに電場・磁場中での【その場分析】を可能にした 飛行時間型原子散乱表面分析装置「TOFLAS-3000」をはじめ、 「真空薄膜形成装置」や「表面分析装置」などをラインアップしています。 【掲載内容　抜粋】 ■真空装置、コンポーネント ■表面分析装置 ■低温関連機器 ■アジレント社製真空機器(旧バリアン) ■その他真空関連製品　　　　　　　　ほか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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振動試料型磁力計『VSM』

振動試料型磁力計『VSM』
東英工業株式会社
『VSM』は、均一磁界中におかれた試料を一定振動数・振幅で単振動 させて、検出コイルに誘起する誘導振動力により、磁化特性を連続的に 測定する振動試料型磁力計です。 感度が高く小さな磁化をもつ試料から、大きな磁化をもつ バルク強磁性体まで、広範囲な測定領域をもっております。 【特長】 ■長時間にわたりドリフトがない ■磁界がゼロでも磁化を測定可能 ■広範囲な温度領域を容易に測定可能 ■測定時間を大幅に短縮可能 ■試料形状に依存しないで測定できる ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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材料調査　分析･強度特性･物理特性･組織評価

材料調査　分析･強度特性･物理特性･組織評価
株式会社キグチテクニクス
「材料調査」では、お客様が調べてみたい材料の成分、硬さ、強度、組織などの評価および破損、腐食、異物付着などの諸問題について、分析データ、強度特性、物理特性あるいは組織評価を行い総合的な見地より原因の追究、考察を報告書にしてお送りするサービスです。 破損や摩耗、腐食などのさまざまな問題点を最新鋭の機器で調査し、その原因を究明します。 【調査】 ○SEM観察 ○マイクロスコープ観察 ○金属顕微鏡観察 ○残留応力測定 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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分析装置『belec compact port HLC』

分析装置『belec compact port HLC』
株式会社オーイーエス
『belec compact port HLC』は、ハイブリッド分光光学系システムを 搭載した金属材料分析装置です。 各種金属材料の鋼種判別をはじめ、グレードチェック、PMIテストや 現場での金属材料の定性・定量分析等に最適な装置です。 温度安定型分光器の採用により、周囲の温度に影響を受けず、高精度な 分析が可能です。 また、オプションにてDuplex Steelの分析にかかせない窒素の分析も 可能にします。 【特長】 ■ハイブリッド分光光学系システム搭載 ■温度安定型分光器採用 ■高精度な分析が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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手軽に電極膜作製　デスクトップコンパクトコーター

手軽に電極膜作製　デスクトップコンパクトコーター
サンユー電子株式会社
45年以上に渡るロングセラーモデル 小さなボディながらも、電極用薄膜作製から電子顕微鏡(SEM)用試料作製まで対応。 オフィスのデスクに置かれていても違和感のないデザインとコンパクトさ!! 【特徴】 〇スモール＆コンパクト 〇ベルジャーを持ち上げる必要のない前面ドア開閉方式　⇒　サンプルのセット/取出しが楽に行なえます。 〇間欠スパッタ機能を標準搭載 〇多彩なオプションをご用意：シャッター付前面ドア/アルミ製前面ドア/ピラニー真空計取付ポート付前面ドア etc.
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電気化学水晶振動子計測システム『ECstat-302-QCM』

電気化学水晶振動子計測システム『ECstat-302-QCM』
株式会社イーシーフロンティア
『ECstat-302-QCM』は、水晶振動子マイクロバランス (QCM) 法は、電極上への吸着や析出およびそれらの溶出に伴う質量変化をngオーダーで測定できる高感度な質量センサーです。電極表面で起きる種々の現象を、電気化学と質量変化の両面から同時に計測することができます。 【特長】 ■コンパクトなEQCMシステムが構築が可能 ■微小な質量変化を共振周波数、粘弾性変化を共振抵抗として同時に測定が可能 ■9 MHz水晶振動子に加え、30 MHzまでの高速・高感度測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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高精度・フレキシブル抵抗率測定システム『VR300DSE-2P』

