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超高速3D計測の実現とは?課題と対策・製品を解説
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光半導体・電子デバイスにおける超高速3D計測の実現とは?
光半導体や電子デバイスの微細かつ複雑な構造を、極めて短時間で三次元的に計測する技術のこと。これにより、製品の品質向上、開発期間の短縮、製造プロセスの効率化を目指します。
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イベントベースビジョンカメラ製品「SilkyEvCam」の派生製品「BothView Cマウントモデル」は多くのイベントカメラユーザーからのご要望で開発した製品です。
輝度変化を、一画素単位で超高速センシングし、広いダイナミックレンジで使用環境の照度の影響を受けにくいという特徴を持つイベントカメラの利点をさらに高めるために、従来のフレームベースの映像も見たいというご相談を多くいただいていました。
これまで、イベントカメラとフレームカメラを並列に配置し撮影する方法が一般的でしたが、視差は避けられず、追加の補正処理が必要でした。本来のイベントカメラの特長である低データ容量・低消費電力という利点が十分活かされていませんでした。
本製品は、単眼で捉えるため視差が発生せず、ビームスプリッターを活用してレンズからの入射光をフレームセンサーとイベントセンサーへ分割することで、イベント画像とフレーム画像を同時に取得可能です。また、フレームセンサーからイベントセンサーへタイミング信号を送ることでデータの同期を実現しました。
イベント&フレームカメラ SilkyEvCam BothVIew

