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光技術・レーザー

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透明体・液体の厚み測定とは?課題と対策・製品を解説

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センサー&計測における透明体・液体の厚み測定とは?

透明体や液体の厚みを非接触で高精度に測定する技術です。製造ラインでの品質管理や研究開発など、様々な分野で不可欠な役割を果たします。

各社の製品

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【光計測向け】長ストローク対物フォーカス P-725.xCDE2
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光計測分野では、光学イメージングや精密測定において、検出位置のフォーカス精度と安定性が結果の精度に直結します。特に微細構造の評価や高速データ取得を必要とするアプリケーションでは、高分解能フォーカス制御と応答性の高い動作性能が求められます。

P-725.xCDE2 PIFOCフォーカススキャナは、サブナノメートル分解能の位置制御と、最大800 µmのストロークを両立。PICMAピエゾアクチュエータと高精度静電容量センサー搭載のフレクシャガイド機構により、光計測装置のZ方向フォーカス調整における高い線形性と再現性を実現します。これにより、光計測におけるフォーカス位置ズレの影響を抑え、測定精度と装置の歩留まり向上に貢献します。

【活用シーン】
・共焦点顕微鏡による高精度計測
・多光子顕微鏡の高速Z走査
・高解像度イメージング評価装置
・光干渉計・位相計測装置

【導入の効果】
・サブナノメートル分解能のフォーカス制御
・最大800 µmストロークでの広い測定範囲対応
・高速応答による検査・計測時間の短縮
・PIFOC/フレクシャ構造による長期安定性

【光学機器向け】小型リニアエアベアリングステージ A-143
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光学機器業界では、レンズやミラーなどの精密な調整が、製品の性能を左右する重要な要素です。特に、微細な位置調整が求められる場面では、精度の高いステージングシステムが不可欠です。調整の精度が低いと、光学系の性能が低下し、最終的な製品の品質に悪影響を及ぼす可能性があります。A-143 PIglideは、ナノメートルレベルの精度で位置決めを行い、光学機器の調整作業を効率化します。

【活用シーン】
・光学レンズの位置調整
・精密測定器のキャリブレーション
・光ファイバーアライメント

【導入の効果】
・高精度な調整作業の実現
・作業時間の短縮
・製品品質の向上

【光学向け】エアベアリング A-311
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光学レンズ研磨・加工分野では、レンズの形状精度や表面品質が最終的な光学性能を大きく左右するため、極めて高い位置決め精度と安定性が求められます。特に研磨や表面加工工程では、わずかな振動や摺動摩擦が加工精度や再現性に影響を及ぼす可能性があります。

PIglide IS A-311 は、エアベアリングによる非接触支持とリニアモータ駆動を採用した高精度XYステージです。機械的摩擦やスティックスリップを排除することで、滑らかで安定した平面動作を実現し、光学用途に求められる高い位置決め精度と繰り返し性を支えます。

光学レンズの研磨工程や、精密な表面加工・評価工程において、加工品質の安定化やプロセス再現性の向上に貢献します。また、エアベアリング構造により発塵を抑えられるため、クリーンルーム環境での使用にも適しています。

【活用シーン】
・レンズ研磨工程
・高精度な表面加工が必要な場面
・クリーンルーム環境での使用

【導入の効果】
・高精度な研磨を実現
・タクトタイムの短縮
・製品の品質向上

【光学分野向け】開口50mmピエゾスキャナ P-517/527
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光学分野における位置決めは、高精度な測定や検査、微細加工において、非常に重要な要素です。特に、レンズやミラーなどの光学部品の位置調整は、システムの性能を左右する重要な課題です。従来の機械的な位置決め方法では、摩擦やバックラッシュによる精度の限界があり、高精度な位置決めが困難な場合がありました。P-517/527マルチ軸ピエゾスキャナは、ナノレベルの分解能と再現性により、光学部品の位置決めにおける課題を解決します。

【活用シーン】
・光学検査
・ウェハー検査
・ナノポジショニング
・計測
・顕微鏡

【導入の効果】
・サブナノメートルの分解能による高精度な位置決め
・摩擦ゼロのフレクシャガイドによる安定した動作
・静電容量センサーによる高いリニアリティ
・50 x 50mmの開口による透過光測定への対応

【計測機器向け】非球面シリンダー
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計測機器業界では、正確な距離測定のために、高品質な光学部品が不可欠です。特に、レーザー測距や光学センサーにおいては、光の収差を補正し、高精度な測定を実現するために、非球面レンズの利用が求められます。非球面シリンダーレンズは、このような用途において、高い光学性能を発揮し、システムの小型化にも貢献します。当社では、DXFデータに基づき、さまざまな非球面シリンダーレンズの加工に対応しています。

