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透明体・液体の厚み測定とは?課題と対策・製品を解説

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センサー&計測における透明体・液体の厚み測定とは?
透明体や液体の厚みを非接触で高精度に測定する技術です。製造ラインでの品質管理や研究開発など、様々な分野で不可欠な役割を果たします。
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【製造業向け】液晶光学素子製品
【光学部品向け】SM-100 series 膜厚測定装置
光学部品業界では、製品の性能を左右する反射防止膜の正確な膜厚測定が求められます。特に、光の透過率や反射率を精密に制御する必要がある場合、膜厚のわずかな差異が製品の品質に大きな影響を与える可能性があります。測定結果のバラつきや測定精度の低さは、歩留まりの低下や不良品の増加につながりかねません。SM-100 seriesは、持ち運び可能なハンディタイプで、最薄0.1μmまで検量線不要で膜厚測定が可能です。光学部品の製造プロセスにおける膜厚測定の課題を解決します。
【活用シーン】
・反射防止膜の膜厚測定
・光学フィルターの膜厚測定
・レンズコーティングの膜厚測定
【導入の効果】
・測定結果の信頼性向上
・歩留まりの改善
・品質管理の効率化
【光学業界向け】リアルナノ3次元測定機
光学業界では、製品の品質管理において、表面の反射特性を正確に評価することが求められます。特に、光学レンズや反射防止膜など、光の反射を利用する製品においては、表面の微細な形状や粗さが性能に大きく影響します。不適切な表面状態は、光の散乱や損失を引き起こし、製品の性能低下につながる可能性があります。当社のリアルナノ3次元測定機は、ナノスケールでの実測を可能にし、反射特性評価における課題を解決します。
【活用シーン】
・光学レンズの表面粗さ測定
・反射防止膜の膜厚と形状評価
・光ファイバーの端面形状測定
・ディスプレイの表面評価
【導入の効果】
・高精度な表面形状測定による品質向上
・不良品の削減とコスト削減
・製品開発における迅速なフィードバック
・顧客からの信頼性向上
【光学向け】最大推力30,000N ピエゾアクチュエータ
光学機器のレンズ調整では、高精度な位置決めと安定した動作が求められます。特に光軸の微調整や焦点距離の制御では、わずかな位置ズレが画像品質や測定精度に大きく影響します。
P-235 ピエゾアクチュエータは、最大30,000Nの高推力と高い剛性を備えた高荷重対応ピエゾアクチュエータです。内部に歪みゲージセンサーを搭載したモデルではクローズドループ制御が可能で、ナノレベルの高精度位置決めを実現します。光学レンズ調整や干渉計測など、高精度な位置制御が求められる光学システムに適しています。
【活用シーン】
・レンズの光軸調整
・焦点距離の微調整
・光学顕微鏡
・干渉計
【導入の効果】
・ナノレベルでの高精度な位置決め
・光学系の性能向上
・実験・研究の効率化
・高精度な測定の実現
【光学向け】光学用位相シフター S-312
精密光学システムや干渉計アプリケーションでは、微小な光学位相シフトの制御が測定精度や解析結果に大きく影響します。わずかな変位差が干渉縞の安定性や計測結果に影響を与えることもあります。S-312 光学用位相シフターは、干渉計や精密光学用途向けに設計されたオープンループのピエゾZステージです。フレクシャーガイド構造によりバックラッシュのない滑らかな動作を実現し、微小変位制御による安定した位相調整をサポートします。コ ンパクト設計のため、光学ベンチや装置内への組み込みにも適しています。
【活用シーン】
・干渉計実験
・光学位相シフト制御
・ホログラフィー/波面制御実験
・精密光学アライメント
【導入の効果】
・微小変位制御による安定した位相調整
・再現性の高い光学測定
・装置組み込み性の向上
【計測機器向け】非球面シリンダー
【光計測向け】長ストローク対物フォーカス P-725.xCDE2
光計測分野では、光学イメージングや精密測定において、検出位置のフォーカス精度と安定性が結果の精度に直結します。特に微細構造の評価や高速データ取得を必要とするアプリケーションでは、高分解能フォーカス制御と応答性の高い動作性能が求められます。
P-725.xCDE2 PIFOCフォーカススキャナは、サブナノメートル分解能の位置制御と、最大800 µmのストロークを両立。PICMAピエゾアクチュエータと高精度静電容量センサー搭載のフレクシャガイド機構により、光計測装置のZ方向フォーカス調整における高い線形性と再現性を実現します。これにより、光計測におけるフォーカス位置ズレの影響を抑え、測定精度と装置の歩留まり向上に貢献します。
【活用シーン】
・共焦点顕微鏡による高精度計測
・多光子顕微鏡の高速Z走査
・高解像度イメージング評価装置
・光干渉計・位相計測装置
【導入の効果】
・サブナノメートル分解能のフォーカス制御
・最大800 µmストロークでの広い測定範囲対応
・高速応答による検査・計測時間の短縮
・PIFOC/フレクシャ構造による長期安定性
【光学調整・光学アライメント向け】高精度Zステージ L-310
光学装置では、レンズやセンサーの位置ずれが光学性能に大きく影響します。特に光軸調整やフォーカス制御では、サブミクロンレベルでの安定した位置決めが求められます。L-310は、ボールねじ駆動とクロスローラーガイドを採用した高精度Zステージです。高いガイド精度と剛性に加え、インクリメンタルエンコーダによる高精度位置測定により、光学機器における精密なZ軸位置制御を実現します。
【活用シーン】
・光学レンズの位置調整
・光学アライメント装置
・センサー位置調整
・顕微鏡フォーカス制御
・レーザー光学系の位置調整
【導入の効果】
・高精度なZ軸位置決めによる光学性能向上
・安定した動作による測定精度の向上
・スムーズな位置調整による作業効率向上
・装置の安定性向上による歩留まり改善
【光学部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series
光学部品業界では、製品の性能を左右するコーティング膜の品質管理が重要です。膜厚のわずかな差異が、光学特性に大きな影響を与えるため、高精度な膜厚測定が求められます。非破壊・非接触での測定、高速測定、そして光学定数の正確な解析が、品質管理の効率化に不可欠です。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、これらの課題を解決します。
【活用シーン】
* 光学レンズ、フィルター、ミラーなどのコーティング膜厚測定
* 多層膜の膜厚と光学定数の測定
* 研究開発におけるコーティング材料の評価
【導入の効果】
* 1秒/pointの高速測定による測定時間の短縮
* 高精度な膜厚測定による製品品質の向上
* 光学定数解析機能による材料評価の効率化
【ガラス向け】16Kラインスキャンカメラ
非冷却2次元近赤外・中赤外検出器『RIGI-NIR/MIR』
『有機EL顕微鏡照明装置』
640-905nm センサ用高出力FPレーザ
高信頼・高品質のCW/ナノ秒パルス高出力FPレーザです。
CW/高出力ナノ秒パルス駆動で、幅広いセンサ用途に対応可能。
モニタPD搭載で簡便に光出力制御ができます。
長距離センシング可能な高出力ナノ秒パルス駆動においても
信頼性を保証しており、波長選別、1対1データ添付、少量出荷等の
様々なニーズに対応しています。
【特長】
■CW、高出力ナノ秒パルスで駆動可能
■単峰性のビーム形状により、ビーム整形が容易
■モニタPD搭載のTO56パッケージにより光出力制御が可能
■2種類のピン配置に対応(アノードコモン/カソードコモン)
■少量出荷から柔軟に対応(1対1デー タ付き)
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
TAK SYSTEM 2色レーザー装置
ストロボLED光源