高精度・フレキシブル抵抗率測定システム『VR300DSE-2P』
株式会社国際電気セミコンダクターサービス
『VR300DSE-2P』は、当社のコア技術であるプローブ駆動コントロール システムにより、シリコンウェーハ、磁性体薄板など導電性試料の抵抗率、 シート抵抗を高精度に測定することを実現したフルオートタイプの 四探針測定器です。 また当社では、全機能搭載モデルの「VR300DSE」や、卓上型モデル 「VR300DE」「VR250」などもご用意しております。 【特長】 ■プローブ駆動をレシピにてセットアップ可能 ■高スループット化によるCoOの低減 ■2ロードポート対応 ■プローブ針先端の自動コンディショニング機能搭載 ■抵抗率分布の等高線マップ、三次元マップ等を作図可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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試料乾燥機

試料乾燥機
株式会社ウィンゴー
当製品は、クリーンで強力な熱風をノズルから吹出して、試料片の 湿式研磨後やエッチング処理後の試料面を瞬時に乾燥させることができる 試料乾燥機です。 試料のクラックやインクルージョン等から滲み出す水分の蒸発による 酸化やダスト付着を防止します。 また、汚れた空気中でも、空気吸入孔のフィルターで除去することが 可能です。 【特長】 ■瞬時乾燥 ■酸化及びダスト付着を防止 ■空気吸入孔のフィルターで除去 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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卓上型コンパクトプローバー『MBP-55』

卓上型コンパクトプローバー『MBP-55』
株式会社アポロウエーブ　
『MBP-55』は、チップレベルのIV/CV測定に適したコンパクトな プローバーです。 50mm□までのサンプルサイズに対応。 シールドボックスまで装備した一体型です。 また、微小電流IV、微小容量CV測定、高周波測定に対応します。 さらにコンパクトサイズ、軽量で持ち運びも容易です。 【特長】 ■チップレベルのIV/CV測定に好適 ■50mm□までのサンプルサイズに対応 ■シールドボックスまで装備した一体型 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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めっき　表面分析サービス

めっき　表面分析サービス
丸長鍍金株式会社
当社は、様々な装置を用いて表面を分析し、あらゆる問題を解決、 また技術開発に役立てています。 あらゆる分析から問題点を見つけ出し対策につなげ、 形状測定や皮膜の分析から物性を評価します。 また、皮膜中元素や環境規制物質の定量分析も行います。 【取扱品目】 ■問題解決 ■物性評価 ■成分分析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。
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実験用小型真空蒸着装置

実験用小型真空蒸着装置
株式会社ヤシマ
容器寸法：φ150×200H、排気系：2インチ拡散ポンプ(LN2付)+ロータリポンプ20L/min。メインバルブには2インチサイズを採用しポンプの排気能力を有効に引き出します 。真空容器の金属部、メインバルブ、3方バルブ、リークバルブはステンレス材を採用しています。
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卓上型前扉式高速焼成炉『HRシリーズ』

卓上型前扉式高速焼成炉『HRシリーズ』
株式会社共栄電気炉製作所
『HRシリーズ』は、研究に使える卓上型前扉式高速焼成炉です。 ニ珪化モリブデンヒーターによる高速昇温で、 卓上型のコンパクト設計。また、使用温度、使用サイズに 合わせたバリエーションをご用意しております。 【特長】 ■研究に使える高速高温焼成 ■ニ珪化モリブデンヒーターによる高速昇温 ■卓上型のコンパクト設計 ■使用温度、使用サイズに合わせたバリエーションを用意 ■OP不活性ガス導入装置取り付けにより「還元焼成」にも対応可能　など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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マグネトロンスパッタ装置ＭＳＰ－２０ＭＴ

マグネトロンスパッタ装置ＭＳＰ－２０ＭＴ
株式会社真空デバイス
マグネトロンスパッタ装置ＭＳＰ－２０ＭＴは電子顕微鏡試料に導電処理を施す為のコーティング装置です。マグネトロンターゲット採用で、試料ダメージを最小限にします。４インチサイズのターゲット仕様。大きな試料・多数の試料を処理可能です。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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高温その場測定用チャンバ『ISM-H』

高温その場測定用チャンバ『ISM-H』
橋本鉄工株式会社
高温その場測定用チャンバ『ISM-H』は、高温において残留応力ならびに材料組織の変化を追跡します。 高度なリアルタイム評価技術が誰でも簡単に実施できる試験方法に変わります。 応力測定、構造解析、極点図、相分率などの分析用途に適しています。 【特徴】 ○熱処理ならびに実機供用を想定した高温環境を再現 ○多種様々なプロセスを施工した大型サンプルにも対応 ○特許出願中 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』

デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』
アルバック・ファイ株式会社
『PHI Quantes』は、エネルギーの異なる硬X線（Cr Kα線）と従来の 軟X線（Al Kα線）の2線源を搭載し、微小領域から大面積まで高感度な分析が 可能な走査型デュアルＸ線光電子分光分析装置 (XPS)です。 2種類のX線源は短時間･自動で切り替えが可能。 試料の同一箇所を分析することができます。 【特長】 ■走査型デュアルモノクロX線源 ■2線源による容易な同領域測定 ■ターンキー帯電中和 ■自動分析 ■高耐圧アナライザ ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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金属材料の材質がわかる！ハンドヘルド蛍光X線分析機『VoXER』

金属材料の材質がわかる！ハンドヘルド蛍光X線分析機『VoXER』
株式会社ShinSei
『VoXER』は、成分分析の結果をもとに合金を判定する ハンドヘルド蛍光X線分析機です。 大型タッチパネルを採用しており、簡単な操作で分析可能。 持ち運び自由で、分析場所を選びません。 ワンタッチカートリッジ交換式で、メンテナンスが容易です。 【特長】 ■信頼の分析結果・裏付け ■直感的なUIを搭載 ■どこでもポータブル ■非破壊で分析できる ■短時間で分析できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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卓上型マグネトロンスパッタ装置『FDS/FRSシリーズ』

卓上型マグネトロンスパッタ装置『FDS/FRSシリーズ』
株式会社FKDファクトリ
『FDS/FRSシリーズ』は、必要な機能を備えた研究開発用の 卓上型マグネトロンスパッタ装置です。 基本仕様は、DCスパッタ/シングルカソード/ロータリーポンプで 構成される金属薄膜用スパッタ。 RF化、カソード増設、ターボ分子ポンプ仕様などの 拡張オプションにより、研究ステージに合せて グレードアップしていただくことが可能です。 【特長】 ■初期導入コストを抑え、後の拡張で高性能化が可能 ■基本仕様でアルゴン用MFCを備えており、ガス流量を精密に制御 ■成膜方向は試料へのゴミ付着を防止するためにデポアップを採用 ■卓上タイプながら真空シール性の高いSUSチャンバを採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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集束イオンビーム装置（ＦＩB)用　多出力高圧電源　FIBXシリーズ

集束イオンビーム装置（ＦＩB)用　多出力高圧電源　FIBXシリーズ
スペルマンハイ・ボルテージエレクトロニクスコーポレーション
各種電源を一つに統合 高い安定度と低リップル モールドされた高圧発生セクション コロナ放電のないオペレーション 光ファイバーにて絶縁されたデジタルインターフェイス ＣＥマーク、ＵＬ及びＳＥＭＩ準拠
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真空コンポーネント 高速電子回折システム／ＲＨＥＥＤシステム

真空コンポーネント 高速電子回折システム／ＲＨＥＥＤシステム
バキュームプロダクツ株式会社
30KV対応でコンパクトな制御電源です。
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微小電流測定用サーモコントローラー『LMT-S-700シリーズ』

微小電流測定用サーモコントローラー『LMT-S-700シリーズ』
コレット工業株式会社
『LMT-S-700シリーズ』は、当社の顕微鏡用サーモコントローラの 豊富な技術と実績により、広範囲な温度制御を正確に行うことができる 特注型 微小電流測定用サーモコントローラーです。 半導体パッケージ、液晶、ベアチップ、プリント基板、医薬品等各種素材の 熱変形、電気特性、光学特性を顕微鏡下による観察、測定、計測が可能です。 【特長】 ■幅広い温度範囲での正確な温度制御 ■均一な表面温度 ■幅広い適応性 ■高品質で低価格 ■特注品の製作 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
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小型高温炉

小型高温炉
株式会社リケン環境システム
コンパクトな上、高温まで急速昇温可能な小型高温炉です
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真空プローバーシステム『SB-MCPSシリーズ』