【活用シーン】
* レーザー測距システム
* 光学センサー
* 距離測定デバイス

【導入の効果】
* 高精度な測距性能の実現
* システムの小型化
* 光学性能の向上

【光学業界向け】リアルナノ3次元測定機
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光学業界では、製品の品質管理において、表面の反射特性を正確に評価することが求められます。特に、光学レンズや反射防止膜など、光の反射を利用する製品においては、表面の微細な形状や粗さが性能に大きく影響します。不適切な表面状態は、光の散乱や損失を引き起こし、製品の性能低下につながる可能性があります。当社のリアルナノ3次元測定機は、ナノスケールでの実測を可能にし、反射特性評価における課題を解決します。

【活用シーン】
・光学レンズの表面粗さ測定
・反射防止膜の膜厚と形状評価
・光ファイバーの端面形状測定
・ディスプレイの表面評価

【導入の効果】
・高精度な表面形状測定による品質向上
・不良品の削減とコスト削減
・製品開発における迅速なフィードバック
・顧客からの信頼性向上

【光学部品向け】SM-100 series 膜厚測定装置
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光学部品業界では、製品の性能を左右する反射防止膜の正確な膜厚測定が求められます。特に、光の透過率や反射率を精密に制御する必要がある場合、膜厚のわずかな差異が製品の品質に大きな影響を与える可能性があります。測定結果のバラつきや測定精度の低さは、歩留まりの低下や不良品の増加につながりかねません。SM-100 seriesは、持ち運び可能なハンディタイプで、最薄0.1μmまで検量線不要で膜厚測定が可能です。光学部品の製造プロセスにおける膜厚測定の課題を解決します。

【活用シーン】
・反射防止膜の膜厚測定
・光学フィルターの膜厚測定
・レンズコーティングの膜厚測定

【導入の効果】
・測定結果の信頼性向上
・歩留まりの改善
・品質管理の効率化

【製造業向け】液晶光学素子製品
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製造業の検査工程では、製品の品質を確保するために、高精度な検査が求められます。特に、微細な欠陥や異物を検出するためには、高速かつ高解像度な光学技術が不可欠です。従来の検査方法では、検査速度の遅さや検出精度の限界が課題となっていました。当社の液晶光学素子製品は、高速応答性と高精度な光制御により、製造ラインにおける検査工程の効率化と品質向上に貢献します。

【活用シーン】
・外観検査
・寸法測定
・異物検査

【導入の効果】
・検査時間の短縮
・不良品の早期発見
・品質管理の向上

【光学部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series
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光学部品業界では、製品の性能を左右するコーティング膜の品質管理が重要です。膜厚のわずかな差異が、光学特性に大きな影響を与えるため、高精度な膜厚測定が求められます。非破壊・非接触での測定、高速測定、そして光学定数の正確な解析が、品質管理の効率化に不可欠です。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、これらの課題を解決します。

【活用シーン】
* 光学レンズ、フィルター、ミラーなどのコーティング膜厚測定
* 多層膜の膜厚と光学定数の測定
* 研究開発におけるコーティング材料の評価

【導入の効果】
* 1秒/pointの高速測定による測定時間の短縮
* 高精度な膜厚測定による製品品質の向上
* 光学定数解析機能による材料評価の効率化

【ガラス向け】16Kラインスキャンカメラ
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ガラス業界では、製品の品質を確保するために、表面の傷や異物の検出が求められます。特に、自動車やディスプレイに使用されるガラスにおいては、わずかな傷や異物が製品の性能や外観を損なう可能性があります。16Kラインスキャンカメラは、16Kの高解像度と最大120kHzの高速ラインレートにより、ガラス表面の微細な傷や異物を正確に捉え、高速な検査を実現します。

【活用シーン】
・ガラス製品の傷検査
・異物混入検査
・高速ラインスキャン検査が必要な工程

【導入の効果】
・高解像度による詳細な検査が可能
・高速スキャンによる検査時間の短縮
・品質管理の向上と歩留まりの改善

OCT プローブ
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当社では、SS-OCTシステムやOEM製品にカスタム・オプションとして
使用可能な『プローブ』を取扱っております。

手に持ちサンプルに押し当てて測定する「ハンドヘルドタイプ」をはじめ、
測定位置を確認しながら測定できる「顕微鏡タイプ」など、
様々なプローブをラインアップしています。

