ファイバ曲げ損失の最小化とは？課題と対策・製品を解説

当社では、コネクタの取付けを含め、アレイ端面への特殊加工や、
開発・試験製品にも対応しております。

光ファイバアレイにおいて重要な断線検査では、光学顕微鏡と
独自に編み出した反射による通光検査を取り入れた二重検査で
検出困難なファイバ断線も見逃しません。
厳正な二重検査の実施により、妥協の無い高品質の光部品を提供します。

【製品例】
■光ファイバコネクタ
■光ファイバアレイ　など

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社では、TECファイバやエッチングファイバ、テーパーファイバといった
光ファイバ関連製品を取り扱っております。

TECファイバは、市販のSI型SMFでご利用可能。

また、テーパーファイバにおいてはシミュレーション加工ノウハウの
蓄積により、殆ど損失なくナノ光ファイバ化することが可能です。

【ラインアップ】
■TECファイバ
■エッチングファイバ
■テーパーファイバ

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

極限まで高められたマイクログラインダー技術によって加工される弊社のV溝基板と独自の組立技術による高いコアピッチ精度を実現したファイバーアレイはそのパフォーマンスの高さから多くのお客様にご支持を頂いております。

適用コネクタ種類：FC、SC、ST、LC、MU、FC / APC、SC / APC、ST / APC、LC / APC。
適用フェルール種類：Φ2.5フェルール/ APC、Φ1.25フェルール/ APC、MTRJ、MPO、E2000 SHUNER、E2000 R＆M、MPO/ APC。

各種類のコネクタ／フェルールで色んな角度によって、ポリッシングに使う研磨治具は非常に多くになっているため、まずお気軽に弊社までお問い合わせください。

FIMMWAVEは、導波路構造用の堅牢で完全なベクトルモードソルバーをもち、多数の補完的なアルゴリズムを採用することで、
任意の材料と柔軟性の高い導波路CADツールにより多種多様な導波路を解くことができます。
また、伝搬モジュール「FIMMPROP」を用いて、2D / 3D構造における伝搬をモデル化することが可能です。

・　低屈折率高分子導波路、高屈折率シリコン（SOI）およびGaAs / AlGaAs 導波路
・　シングルモードおよびマルチモード光ファイバー、フォトニック結晶ファイバー（PCF）
・　エッチング（リブ、リッジ）、拡散、埋没などの一般的な各形状
・　スロット導波路、スランテッドウォール、グレーデッド構造
・　プラズモン導波管、マイクロ波導波管
・　光活性導波路、光磁気導波路

FIMMWAVEには、様々な構造に最適化された、豊富な補完的ソルバーが含まれています。
・　半解析的手法：屈折率の強い変動や薄い層などの問題に効率的に取り組むことができます。
・　有限要素法（FEM）や有限差分法（FDM）のような数値的手法で、任意の問題に対してロバストな解を提供します。

当社で取り扱う、「MFD変換ファイバ」をご紹介いたします。

deltafiber.jpの熱拡散技術を併用することで、MFDミスマッチ損失を
極限まで低減。市販のSI型SMFでご利用できます。

また、接続部は融着接続のうえ、リコートもしくは補強スリーブを付け、
SMF仕様の他、特別仕様として一部のPMF、MMFが適用可能です。

【その他の光ファイバ加工】
■TECファイバ(局所加熱技術)
■テーパー化
■エッチング
■短パルスレーザーFBG
■コネクタ加工・ケーブル加工
■NFP/FFP他、各種計測

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『エンサークルドフラックス計測システム』は、エンサークルドフラックス・
結合パワー計数等ファイバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が
可能なシステムです。

光ファイバのNFP（ニアフィールドパターン）を解析することにより、
マルチモードファイバのモード伝播を迅速に評価・測定します。

また、オプションにより、当社製限定空励振光学系との組み合わせにより、
照射N.Aや照射ビーム径を変更することが可能です。

【特長】
■標準化パラメータ測定機能
■照射条件可変機能（オプション）
■近赤外域（1.3μm帯）における測定が可能（オプション）

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。