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デバイスの長寿命化とは？課題と対策・製品を解説
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光半導体・電子デバイスにおけるデバイスの長寿命化とは？
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「レンズ耐久テスト機」の製作事例をご紹介します。
レンズ耐久テスト機は、レンズの回転耐久試験装置です。
有限会社ティ・エス・ディは、生産設備の製品開発、製品試験のお手伝いを致します。
冶工具・省力化機器製造を通じ、製造ラインの生産効率アップ・コストダウンをご支援致します。
製造の他にも、組立配線・特注ハーネス加工なども提供致します。
外部のビジネスパートナーと共に協力し、お客様にご満足頂ける「ものづくり」を目指しています。
【特徴】
○レンズ耐久テスト機
○レンズの回転耐久試験装置
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
【製作事例】 レンズ耐久テスト機
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光半導体・電子デバイスにおけるデバイスの長寿命化
光半導体・電子デバイスにおけるデバイスの長寿命化とは？
光半導体・電子デバイスは、レーザー光源やセンサーなど、光技術・レーザー業界において不可欠な要素です。これらのデバイスの長寿命化は、製品の信頼性向上、メンテナンスコスト削減、そして持続可能な社会の実現に貢献します。本説明では、その課題と解決策、そしてそれを支援する商材について解説します。
課題
熱による劣化
デバイス内部で発生する熱は、材料の変質や構造の損傷を引き起こし、寿命を縮める主要因となります。
電気的ストレス
過電圧や過電流といった電気的なストレスは、デバイスの内部回路にダメージを与え、早期故障の原因となります。
環境要因への脆弱性
湿度、温度変化、振動、化学物質への暴露などは、デバイスの性能低下や故障を招く可能性があります。
材料の経年変化
使用に伴う材料自体の物理的・化学的な変化は、徐々にデバイスの性能を低下させ、最終的な寿命に影響します。
対策
高度な放熱設計
効率的な熱伝導材料や構造を採用し、デバイス内部の温度上昇を抑制します。
精密な電源管理
過電圧・過電流保護回路を組み込み、安定した電力供給を実現します。
堅牢な封止技術
外部環境からの影響を遮断する、高耐久性の封止材や構造を採用します。
信頼性の高い材料選定
長期間の使用に耐えうる、劣化しにくい高品質な材料を選定・使用します。
対策に役立つ製品例
高性能放熱基板
熱伝導率の高い素材と構造により、デバイスから発生する熱を効率的に外部へ逃がし、温度上昇を抑制します。
耐環境性封止材
湿度、温度変化、化学物質など、過酷な環境下でもデバイスを保護し、劣化を防ぎます。
高精度電源制御モジュール
入力電圧の変動や突入電流を抑制し、デバイスに安定した電力を供給することで、電気的ストレスを低減します。
長寿命化設計支援ソフトウェア
デバイスの熱・電気的挙動をシミュレーションし、最適な設計パラメータを導き出すことで、初期段階から長寿命化を実現します。