【特長】
■ハンドヘルドタイプ
・手に持ちサンプルに押し当てて測定
・アタッチメントにより測定物までの距離を変え、3D測定も対応可能
■顕微鏡タイプ
・XYZステージにより高精度にサンプルの位置決めを行う
・測定位置を確認しながら測定できる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

レーザー照射器『ルミシスUVレーザー』※デモ実施中
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『ルミシスUVレーザー』は、不可視光(波長375nm)を用いたレーザー照射器です。

不可視光を使用しているため、これまで悩まされてきたハレーション
の発生が回避可能。

さらに、UV励起蛍光発光トレーサー「ルミシスマーカー」をお使い
戴くことにより、単一光源下で複数の色(RGB)による観察を行うことが
出来るため、混相流・混合流などの観察にも有効です。

【特長】
■不可視光(波長375nm)を用いたレーザー照射器
■ハレーションの発生が回避可能
■UV励起蛍光発光トレーサー「ルミシスマーカー」を使用することで
 単一光源下で複数の色(RGB)による観察を行うことが出来る
■混相流・混合流などの観察にも有効

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※デモ希望の方はお問い合わせください

3Dマイクロスコープ【ゴーグルや眼鏡を付けずにリアルな3D再生】
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特許取得済みの3Dフィルター技術を使用して、メガネや、ゴーグルを使用
せず目で見た様な3Dが体験できます。今まで顕微鏡を使用していた検査や、
作業がモニターで可能になります。

被写体の奥行きを撮影するため2つのカメラで、人間が目で見た様に撮影。
モニターには特殊なフィルターとカメラが付いていて、モニターとの距離、
中心位置、目と目の間隔を認識して、3D画像を適切な形で描画します。

【特長】
■眼鏡を付けずにリアルな3Dがモニター上で再生可能です。
■今まで顕微鏡を使用していた検査や、作業がモニターで可能です。
■スタンダード型と、双眼顕微鏡につけるアドオン型をラインナップ。
 スタンドにもバリエーションがあり、使い勝手よく設計されています。

※詳細はお問い合わせいただくか、PDFダウンロードからご覧ください。

ストロボスコープ『ESD-VF2M-U2』
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『ESD-VF2M-U2』は、比較的長い閃光持続時間(50μsec~2msec)内に
高速コマ撮りするユニークな方式の照明装置です。

照明システムは、ドライブユニット「ESD-VF2M-U2」と
ランプハウス「SLA-153-U1」により構成されており、
撮影対象が繰り返し現象の場合はパルスジェネレータ「FG-310」を
併用することで撮影したいタイミングを直接眼で確かめながら
容易に設定が可能です。

【特長】
■ランプハウス1灯による発光(13.3W入力)あるいは4灯
 (1灯あたり2.2 W入力)による発光を選択可能
■発光を起動する同期信号には電圧信号とフォトカプラ入力が使用可能

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

DOEレンズ『ホログラム・レンズ』
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『ホログラム・レンズ』は、設計により焦点位置や集光形状を三次元的に
コントロールできる製品です。

0次光の影響がなく、三次元的に集光制御が可能。
光強度の均一性が高く、材料加工や三次元計測・センシングなどの用途に
適しております。

【特長】
■0次光の影響なし
■光強度の均一性が高い
■三次元的に集光制御が可能
■既存の光学系に組み込み易い

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

光学機器 8軸変角ステージ「GP-8-2D」
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本装置は8軸の自由度を持つステージで、鏡面光沢度、鏡面反射率、BRDFなどの測定が 全自動で容易に行うことが出来るように設計された装置です。

トップハットビームシェイパー テクノロジー
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彩世のトップハットビームシェイパーは、従来技術のDOE式と同様に光の回折を利用してガウシアンビームをトップハット(均一な強度分布)に変換しますが、DOE式 とは一角を成す、以下のような優れた特徴を持ちます。これらは、従来のDOE式の欠点を解決する革新的なトップハットビームシェイパーと言えます。

*【多波長対応】ひとつの素子で広い波長範囲の対応が可能
*【高精度】  偽スポットがないため、光の照射や計測制度が向上
*【高効率】  理論効率が高く、性能の安定性が向上
*ライン状や正方形状、丸の光ビームに変換できます。

μLINEMAN(LBS)・・・・照度均一のライン
μSQUAREMAN(MBS)・・照度均一の正方形
を所望の焦点位置に形成いたします。

μLINEMAN、μSQUAREMANは上述の特徴を生かして複数光源の搭載も可能です。
また、ラインや正方形のサイズ変更、円形、長方形への変換、あるいはトップハット以外の強度分布への変換等、カスタマイズも可能です。

