top of page

光技術・レーザーに関連する気になるカタログにチェックを入れると、まとめてダウンロードいただけます。
3Dマッピングとは?課題と対策・製品を解説

目的・課題で絞り込む
カテゴリで絞り込む
ポジショニング |
レーザー |
レンズ設計・製造 |
宇宙・天文光学 |
光と画像のセンサ&イメージング |
光源・光学素子 |
光通信・要素技術&応用 |
その他光技術・レーザー |

センサー&計測における3Dマッピングとは?
センサー&計測の3Dマッピングは、光技術やレーザーを用いて対象物の形状や位置情報を三次元空間上にデータ化する技術です。これにより、製造業における品質管理、建設業での進捗管理、自動運転車の環境認識など、様々な分野で高精度な計測と分析が可能になります。
各社の製品
絞り込み条件:
▼チェックした製品のカタログをダウンロード
一度にダウンロードできるカタログは20件までです。
【光計測向け】長ストローク対物フォーカス P-725.xCDE2
光計測分野では、光学イメージングや精密測定において、検出位置のフォーカス精度と安定性が結果の精度に直結します。特に微細構造の評価や高速データ取得を必要とするアプリケーションでは、高分解能フォーカス制御と応答性の高い動作性能が求められます。
P-725.xCDE2 PIFOCフォーカススキャナは、サブナノメートル分解能の位置制御と、最大800 µmのストロークを両立。PICMAピエゾアクチュエータと高精度静電容量センサ ー搭載のフレクシャガイド機構により、光計測装置のZ方向フォーカス調整における高い線形性と再現性を実現します。これにより、光計測におけるフォーカス位置ズレの影響を抑え、測定精度と装置の歩留まり向上に貢献します。
【活用シーン】
・共焦点顕微鏡による高精度計測
・多光子顕微鏡の高速Z走査
・高解像度イメージング評価装置
・光干渉計・位相計測装置
【導入の効果】
・サブナノメートル分解能のフォーカス制御
・最大800 µmストロークでの広い測定範囲対応
・高速応答による検査・計測時間の短縮
・PIFOC/フレクシャ構造による長期安定性
【ディスプレイ向け】卓上型・貼合装置『Lamico』
ディスプレイ業界のパネル一体化工 程では、製品の品質を左右する貼り合わせ作業において、作業者の熟練度による品質のばらつきや、気泡混入による不良、歩留まり低下が課題となることがあります。これらの課題は、製品の信頼性や生産効率に影響を与える可能性があります。
『Lamico』は、接着剤塗布から貼り合わせまでを1台で行える卓上型の半自動貼合装置であり、これらの課題解決に貢献します。手作業工程を置き換えることで、透明接着剤を使用する場合でも気泡を抑えた安定した貼合を実現します。
【活用シーン】
・ディスプレイパネルの貼り合わせ
・液晶/有機EL/カバーガラス/OLED 等
・少量多品種生産
・試作品の製作
・評価工程
・精密貼合
【導入の効果】
・作業者に依存しない再現性の高い接着品質
・手貼り、治具貼り工程の品質ばらつきの低減
・気泡混入による不良の削減
・歩留まり向上
・工程の標準化
\詳しくはお問い合わせいただくか、カタログダウンロードよりPDF資料をご覧ください。/
【光学分野向け】開口部付多軸ピエゾスキャナー P-517/527
光学分野における位置決めは、高精度な測定や検査、微細加工において、非常に重要な要素です。特に、レンズやミラーなどの光学部品の位置調整は、システムの性能を左右する重要な課題です。従来の機械的な位置決め方法では、摩擦やバックラッシュによる精度の限界があり、高精度な位置決めが困難な場合がありました。P-517/527マルチ軸ピエゾスキャナは、ナノレベルの分解能と再現性により、光学部品の位置決めにお ける課題を解決します。
【活用シーン】
・光学検査
・ウェハー検査
・ナノポジショニング
・計測
・顕微鏡
【導入の効果】
・サブナノメートルの分解能による高精度な位置決め
・摩擦ゼロのフレクシャガイドによる安定した動作
・静電容量センサーによる高いリニアリティ
・50 x 50mmの開口による透過光測定への対応
【光学向け】高荷重対物レンズフォーカススキャナ P-726
光学機器や計測装置における対物レンズのフォーカス制御では、高精度なZ位置決めと高速応答が求められます。特に対物レンズが大型・高開口数(NA)の場合、従来機構では動作レスポンスや安定性が課題となり、測定精度や観察品質に影響を及ぼす可能性があります。
P-726 PIFOC高荷重対物レンズフォーカススキャナは、最大100 µmのストロークと、静電容量センサーによる直接測定で得られる サブナノメートル分解能の高精度フォーカス制御を実現します。また、フレクシャガイド構造により摩擦・バックラッシュがなく、高荷重条件でも高い剛性と安定性を維持します。これにより、光学計測装置の精度とスループットを向上させ、測定・観察の信頼性を高めます。
【活用シーン】
・対物レンズの精密フォーカス制御
・共焦点顕微鏡・超解像顕微鏡のZスキャン
・3D光学イメージング装置
・高精度光学計測装置(干渉計・オートフォーカス系)
【導入の効果】
・高精度なZ位置制御による光学測定精度の向上
・高速な動作レスポンスによる検査・観察時間の短縮
・大重量レンズ対応の高荷重性能
・長期安定性・低メンテナンス性
【レーザースキャン向け】チップチルトピエゾプラットフォーム
光学業界のアライメント作業では、レーザービームや光学素子の精密な位置調整が求められます。特に、高精度なアライメントは、光学システムの性能を左右する重要な要素です。位置ずれは、測定精度の低下やシステムの誤作動を引き起こす可能性があります。S-335 チップ/チルトピエゾプラットフォームは、高速かつ高精度なビームステアリングを実現し、光学アライメント作業の効率化と精度向上に貢献します。
【活用シーン】
・レーザービームの精密な位置調整
・光学素子の角度調整
・画像安定化
・レーザービーム制御
・光学通信
【導入の効果】
・アライメント時間の短縮
・システムの性能向上
・測定精度の向上
・作業効率の改善