真空プローバーシステム『SB-MCPSシリーズ』
株式会社サーマルブロック
『SB-MCPSシリーズ』は、豊富なオプションで 低温から高温まで対応可能な真空プローバーシステムです。 液体窒素冷却ユニット(80K～500K)をはじめとして、液体ヘリウムフロー型 冷却ユニット(5K台～300K)、高温ユニット(室温～600K)などの 低温・高温オプションをご用意しています。 極低温から、高温までの温度を選択することが可能です。 【仕様】 ■温度範囲：室温 ■サンプルサイズ：ロ20mm ■移動量：X軸 ±25.0mm、Y軸 ±15.0mm、Z軸 ±12.5mm ■コネクター : BNCコネクター ■架台寸法：W550mm×D550mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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金属材料分析装置　belec compact port HLC

金属材料分析装置　belec compact port HLC
株式会社オーイーエス
belec compact port HLCは、ポータブルタイプでハイブリッド分光光学系システムを搭載した第6世代分光光学系システム6GSO System (6th Generation Spectrometer Optic System)を採用した、小型・ポータブルタイプの発光分光分析装置です。 新開発のアルゴンUVプローブを使用することで、カーボンはもちろん、リン、硫黄、ボロン、スズまで分析可能です。（検出限界：C 0.003%、P 0.005%、S 0.005%、B0.0005%） また、窒素光学系オプションを使用することで、デュープレックススチールの分析に不可欠な窒素も0.05%の検出限界にて分析が可能です。 【特徴】 ○温度安定型分光器の採用 →周囲の温度に影響を受けず高精度な分析が可能 ○オプションにてDuplex Steelの分析にかかせない窒素の分析も可能 ○マルチベースアプリケーションにも最適 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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表面分析機器『TOFLAS-3000』

表面分析機器『TOFLAS-3000』
株式会社パスカル
『TOFLAS-3000』は、入射プローブとしてイオンではなく電気的に中性な 原子ビームを用いた飛行時間型原子散乱表面分析装置です。 本製品を使用することにより、半導体，金属のみならず絶縁体表面の 組成および原子配列の解析も可能です。 また、帯電（チャージアップ）の問題も解決します。 【特長】 ■金属、半導体はもとより絶縁体の表面分析にも威力を発揮 ■試料表面の元素の同定が可能 ■表面下数層の原子構造解析が可能 ■試料表面の極性判別が可能 ■表面での動的過程のリアルタイムモニタリングに対応 ■電場・磁場中でも影響なく測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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化学・材料・製造における金属材料の表面不動態層

化学・材料・製造における金属材料の表面不動態層とは？

金属材料の表面に自然に、あるいは意図的に形成される、腐食や化学反応から金属本体を保護する緻密な酸化物や化合物の層のこと。この層の存在と特性は、金属材料の耐久性、機能性、そして最終製品の性能に大きく影響します。

​課題

不動態層の不安定性

特定の環境下（例：酸性、塩化物イオン存在下）で不動態層が破壊され、腐食が進行してしまう。

不動態層の均一性不足

表面全体に均一な不動態層が形成されず、部分的な腐食や性能低下を引き起こす。

不動態層の評価困難性

不動態層の厚さ、組成、構造などを非破壊的かつ高精度に評価する技術が限られている。

不動態層形成の制御性

目的とする特性を持つ不動態層を、再現性良く、かつ効率的に形成するプロセス制御が難しい。

​対策

表面改質技術の適用

化学的処理、電解処理、プラズマ処理などを施し、より安定で強固な不動態層を形成する。

添加剤による不動態化促進

めっき浴や化成処理液に特定の添加剤を配合し、不動態層の成長を促進・均一化させる。

高度分析手法の活用

X線光電子分光法（XPS）、オージェ電子分光法（AES）、原子間力顕微鏡（AFM）などを用いて不動態層を詳細に分析・評価する。

プロセスパラメータの最適化

処理時間、温度、濃度、電位などのパラメータを精密に制御し、目的の不動態層を形成する。

​対策に役立つ製品例

表面処理装置

化学的、電気化学的な処理により、金属表面に均一で安定した不動態層を形成させるための装置。

表面分析装置

不動態層の組成、構造、厚さなどを非破壊的に高精度で分析し、品質管理や研究開発を支援する装置。

表面改質剤

金属材料の表面処理液に添加することで、不動態層の形成を促進し、その安定性や均一性を向上させる薬剤。

プロセス制御システム

表面処理プロセスにおける各種パラメータをリアルタイムでモニタリング・制御し、再現性の高い不動態層形成を実現するシステム。

⭐今週のピックアップ

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