テラヘルツ波分光・計測用Wire-Grid偏光子
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当社では、『テラヘルツ波分光・計測用Wire-Grid偏光子』を
ご提供しております。

以下のモデルをご用意しておりますが、サイズ、ワイヤピッチ、
材質などはご要望に応じて特注が可能です。

【ラインアップ】
■WG 50×20D50
■WG 50×20D70
■WG 30×16D50
■WG 30×16D70

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

光応用計測機器
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株式会社オングストロームは、ニーズに合った光学が絡んだ無接触
センサーやファイバー関係、レーザ、LED等のドライブ電源・CPUを
使用した制御器・データ伝送など多岐にわたって製品化を行っています。

太陽電池セルスターや農業用育苗、生育用LED光源、防虫用LED光源
及びLED電球、育苗用線面ヒータなどを市場に提供。

LED、LDにおいては産業経済省 産業技術総合研究所機械システム部門や
東京工業大学、東京歯科大学等と共同で研究開発を行っており
“聴こえプロジェクト”に使用するループアンテナ及び受信機の開発から
製品化を行っております。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【事業内容】
■光学機器の設計・開発
■精密測定機器・情報制御機器等の製造・開発
■光学センサー全般の開発
■光学ファイバー全般の開発
■レーザ製品の製造開発 など

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ストロボLED光源
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1μsec以下の幅で、立ち上がり時間が0.1から0.2μsecの高速ストロボLED光源です。出力は1から3Wで、数種類の波長を取り揃えております。Driver本体を購入すれば、数種類の波長を交換してもご使用になれます。冷却はファンによる空冷タイプと、安価で小型の自然空冷タイプがございます。

屈折と反射
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水の中にいる魚を水の上から見て、モリで突こうとして、失敗した経験は
ありませんか?水の上から見た時に見える魚の位置と実際にいる位置が
ずれているために起こります。

つまり、水の中から来る光がどこかで方向を変えて来るからこのようなことが
起きます。これが屈折です。

この反射の問題は、実は光の散乱を使用した計測器にとって大事な問題です。

使用するセル内面、レンズ表面に対して入射する散乱光の角度を注意して
設計しないと、正確な測定ができないことになります。

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

2025年製品紹介
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主にスマートフォンカメラモジュール用のアクチュエータ検査や幅広い製品開発にご使用いただいております。
オートコリメータのことならお任せください。

光変調方式分離型フォトセンサ
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『光変調方式分離型フォトセンサ』は、検出距離が50mmまたは
200mmの高機能フォトセンサです。

ホコリや汚れに強く、長寿命といった自動自己補正があり、
並置したセンサの影響を受けません。

最大値、10,000lxの外乱光に強い光変調方式で、
お客様のニーズに合わせたカスタマイズができます。

【特長】
■外乱光に強い光変調方式(最大値:10,000lx)
■自動自己補正(ホコリ、汚れに強い、長寿命)
■並置したセンサの影響を受けない
■検出距離50mmまたは200mm
■お客様のニーズに合わせたカスタマイズ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ROLIS 撮像原理のご紹介
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円筒面を2次元撮像素子(CCDカメラ)に転写撮像する装置「ROLIS」の
撮像原理をご紹介いたします。

外周撮像モデルは円筒面を左回転した場合、撮像素子面の画像は
レンズを介しているので右に流れます。

これに同期して、撮像素子を右に移動させることで、
円筒面を展開した画像を得ることができます。

その他に、ワーク回転タイプ・ミラー回転タイプの内周撮像モデルもあります。

【撮像原理】
■外周撮像モデル
■内周撮像モデル
・ワーク回転タイプ、ミラー回転タイプ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

光ファイバテーパー加工製品
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当社では、モード変換モジュールをはじめとする光ファイバーテーパー
加工製品を取り扱っております。

φ2mm以下の光ファイバ(石英系)の先端をテーパー加工することができ、
先端の径は1μm以下まで可能となっております。
また、尖っているか、丸くなるか、凹凸、偏芯などテーパーの形状を制御
することが可能です。

さらに、本加工を施すことで、先端からの光の出入射状態が通常とは異なる
挙動を示し、それを利用してセンシングや機能性デバイスなどへの応用が
期待されます。

【特長】
■先端の径を1μm以下まで加工可能
■テーパー形状を制御
■センシングや機能性デバイスなどへの応用が期待できる

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【展示会出展】レンズ研磨機と平面形状測定装置のご紹介
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4月19日(水)~21日(金)の3日間、「OPIE‘2023レンズ設計・製造展」に出展いたします。
新しい技術を弊社よりものづくりに貢献すべく、超精密の中枢を担う光学関係のお客様に役立つ製品のご紹介をさせて頂きます。
省人化、自動化、効率化、生産性向上と多様なテーマを必要とされるお客様に向けて、弊社で新しい技術の提案と、貢献をさせていただきたいと思います。

【展示会概要】
■OPIE2023レンズ設計・製造展■
会期:2023 4.19Wed.~21Fri. 10:00-17:00
場所:パシフィコ横浜 アネックスホール
ブース小間番号 I-01

【出展製品】
■Satisloh:非球面加工の研削・研磨のラインナップ
■OptoFlat:平面形状測定用反射・透過波面測定 低コヒーレンス干渉計
■【新登場】非球面金型検査装置:金型のDLC膜抜け・ドロップレットを自動検出
■ガラスレンズプリフォーム欠陥検査装置:レンズPFの欠陥を自動で検出

沢山の皆様の御来場をお待ちしておりますので、ぜひ弊社ブースへお立ち寄りください。
※関連リンクよりお申し込みください。

FMSシリーズ(X05)
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イメージサークル 21.8mm
(条件によりセンササイズ~ φ23 対応可能)
2.0μm/ピクセルピッチ
可視光~1100 対応
Cマウント / Fマウントにも対応

【取扱い説明書】罫寄りカメラ『KYC-1』
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光切断法を用い、罫線形状を簡単にモニター、測定できる
罫寄りカメラ『KYC-1』の取扱い説明書です。

測定準備から測定方法、保存方法、終了方法まで
画像を用いて詳しく説明しております。

【掲載内容】
■測定準備
■測定画面
■測定方法
■保存方法
■終了方法

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

テラヘルツ用オプティクス『Tsurupica(R)』
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『Tsurupica(R)』は、従来のテラヘルツ用透過材料である高密度ポリエチレンや
シリコンと比較して明確なアドバンテージがあるテラヘルツ用オプティクスです。

ディテクタ窓に適用すると、目視でセンサーの位置や状況を確認できます。
ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■透過周波数1~12THz
■ポリエチレンの持つ強いフォノン吸収がなく、低周波テラヘルツ全域で
 良好な透過特性を示す
■屈折率~1.52@633nm、THz帯
■テラヘルツ波と可視光帯の屈折率がほぼ等しいため、可視レーザーを
 光軸確認ガイド光に使用可能

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

【Akion】干渉縞解析装置『IFM』
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『IFM』は、操作が簡単で、どなたでもお使いいただける干渉縞解析装置です。

新しいOSに対応し、新規アルゴリズムの導入により、測定精度が向上し、
様々なニーズに対応する解析機能を有します。

また、ご所有の干渉計に当製品を搭載する、レトロフィット(旧型を改良)にも
対応いたします。

【特長】
■アイコンによる操作で、初心者でも容易に測定作業が可能
■画像処理技術の導入による位相つなぎ精度の向上
■様々な解析機能の追加
■オートキャリブレーション機能を搭載
■振動、空気ゆらぎ等の外乱にも強い解析が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

最新型 非接触レンズ中心厚測定機 「CT-Gauge」
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現在映像画質は4Kから8Kに移り変わりつつあり、光学系の性能は益々厳しくなるばかりです。この様な技術的背景では面形状や偏芯精度に加え、厳密な中心厚が規定されています。

しかしながらレンズの中心厚測定はかなり難しい測定対象です。理由は測定個所がレンズ上の『1点』でしか無く、明確なその位置の特定が困難だからです。

弊社ではこれらの課題解決に向け、5年前に非接触式のレンズ中心厚測定機を開発致しました。

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

二次元計測解析(輝度/輝度&色度/近赤外)ACE3 Series
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『ACE3 Series』はRISA-COLOR・ZERO Seriesの技術を継承し、高精度な二次元計測解析を実現
USB3.0対応と用途別モデルにより輝度・色度&輝度・近赤外・FPSの動的計測を幅広い業界へ展開
直感的な操作性と多言語対応で世界中の計測現場を支える次世代ソリューション
【ラインナップ】
■Color:ACE3-2000(1/1.8 CMOS 2,048×1,536)ACE3-205(1/2.9 CMOS 1,440×1,080)
■Monochrome:ACE3-1000(1/1.8 CMOS 2,048×1,536)ACE3-85(1/2.9 CMOS 1,440×1,080)
■NIR:ACE3-1000IR(1/1.8 CMOS 2,048×1,536)ACE3-85IR(1/2.9 CMOS 1,440×1,080)
【特長】
■輝度・色度&輝度・近赤外の3種類の計測選定
■サンプリング計測・FPS計測の2方式対応
■直感的なソフトウェアUIで簡単操作
■多業界対応の柔軟なカスタマイズ

※詳細はPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

テレセントリックレンズ『FMSシリーズ』
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『FMSシリーズ』は、2100~2500万画素のカメラに対応した
高性能モデルのテレセントリックレンズです。

1.2型(対角19.3mm)、4/3型(対角21.8mm)素子や、
条件によりセンササイズ対角23mmに対応可能。

可変絞り機構により、適した被写界深度でご使用いただけます。

【特長】
■ピクセルサイズ1.85μm~カメラに対応
■先端フィルタネジ付き
■Cマウント以外のマウントにも対応可能
■高コントラスト
■ディストーションレス

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

大阪特殊硝子の品質管理
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当社は、徹底した品質管理体制と充実した生産体制で日々取り組んでおります。

日々の積み上げられたデーターの管理・分析その解析結果の製造部門、
技術部門へのフィードバックにより、より以上の標準化を目指しております。

創業1890年の伝統に培われた高い技術力と、独自の一貫生産を確立し、
設計から完成までお客様のニーズにお応えします。

【品質管理の取り組み】
■検査工程
・熟練検査員により各工程で目視検査を行っている
■精密検査
・反射鏡の生命である明るさ、色合い、透過率、耐熱温度は
 専用の測定機器で管理している

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

セパレート型ストロボ電源シリーズ
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『セパレート型ストロボ電源シリーズ』は、内部発振及び外部同期などの
機能を搭載したマルチタイプのストロボ電源です。

電源部と発光部がセパレートタイプのため、用途に応じて
様々な形状・照射範囲の発光部を選択いただけます。

【機能】
■内部発振機能
■外部信号同期機能
■接点信号同期機能
■電源周波数同期機能
■X接点機能(PS-240D/PS-250D)

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ポータブルゴニオフォトメータ LightSpion
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持ち運びが出来る画期的なゴニオフォトメータLightSpionになります。従来のゴニオフォトメータは測定室に入れ定盤の上に置かれ、測定となると測定室まで行って測定を行う煩わしさがありました。しかし、このゴニオフォトメータは、卓上で簡単に気軽に測定を行えるのが特徴です。自分の机の上ですぐに測定が行えるため、非常に便利ですし測定したい時にすぐに出来ます。また測定の機能面もしっかりしており、配光特性・全光束・色測定はもちろん、全光束(lm)、発光効率(lm/W)、色温度(K)、演色評価数(CRI)などが測定できます。

オーツカ光学 ボアルーペ用作動距離エクステンダー WDE-B
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作動距離エクステンダーは、
既存のボアルーペに外付けすることで
倍率を下げること無く作動距離を延ばすことが可能です。
また、このエクステンダーはPULや偏光フィルターも同時に利用できます。。

640-905nm センサ用高出力FPレーザ
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高信頼・高品質のCW/ナノ秒パルス高出力FPレーザです。

CW/高出力ナノ秒パルス駆動で、幅広いセンサ用途に対応可能。
モニタPD搭載で簡便に光出力制御ができます。

長距離センシング可能な高出力ナノ秒パルス駆動においても
信頼性を保証しており、波長選別、1対1データ添付、少量出荷等の
様々なニーズに対応しています。

【特長】
■CW、高出力ナノ秒パルスで駆動可能
■単峰性のビーム形状により、ビーム整形が容易
■モニタPD搭載のTO56パッケージにより光出力制御が可能
■2種類のピン配置に対応(アノードコモン/カソードコモン)
■少量出荷から柔軟に対応(1対1データ付き)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

最小線幅2μ 最薄0.06mm 高精細フィルムスケール
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樹脂基板に蒸着した金属薄膜をエッチングすることで、高精細のパターン形成を可能としたフィルムスケールになります(特許取得済み)。
主にエンコーダー用のスケールを中心とした、光学センサー部品としてご採用いただいております。
背景は透明・黒とご希望に合わせて作製可能で、両面テープで貼り付け可能な仕様にすることもできます。
また、厚さ0.06mmの貼り付け可能なスケールを開発いたしました。これにより、精度はそのままで、立体形状にパターンをつけることが可能となります。
「貼れるスケール」として、ぜひご検討の程よろしくお願いいたします。

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お問い合わせください。

洗浄&乾燥装置 「レンズ・ガラス基板の水切洗浄・乾燥システム」
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従来のIPA乾燥や温風乾燥で課題となっていた「水染みゼロ」「乾燥ムラゼロ」「引火リスクゼロ」を実現。
弊社独自の水分除去装置により、HFE溶剤中の微量水分を常時管理し、乾燥品質を安定化させます。

ガラス基板に付着してHFE水切り乾燥装置に持ち込まれる水の大半は、比重分離により装置外へ排出されます。
HFE溶剤に溶け込んだ微量水分も、水分除去装置によって確実に除去します。

HFE溶剤による水切り・乾燥システムは、洗浄後のガラスや金属製品に付着した水を比重差と超音波作用で素早く分離し、水染みを完全に防止します。
ガラス・レンズ・金属部品などの精密乾燥工程で、安全・省エネ・量産対応を実現します。

【特徴】
 ○ IPAを使用しないため、引火・安全面のリスクを回避
 ○ 乾燥に必要なエネルギー消費量を大幅削減→CO₂排出抑制
 ○洗浄スピード向上により量産ラインにも対応
 ○HFE溶剤中に含まれる微量の水分を確実に取り除く
 ○ 微量水分を常時除去する「水分除去装置(オプション)」
  により水染み“ゼロ”を維持

距離及び角度測定用光学センサー
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変位計とオートコリメータを内蔵した1台の光学センサーです。
広視野の角度測定と高分解能の変位計測を両立しています。
処理機能を本体に内蔵していますので、配線などは必要ありません。電源ユニットを接続するだけで、すぐに測定することが出来ます。

超広視野レーザ走査イメージャ『LSM-4000シリーズ』
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『LSM-4000シリーズ』は、顕微鏡でもなくCCDカメラでもない第3の観察装置です。

幅広な長い画像を撮ることができ、細かな欠陥検査に好適。
セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出が可能です。

当シリーズの他、大型レーザ走査イメージャ「LSM-6000シリーズ」や小型
レーザ走査イメージャ「LSM-3000シリーズ」もラインアップしています。

【LSM-4000シリーズ 特長】
■標準型レーザ走査イメージャ
■透明フィルム、サファイア、ガラス、セラミックスなど、数μmのキズや
 異物の検出(2画面表示)
■スーパーバリアフィルム、ITO膜のリペアー部検出
■セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出可能
■走査幅4mmで0.2μmレベルの欠陥を検出
■走査レンズは交換可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

検査カメラ『ACH-4K-UVC』
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本システムは、PCに接続しデジタルマイクロスコープのアプリケーションにて静止画・動画撮影、計測可能なカメラです。
Cマウントカメラなのでアダプタにて顕微鏡に簡単に取り付けできます。

非冷却2次元近赤外・中赤外検出器『RIGI-NIR/MIR』
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『RIGI-NIR/MIR』は、SwissTHz社製の1~18umの領域を高感度で検出できる
2次元検出器です。

中赤外測定系でのビームモニタリングに好適で、μW(マイクロワット)
オーダーでの検出器が可能で非常に高感度。

USBケーブルで接続するだけで、専用のソフトウエアからの制御が可能なほか、
素子サイズや素子数のラインアップも豊富で、用途に応じて選択できます。

また、Geレンズを装着すれば黒体輻射のイメージを取得可能です。

【特長】
■非冷却
■小型(手のひらサイズ)・軽量(70g~)
■USB接続で簡単に動作可能
■ビームモニタリングに好適
■NETD:< <70mK@f/1300K
■近赤外(1-3um)と中赤外(4-18um)の2種類あり

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

レンズ『高精度TS λ/40』
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『高精度TS λ/40』は、Rの大きな凹面の測定が近距離で可能な
高精度TSレンズです。

基準レンズの交換によって測定精度を高めることができ、
安定した測定が可能です。

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『有機EL顕微鏡照明装置』
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『有機EL顕微鏡照明装置』は、 色の変化や比較等の判断を要する
被写体の検査に極めて有効性が高い装置です。

演色性に優れており、自然光(太陽光)に近い値にあります。(Ra90)

また、当製品は4面のパネルがそれぞれに角度を変えられ、被写体に応じた
光の照射ができます。

【特長】
■パネル全体が均一に発光する面発光体
■影の発生が少ない
■隙間等の奥まで光が入り細かな部分まで観察することが可能
■被写体からの乱反射によるチラツキ現象も少ない
■フラットな自然光での観察ができる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【薄膜を均一に成膜可能!】スピンコーターのオーダーメイド
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どの用途においても塗膜の厚みの均一さは課題となりますが、薬液の粘度や
性質、基板の材質やサイズに合わせた仕様の『スピンコーター』と試料台を
用いなければ課題達成が難しくなり、効果的な結果を得られません。

ぜひ一度アクティブにご相談ください。
お客様のご要望をできる限り汲んだご提案をいたします。

【選ぶ際の注意点】
■どの用途においても塗膜の厚みの均一さは課題となる
■薬液の粘度や性質、基板の材質やサイズに合わせた仕様の製品と試料台を
 用いなければ課題達成が難しく、効果的な結果を得ることができなくなる

【採用事例】
一眼レフカメラレンズ/スマートフォンレンズ/
水泳用ゴーグル/シャーレへの成膜...etc

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧ください。

『非接触式非球面レンズ偏芯・厚さ測定器』
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「非接触式非球面レンズ偏芯・厚さ測定器」は、ミクロの世界を見事に演出。
非球面レンズの偏芯・中心厚さを±1μmで測定します。
また、両凸、両凹、凸凹メニスカスレンズすべてのレンズが測定可能です。

【特長】
■測定精度は±1μmの非接触式高精度測定器
■数μmから23mmのレンズ中心厚、サグ量が測定可能
■パソコン管理も可能

※詳しくはお問い合わせください。

TAK SYSTEM 2色レーザー装置
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このレーザーでは、異なる波長のレーザー光源を内蔵させ、簡単なスイッチ切り替えで、レーザーの波長選択が可能となりました。量産をされたい場合にも、当社とアライアンスを組む多くの企業さんとの連携にて、価格と性能を最適化していきます。

LED赤外色照明 (透過型照明)
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赤外850nmチップLEDを使用した薄型面発光透過型照明が新登場!
薄型面発光透過型 LED赤外色照明 IRTUシリーズ発売開始

薄型面発光透過型照明シリーズに、チップ型赤外LED素子を使用したIRTUシリーズが新たに仲間入り。
厚みはわずか15mm。発光面の大きさは、最小30mm角から最大150×180mm角までの
全13タイプを標準設定しています。標準以外の大きさも対応いたしますのでご相談ください。
発光波長は850nmです。発光拡がり角の広いチップLED素子の使用で、発光面の均一性を確保した薄型透過照明を可能にしました。


*詳細については、カタログをダウンロードして下さい*

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センサー&計測における透明体・液体の厚み測定

センサー&計測における透明体・液体の厚み測定とは?

透明体や液体の厚みを非接触で高精度に測定する技術です。製造ラインでの品質管理や研究開発など、様々な分野で不可欠な役割を果たします。

​課題

表面反射による誤検出

透明体の表面で光が反射し、本来の厚みとは異なる値を検出してしまうことがあります。

液体の揺らぎによる不安定測定

液体の表面が揺らいだり、気泡が存在したりすると、安定した厚み測定が困難になります。

材質・色による光透過率のばらつき

透明体の材質や色、液体の種類によって光の透過率が異なり、測定精度に影響を与えます。

微小厚みの高精度測定の難しさ

非常に薄い透明体や液体の厚みを、高い精度で安定して測定することが技術的に難しい場合があります。

​対策

多重反射光の抑制

特殊な光学設計や信号処理により、表面反射光の影響を最小限に抑え、内部の光信号を正確に捉えます。

複数点・複数方向からの計測

複数のセンサーや異なる角度からの計測データを統合することで、液体の揺らぎや気泡の影響を補正し、平均的な厚みを算出します。

波長選択・偏光利用

対象物の特性に合わせて最適な波長の光を選択したり、偏光を利用したりすることで、材質や色による影響を低減します。

干渉計技術の応用

光の干渉現象を利用することで、ナノメートルオーダーの微小な厚みも高精度に測定することが可能になります。

​対策に役立つ製品例

レーザー変位計

一点集光性のレーザー光を対象物に照射し、その反射光を受光することで、高精度な距離・厚み測定を実現します。

光干渉式厚み計

光の干渉を利用し、非接触で微小な厚みをナノメートル単位で測定できるため、薄膜や精密部品の検査に適しています。

ラインスキャンカメラ

対象物をライン状に走査しながら画像を取得し、画像処理によって厚みを計測します。連続的な生産ラインでの利用に適しています。

光学式厚み測定システム

複数の光学センサーと高度な画像処理ソフトウェアを組み合わせ、複雑な形状や表面状態を持つ対象物の厚みも高精度に測定します。

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